JPH05124237A - サーマルプリントヘツド - Google Patents
サーマルプリントヘツドInfo
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- JPH05124237A JPH05124237A JP28779091A JP28779091A JPH05124237A JP H05124237 A JPH05124237 A JP H05124237A JP 28779091 A JP28779091 A JP 28779091A JP 28779091 A JP28779091 A JP 28779091A JP H05124237 A JPH05124237 A JP H05124237A
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- Japan
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- pattern
- heating resistor
- electrode
- print head
- etching
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 サーマルプリントヘッドのフォトリソエッチ
ング時の位置合わせの基準となるパターンのエッチング
精度を向上し、電極パターンと発熱抵抗体列部との高精
度なアライメントをすることにより、高品位なヘッドを
提供する。 【構成】 基板の表面に発熱抵抗体層、電極層が積層し
て形成された前記電極層の電極パターンと発熱抵抗体パ
ターンのフォトリソ位置合わせマーク形成周辺部が、あ
らかじめハーフエッチングされていることを特徴とす
る。
ング時の位置合わせの基準となるパターンのエッチング
精度を向上し、電極パターンと発熱抵抗体列部との高精
度なアライメントをすることにより、高品位なヘッドを
提供する。 【構成】 基板の表面に発熱抵抗体層、電極層が積層し
て形成された前記電極層の電極パターンと発熱抵抗体パ
ターンのフォトリソ位置合わせマーク形成周辺部が、あ
らかじめハーフエッチングされていることを特徴とす
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、サーマルプリントヘッ
ドに関する。
ドに関する。
【0002】
【従来の技術】従来のサーマルプリントヘッドの製造方
法としては、図5〜図9に示すものがそれぞれ知られて
いる。
法としては、図5〜図9に示すものがそれぞれ知られて
いる。
【0003】図5、図6は従来の製造方法によるサーマ
ルプリントヘッドのエッチング後の部分拡大図である。
図7は従来の製造方法によるサーマルプリントヘッドの
フォトリソの製造工程を示す図である。図8は従来の製
造方法によるサーマルプリントヘッドの平面図である。
図9は図8における発熱抵抗体列部付近I−Iの側断面
図である。図7、8、9において、1は耐熱性絶縁性基
板、2はグレーズガラス、3は発熱抵抗体層、3aは発
熱抵抗体列パターン、4は電極層、4aは電極パター
ン、4bは共通電極パターン、4cは個別電極パター
ン、5は保護層、6はフォトマスク、7はレジストであ
る。
ルプリントヘッドのエッチング後の部分拡大図である。
図7は従来の製造方法によるサーマルプリントヘッドの
フォトリソの製造工程を示す図である。図8は従来の製
造方法によるサーマルプリントヘッドの平面図である。
図9は図8における発熱抵抗体列部付近I−Iの側断面
図である。図7、8、9において、1は耐熱性絶縁性基
板、2はグレーズガラス、3は発熱抵抗体層、3aは発
熱抵抗体列パターン、4は電極層、4aは電極パター
ン、4bは共通電極パターン、4cは個別電極パター
ン、5は保護層、6はフォトマスク、7はレジストであ
る。
【0004】図8及び図9に示す従来のシリアル型のサ
ーマルプリントヘッドは、基板表面に数千オングストロ
ームの膜厚に成膜された発熱抵抗体層3上に、電極層4
を1〜3μm程度の厚みに積層し形成されていた。この
時、個別電極パターン4cのリード抵抗値をできるだけ
低く抑え、発熱抵抗体素子間でのリード抵抗値のバラツ
キが小さく、更に充分な電流容量を確保できるよう電極
層4の膜厚は1.0μm程度に形成されている。この電
極パターン4aは、1回のフォトリソエッチングにより
