JPH0512668A - 異常ピツト検出方法及び検出装置 - Google Patents
異常ピツト検出方法及び検出装置Info
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- JPH0512668A JPH0512668A JP19085991A JP19085991A JPH0512668A JP H0512668 A JPH0512668 A JP H0512668A JP 19085991 A JP19085991 A JP 19085991A JP 19085991 A JP19085991 A JP 19085991A JP H0512668 A JPH0512668 A JP H0512668A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光ディスクから得られるトラッキングエラー
信号を利用して異常ピットを検出する。 【構成】 トラッキングエラー信号を微分回路４に通す
と、高周波のトラッキングエラー信号の変動のみが取り
出される。すなわち、トラッキング信号から低周波変動
を除去できる。比較回路６により基準値発生回路５で設
定された値と比較し、基準値より大きな変動を異常ピッ
トとして検出する。
信号を利用して異常ピットを検出する。 【構成】 トラッキングエラー信号を微分回路４に通す
と、高周波のトラッキングエラー信号の変動のみが取り
出される。すなわち、トラッキング信号から低周波変動
を除去できる。比較回路６により基準値発生回路５で設
定された値と比較し、基準値より大きな変動を異常ピッ
トとして検出する。
Description
【０００１】
【技術分野】本発明は、異常ピット検出方法及び検出装
置に関し、より詳細には、光ディスクの成形基板をチェ
ックするための異常ピット検出方法及び検出装置に関す
る。
置に関し、より詳細には、光ディスクの成形基板をチェ
ックするための異常ピット検出方法及び検出装置に関す
る。
【０００２】
【従来技術】光ディスクは、マスタリングによってでき
たスタンパの形状を、プラスチックなどの基板上に転写
し、基板上に記録材料の層を形成するという順序で生成
される。スタンパ上にはプリフォーマットピット列が存
在するが、大きさが１μｍ程度と微細なため、基板上に
正しく形状が転写されず異常ピットとなってしまう場合
がある。図１０にはその様子が示されている。すなわち
壁面ダレやピット端めくれなどの異常ピットが発生して
いる。プリフォーマット部分の異常ピットは、光ディス
クの信号品質に直接影響するため、何らかの方法でこれ
ら異常ピットが存在する基板をチェックしなければなら
ないが、従来異常ピットの検出方法は明らかにされてい
なかった。
たスタンパの形状を、プラスチックなどの基板上に転写
し、基板上に記録材料の層を形成するという順序で生成
される。スタンパ上にはプリフォーマットピット列が存
在するが、大きさが１μｍ程度と微細なため、基板上に
正しく形状が転写されず異常ピットとなってしまう場合
がある。図１０にはその様子が示されている。すなわち
壁面ダレやピット端めくれなどの異常ピットが発生して
いる。プリフォーマット部分の異常ピットは、光ディス
クの信号品質に直接影響するため、何らかの方法でこれ
ら異常ピットが存在する基板をチェックしなければなら
ないが、従来異常ピットの検出方法は明らかにされてい
なかった。
【０００３】そこで、トラッキングエラー信号変動量を
基準値と比較し、これより大きな場合に異常ピツトとみ
なす方法である。この方法は、ピットを光ビームが走査
したとき、異常ピット端でトラッキングエラー信号変動
量が大きくなる現像を利用している。図１１にこの様子
を示す。ところが、異常ピット端以外でもトラッキング
エラー信号変動が生じる場合がある。これは、光ビーム
光軸・光ディスク傾き・ピット密度等の変動に対するサ
ーボ制御の過渡応答や、電気的オフセットの発生が原因
である。この種のトラッキングエラー信号変動は、異常
ピット端によるトラッキングエラー信号変動よりも低周
波である。
基準値と比較し、これより大きな場合に異常ピツトとみ
なす方法である。この方法は、ピットを光ビームが走査
したとき、異常ピット端でトラッキングエラー信号変動
量が大きくなる現像を利用している。図１１にこの様子
を示す。ところが、異常ピット端以外でもトラッキング
エラー信号変動が生じる場合がある。これは、光ビーム
光軸・光ディスク傾き・ピット密度等の変動に対するサ
ーボ制御の過渡応答や、電気的オフセットの発生が原因
である。この種のトラッキングエラー信号変動は、異常
ピット端によるトラッキングエラー信号変動よりも低周
波である。
【０００４】図１２（ａ）〜（ｃ）は、正常ピットと異
