JPH05120624A - 磁気ヘツド - Google Patents

磁気ヘツド

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JPH05120624A
JPH05120624A JP3308477A JP30847791A JPH05120624A JP H05120624 A JPH05120624 A JP H05120624A JP 3308477 A JP3308477 A JP 3308477A JP 30847791 A JP30847791 A JP 30847791A JP H05120624 A JPH05120624 A JP H05120624A
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満 堀内
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雅行 荒川
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 フェライトコアのギャップ部にコアよりもB
s の高い軟磁性薄膜を有するMIG型磁気ヘッドにおい
て、軟磁性薄膜がFe、Al、Siを主成分とし、軟磁
性薄膜のBs がギャップ側よりもコア側のほうが低い。 【効果】 コア側のBs を低くすることにより擬似ギャ
ップを防止し、ギャップ側のBs を高くすることにより
書き込み能力を維持する。また、Fe、Al、Si系合
金は耐熱性が高いので作業温度の高いガラスが使え、高
信頼性が得られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コアよりも飽和磁束密
度の高い軟磁性薄膜をギャップ部に有するメタル・イン
・ギャップ型の磁気ヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、情報化社会の進展に伴ない、磁気
記録装置にも大容量化の要請が強く、磁気記録技術はよ
り一層の高記録密度化が重要な課題となっている。この
課題に対処するため、媒体においては高保磁力(Hc )
化、低ノイズ化等の技術が開発されている。
【0003】一方、磁気ヘッドにおいては、従来、フェ
ライトを磁気コアとしたものが主流であったが、近年、
フェライト磁気ヘッドのギャップにセンダストやCo系
アモルファス材等の金属軟磁性薄膜を形成した、いわゆ
るMIG(メタル・イン・ギャップ)型磁気ヘッドが登
場した。フェライトの飽和磁束密度(Bs )は約500
0G 程度であるため、従来のフェライトヘッドで記録可
能な媒体のHc は、800〜900 Oe 程度が限界とな
っていた。従って、媒体のHc の増加に応じて磁気ヘッ
ドの記録能力も高める必要があり、その手段として、従
来のフェライトヘッドのギャップにセンダスト等の高B
s 金属からなる軟磁性薄膜を形成したMIG型磁気ヘッ
ドが開発され、実用化されたのである。
【0004】MIG型磁気ヘッドは、ギャップに形成さ
れた軟磁性薄膜から強力な磁束を媒体に印加できるた
め、高Hc 媒体にも記録が可能であり、例えばBs が約
10kGのセンダストを軟磁性薄膜として用いた場合、H
c が約1300 Oe 程度までの媒体に記録ができるよう
になった。また、Bs が約15kGのスーパーセンダスト
や、Fe−Me(Meは、Zr、Mo、Ta等)−N系
薄膜を用いた場合、Hcが約1600Oe 程度までの媒体
に記録可能となった。
【0005】しかし、MIG型磁気ヘッドでは、コアと
軟磁性薄膜との境界が擬似ギャップとなり、副パルスと
呼ばれる偽信号を生じることがある。擬似ギャップ効果
の原因としては、例えば、フェライトコアと軟磁性薄膜
の界面が、金属や酸化物の酸化、還元等により劣化する
ためであるとか、軟磁性薄膜中の特性成分(例えばセン