パターン形成するため、電極パターン4aの膜厚は一定
の厚みに形成されている。
ーマルプリントヘッドは、基板表面に数千オングストロ
ームの膜厚に成膜された発熱抵抗体層3上に、電極層4
を1〜3μm程度の厚みに積層し形成されていた。この
時、個別電極パターン4cのリード抵抗値をできるだけ
低く抑え、発熱抵抗体素子間でのリード抵抗値のバラツ
キが小さく、更に充分な電流容量を確保できるよう電極
層4の膜厚は1.0μm程度に形成されている。この電
極パターン4aは、1回のフォトリソエッチングにより
パターン形成するため、電極パターン4aの膜厚は一定
の厚みに形成されている。
【0005】従来構造によるサーマルプリントヘッドに
は、以下のような問題点があった。図5に示すように、
例えば電極材料にAuを使用した場合、充分な電流容量
を確保するため、0.5μm〜1μm程度の膜厚に形成
されている。更に、サーマルプリントヘッドのコストダ
ウンを図るため、安価なAl等の比抵抗値の高い電極材
料を導体パターンとして使用する場合、電極層4の膜厚
は2〜3μm程度必要となる。このように電極層4の膜
厚が厚い場合、フォトリソエッチング時の電極パターン
形状は、アンダーカット量10が大きくなりパターン細
りや断面形状的には極端な台形形状のパターンが形成さ
れやすかった。
は、以下のような問題点があった。図5に示すように、
例えば電極材料にAuを使用した場合、充分な電流容量
を確保するため、0.5μm〜1μm程度の膜厚に形成
されている。更に、サーマルプリントヘッドのコストダ
ウンを図るため、安価なAl等の比抵抗値の高い電極材
料を導体パターンとして使用する場合、電極層4の膜厚
は2〜3μm程度必要となる。このように電極層4の膜
厚が厚い場合、フォトリソエッチング時の電極パターン
形状は、アンダーカット量10が大きくなりパターン細
りや断面形状的には極端な台形形状のパターンが形成さ
れやすかった。
【0006】図7の製造工程図に示すように、電極パタ
ーン4a形成をポジレジストを使用し、アライメントか
ら現像後1回のフォトリソエッチングによりパターン形
成した場合、エッチング液やプラズマが試料面にあらゆ
る方向から照射されるため、等方的にエッチングは進行
する。エッチングが進行すると、側面が露出してくるが
この部分はレジスト7によりマスキング(保護)されて
いないため、エッチングは材料表面に垂直方向に進と同
時に、図4に示すa方向へも進行する。この結果、レジ
ストマスク7の下への回り込み量は被エッチング部の膜
厚と同じ厚み分回り込みエッチングされ、エッチング後
の薄膜パターン断面は台形形状となる。これは、電極層
4の膜厚が厚くなるほどレジストマスク7下への回り込
み量が増え、極端な台形パターンが形成されやすく、エ
ッチング後のパターン精度はバラツキやすくなってい
た。更に、発熱抵抗体列パターン3aを形成するため、
前記電極パターン4a上に発熱抵抗体列パターン3aが
形成されたフォトマスク6を重ね合わせフォトリソアラ
イメントを行う。この場合、基準電極パターン4aへの
フォトマスク6の重ね合わせのアライメントは目視によ
り行うため、基準の電極パターン4aがパターン細り
や、極端な台形形状になっていると電極パターン4aと
発熱抵抗体パターン3a形成用の、フォトマスクの位置
合わせの精度がでにくいという問題を有していた。
ーン4a形成をポジレジストを使用し、アライメントか
ら現像後1回のフォトリソエッチングによりパターン形
成した場合、エッチング液やプラズマが試料面にあらゆ
る方向から照射されるため、等方的にエッチングは進行
する。エッチングが進行すると、側面が露出してくるが
この部分はレジスト7によりマスキング(保護)されて
いないため、エッチングは材料表面に垂直方向に進と同
時に、図4に示すa方向へも進行する。この結果、レジ
ストマスク7の下への回り込み量は被エッチング部の膜
厚と同じ厚み分回り込みエッチングされ、エッチング後
の薄膜パターン断面は台形形状となる。これは、電極層
4の膜厚が厚くなるほどレジストマスク7下への回り込
み量が増え、極端な台形パターンが形成されやすく、エ
ッチング後のパターン精度はバラツキやすくなってい
た。更に、発熱抵抗体列パターン3aを形成するため、
前記電極パターン4a上に発熱抵抗体列パターン3aが
形成されたフォトマスク6を重ね合わせフォトリソアラ