常ピットに対するトラッキングエラー信号を示す図であ
る。この図からもわかるように、トラッキングエラー信
号変動検出の基準値を一つに固定すると、異常ピット端
によるトラッキングエラー信号変動ばかりでなく、上記
低周波トラッキングエラー信号変動も検出してしまう。
すなわち、設定基準値によっては、本来異常ピットでな
いものを誤検出する可能性がある。
常ピットに対するトラッキングエラー信号を示す図であ
る。この図からもわかるように、トラッキングエラー信
号変動検出の基準値を一つに固定すると、異常ピット端
によるトラッキングエラー信号変動ばかりでなく、上記
低周波トラッキングエラー信号変動も検出してしまう。
すなわち、設定基準値によっては、本来異常ピットでな
いものを誤検出する可能性がある。
【０００５】
【目的】本発明は、上述のごとき実情に鑑みてなされた
もので、光ディスクから得られるトラッキングエラー信
号（以下、ＴＥ信号）を利用した異常ピット検出方法及
び検出装置を提供することを目的としてなされたもので
ある。
もので、光ディスクから得られるトラッキングエラー信
号（以下、ＴＥ信号）を利用した異常ピット検出方法及
び検出装置を提供することを目的としてなされたもので
ある。
【０００６】
【構成】本発明は、上記目的を達成するために、（１）
ＴＥ信号の微分出力の変動を基準値と比較し、該ＴＥ信
号の微分出力の変動が基準値を上回る場合に異常ピット
とみなすこと、更には、（２）アドレス部とデータ部を
区別し、該アドレス部のみを異常ピット検出の対象とす
ること、更には、（３）アドレス部を解読する機能を有
し、異常ピット検出と同時に異常ピットが存在するアド
レスも検出すること、更には、（４）光ディスクの回転
角度とアドレスを解読する機能を有し、異常ピット検出
と同時に異常ピットが存在する角度とアドレスを検出す
ること、更には、（５）光ディスクの回転角度と光ピッ
クアップの位置を解読する機能を有し、異常ピット検出
と同時に異常ピットが存在する角度と半径を検出するこ
と、或いは、（６）光ディスク上の情報を光ピックアッ
プにより取り出し、該光ピックアップからの信号を受
け、ＴＥ信号を発生するＴＥ信号発生回路と、該ＴＥ信
号発生回路からのＴＥ信号を微分する微分回路と、該微
分回路の出力と比較するためのＴＥ信号基準値を発生す
るＴＥ信号基準値発生回路と、前記微分回路の出力と、
前記ＴＥ信号基準値とを比較する比較回路とから成るこ
と、更には、（７）前記（６）において、前記光ピック
アップからの信号を受け、アドレス部とデータ部とを区
別するアドレス部・データ部識別回路と、前記比較回路
の出力を入力するパルス発生回路と、該パルス発生回路
からの異常ピット検出パルスと前記アドレス部・データ
部識別回路によるアドレス部ゲート信号とのアンドをと
るアンドゲート回路とから成ること、更には、（８）前
記（６）において、前記光ピックアップからの信号を受
け、アドレス部を解読するアドレス部解読回路と、前記
比較回路の出力を入力するパルス発生回路と、該パルス
発生回路からの異常ピット検出パルスを書き込み信号と
して、前記アドレス部解読回路により解読されたアドレ
スを記憶するメモリとから成ること、更には、（９）前
記（６）において、前記光ピックアップからの信号を受
け、アドレス部を解読するアドレス部解読回路と、光デ
ィスク回転角度解読回路と、前記比較回路の出力を入力
するパルス発生回路と、該パルス発生回路からの異常ピ
ット検出パルスによって、前記アドレス部解読回路と光
ディスク回転角度解読回路により解読されたアドレスお
よび回転角度を記録するメモリとから成ること、更に
は、（１０）前記（６）において、前記光ピックアップ
からの信号を受け、アドレス部を解読するアドレス部解
読回路と、光ディスク回転角度解読回路と、分割された
光ディスク上の領域に対応する複数のカウンタと、前記
比較回路の出力を入力するパルス発生回路と、前記アド
レス部解読回路と光ディスク回転角度解読回路によって
解読されたアドレスと回転角度により前記カウンタ中か
ら適切なカウンタを選択するカウンタ選択回路とから成
り、該パルス発生回路からの異常ピット検出パルスを、
該カウンタ選択回路により選択されたカウンタに計数す
ること、更には、（１１）前記（６）において、光ピッ
クアップ半径位置解読回路と、光ディスク回転角度解読
回路と、前記比較回路の出力を入力するパルス発生回路
と、該パルス発生回路からの異常ピット検出パルスによ
って、前記光ピックアップ半径位置解読回路と光ディス
ク回転角度解読回路により解読された半径位置および回
転角度を記録するメモリとから成ること、更には、（１
２）前記（６）において、光ピックアップ半径位置解読
回路と、光ディスク回転角度解読回路と、分割された光
