JPH0676984A - マモグラフィ用レントゲン自動露光装置 - Google Patents
マモグラフィ用レントゲン自動露光装置Info
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- JPH0676984A JPH0676984A JP5161787A JP16178793A JPH0676984A JP H0676984 A JPH0676984 A JP H0676984A JP 5161787 A JP5161787 A JP 5161787A JP 16178793 A JP16178793 A JP 16178793A JP H0676984 A JPH0676984 A JP H0676984A
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- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 10
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- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 3
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/38—Exposure time
- H05G1/42—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube
-
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- H05G1/46—Combined control of different quantities, e.g. exposure time as well as voltage or current
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 マモグラフィ用レントゲン自動露光装置にお
いて、対象物の厚さに依存する補正を、透明信号の生成
を行うことなく、すなわち公知の２重検出器を用いずに
行うことができるように改善を行うこと。 【構成】 ｍＡｓ−測定素子を有しており、該ｍＡｓ−
測定素子はレントゲン撮影の中断を所定のｍＡｓ−積に
従って生ぜしめるものであり、この場合使用されたフィ
ルムシート系に対して必要な線量の所定の部分量に到達
の際のｍＡｓ−値が求められ、メモリに供給され、該メ
モリには切換えるべきｍＡｓ−値の補正のためのｍＡｓ
−特性曲線が記憶されており、切換えるべきｍＡｓ−値
が当該特性曲線領域ないしテーブルから呼び出されるよ
うに構成する。
いて、対象物の厚さに依存する補正を、透明信号の生成
を行うことなく、すなわち公知の２重検出器を用いずに
行うことができるように改善を行うこと。 【構成】 ｍＡｓ−測定素子を有しており、該ｍＡｓ−
測定素子はレントゲン撮影の中断を所定のｍＡｓ−積に
従って生ぜしめるものであり、この場合使用されたフィ
ルムシート系に対して必要な線量の所定の部分量に到達
の際のｍＡｓ−値が求められ、メモリに供給され、該メ
モリには切換えるべきｍＡｓ−値の補正のためのｍＡｓ
−特性曲線が記憶されており、切換えるべきｍＡｓ−値
が当該特性曲線領域ないしテーブルから呼び出されるよ
うに構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、マモグラフィ用レント
ゲン自動露光装置に関する。
ゲン自動露光装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】マモグラフィにおけるレントゲン自動露
光装置は、（検出器自体の感度がエネルギーに依存する
ことを無視した場合において）撮影パラメータ（Ｘ線管
電圧、Ｘ線管電流、前フィルタリング）に依存すること
なく、選択されたフィルムシート系に応じて一定の線量
を検出器領域内において切換える。しかしながらその際
フィルムにおいて一定の濃度（黒さの度合い）を得るた
めには、検出器がフィルムシート系の後ろに配置構成さ
れているためフィルムにおける像形成のための線量が照
射品質（Ｘ線品質）に依存することを考慮する必要があ
る。Ｘ線品質は例えば対象物、カセット、シート等によ
って変化する。それ故に濃度はＸ線管電圧、対象物の厚
さ、前フィルタリングに依存する。
光装置は、（検出器自体の感度がエネルギーに依存する
ことを無視した場合において）撮影パラメータ（Ｘ線管
電圧、Ｘ線管電流、前フィルタリング）に依存すること
なく、選択されたフィルムシート系に応じて一定の線量
を検出器領域内において切換える。しかしながらその際
フィルムにおいて一定の濃度（黒さの度合い）を得るた
めには、検出器がフィルムシート系の後ろに配置構成さ
れているためフィルムにおける像形成のための線量が照
射品質（Ｘ線品質）に依存することを考慮する必要があ
る。Ｘ線品質は例えば対象物、カセット、シート等によ
って変化する。それ故に濃度はＸ線管電圧、対象物の厚
さ、前フィルタリングに依存する。
【０００３】対象物の厚さに対する補正値は、現在では
二重検出器を用いて求められる。この二重検出器は２つ
の測定セルからなっており、この場合下方の測定セルは
黄銅ないし真ちゅう−フィルタを用いて前フィルタリン
グされたビームを測定する。それにより２つの信号から
得られる商は既知のＸ線管電圧と前フィルタリングの特
性値のもとに対象物の厚さに依存する。そのため前記商
は線量目標値の補正のために用いられる。
二重検出器を用いて求められる。この二重検出器は２つ
の測定セルからなっており、この場合下方の測定セルは
黄銅ないし真ちゅう−フィルタを用いて前フィルタリン
グされたビームを測定する。それにより２つの信号から
得られる商は既知のＸ線管電圧と前フィルタリングの特
性値のもとに対象物の厚さに依存する。そのため前記商