ダスト膜ではAl、Si)が界面に拡散していくことに
より非磁性層が形成されるためであるとか、軟磁性薄膜
成膜時に生じる初期劣化層のためであるとか、様々な議
論がなされている。
【0006】ディジタル記録では、副パルスの存在によ
りいわゆるビットシフトが生じて波形に時間軸方向のズ
レが生じるため、記録波長を短くすることができなくな
る。また、アナログ記録では、副パルスの存在により、
周波数特性曲線に周期的なうねりが生じてしまう。
【0007】このような擬似ギャップ効果を低減するた
めに、センダスト薄膜とフェライトコアとの間にNi−
Fe(パーマロイ)薄膜を下地膜として設ける試みがな
されている。しかし、Ni−Fe薄膜に600℃以上の
熱処理を施すと、Niがセンダスト中に拡散し、透磁率
が著しく低下してしまう(日本応用磁気学会誌13,277-2
80(1989))。このため、Ni−Fe下地膜を用いる場合
は、溶着温度が600℃以上となるガラスを使用できな
い。
【0008】溶着温度が600℃未満のいわゆる低融点
ガラスとするためには、鉛やアルカリ金属などを多量に
添加する必要があるため、耐湿性等の耐環境性が不十分
となり、また、機械的強度も低くなる。従って、従来、
溶着ガラスとして用いられているガラスは、耐環境性が
低く、機械的強度も劣る。このため、擬似ギャップ効果
低減と信頼性および製造歩留り向上とを共に実現するこ
とはできなかった。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような事
情からなされたものであり、擬似ギャップ効果が少な
く、しかも、信頼性および製造歩留りの高いMIG型磁
気ヘッドを提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】このような目的は、下記
(1)〜(7)の本発明により達成される。
【0011】(1)それぞれフェライトから構成される
一対のコアを有し、少なくとも一方のコアとギャップと
の間に、前記コアより飽和磁束密度の高い軟磁性薄膜を
有する磁気ヘッドであって、前記軟磁性薄膜が、Fe、
AlおよびSiを主成分とし、前記軟磁性薄膜の飽和磁
束密度が、前記ギャップ近傍よりも前記コア近傍のほう
が低いことを特徴とする磁気ヘッド。
【0012】(2) 前記軟磁性薄膜の飽和磁束密度
が、前記ギャップに接している側から前記コアに接して
いる側にかけて漸減している上記(1)に記載の磁気ヘ
ッド。
【0013】(3) 前記軟磁性薄膜の組成が、 Al:3〜7重量%、 Si:5〜12重量%、 残部:Fe である上記(2)に記載の磁気ヘッド。
【0014】(4) 前記軟磁性薄膜が飽和磁束密度の
異なる少なくとも2層の薄膜から構成される上記(1)
に記載の磁気ヘッド。
【0015】(5) 前記軟磁性薄膜が、 Al:3〜7重量%、 Si:5〜12重量%、 残部:Fe の組成を有するコア側薄膜と、 Al:3〜7重量%、 Si:3〜8重量%、 Ni:1〜5重量%、 残部:Fe の組成を有するギャップ側薄膜とを有する上記(4)に
記載の磁気ヘッド。
【0016】(6) 前記軟磁性薄膜と前記コアとの間
に、Cr、Mo、Ta、Ti、W、VおよびNbの少な
くとも1種から構成される下地膜を有する上記(1)な
いし(5)のいずれかに記載の磁気ヘッド。
【0017】(7) 作業温度Twが300〜850℃
の溶着ガラスにより前記一対のコアが溶着一体化されて
いる上記(1)ないし(6)のいずれかに記載の磁気ヘ
ッド。
【0018】
【作用】本発明の磁気ヘッドは、コアとギャップとの間
にコアよりもBs の高い軟磁性薄膜を有するMIG型磁
気ヘッドである。本発明では、前記軟磁性薄膜のコア近
傍のBs をギャップ近傍のBs よりも小さく構成する。
このようにフェライトコアと軟磁性薄膜との境界でのB
s の段差を小さくすることにより、擬似ギャップ効果を