ディスク上の領域に対応する複数のカウンタと、前記比
較回路の出力を入力するパルス発生回路と、前記光ピッ
クアップ半径位置解読回路と光ディスク回転角度解読回
路によって解読された半径位置と回転角度により前記カ
ウンタ中から適切なカウンタを選択するカウンタ選択回
路とから成り、該パルス発生回路からの異常ピット検出
パルスを、該カウンタ選択回路により選択されたカウン
タに計数することを特徴としたものである。以下、本発
明の実施例に基づいて説明する。
ＴＥ信号の微分出力の変動を基準値と比較し、該ＴＥ信
号の微分出力の変動が基準値を上回る場合に異常ピット
とみなすこと、更には、（２）アドレス部とデータ部を
区別し、該アドレス部のみを異常ピット検出の対象とす
ること、更には、（３）アドレス部を解読する機能を有
し、異常ピット検出と同時に異常ピットが存在するアド
レスも検出すること、更には、（４）光ディスクの回転
角度とアドレスを解読する機能を有し、異常ピット検出
と同時に異常ピットが存在する角度とアドレスを検出す
ること、更には、（５）光ディスクの回転角度と光ピッ
クアップの位置を解読する機能を有し、異常ピット検出
と同時に異常ピットが存在する角度と半径を検出するこ
と、或いは、（６）光ディスク上の情報を光ピックアッ
プにより取り出し、該光ピックアップからの信号を受
け、ＴＥ信号を発生するＴＥ信号発生回路と、該ＴＥ信
号発生回路からのＴＥ信号を微分する微分回路と、該微
分回路の出力と比較するためのＴＥ信号基準値を発生す
るＴＥ信号基準値発生回路と、前記微分回路の出力と、
前記ＴＥ信号基準値とを比較する比較回路とから成るこ
と、更には、（７）前記（６）において、前記光ピック
アップからの信号を受け、アドレス部とデータ部とを区
別するアドレス部・データ部識別回路と、前記比較回路
の出力を入力するパルス発生回路と、該パルス発生回路
からの異常ピット検出パルスと前記アドレス部・データ
部識別回路によるアドレス部ゲート信号とのアンドをと
るアンドゲート回路とから成ること、更には、（８）前
記（６）において、前記光ピックアップからの信号を受
け、アドレス部を解読するアドレス部解読回路と、前記
比較回路の出力を入力するパルス発生回路と、該パルス
発生回路からの異常ピット検出パルスを書き込み信号と
して、前記アドレス部解読回路により解読されたアドレ
スを記憶するメモリとから成ること、更には、（９）前
記（６）において、前記光ピックアップからの信号を受
け、アドレス部を解読するアドレス部解読回路と、光デ
ィスク回転角度解読回路と、前記比較回路の出力を入力
するパルス発生回路と、該パルス発生回路からの異常ピ
ット検出パルスによって、前記アドレス部解読回路と光
ディスク回転角度解読回路により解読されたアドレスお
よび回転角度を記録するメモリとから成ること、更に
は、（１０）前記（６）において、前記光ピックアップ
からの信号を受け、アドレス部を解読するアドレス部解
読回路と、光ディスク回転角度解読回路と、分割された
光ディスク上の領域に対応する複数のカウンタと、前記
比較回路の出力を入力するパルス発生回路と、前記アド
レス部解読回路と光ディスク回転角度解読回路によって
解読されたアドレスと回転角度により前記カウンタ中か
ら適切なカウンタを選択するカウンタ選択回路とから成
り、該パルス発生回路からの異常ピット検出パルスを、
該カウンタ選択回路により選択されたカウンタに計数す
ること、更には、（１１）前記（６）において、光ピッ
クアップ半径位置解読回路と、光ディスク回転角度解読
回路と、前記比較回路の出力を入力するパルス発生回路
と、該パルス発生回路からの異常ピット検出パルスによ
って、前記光ピックアップ半径位置解読回路と光ディス
ク回転角度解読回路により解読された半径位置および回
転角度を記録するメモリとから成ること、更には、（１
２）前記（６）において、光ピックアップ半径位置解読
回路と、光ディスク回転角度解読回路と、分割された光
ディスク上の領域に対応する複数のカウンタと、前記比
較回路の出力を入力するパルス発生回路と、前記光ピッ
クアップ半径位置解読回路と光ディスク回転角度解読回
路によって解読された半径位置と回転角度により前記カ
ウンタ中から適切なカウンタを選択するカウンタ選択回
路とから成り、該パルス発生回路からの異常ピット検出
パルスを、該カウンタ選択回路により選択されたカウン
タに計数することを特徴としたものである。以下、本発
明の実施例に基づいて説明する。
【０００７】図１は、本発明による異常ピット検出方法
及び検出装置の一実施例（請求項１，６）を説明するた
めの構成図で、１は光ディスク、２は光ピックアップ、
３はＴＥ信号発生回路、４は微分回路、５はＴＥ信号基