は線量目標値の補正のために用いられる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】マモグラフィ用レント
ゲン自動露光装置において、対象物の厚さに依存する補
正を、透過信号の生成を行うことなく、すなわち公知の
２重検出器を用いずに行うことができるように改善を行
うことである。
ゲン自動露光装置において、対象物の厚さに依存する補
正を、透過信号の生成を行うことなく、すなわち公知の
２重検出器を用いずに行うことができるように改善を行
うことである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記課題は本発明によ
り、ｍＡｓ−測定素子を有しており、該ｍＡｓ−測定素
子はレントゲン撮影の中断を所定のｍＡｓ−積に従って
生ぜしめるものであり、この場合使用されたフィルムシ
ート系に対して必要な線量の所定の部分量に到達の際の
ｍＡｓ−値が求められ、メモリに供給され、該メモリに
は切換えるべきｍＡｓ−値の補正のためのｍＡｓ−特性
曲線が記憶されており、切換えるべきｍＡｓ−値が当該
特性曲線領域ないしテーブルから呼び出されるように構
成されて解決される。
り、ｍＡｓ−測定素子を有しており、該ｍＡｓ−測定素
子はレントゲン撮影の中断を所定のｍＡｓ−積に従って
生ぜしめるものであり、この場合使用されたフィルムシ
ート系に対して必要な線量の所定の部分量に到達の際の
ｍＡｓ−値が求められ、メモリに供給され、該メモリに
は切換えるべきｍＡｓ−値の補正のためのｍＡｓ−特性
曲線が記憶されており、切換えるべきｍＡｓ−値が当該
特性曲線領域ないしテーブルから呼び出されるように構
成されて解決される。
【０００６】
【実施例】次に本発明を図面に基づき詳細に説明する。
【０００７】図１には特性曲線１で、測定検出器におい
て線量が一定の場合の、対象物の厚さに依存するｍＡｓ
−経過に対する基準特性曲線がｋＶ−値について示され
ている。既に前記したように、この場合濃度（黒さの度
合い）は対象物の厚さの増加に伴い減少する。
て線量が一定の場合の、対象物の厚さに依存するｍＡｓ
−経過に対する基準特性曲線がｋＶ−値について示され
ている。既に前記したように、この場合濃度（黒さの度
合い）は対象物の厚さの増加に伴い減少する。
【０００８】フイルムにおいて一定の濃度を得るために
は、切換えるべきｍＡｓ値が適切な形で補正される必要
がある。すなわち対象物の厚さの増加と共に、最初に得
られるｍＡｓ値よりも大きなｍＡｓ値に切換える必要が
ある。
は、切換えるべきｍＡｓ値が適切な形で補正される必要
がある。すなわち対象物の厚さの増加と共に、最初に得
られるｍＡｓ値よりも大きなｍＡｓ値に切換える必要が
ある。
【０００９】図２には、以下のパラメータに依存する補
正特性曲線２が示されている。
正特性曲線２が示されている。
【００１０】フィルムシート系 Ｘ線管電圧 前フィルタリング この場合ライン３は求められたｍＡｓ−値を示し、ライ
ン４は補正を示し、ライン５は補正されたｍＡｓ−値を
示している。
ン４は補正を示し、ライン５は補正されたｍＡｓ−値を
示している。
【００１１】それぞれ予備フィルタリングが一定の際に
は特性曲線領域ないしテーブルがＸ線管電圧とフィルム
シート系に依存して求められなければならない。この特
性曲線領域ないしテーブルは測定技術的に全ての通常の
フィルムーシート系に対して求めることができ、自動露
光装置内に記憶することができる。欠点としては、既に
テスト済みのフィルムーシート系に対してのみ補正曲線
がファイルされることである。例えば顧客における特殊
なフィルム現像を考慮することができない。それ故１つ
の方法が引き出される。この方法によれば現場での適切
なテスト撮影に基づいて、現像とフィルムーシート系を
考慮する下で特性曲線フィールドを算出することができ
る。このことは図３によるレントゲン自動露光装置によ
って可能である。
は特性曲線領域ないしテーブルがＸ線管電圧とフィルム
シート系に依存して求められなければならない。この特
性曲線領域ないしテーブルは測定技術的に全ての通常の
フィルムーシート系に対して求めることができ、自動露
光装置内に記憶することができる。欠点としては、既に
テスト済みのフィルムーシート系に対してのみ補正曲線
がファイルされることである。例えば顧客における特殊
なフィルム現像を考慮することができない。それ故１つ
の方法が引き出される。この方法によれば現場での適切
なテスト撮影に基づいて、現像とフィルムーシート系を
考慮する下で特性曲線フィールドを算出することができ
る。このことは図３によるレントゲン自動露光装置によ
って可能である。
【００１２】図３には２つのｍＡｓ−カウンタ６，７が
示されている。ｍＡｓ−カウンタ６は比較器８によって
制御される。この比較器８は入力側９からは線量−目標
値の１／ｎ倍を受け取り、入力側１０からは実際値に相
応する信号を受け取る。Ｘ線管電流に相応する信号は入
力側１１に供給され、積分器１２において積分される。
それにより、変換器１９において電圧／周波数−変換さ
れた線路１３上の信号はそれぞれ、達成された瞬時のｍ
Ａｓ−値に相応する。入力側１４には、撮影中は相応の
信号が供給される。カウンタ６の出力信号は乗算器１６
を介してメモリ１７に供給される。このメモリ１７はカ
ウンタ７を制御し、遮断信号を切換段１５を介して供給
する。
示されている。ｍＡｓ−カウンタ６は比較器８によって
制御される。この比較器８は入力側９からは線量−目標
値の１／ｎ倍を受け取り、入力側１０からは実際値に相
応する信号を受け取る。Ｘ線管電流に相応する信号は入
力側１１に供給され、積分器１２において積分される。
それにより、変換器１９において電圧／周波数−変換さ
れた線路１３上の信号はそれぞれ、達成された瞬時のｍ
Ａｓ−値に相応する。入力側１４には、撮影中は相応の
信号が供給される。カウンタ６の出力信号は乗算器１６