著しく低減できる。そして、ギャップ近傍の軟磁性薄膜
は従来と同等のBs を有するため、高い書き込み能力は
変わらない。
【0019】しかも、前記軟磁性薄膜は、Fe、Alお
よびSiを主成分とするセンダスト系合金や、Fe、A
l、SiおよびNiを主成分とするスーパーセンダスト
系合金であるため、耐熱性が高く、ガラス溶着の際に6
00℃以上の温度で熱処理した場合でも磁気特性の劣化
がない。このため、耐環境性が良好で強度の高い溶着ガ
ラスが使え、信頼性が高く製造歩留りの高い磁気ヘッド
が実現する。
【0020】また、前記下地膜を設ければ、前記軟磁性
薄膜と前記コアとの接着性が向上する。特に、下地膜を
Crで構成した場合、擬似ギャップ効果をさらに低減す
ることが可能である。
【0021】ところで、特開昭61−34707号公報
には、フェライトコアを用いたMIG型磁気ヘッドが記
載されている。この磁気ヘッドのギャップ部は、多結晶
質磁性合金、非晶質磁性合金、フェライトコアの順に連
結して磁気回路を構成しており、多結晶質磁性合金、非
晶質磁性合金、フェライトの順で飽和磁束密度が低くな
っている。しかし、この磁気ヘッドは非晶質磁性合金を
使っているため耐熱性が低く、溶着温度の高いガラスを
使うことができない。
【0022】
【具体的構成】以下、本発明の具体的構成を、添付の図
面に基づいて詳細に説明する。図1および図2にそれぞ
れ示される本発明の磁気ヘッドは、第1コア1および第
2コア2の一対のコアを有し、両コアはギャップ5を介
して溶着ガラス3により一体化されており、第2コア2
とギャップ5との間に、各コアよりBsの大きい軟磁性
薄膜4を有する。なお、通常、第1コア1に巻線が巻回
される。
【0023】軟磁性薄膜4は、Fe、AlおよびSiを
主成分とする組成を有し、ギャップ5近傍よりも第2コ
ア2近傍のほうがBs が小さくなるように構成される。
Bsをこのような分布とするためには、ギャップ5に接
している側から第2コア2に接している側にかけて軟磁
性薄膜4のBs が漸減するように構成してもよく、ある
いはBs の異なる少なくとも2層の薄膜から軟磁性薄膜
4を構成してもよい。
【0024】図1に示される磁気ヘッドは、Bs が漸減
する構成の軟磁性薄膜4を有している。このようなBs
分布を有する軟磁性薄膜4は、構成元素の含有比率を連
続的に変化させることにより形成することができる。こ
の場合、軟磁性薄膜4の全体組成は、 Al:3〜7重量%、 Si:5〜12重量%、 残部:Fe であることが好ましい。そして、第2コア2側からギャ
ップ5側にかけてSiおよびAlの含有比率が漸減する
ように組成分布を設けることにより、ギャップ5側から
第2コア2側にかけてBs が漸減する構成とすることが
できる。具体的には、第2コア2近傍におけるAlおよ
びSiの含有比率は Al:7〜9重量%、 Si:10〜15重量% 程度とすることが好ましく、ギャップ5近傍におけるA
lおよびSiの含有比率は Al:1〜4重量%、 Si:3〜8重量% 程度とすることが好ましい。
【0025】このような範囲から組成を適宜選択するこ
とにより、第2コア2近傍において8000〜1100
0G 程度、ギャップ5近傍において12000〜150
00G 程度のBs を得ることができる。
【0026】図2に示される磁気ヘッドは、Bs の異な
る2層の薄膜から構成される軟磁性薄膜4を有する。軟
磁性薄膜4は、第2コア2側のコア側薄膜41と、ギャ
ップ5側のギャップ側薄膜42とから構成されており、
コア側薄膜41のほうがギャップ側薄膜42よりもBs
が低い。この構成では、コア側薄膜およびギャップ側薄
膜をそれぞれセンダスト系の合金で構成し、各薄膜の組
成を上記した組成連続変化膜のコア近傍組成およびギャ
ップ近傍組成としてもよいが、好ましくは、コア側薄膜
をセンダスト合金系の組成とし、ギャップ側薄膜をスー
パーセンダスト合金系の組成とすることが好ましい。具