準値発生回路、６は比較回路である。ＴＥ信号を微分回
路４に通すと、高周波のＴＥ信号変動のみが取り出され
る。すなわち、図１２（ｂ）のＴＥ信号から低周波変動
を除去して図１２（ｃ）の様にすることが出来る。この
後、比較回路６によりＴＥ信号基準値発生回路５で設定
された値と比較し、基準値より大きな変動を異常ピット
として検出する。異常ピット検出信号を利用して種々の
測定ができる。例えば、異常ピット検出信号を計数する
ことにより、光ディスク全面における異常ピットの数が
わかる。
及び検出装置の一実施例（請求項１，６）を説明するた
めの構成図で、１は光ディスク、２は光ピックアップ、
３はＴＥ信号発生回路、４は微分回路、５はＴＥ信号基
準値発生回路、６は比較回路である。ＴＥ信号を微分回
路４に通すと、高周波のＴＥ信号変動のみが取り出され
る。すなわち、図１２（ｂ）のＴＥ信号から低周波変動
を除去して図１２（ｃ）の様にすることが出来る。この
後、比較回路６によりＴＥ信号基準値発生回路５で設定
された値と比較し、基準値より大きな変動を異常ピット
として検出する。異常ピット検出信号を利用して種々の
測定ができる。例えば、異常ピット検出信号を計数する
ことにより、光ディスク全面における異常ピットの数が
わかる。
【０００８】図２は、本発明による異常ピット検出方法
及び検出装置の他の実施例（請求項２，７）を示す図
で、図中、７はパルス発生回路、８はアドレス部・デー
タ部識別回路、９はＡＮＤゲート、１０はカウンタで、
その他、図１と同じ作用をする部分は同一の符号を付し
てある。図１に示した実施例に加えて、パルス発生回路
７とアドレス部・データ部識別回路８を有し、アドレス
部においてのみＴＥ信号の変動比較を有効とするもので
ある。比較回路６の出力はパルス発生回路７に入力され
ており、異常ピットを検出した場合に異常ピット検出パ
ルスを発生する。一方、アドレス部・データ部識別回路
８からは、アドレス部ゲート信号が出力される。これら
２つの信号のＡＮＤ出力は、アドレス部中の異常ピット
検出パルスであり、種々の測定に利用できる。本発明の
実施例では、ＡＮＤの出力パルスをカウンタ１０で数え
ることにより、アドレス部中の異常ピットのみを計数で
きる。
及び検出装置の他の実施例（請求項２，７）を示す図
で、図中、７はパルス発生回路、８はアドレス部・デー
タ部識別回路、９はＡＮＤゲート、１０はカウンタで、
その他、図１と同じ作用をする部分は同一の符号を付し
てある。図１に示した実施例に加えて、パルス発生回路
７とアドレス部・データ部識別回路８を有し、アドレス
部においてのみＴＥ信号の変動比較を有効とするもので
ある。比較回路６の出力はパルス発生回路７に入力され
ており、異常ピットを検出した場合に異常ピット検出パ
ルスを発生する。一方、アドレス部・データ部識別回路
８からは、アドレス部ゲート信号が出力される。これら
２つの信号のＡＮＤ出力は、アドレス部中の異常ピット
検出パルスであり、種々の測定に利用できる。本発明の
実施例では、ＡＮＤの出力パルスをカウンタ１０で数え
ることにより、アドレス部中の異常ピットのみを計数で
きる。
【０００９】図３は、本発明による異常ピット検出方法
及び検出装置の更に他の実施例（請求項３，８）を示す
図で、図中、１１はアドレス部解読回路、１２はメモリ
で、その他、図１と同じ作用をする部分は同一の符号を
付してある。図１の実施例に加えて、パルス発生回路７
とアドレス部解読回路１１とメモリ１２を有し、異常ピ
ットが存在するアドレスも検出するものである。アドレ
ス部解読回路１１は、光ピックアップが走査している光
ディスクのアドレスを解読してメモリ１２に出力する。
比較回路６の出力は、パルス発生回路７に入力されてお
り、異常ピットを検出した場合にメモリ１２にパルスＷ
Ｒが出力される。一方、アドレス部解読回路１１からは
解読したアドレスがメモリ１２に出力されており、ＷＲ
を書き込み信号としてアドレス出力をメモリ１２に書き
込むことにより、異常ピットが存在するアドレスを記憶
してゆくことができる。
及び検出装置の更に他の実施例（請求項３，８）を示す
図で、図中、１１はアドレス部解読回路、１２はメモリ
で、その他、図１と同じ作用をする部分は同一の符号を
付してある。図１の実施例に加えて、パルス発生回路７
とアドレス部解読回路１１とメモリ１２を有し、異常ピ
ットが存在するアドレスも検出するものである。アドレ
ス部解読回路１１は、光ピックアップが走査している光
ディスクのアドレスを解読してメモリ１２に出力する。
比較回路６の出力は、パルス発生回路７に入力されてお
り、異常ピットを検出した場合にメモリ１２にパルスＷ
Ｒが出力される。一方、アドレス部解読回路１１からは
解読したアドレスがメモリ１２に出力されており、ＷＲ