イメントを行う。この場合、基準電極パターン4aへの
フォトマスク6の重ね合わせのアライメントは目視によ
り行うため、基準の電極パターン4aがパターン細り
や、極端な台形形状になっていると電極パターン4aと
発熱抵抗体パターン3a形成用の、フォトマスクの位置
合わせの精度がでにくいという問題を有していた。
【0007】図6に示すように、特に発熱抵抗体列のド
ット密度が高密度化した場合や、発熱抵抗体列パターン
3aのパターン形状がミアンダ型や熱集中型のように特
殊な形状である場合、発熱抵抗体列パターン3aの副走
査側長手方向パターンLが発熱抵抗体中心からの振り分
けが左右対称ではなくなる。このような場合、発熱抵抗
体列パターン3aを流れる電流の方向の変化や、通電時
の発熱温度分布が発熱抵抗体列パターン3aの中心から
ズレるため、発熱ピークの片寄り等に起因する発熱特性
のバラツキがでやすくなっており、印字品質のバラツキ
の一因となっていた。このため、電極パターンと発熱抵
抗列体パターンとの高精度な位置合わせが必要であっ
た。
ット密度が高密度化した場合や、発熱抵抗体列パターン
3aのパターン形状がミアンダ型や熱集中型のように特
殊な形状である場合、発熱抵抗体列パターン3aの副走
査側長手方向パターンLが発熱抵抗体中心からの振り分
けが左右対称ではなくなる。このような場合、発熱抵抗
体列パターン3aを流れる電流の方向の変化や、通電時
の発熱温度分布が発熱抵抗体列パターン3aの中心から
ズレるため、発熱ピークの片寄り等に起因する発熱特性
のバラツキがでやすくなっており、印字品質のバラツキ
の一因となっていた。このため、電極パターンと発熱抵
抗列体パターンとの高精度な位置合わせが必要であっ
た。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】解決しようとする課題
は、サーマルプリントヘッドのフォトリソエッチング時
の位置合わせの基準となるパターンのエッチング精度を
向上し、電極パターンと発熱抵抗体列部との高精度なア
ライメントをすることにより、高品位なヘッドを提供す
ることにある。
は、サーマルプリントヘッドのフォトリソエッチング時
の位置合わせの基準となるパターンのエッチング精度を
向上し、電極パターンと発熱抵抗体列部との高精度なア
ライメントをすることにより、高品位なヘッドを提供す
ることにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明のサーマルプリン
トヘッドは、基板の表面に発熱抵抗体層、電極層を積層
して形成し、各パターンがフォトリソエッチング方法に
より薄膜形成された、多数個の発熱抵抗体素子を設けて
なるサーマルプリントヘッドの、リード電極パターンと
発熱抵抗体列パターンの、フォトリソ位置合わせマーク
形成周辺部の前記電極層が、あらかじめハーフエッチン
グされていることを特徴とする。
トヘッドは、基板の表面に発熱抵抗体層、電極層を積層
して形成し、各パターンがフォトリソエッチング方法に
より薄膜形成された、多数個の発熱抵抗体素子を設けて
なるサーマルプリントヘッドの、リード電極パターンと
発熱抵抗体列パターンの、フォトリソ位置合わせマーク
形成周辺部の前記電極層が、あらかじめハーフエッチン
グされていることを特徴とする。
【0010】
【実施例】以下に本発明による実施例を図面に基づいて
説明する。図1(A)、(B)は本発明におけるサーマ
ルプリントヘッドの全体を示す平面図である。図2は図
1における発熱抵抗体列部付近I−Iの側断面図であ
る。図3、図4はフォトリソエッチングの製造工程を示
す図である。1〜9の各構成の符号は図8と同様であ
り、また8はハーフエッチング部、9は位置決め合わせ
マーク、10はアンダーカット部である。
説明する。図1(A)、(B)は本発明におけるサーマ
ルプリントヘッドの全体を示す平面図である。図2は図
1における発熱抵抗体列部付近I−Iの側断面図であ
る。図3、図4はフォトリソエッチングの製造工程を示
す図である。1〜9の各構成の符号は図8と同様であ
り、また8はハーフエッチング部、9は位置決め合わせ
マーク、10はアンダーカット部である。
【0011】図1に示すように、電極パターン4aと発
熱抵抗体列パターン3aのフォトリソアライメント時に
使用する位置決め合わせマーク9は、基板1上に形成さ
れたグレーズガラス2の両端部に形成されている。ハー