体的には、コア側薄膜の組成は Al:3〜7重量%、 Si:5〜12重量%、 残部:Fe であることが好ましく、ギャップ側薄膜の組成は Al:3〜7重量%、 Si:3〜8重量%、 Ni:1〜5重量%、 残部:Fe であることが好ましい。各薄膜の組成をこのような範囲
から適宜選択することにより、コア側薄膜では8000
〜11000G 程度、ギャップ側薄膜では12000〜
15000G 程度のBs を得ることができる。
【0027】なお、軟磁性薄膜4をBs の異なる複数の
薄膜から構成する場合、最もコアに近い薄膜を上記した
コア側薄膜とし、最もギャップに近い薄膜を上記したギ
ャップ側薄膜とする。そして、両薄膜の間に存在する薄
膜のBsは、コア側薄膜よりも高くギャップ側薄膜より
も低いことが好ましい。
【0028】なお、フェライト製コアのBs は3000
〜6000G 程度である。
【0029】軟磁性薄膜4は、Fe、Si、Alおよび
Niの他、Cr、Mo、Ti、Ta、W、Zr、Hf、
Ga、Ru、Au、Ag、Co、Zn、Sn等を全体の
1原子%以下含有していてもよく、これらのうちでは、
軟磁気特性が向上することからAuが含有されることが
好ましい。
【0030】軟磁性薄膜4の膜厚は、好ましくは0.2
〜10μm 、より好ましくは0.5〜5μm である。膜
厚が前記範囲未満であると、体積が不足して飽和し易く
なり、強力な磁界を印加するという機能が不十分とな
る。また、膜厚が前記範囲を超えると、特に単層膜の場
合、渦電流損失が大きくなり、高周波特性が不十分とな
る。図2に示されるように、軟磁性薄膜4が複数の薄膜
から構成される場合、各薄膜の厚さの比率は特に限定さ
れないが、通常、最も厚い薄膜が最も薄い薄膜の3倍以
下、特に1.5倍以下となるようにすることが好まし
い。
【0031】本発明では、軟磁性薄膜4と第2コア2と
の間に、下地膜6を設けることが好ましい。下地膜6
は、Cr、Mo、Ta、Ti、W、VおよびNbの少な
くとも1種から構成されることが好ましい。これらのう
ちでは、Crが特に好ましい。下地膜6をCrで構成す
ることにより、擬似ギャップ効果をさらに低減すること
ができる。なお、下地膜6は、上記元素を含む合金、例
えばCr−Si合金等で構成されてもよい。
【0032】下地膜6の厚さは、通常、0.001〜
0.1μm 、特に0.002〜0.05μm とすること
が好ましい。厚さが前記範囲未満であると下地膜として
の効果が不十分であり、前記範囲を超えると軟磁性薄膜
の体積を十分に大きくできなくなる。
【0033】なお、図示例では、軟磁性薄膜4は第2コ
ア2とギャップ5との間に設けられているが、第1コア
1とギャップ5との間に設けられてもよい。また、必要
に応じて両方のコアに軟磁性薄膜を設けてもよい。その
場合、下地膜も両方のコアに設けることが好ましい。
【0034】本発明において、各コアはフェライトから
構成される。用いるフェライトに特に制限はないが、M
n−ZnフェライトまたはNi−Znフェライトを目的
に応じて選択することが好ましい。Mn−Znフェライ
トとしては、Fe2 O3 50〜60モル%程度、ZnO
8〜25モル%程度、残部が実質的にMnOのものが
好ましい。また、Ni−Znフェライトは特に高周波領
域において優れた特性を示すものであり、好ましい組成
としては、Fe2 O3 が30〜60モル%、NiOが1
5〜50モル%、ZnOが5〜40モル%程度のもので
ある。
【0035】各コアの直流でのBs は、好ましくは30
00〜6000G とする。Bs が前記範囲未満である
と、オーバーライト特性が低下する他、このようなBs
の組成では、キュリー温度が低くなるため熱的安定性が
低下してしまう。前記範囲を超えると、磁歪が増加して
磁気ヘッドとしての特性が悪化したり、着磁し易くな
る。
【0036】各コアの直流での初透磁率μi は1,00