を書き込み信号としてアドレス出力をメモリ１２に書き
込むことにより、異常ピットが存在するアドレスを記憶
してゆくことができる。
【００１０】図４は、本発明による異常ピット検出方法
及び検出装置の更に他の実施例（請求項４，９）を示す
図で、図中、１３はロータリーエンコーダ、１４は回転
角度解読回路、１５ａはメモリで、その他、図３と同じ
作用をする部分は同一の符号を付してある。図３の実施
例に加えて、ロータリーエンコーダ１３と回転角度解読
回路１４とメモリ１５ａを有し、異常ピットが存在する
アドレスと光ディスク上の角度も検出するものである。
アドレス部解読回路１１は、光ピックアップが走査して
いる光ディスクのアドレスを解読してメモリ１５ａに出
力する。ロータリーエンコーダ１３は光ディスク１と共
に回転して回転中はパルスを出力する。ロータリーエン
コーダ１３では０.１°程度の角度分解能が得られる。
回転角度解読回路１４は、ロータリーエンコーダ１３か
らのパルスを計数して光ディスクの回転角度をメモリ１
５ａに出力する。
及び検出装置の更に他の実施例（請求項４，９）を示す
図で、図中、１３はロータリーエンコーダ、１４は回転
角度解読回路、１５ａはメモリで、その他、図３と同じ
作用をする部分は同一の符号を付してある。図３の実施
例に加えて、ロータリーエンコーダ１３と回転角度解読
回路１４とメモリ１５ａを有し、異常ピットが存在する
アドレスと光ディスク上の角度も検出するものである。
アドレス部解読回路１１は、光ピックアップが走査して
いる光ディスクのアドレスを解読してメモリ１５ａに出
力する。ロータリーエンコーダ１３は光ディスク１と共
に回転して回転中はパルスを出力する。ロータリーエン
コーダ１３では０.１°程度の角度分解能が得られる。
回転角度解読回路１４は、ロータリーエンコーダ１３か
らのパルスを計数して光ディスクの回転角度をメモリ１
５ａに出力する。
【００１１】比較回路６の出力は、パルス発生回路７に
入力されており、図１と同じ方法で異常ピットを検出し
た場合にメモリ１５ａにパルスＷＲが出力される。異常
ピットを検出した場合、ＷＲを書き込み信号としてアド
レス出力と回転角度出力をメモリ１５ａに書き込むこと
により、異常ピットが存在するアドレスとその光ディス
ク上の角度を記憶してゆく。メモリ１５ａに記憶された
データのうち、アドレスから光ディスク上の半径位置を
計算し、図８に示すように、角度データと合わせて使う
ことで、異常ピットが存在する光ディスク上の位置を特
定できる。
入力されており、図１と同じ方法で異常ピットを検出し
た場合にメモリ１５ａにパルスＷＲが出力される。異常
ピットを検出した場合、ＷＲを書き込み信号としてアド
レス出力と回転角度出力をメモリ１５ａに書き込むこと
により、異常ピットが存在するアドレスとその光ディス
ク上の角度を記憶してゆく。メモリ１５ａに記憶された
データのうち、アドレスから光ディスク上の半径位置を
計算し、図８に示すように、角度データと合わせて使う
ことで、異常ピットが存在する光ディスク上の位置を特
定できる。
【００１２】図５は、本発明による異常ピット検出方法
及び検出装置の更に他の実施例（請求項４，１０）を示
す図で、図中、１５ｂはカウンタ選択回路、Ｃ1〜Ｃｎ
はカウンタで、その他、図４と同じ作用をする部分は同
一の符号を付している。この実施例は、図９のように光
ディスク全面がｎ分割されている場合に各領域中の異常
ピットの数を知るためのものである。アドレス部解読回
路１１と回転角度解読回路１４とパルス発生回路７の出
力先が、カウンタ選択回路１５ｂとなっており、該カウ
ンタ選択回路１５ｂはアドレス出力と回転角度出力を解
読してカウントアップすべきカウンタを選択する。カウ
ンタｎは領域ｎに対応する。異常ピットを検出した場
合、カウンタ選択回路１５ｂによって選択されているカ
ウンタＣｎに対してパルス発生回路７からの異常ピット
検出パルスＵＰが出力される。
及び検出装置の更に他の実施例（請求項４，１０）を示
す図で、図中、１５ｂはカウンタ選択回路、Ｃ1〜Ｃｎ
はカウンタで、その他、図４と同じ作用をする部分は同
一の符号を付している。この実施例は、図９のように光
ディスク全面がｎ分割されている場合に各領域中の異常
ピットの数を知るためのものである。アドレス部解読回
路１１と回転角度解読回路１４とパルス発生回路７の出
力先が、カウンタ選択回路１５ｂとなっており、該カウ
ンタ選択回路１５ｂはアドレス出力と回転角度出力を解
読してカウントアップすべきカウンタを選択する。カウ
ンタｎは領域ｎに対応する。異常ピットを検出した場
合、カウンタ選択回路１５ｂによって選択されているカ
ウンタＣｎに対してパルス発生回路７からの異常ピット
検出パルスＵＰが出力される。
【００１３】図６は、本発明による異常ピット検出方法