を介してメモリ１７に供給される。このメモリ１７はカ
ウンタ７を制御し、遮断信号を切換段１５を介して供給
する。
【００１３】露光は以下のように経過する。
【００１４】線量出力に比例する検出器の信号が測定さ
れて積分され、線量−目標値（使用されるフィルムシー
ト系に相応する）の１／ｎ倍と比較される。必要な線量
の係数の１／ｎ（例えば２５％）に到達したならば、カ
ウンタ６が停止し、この時点で到達したｍＡｓ−値を求
め、乗算器１６において係数ｎで、１００％−ｍＡｓ−
値を推計する。算出されたこの値を用いてメモリ１７内
の特性曲線領域ないしテーブルから、相応に切換えるべ
きｍＡｓ−値が算出され、線路２０を介して目標値とし
てカウンタ７に供給される。このｍＡｓ−値が達成され
た場合は、カウンタ７によって撮影が切換段１５を介し
て終了する。
れて積分され、線量−目標値（使用されるフィルムシー
ト系に相応する）の１／ｎ倍と比較される。必要な線量
の係数の１／ｎ（例えば２５％）に到達したならば、カ
ウンタ６が停止し、この時点で到達したｍＡｓ−値を求
め、乗算器１６において係数ｎで、１００％−ｍＡｓ−
値を推計する。算出されたこの値を用いてメモリ１７内
の特性曲線領域ないしテーブルから、相応に切換えるべ
きｍＡｓ−値が算出され、線路２０を介して目標値とし
てカウンタ７に供給される。このｍＡｓ−値が達成され
た場合は、カウンタ７によって撮影が切換段１５を介し
て終了する。
【００１５】メモリ１７内の特性曲線領域ないしテーブ
ルに対する計算は、計算機１８によって行われる。
ルに対する計算は、計算機１８によって行われる。
【００１６】
【発明の効果】本発明によれば、マモグラフィ用レント
ゲン自動露光装置において、対象物の厚さに依存する補
正を、透過信号の生成を行うことなく、すなわち公知の
２重検出器を用いずに行うことが可能となる。
ゲン自動露光装置において、対象物の厚さに依存する補
正を、透過信号の生成を行うことなく、すなわち公知の
２重検出器を用いずに行うことが可能となる。
【図１】本発明の考察を説明するための特性曲線が示さ
れた図である。
れた図である。
【図２】本発明の考察を説明するための特性曲線が示さ
れた図である。
れた図である。
【図３】本発明によるレントゲン自動露光装置のブロッ
ク回路図である。
ク回路図である。
８ 比較器 ９ 入力側 １０ 入力側 １１ 入力側 １２ 積分器 １３ 線路 １４ 入力側 １５ 切換段 １６ 乗算器 １７ メモリ １８ 計算機 ２０ 線路
Claims (1)
- 【請求項１】 マモグラフィ用レントゲン自動露光装置
において、 ｍＡｓ−測定素子（１２）を有しており、該ｍＡｓ−測
定素子（１２）はレントゲン撮影の中断を所定のｍＡｓ
−積に従って生ぜしめるものであり、この場合使用され
たフィルムシート系に対して必要な線量のうちの所定の
部分量に到達の際のｍＡｓ−値が求められ、メモリ（１
７）に供給され、該メモリには切換えるべきｍＡｓ−値
の補正のためのｍＡｓ−特性曲線が記憶されており、切
換えるべきｍＡｓ−値が当該特性曲線領域ないしテーブ
ルから呼び出されることを特徴とする、マモグラフィ用
レントゲン自動露光装置。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4222775 | 1992-07-10 | ||
| DE4222775.5 | 1992-11-23 | ||
| DE4239309A DE4239309A1 (de) | 1992-07-10 | 1992-11-23 | Röntgenbelichtungsautomat für die Mammographie |
| DE4239309.4 | 1992-11-23 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0676984A true JPH0676984A (ja) | 1994-03-18 |
Family
ID=25916492
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5161787A Withdrawn JPH0676984A (ja) | 1992-07-10 | 1993-06-30 | マモグラフィ用レントゲン自動露光装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5371777A (ja) |
| JP (1) | JPH0676984A (ja) |
| DE (2) | DE4239309A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007236524A (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影装置及び撮影方法 |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2965121B2 (ja) * | 1994-02-15 | 1999-10-18 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション | 高密度記録および再生装置 |
| DE19500732A1 (de) * | 1995-01-12 | 1996-07-18 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikeinrichtung |
| DE19520360C2 (de) * | 1995-06-07 | 2000-08-10 | Bork Klaus Peter | Verfahren zur Durchführung von Konstanzprüfungen an für Diagnosezwecke eingesetzte Röntgengeneratoren |