0以上、Hc は0.3 Oe 以下であることが好ましい。
【0037】また、各コアのギャップ対向面は、鏡面研
磨等により平滑化し、軟磁性薄膜4や下地膜6等が形成
され易いようにすることが好ましい。
【0038】ギャップ5は、非磁性材質から構成され
る。ギャップ5には、接着強度を高めるため接着ガラス
を用いることが好ましく、例えば、特願平1−7150
6号等に示されるガラスが好適である。また、ギャップ
5は接着ガラスのみで構成されていてもよいが、ギャッ
プ形成速度やギャップ強度を高めるため、図示のように
ギャップ51とギャップ53との2層で構成されること
が好ましい。この場合、ギャップ51にはSiO2 を用
い、ギャップ53には接着ガラスを用いることが好まし
い。なお、溶着ガラス3がギャップ両サイドに流れ込む
タイプの磁気ヘッドの場合は、ギャップ5を酸化ケイ素
のみで構成してもよい。ギャップ5の形成方法には特に
制限はないが、スパッタ法を用いることが好ましい。ギ
ャップ長は、通常0.2〜2.0μm 程度である。
【0039】本発明の磁気ヘッドは、通常、以下のよう
にして製造される。軟磁性薄膜4および下地膜6は、ス
パッタや蒸着等の気相成膜法により形成することが好ま
しいが、液相めっきにより形成してもよい。コア側から
ギャップ側にかけて組成が連続的に変化する構成とする
場合には、蒸着法を用いることが好ましい。この場合、
蒸気圧の違いにより、当初はAlおよびSiが蒸発しや
すくこれらの比率の高い低Bs 膜が形成される。そし
て、次第にAlおよびSiの蒸発量が少なくなり、Fe
の比率の高い高Bs 膜に変化していく。AlおよびSi
の量と加熱パワーとを適当に選択することにより、任意
のBs とその変化パターンとを実現することができる。
【0040】コアの接合は、通常、ギャップ53の接着
ガラスにより熱圧着すると同時に溶着ガラス3を流し込
むことにより行なう。用いる溶着ガラス3の作業温度T
wは300〜850℃、特に600〜700℃程度であ
ることが好ましく、この場合、ガラス溶着時の保持温度
は300〜850℃、特に600〜700℃程度とな
る。なお、作業温度Twとは、周知のようにガラスの粘
度が104 poise となる温度である。
【0041】また、コンポジット型の浮上型磁気ヘッド
とする場合には、図1や図2に示される構成の磁気ヘッ
ドを、2次溶着工程においてガラスによりスライダと接
着する。
【0042】本発明の磁気ヘッドでは、軟磁性薄膜4の
耐熱性が良好であるため、このようなTwのガラスを用
いて溶着しても軟磁性薄膜4のHc が上昇せず、良好な
軟磁性が保持される。このため、鉛やアルカリ金属など
の含有量が少ない溶着ガラスを用いることができるの
で、耐環境性が良好で機械的強度も高い磁気ヘッドが実
現する。
【0043】軟磁性薄膜には軟磁気特性向上のために熱
処理が施されることが好ましいが、上記した溶着時の加
熱を熱処理として利用できるので、工数の減少が可能で
ある。
【0044】本発明の磁気ヘッドは、いわゆるラミネー
トタイプやバルクタイプ等のトンネルイレーズ型、ある
いはイレーズヘッドを有しないリードライト型などのオ
ーバーライト記録を行なうフロッピーヘッド、モノリシ
ックタイプやコンポジットタイプの浮上型の計算機用ヘ
ッド、回転型のVTR用ヘッドやR−DAT用ヘッドな
どの各種磁気ヘッドとして用いられる。
【0045】なお、本発明は、MIG型磁気ヘッドの1
種である、いわゆるエンハンスト・デュアル・ギャップ
・レングス(EDG)型の磁気ヘッドに適用することが
できる。その場合、ギャップを挟んで前記軟磁性薄膜と
対向するコアに、コアよりもBs の低い軟磁性薄膜を設
ける。すなわち、図1に示される構成では、第1コア1
とギャップ5との間に、コアを構成するフェライトより
もBs の低い軟磁性薄膜を設ける。
【0046】
【実施例】以下、本発明の具体的実施例を挙げ、本発明