及び検出装置の更に他の実施例（請求項５，１１）を示
す図で、図中、１６はリニアエンコーダ、１７は半径位
置解読回路で、その他、図４と同じ作用をする部分は同
一の符号を付してある。ロータリーエンコーダ１３は光
ディスク１と共に回転し、回転中はパルスを出力する。
リニアエンコーダ１６は光ピックアップ２と一体に移動
し、移動中はパルスを出力する。リニアエンコーダ１６
で０.５〜１.０μｍ程度の分解能が得られる。半径位置
解読回路１７は、リニアエンコーダ１６からのパルスを
計数して光ピックアップの（光ディスク上での）半径位
置をメモリ１５ａに出力する。回転角度解読回路１４
は、ロータリーエンコーダ１３からのパルスを計数して
光ディスクの回転角度をメモリ１５ａに出力する。
及び検出装置の更に他の実施例（請求項５，１１）を示
す図で、図中、１６はリニアエンコーダ、１７は半径位
置解読回路で、その他、図４と同じ作用をする部分は同
一の符号を付してある。ロータリーエンコーダ１３は光
ディスク１と共に回転し、回転中はパルスを出力する。
リニアエンコーダ１６は光ピックアップ２と一体に移動
し、移動中はパルスを出力する。リニアエンコーダ１６
で０.５〜１.０μｍ程度の分解能が得られる。半径位置
解読回路１７は、リニアエンコーダ１６からのパルスを
計数して光ピックアップの（光ディスク上での）半径位
置をメモリ１５ａに出力する。回転角度解読回路１４
は、ロータリーエンコーダ１３からのパルスを計数して
光ディスクの回転角度をメモリ１５ａに出力する。
【００１４】比較回路６の出力は、パルス発生回路７に
入力されており、図１と同じ方法で異常ピットを検出し
た場合にメモリ１５ａにパルスＷＲが出力される。異常
ピットを検出した場合、ＷＲを書き込み信号として半径
位置出力と回転角度出力をメモリ１５ａに書き込むこと
により、異常ピットが存在する光ディスク上の半径と角
度を記憶してゆく。メモリ１５ａに記憶されたデータか
ら異常ピットが存在する光ディスク上の位置を特定でき
る。
入力されており、図１と同じ方法で異常ピットを検出し
た場合にメモリ１５ａにパルスＷＲが出力される。異常
ピットを検出した場合、ＷＲを書き込み信号として半径
位置出力と回転角度出力をメモリ１５ａに書き込むこと
により、異常ピットが存在する光ディスク上の半径と角
度を記憶してゆく。メモリ１５ａに記憶されたデータか
ら異常ピットが存在する光ディスク上の位置を特定でき
る。
【００１５】図７は、本発明による異常ピット検出方法
及び検出装置の更に他の実施例（請求項５，１２）を示
す図で、１５ｂはカウンタ選択回路、Ｃ1〜Ｃｎはカウ
ンタで、その他、図６と同じ作用をする部分は同一の符
号を付している。リニアエンコーダ１６を光ピックアッ
プ２に設け、半径位置解読回路１７を介して半径位置出
力を行っている。その他の動作は図５と同様にｎ分割さ
れている光ディスク全面の、各領域中の異常ピットの数
を知るためのものである。
及び検出装置の更に他の実施例（請求項５，１２）を示
す図で、１５ｂはカウンタ選択回路、Ｃ1〜Ｃｎはカウ
ンタで、その他、図６と同じ作用をする部分は同一の符
号を付している。リニアエンコーダ１６を光ピックアッ
プ２に設け、半径位置解読回路１７を介して半径位置出
力を行っている。その他の動作は図５と同様にｎ分割さ
れている光ディスク全面の、各領域中の異常ピットの数
を知るためのものである。
【００１６】
【効果】以上の説明から明らかなように、本発明による
と、以下のような効果がある。 （１）請求項１，６に対応する効果：ＴＥ信号から異常
ピットとは関係ない変動を除去するので、ＴＥ信号を利
用して誤りなく異常ピットの検出ができ、光ディスク全
面にわたる異常ピットの計数などが可能となる。 （２）請求項２，７に対応する効果：一度だけ書けるラ
イトワンス（ＷＯ；Write Once）型あるいは再書き込み
できるリライタブル（ＲＷ；Rewritable）型の光ディス
クでは、アドレス部とデータ部が区別されており、プリ
フォーマットピットはアドレス部にのみ存在するのが一
般である。このタイプでは異常ピットを検出する領域は
アドレス部で必要十分であり、データ部においても異常
ピットの検出機能が働いていると、欠陥によるＴＥ信号
変動を異常ピットとして誤検出する可能性がある。この
実施例においては、アドレス部とデータ部を識別し、ア
ドレス部においてのみ異常ピット検出を実施するので、
ＷＯ／ＲＷタイプの光ディスクの異常ピットを欠陥の影
響を受けることなく安定して検出することができる。 （３）請求項３，８に対応する効果：異常ピット検出と
同時にその存在アドレスも特定することができるので、
異常ピットの観察や分布などの解析等が容易に行なえる