フエッチング部8のパターン形状は、前記グレーズガラ
ス2上に形成された位置決め合わせマーク9の全体が治
まるように、それぞれ、位置決め合わせマーク9パター
ンの外形より50〜100μm程度広く枠状(□型)に
作成されている。基板1に対するハーフエッチング部8
のアライメントは、基板1上に形成されているグレーズ
ガラス2の外形にハーフエッチング用のパターンを合わ
せ込みフォトリソを行いパターン形成する。
熱抵抗体列パターン3aのフォトリソアライメント時に
使用する位置決め合わせマーク9は、基板1上に形成さ
れたグレーズガラス2の両端部に形成されている。ハー
フエッチング部8のパターン形状は、前記グレーズガラ
ス2上に形成された位置決め合わせマーク9の全体が治
まるように、それぞれ、位置決め合わせマーク9パター
ンの外形より50〜100μm程度広く枠状(□型)に
作成されている。基板1に対するハーフエッチング部8
のアライメントは、基板1上に形成されているグレーズ
ガラス2の外形にハーフエッチング用のパターンを合わ
せ込みフォトリソを行いパターン形成する。
【0012】図2に示すように、基板1上に発熱抵抗体
層3・電極層4が積層して形成され、前記電極層4のマ
スク位置合わせ用の薄膜パターンの一部がハーフエッチ
ングされている。このサーマルプリントヘッドは以下の
ような工程により製造する。一般的にサーマルプリント
ヘッドの製造方法としては、1枚のアルミナ等の基板か
らフォトリソ方法により多数個のヘッドを同時に製作し
ている。
層3・電極層4が積層して形成され、前記電極層4のマ
スク位置合わせ用の薄膜パターンの一部がハーフエッチ
ングされている。このサーマルプリントヘッドは以下の
ような工程により製造する。一般的にサーマルプリント
ヘッドの製造方法としては、1枚のアルミナ等の基板か
らフォトリソ方法により多数個のヘッドを同時に製作し
ている。
【0013】まず、スクリーン印刷法によりガラスフリ
ットを印刷し、焼成してグレーズガラス2が形成された
耐熱性絶縁性基板1上に、発熱抵抗体層3、電極層4を
スパッタリング等の真空薄膜装置により成膜を行う。
ットを印刷し、焼成してグレーズガラス2が形成された
耐熱性絶縁性基板1上に、発熱抵抗体層3、電極層4を
スパッタリング等の真空薄膜装置により成膜を行う。
【0014】図3はハーフエッチング部8を形成する、
フォトリソエッチングの製造工程を示す図である。ま
ず、前記発熱抵抗体層3と電極層4が成膜された積層膜
上全面にスピンコータ・ロールコータ等によりレジスト
7を塗布し、プレベークを行う。次に図1(a)、
(b)に示す電極パターン4aと発熱抵抗体列パターン
3a形成時に使用する、フォトリソアライメント用の位
置決め合わせマーク9が形成される周辺部のみがエッチ
ングされるパターンを有したフォトマスク6を使用しフ
ォトリソアライメントを行う。基板1に対するハーフエ
ッチング部8のアライメントは、基板1上に形成されて
いるグレーズガラス2の外形にハーフエッチング用のパ
ターンを合わせ込みフォトリソを行う。その後露光・現
像・エッチングを行いハーフエッチング部を形成する。
フォトリソエッチングの製造工程を示す図である。ま
ず、前記発熱抵抗体層3と電極層4が成膜された積層膜
上全面にスピンコータ・ロールコータ等によりレジスト
7を塗布し、プレベークを行う。次に図1(a)、
(b)に示す電極パターン4aと発熱抵抗体列パターン
3a形成時に使用する、フォトリソアライメント用の位
置決め合わせマーク9が形成される周辺部のみがエッチ
ングされるパターンを有したフォトマスク6を使用しフ
ォトリソアライメントを行う。基板1に対するハーフエ
ッチング部8のアライメントは、基板1上に形成されて
いるグレーズガラス2の外形にハーフエッチング用のパ
ターンを合わせ込みフォトリソを行う。その後露光・現
像・エッチングを行いハーフエッチング部を形成する。
【0015】ハーフエッチング方法としては、エッチン
グ液への浸漬やスプレーによるウエットエッチングと比
較して、マスキングするレジスト7の下への回り込み量
(アンダーカット量)の少ない、ケミカルドライエッチ
ング法により電極層4をハーフエッチングする。
グ液への浸漬やスプレーによるウエットエッチングと比
較して、マスキングするレジスト7の下への回り込み量
(アンダーカット量)の少ない、ケミカルドライエッチ
ング法により電極層4をハーフエッチングする。