をさらに詳細に説明する。
【0047】図1に示される構成の磁気ヘッドサンプル
を作製した。各磁気ヘッドサンプルの軟磁性薄膜の組成
を下記表1に示す。
【0048】軟磁性薄膜4はスパッタ法により形成し、
厚さは2μm とした。ただし、サンプルNo. 5では蒸着
法により形成し、蒸着する元素の蒸気圧の違いを利用し
て組成が連続的に変化する構成の膜とした。
【0049】下地膜6は厚さ0.01μm のCr膜であ
り、スパッタ法により形成した。
【0050】各コアの材質はMn−Znフェライト(B
s =5kG、μi =3000、Hc =8A/m )とした。
【0051】ギャップ51にはSiO2 を用い、スパッ
タ法により形成し、その膜厚は0.3μm とした。ギャ
ップ53には、作業温度Twが800℃の接着ガラスを
用いた。なお、ギャップ53はスパッタ法により形成
し、その膜厚は0.1μm とした。
【0052】溶着ガラス3の組成は、重量比で SiO2 :27.0、 B2 O3 :2.0、 PbO:59.0、 Al2 O3 :2.0、 ZnO:4.0、 Na2 O:6.0 であり、作業温度Twは690℃であった。そして、7
00℃にて1時間溶着を行なった。そして、各磁気ヘッ
ドサンプルをスライダと一体化し、コンポジットタイプ
の浮上型磁気ヘッドとした。
【0053】溶着後の各軟磁性薄膜のBs を表1に示
す。Bs はVSMで測定した。
【0054】組成およびBs は、結晶化ガラス基板上に
磁気ヘッド作製の際と同条件で軟磁性薄膜を形成し、ガ
ラス溶着の際の熱処理と同条件の熱処理を施したものに
ついて測定されたものである。なお、組成はSIMSで
測定した。組成が連続的に変化するサンプルNo. 5で
は、コア側表面の組成とギャップ側表面の組成とを示し
た。また、サンプルNo. 5におけるコア側Bs およびギ
ャップ側Bs は、コア側組成を有する単層膜およびギャ
ップ側組成を有する単層膜を形成してそれぞれ測定し
た。
【0055】これらの磁気ヘッドにより、3.5インチ
のハードディスク(Hc 1500 Oe 、3600rpm )
に記録を行なった。サンプルNo. 2および6の周波数特
性曲線を、それぞれ図3および図4に示す。また、各サ
ンプルの周波数特性曲線のうねりの幅を、表1に示す。
なお、この場合のうねりの幅とは、2MHz 付近における
出力の山部と谷部の差である。
【0056】また、No. 1〜3の比較サンプルおよびN
o. 5〜6の本発明サンプルについて、オーバーライト
特性と飽和特性とを測定した。オーバーライト特性(O
/W特性)については、サンプルNo. 1〜3(比較例)
のものを図5の(a)に、サンプルNo. 5および6(実
施例)のものを図5の(b)に示し、飽和特性について
は、サンプルNo. 1〜3(比較例)のものを図6の
(a)に、サンプルNo. 5および6(実施例)のものを
図6の(b)に示す。なお、オーバーライト特性とは、
1.25MHz の1f信号を記録し、次いでこの上から
2.5MHz の2f信号を重ね書きしたときの、2f信号
の出力に対する1f信号の出力である。
【0057】
【表1】
【0058】以上の結果から、本発明の効果が明らかで
ある。すなわち、図3、図4および表1から明らかなよ
うに、本発明のサンプルでは、擬似ギャップ効果に起因
する周波数特性曲線のうねりが著しく小さい。また、図
5および図6から明らかなように、本発明のサンプル
は、比較サンプルNo. 2および3の良好なオーバーライ
ト特性および飽和特性を損なわずに、擬似ギャップ効果
が抑えられていることがわかる。
【0059】また、本発明サンプルは、作業温度Twが
550℃以下である従来の溶着ガラスを用いた磁気ヘッ
ドに比べ、歩留りが10%以上向上した。
【0060】なお、サンプルNo. 4では、コア側のFe
−Ni(パーマロイ)膜のHc が熱処理により5 Oe ま