| US6094473A (en) * | 1998-03-19 | 2000-07-25 | Picker International, Inc. | Digital automatic X-ray exposure control system |
| US6192105B1 (en) | 1998-11-25 | 2001-02-20 | Communications & Power Industries Canada Inc. | Method and device to calibrate an automatic exposure control device in an x-ray imaging system |
| US6388248B1 (en) * | 2000-07-06 | 2002-05-14 | Eaton Corporation | Control voltage isolation system for electrical rotating apparatus utilizing fiber optics and associated method |
| DE10163583A1 (de) | 2001-12-21 | 2003-07-03 | Philips Intellectual Property | Verfahren und Vorrichtung zur Belichtung von Röntgenaufnahmen |
| DE102004031681A1 (de) * | 2004-06-30 | 2006-01-26 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur benutzerspezifischen Parametrierung einer Röngtenvorrichtung |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4638500A (en) * | 1974-10-07 | 1987-01-20 | U.S. Philips Corporation | Method of determining voltage and current for a given operating period of an X-ray source |
| DE3008261C2 (de) * | 1980-03-04 | 1988-05-05 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Röntgendiagnostikeinrichtung mit Mitteln zur Bildung eines Transparenzsignals |
| FR2584504B1 (fr) * | 1985-07-04 | 1989-03-17 | Thomson Cgr | Procede de determination automatique de l'exposition d'un film radiographique, et dispositif exposeur automatique pour installation de radiodiagnostic mettant en oeuvre ledit procede |
| US4763343A (en) * | 1986-09-23 | 1988-08-09 | Yanaki Nicola E | Method and structure for optimizing radiographic quality by controlling X-ray tube voltage, current, focal spot size and exposure time |
| DE69106953T2 (de) * | 1990-07-06 | 1995-06-22 | Gen Electric Cgr | Verfahren zur automatischen Bestimmung der Belichtungszeit für einen Röntgenfilm und dieses verwendendes System. |
| FR2664397B1 (fr) * | 1990-07-06 | 1992-09-11 | Gen Electric Cgr | Procede d'estimation et d'etalonnage de la lumination recue par un film radiographique. |
-
1992
- 1992-11-23 DE DE4239309A patent/DE4239309A1/de not_active Ceased
- 1992-11-23 DE DE9219111U patent/DE9219111U1/de not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-05-13 US US08/060,529 patent/US5371777A/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-06-30 JP JP5161787A patent/JPH0676984A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007236524A (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影装置及び撮影方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE9219111U1 (de) | 1998-01-22 |
| DE4239309A1 (de) | 1994-01-13 |
| US5371777A (en) | 1994-12-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000905 |