という効果がある。 （４）請求項４，９，１０に対応する効果：異常ピット
検出と同時にその存在角度を精度良く検出（ロータリエ
ンコーダを使うと、０.１°程度までの分解能が得られ
る。）し、またアドレスから半径位置も特定できる。こ
のため、異常ピットの光ディスク上存在位置を精度良く
特定できるので、異常ピットの観察や分布などの解析等
がさらに容易・高精度に行なえるという効果がある。 （５）請求項５，１１，１２に対応する効果：異常ピッ
ト検出と同時にその存在角度と半径位置も精度良く（リ
ニアエンコーダを使うと、０.５〜１.０μｍ程度の分解
能が得られる。）検出する。このため、アドレスが存在
しない／あるいは解説できない光ディスクについても、
異常ピットの存在位置を精度良く特定できるので、これ
らの光ディスクに対しても異常ピットの観察や分布など
の解析等が容易・高精度に行なえるという効果がある。
と、以下のような効果がある。 （１）請求項１，６に対応する効果：ＴＥ信号から異常
ピットとは関係ない変動を除去するので、ＴＥ信号を利
用して誤りなく異常ピットの検出ができ、光ディスク全
面にわたる異常ピットの計数などが可能となる。 （２）請求項２，７に対応する効果：一度だけ書けるラ
イトワンス（ＷＯ；Write Once）型あるいは再書き込み
できるリライタブル（ＲＷ；Rewritable）型の光ディス
クでは、アドレス部とデータ部が区別されており、プリ
フォーマットピットはアドレス部にのみ存在するのが一
般である。このタイプでは異常ピットを検出する領域は
アドレス部で必要十分であり、データ部においても異常
ピットの検出機能が働いていると、欠陥によるＴＥ信号
変動を異常ピットとして誤検出する可能性がある。この
実施例においては、アドレス部とデータ部を識別し、ア
ドレス部においてのみ異常ピット検出を実施するので、
ＷＯ／ＲＷタイプの光ディスクの異常ピットを欠陥の影
響を受けることなく安定して検出することができる。 （３）請求項３，８に対応する効果：異常ピット検出と
同時にその存在アドレスも特定することができるので、
異常ピットの観察や分布などの解析等が容易に行なえる
という効果がある。 （４）請求項４，９，１０に対応する効果：異常ピット
検出と同時にその存在角度を精度良く検出（ロータリエ
ンコーダを使うと、０.１°程度までの分解能が得られ
る。）し、またアドレスから半径位置も特定できる。こ
のため、異常ピットの光ディスク上存在位置を精度良く
特定できるので、異常ピットの観察や分布などの解析等
がさらに容易・高精度に行なえるという効果がある。 （５）請求項５，１１，１２に対応する効果：異常ピッ
ト検出と同時にその存在角度と半径位置も精度良く（リ
ニアエンコーダを使うと、０.５〜１.０μｍ程度の分解
能が得られる。）検出する。このため、アドレスが存在
しない／あるいは解説できない光ディスクについても、
異常ピットの存在位置を精度良く特定できるので、これ
らの光ディスクに対しても異常ピットの観察や分布など
の解析等が容易・高精度に行なえるという効果がある。
【図１】 本発明による異常ピット検出方法及び検出装
置の一実施例を説明するための構成図である。
置の一実施例を説明するための構成図である。
【図２】 本発明による異常ピット検出方法及び検出装
置の他の実施例を示す図である。
置の他の実施例を示す図である。
【図３】 本発明による異常ピット検出方法及び検出装
置の更に他の実施例を示す図である。
置の更に他の実施例を示す図である。
【図４】 本発明による異常ピット検出方法及び検出装
置の更に他の実施例を示す図である。
置の更に他の実施例を示す図である。
【図５】 本発明による異常ピット検出方法及び検出装
置の更に他の実施例を示す図である。
置の更に他の実施例を示す図である。
【図６】 本発明による異常ピット検出方法及び検出装
置の更に他の実施例を示す図である。
置の更に他の実施例を示す図である。
【図７】 本発明による異常ピット検出方法及び検出装
置の更に他の実施例を示す図である。
置の更に他の実施例を示す図である。
【図８】 異常ピットが存在する光ディスク上の位置を
特定することを説明するための図である。
特定することを説明するための図である。
【図９】 光ディスク全面がｎ分割された各領域中の異
常ピットの数を説明するための図である。
常ピットの数を説明するための図である。
【図１０】 異常ピットの様子を示す図である。
【図１１】 正常ピットと異常ピットを説明するための
図である。
図である。
【図１２】 正常ピットと異常ピットに対するトラッキ
ングエラー信号を示す図である。
ングエラー信号を示す図である。
１…光ディスク、２…光ピックアップ、３…トラッキン
グエラー信号（ＴＥ信号）発生回路、４…微分回路、５
…トラッキングエラー信号（ＴＥ信号）基準値発生回