【0016】通常の基板1面までの貫通エッチングは下
地の基板面の色を目視により確認しながらエッチングを
行うが、電極層4のハーフエッチングはエッチングの進
行が目視により判別できないため、ハーフエッチングの
方法としては、エッチングを時間で管理してハーフエッ
チング部8を形成するのが望ましい。例えば電極材料を
NiCr(0.15μ)m/Au(0.5μm)により
構成された電極層4を、リード電極にパターン形成した
時の貫通エッチング時間は200sec程度である。こ
の場合、前記の電極構成の電極層4をハーフエッチング
する場合は、エッチング時間を100secとした場
合、エッチング部が総膜厚0.32μm程度に部分的に
ハーフエッチングされた電極層4が形成される。
地の基板面の色を目視により確認しながらエッチングを
行うが、電極層4のハーフエッチングはエッチングの進
行が目視により判別できないため、ハーフエッチングの
方法としては、エッチングを時間で管理してハーフエッ
チング部8を形成するのが望ましい。例えば電極材料を
NiCr(0.15μ)m/Au(0.5μm)により
構成された電極層4を、リード電極にパターン形成した
時の貫通エッチング時間は200sec程度である。こ
の場合、前記の電極構成の電極層4をハーフエッチング
する場合は、エッチング時間を100secとした場
合、エッチング部が総膜厚0.32μm程度に部分的に
ハーフエッチングされた電極層4が形成される。
【0017】図4は部分的にハーフエッチングされた電
極層4を、電極パターン4aに形成するフォトリソエッ
チングの製造工程を示す図である。
極層4を、電極パターン4aに形成するフォトリソエッ
チングの製造工程を示す図である。
【0018】部分的にハーフエッチングされた電極層4
に所望の電極パターン4aが形成されたフォトマスク6
を使用し、電極パターン4aを形成する。まず、部分的
にハーフエッチングされた電極層4の膜上全面にスピン
コーター・ロールコーター等によりレジスト7を塗布
し、プレベークを行う。次に図1(a)、(b)に示す
電極パターン4aを有したフォトマスク6を使用しフォ
トリソアライメントを行う。
に所望の電極パターン4aが形成されたフォトマスク6
を使用し、電極パターン4aを形成する。まず、部分的
にハーフエッチングされた電極層4の膜上全面にスピン
コーター・ロールコーター等によりレジスト7を塗布
し、プレベークを行う。次に図1(a)、(b)に示す
電極パターン4aを有したフォトマスク6を使用しフォ
トリソアライメントを行う。
【0019】この工程でのフォトリソアライメント方法
は、基板1上に形成されたグレーズガラス2の外形に電
極パターン4aの合わせマークを合わせ位置決めを行
う。次に、露光・現像し電極パターン4a外や、パター
ン間の不要部分の積層膜をエッチングにより除去し、レ
ジスト剥離後電極パターン4aを形成する。
は、基板1上に形成されたグレーズガラス2の外形に電
極パターン4aの合わせマークを合わせ位置決めを行
う。次に、露光・現像し電極パターン4a外や、パター
ン間の不要部分の積層膜をエッチングにより除去し、レ
ジスト剥離後電極パターン4aを形成する。
【0020】この後図1(a)、(b)に示す発熱抵抗
体列パターン3aが形成されたフォトマスクを使用し、
前記電極パターン4a形成時と同様のフォトリソ方法に
より(図示せず)、電極パターンの発熱抵抗体形成部の
電極のみを除去し発熱抵抗体列パターン3aを形成す
る。この電極パターン4a内に形成されている櫛歯型位
置決め合わせマーク9に発熱抵抗体列パターン3a内の
フォトマスク重ね合わせ用のマークを合わせ、電極パタ
ーン4aに対する発熱抵抗体列パターン3aの位置決め
を行う。その後、露光・現像・エッチングを行い、レジ
スト剥離後発熱抵抗体列パターン3aを形成する。
体列パターン3aが形成されたフォトマスクを使用し、
前記電極パターン4a形成時と同様のフォトリソ方法に
より(図示せず)、電極パターンの発熱抵抗体形成部の
電極のみを除去し発熱抵抗体列パターン3aを形成す
る。この電極パターン4a内に形成されている櫛歯型位
置決め合わせマーク9に発熱抵抗体列パターン3a内の
フォトマスク重ね合わせ用のマークを合わせ、電極パタ
ーン4aに対する発熱抵抗体列パターン3aの位置決め
を行う。その後、露光・現像・エッチングを行い、レジ
スト剥離後発熱抵抗体列パターン3aを形成する。