で増加し、軟磁性膜としての使用に耐えなかった。
【0061】下地膜としてMo、Ta、Ti、W、Vお
よびNbを用いた場合でも、ほぼ同等の結果が得られた
が、周波数特性のうねりはCr下地膜の場合が最も小さ
かった。
【0062】
【発明の効果】本発明では、MIG型磁気ヘッドにおい
て、軟磁性薄膜のBsをコア側で低くギャップ側で高く
構成するため、MIG型磁気ヘッドの効果を保持しなが
ら擬似ギャップ効果を著しく低減できる。
【0063】また、本発明では、軟磁性薄膜をセンダス
ト系合金やスーパーセンダスト系合金で構成するため、
軟磁性薄膜の耐熱性が高く、磁気ヘッド製造の際のガラ
ス溶着時の保持温度を600℃以上と高くできる。この
ため、耐環境性が良好で機械的強度の高い溶着ガラスが
使え、信頼性が高く製造歩留りの高い磁気ヘッドが実現
する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の磁気ヘッドの1例を示す部分断面図で
ある。
【図2】本発明の磁気ヘッドの1例を示す部分断面図で
ある。
【図3】従来の磁気ヘッドの周波数特性を表わすグラフ
である。
【図4】本発明の磁気ヘッドの周波数特性を表わすグラ
フである。
【図5】(a)および(b)は、それぞれ従来の磁気ヘ
ッドおよび本発明の磁気ヘッドのオーバーライト特性を
表わすグラフである
【図6】(a)および(b)は、それぞれ従来の磁気ヘ
ッドおよび本発明の磁気ヘッドの飽和特性を表わすグラ
フである。
【符号の説明】
1 第1コア 2 第2コア 3 溶着ガラス 4 軟磁性薄膜 41 コア側薄膜 42 ギャップ側薄膜 5,51,53 ギャップ 6 下地膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 荒川 雅行 東京都中央区日本橋一丁目13番1号 テイ ーデイーケイ株式会社内

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 それぞれフェライトから構成される一対
    のコアを有し、少なくとも一方のコアとギャップとの間
    に、前記コアより飽和磁束密度の高い軟磁性薄膜を有す
    る磁気ヘッドであって、 前記軟磁性薄膜が、Fe、AlおよびSiを主成分と
    し、 前記軟磁性薄膜の飽和磁束密度が、前記ギャップ近傍よ
    りも前記コア近傍のほうが低いことを特徴とする磁気ヘ
    ッド。
  2. 【請求項2】 前記軟磁性薄膜の飽和磁束密度が、前記
    ギャップに接している側から前記コアに接している側に
    かけて漸減している請求項1に記載の磁気ヘッド。
  3. 【請求項3】 前記軟磁性薄膜の組成が、 Al:3〜7重量%、 Si:5〜12重量%、 残部:Fe である請求項2に記載の磁気ヘッド。
  4. 【請求項4】 前記軟磁性薄膜が飽和磁束密度の異なる
    少なくとも2層の薄膜から構成される請求項1に記載の
    磁気ヘッド。
  5. 【請求項5】 前記軟磁性薄膜が、 Al:3〜7重量%、 Si:5〜12重量%、 残部:Fe の組成を有するコア側薄膜と、 Al:3〜7重量%、 Si:3〜8重量%、 Ni:1〜5重量%、 残部:Fe の組成を有するギャップ側薄膜とを有する請求項4に記
    載の磁気ヘッド。
  6. 【請求項6】 前記軟磁性薄膜と前記コアとの間に、C
    r、Mo、Ta、Ti、W、VおよびNbの少なくとも
    1種から構成される下地膜を有する請求項1ないし5の
    いずれかに記載の磁気ヘッド。
  7. 【請求項7】 作業温度Twが300〜850℃の溶着
    ガラスにより前記一対のコアが溶着一体化されている請
    求項1ないし6のいずれかに記載の磁気ヘッド。
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