【0021】この時、基準となる電極パターン4aの合
わせマーク9が形成されている周辺は、ハーフエッチン
グにより総膜厚が薄いため、エッチング時のアンダーカ
ット量が小さいため、キレの良いシャープなパターンが
形成されており、パターンの断面形状的には緩やかな台
形形状のパターンが得られている。このためフォトリソ
アライメントの作業がしやすく、基板によってのバラツ
キも抑えることができサーマルプリントヘッド製造の歩
留りを向上することができる。
わせマーク9が形成されている周辺は、ハーフエッチン
グにより総膜厚が薄いため、エッチング時のアンダーカ
ット量が小さいため、キレの良いシャープなパターンが
形成されており、パターンの断面形状的には緩やかな台
形形状のパターンが得られている。このためフォトリソ
アライメントの作業がしやすく、基板によってのバラツ
キも抑えることができサーマルプリントヘッド製造の歩
留りを向上することができる。
【0022】逆に、アンダーカット量が大きく、形成さ
れたパターンの断面形状が極端な台形形状の場合は、発
熱抵抗体列パターン3a用のフォトマスク6を重ね合わ
せた場合、パターン部と非パターン部の境界部分が不鮮
明となり、重ね合わせるフォトマスクの発熱抵抗体パタ
ーン3aとの位置決めの精度がバラツキやすくなる。電
極パターン4aに対し発熱抵抗体パターン3aの位置ズ
レが生じた場合、横方向(副走査側)のズレに対しては
図6に示すbの発熱部分の熱分布(発熱ピーク位置)が
乱れることから、発熱記録されたドットも乱れ不揃いに
なると言う不具合点が生ずる。また、横方向のズレ量が
大きくなれば正常に位置合わせされた発熱抵抗体の製品
抵抗値との差が大きくなるので、1基板内での平均抵抗
値のバラツキも大きくなるという不具合が生ずる。
れたパターンの断面形状が極端な台形形状の場合は、発
熱抵抗体列パターン3a用のフォトマスク6を重ね合わ
せた場合、パターン部と非パターン部の境界部分が不鮮
明となり、重ね合わせるフォトマスクの発熱抵抗体パタ
ーン3aとの位置決めの精度がバラツキやすくなる。電
極パターン4aに対し発熱抵抗体パターン3aの位置ズ
レが生じた場合、横方向(副走査側)のズレに対しては
図6に示すbの発熱部分の熱分布(発熱ピーク位置)が
乱れることから、発熱記録されたドットも乱れ不揃いに
なると言う不具合点が生ずる。また、横方向のズレ量が
大きくなれば正常に位置合わせされた発熱抵抗体の製品
抵抗値との差が大きくなるので、1基板内での平均抵抗
値のバラツキも大きくなるという不具合が生ずる。
【0023】また、サーマルプリントヘッドのコストダ
ウンを図り、電極材料として安価なAl等を使用した場
合、Alは比抵抗値がAuと比較して高いため、リード
抵抗値を低く抑えるためには膜厚を3μm程度に厚く形
成する必要がある。この様な場合、フォトリソエッチン
グ時のアンダーカット量(大きさ)は加工深さ(膜厚)
の増大と共に大きくなるため、発熱抵抗体形成位置のバ
ラツキも大きくなりその結果、発熱記録されたドットも
より乱れやすく印字ムラが顕著になる。
ウンを図り、電極材料として安価なAl等を使用した場
合、Alは比抵抗値がAuと比較して高いため、リード
抵抗値を低く抑えるためには膜厚を3μm程度に厚く形
成する必要がある。この様な場合、フォトリソエッチン
グ時のアンダーカット量(大きさ)は加工深さ(膜厚)
の増大と共に大きくなるため、発熱抵抗体形成位置のバ
ラツキも大きくなりその結果、発熱記録されたドットも
より乱れやすく印字ムラが顕著になる。
【0024】この後、図2に示すように前記積層薄膜パ
ターン上に耐摩耗・耐酸化機能を有する絶縁性耐熱保護
層5を、スパッタ等の真空薄膜装置により形成する。
ターン上に耐摩耗・耐酸化機能を有する絶縁性耐熱保護
層5を、スパッタ等の真空薄膜装置により形成する。
【0025】
【発明の効果】本発明のサーマルプリントヘッドは、薄
膜形成された電極層のフォトマスク重ね合わせパターン
形成部の周辺部がハーフエッチングされていることによ
り、部分的に総膜厚が薄い構成であるため以下の点が改
善される。
膜形成された電極層のフォトマスク重ね合わせパターン
形成部の周辺部がハーフエッチングされていることによ
り、部分的に総膜厚が薄い構成であるため以下の点が改
善される。
【0026】(1)フォトリソエッチング時、アンダー
カットの小さい台形形状の基準パターンが形成できるこ
とから、基準パターンへのフォトマスクの位置合わせが
精度良く合わせられることにより、発熱抵抗体形成位置
のズレに起因する印字不良(印字濃度ムラ)を無くし、
印字品質の安定したサーマルプリントヘッドを製造でき
る。
カットの小さい台形形状の基準パターンが形成できるこ
とから、基準パターンへのフォトマスクの位置合わせが
精度良く合わせられることにより、発熱抵抗体形成位置
のズレに起因する印字不良(印字濃度ムラ)を無くし、
印字品質の安定したサーマルプリントヘッドを製造でき
る。
【0027】(2)フォトリソエッチング時に生ずるパ
ターンの位置ズレにより生ずる、ドットの乱れや、サー
マルプリントヘッドの製品抵抗値のバラツキ等の不具合
点を解消することができ、サーマルプリントヘッドの製
造歩留りを向上させる効果がある。
ターンの位置ズレにより生ずる、ドットの乱れや、サー
マルプリントヘッドの製品抵抗値のバラツキ等の不具合
点を解消することができ、サーマルプリントヘッドの製
造歩留りを向上させる効果がある。
【図1】本発明におけるサーマルプリントヘッドの全体
を示す平面図。
を示す平面図。
【図2】本発明におけるサーマルプリントヘッドの発熱
部周辺の側断面図。
部周辺の側断面図。
【図3】本発明におけるサーマルプリントヘッドのフォ
トリソ製造工程を示す図。
トリソ製造工程を示す図。
【図4】本発明におけるサーマルプリントヘッドのフォ
トリソ製造工程を示す図。
トリソ製造工程を示す図。
【図5】従来構成によるサーマルプリントヘッドの発熱
体部周辺の部分拡大図。
体部周辺の部分拡大図。
【図6】従来構成によるサーマルプリントヘッドの発熱
体部周辺の部分拡大図。
体部周辺の部分拡大図。
【図7】従来構成によるサーマルプリントヘッドのフォ
トリソ製造工程を示す図。
トリソ製造工程を示す図。
【図8】従来構造によるサーマルプリントヘッドの全体
を示す平面図。
を示す平面図。
【図9】従来構造によるサーマルプリントヘッドの発熱
部周辺の側断面図。
部周辺の側断面図。
1 耐熱性絶縁性基板 2 グレーズガラス 3 発熱抵抗体層 3a 発熱抵抗体列パターン 4 電極層 4a 電極パターン 4b 共通電極部 4c 個別電極部 5 保護膜層 6 フォトマスク 7 レジストマスク(レジスト) 8 ハーフエッチング部 9 位置決め合わせマーク 10 アンダーカット部
Claims (1)
- 【請求項1】 基板の表面に発熱抵抗体層、電極層を積
層して形成し、各パターンがフォトリソエッチング方法
により薄膜形成された、多数個の発熱抵抗体素子を設け
てなるサーマルプリントヘッドにおいて、リード電極パ
ターンと発熱抵抗体列パターンの、フォトリソ位置合わ
せマーク形成周辺部の前記電極層が、あらかじめハーフ
エッチングされていることを特徴とするサーマルプリン
トヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28779091A JPH05124237A (ja) | 1991-11-01 | 1991-11-01 | サーマルプリントヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28779091A JPH05124237A (ja) | 1991-11-01 | 1991-11-01 | サーマルプリントヘツド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05124237A true JPH05124237A (ja) | 1993-05-21 |
Family
ID=17721782
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28779091A Pending JPH05124237A (ja) | 1991-11-01 | 1991-11-01 | サーマルプリントヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05124237A (ja) |
-
1991
- 1991-11-01 JP JP28779091A patent/JPH05124237A/ja active Pending
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