路、６…比較回路。
グエラー信号（ＴＥ信号）発生回路、４…微分回路、５
…トラッキングエラー信号（ＴＥ信号）基準値発生回
路、６…比較回路。
Claims (12)
- 【請求項１】 トラッキングエラー信号の微分出力の変
動を基準値と比較し、該トラッキングエラー信号の微分
出力の変動が基準値を上回る場合に異常ピットとみなす
ことを特徴とする異常ピット検出方法。 - 【請求項２】 アドレス部とデータ部を区別し、該アド
レス部のみを異常ピット検出の対象とすることを特徴と
する請求項１記載の異常ピット検出方法。 - 【請求項３】 アドレス部を解読する機能を有し、異常
ピット検出と同時に異常ピットが存在するアドレスも検
出することを特徴とする請求項１記載の異常ピット検出
方法。 - 【請求項４】 光ディスクの回転角度とアドレスを解読
する機能を有し、異常ピット検出と同時に異常ピットが
存在する角度とアドレスを検出することを特徴とする請
求項１記載の異常ピット検出方法。 - 【請求項５】 光ディスクの回転角度と光ピックアップ
の位置を解読する機能を有し、異常ピット検出と同時に
異常ピットが存在する角度と半径を検出することを特徴
とする請求項１記載の異常ピット検出方法。 - 【請求項６】 光ディスク上の情報を光ピックアップに
より取り出し、該光ピックアップからの信号を受け、ト
ラッキングエラー信号を発生するトラッキングエラー信
号発生回路と、該トラッキングエラー信号発生回路から
のトラッキングエラー信号を微分する微分回路と、該微
分回路の出力と比較するためのトラッキングエラー信号
基準値を発生するトラッキングエラー信号基準値発生回
路と、前記微分回路の出力と、前記トラッキングエラー
信号基準値とを比較する比較回路とから成ることを特徴
とする異常ピット検出装置。 - 【請求項７】 前記光ピックアップからの信号を受け、
アドレス部とデータ部とを区別するアドレス部・データ
部識別回路と、前記比較回路の出力を入力するパルス発
生回路と、該パルス発生回路からの異常ピット検出パル
スと前記アドレス部・データ部識別回路によるアドレス
部ゲート信号とのアンドをとるアンドゲート回路とから
成ることを特徴とする請求項６記載の異常ピット検出装
置。 - 【請求項８】 前記光ピックアップからの信号を受け、
アドレス部を解読するアドレス部解読回路と、前記比較
回路の出力を入力するパルス発生回路と、該パルス発生
回路からの異常ピット検出パルスによって、前記アドレ
ス部解読回路により解読されたアドレスを記憶するメモ
リとから成ることを特徴とする請求項６記載の異常ピッ
ト検出装置。 - 【請求項９】 前記光ピックアップからの信号を受け、
アドレス部を解読するアドレス部解読回路と、光ディス
ク回転角度解読回路と、前記比較回路の出力を入力する
パルス発生回路と、該パルス発生回路からの異常ピット
検出パルスによって、前記アドレス部解読回路と光ディ
スク回転角度解読回路により解読されたアドレスおよび
回転角度を記録するメモリとから成ることを特徴とする
請求項６記載の異常ピット検出装置。 - 【請求項１０】 前記光ピックアップからの信号を受
け、アドレス部を解読するアドレス部解読回路と、光デ
ィスク回転角度解読回路と、分割された光ディスク上の
領域に対応する複数のカウンタと、前記比較回路の出力
を入力するパルス発生回路と、前記アドレス部解読回路
と光ディスク回転角度解読回路によって解読されたアド
レスと回転角度により前記カウンタ中から適切なカウン
タを選択するカウンタ選択回路とから成り、該パルス発
生回路からの異常ピット検出パルスを、該カウンタ選択
回路により選択されたカウンタに計数することを特徴と
する請求項６記載の異常ピット検出装置。 - 【請求項１１】 光ピックアップ半径位置解読回路と、
光ディスク回転角度解読回路と、前記比較回路の出力を
入力するパルス発生回路と、該パルス発生回路からの異
常ピット検出パルスによって、前記光ピックアップ半径
位置解読回路と光ディスク回転角度解読回路により解読
された半径位置および回転角度を記録するメモリとから
成ることを特徴とする請求項６記載の異常ピット検出装
置。 - 【請求項１２】 光ピックアップ半径位置解読回路と、
光ディスク回転角度解読回路と、分割された光ディスク
上の領域に対応する複数のカウンタと、前記比較回路の
出力を入力するパルス発生回路と、前記光ピックアップ
半径位置解読回路と光ディスク回転角度解読回路によっ
て解読された半径位置と回転角度により前記カウンタ中
から適切なカウンタを選択するカウンタ選択回路とから
成り、 該パルス発生回路からの異常ピット検出パルスを、該カ
ウンタ選択回路により選択されたカウンタに計数するこ
とを特徴とする請求項６記載の異常ピット検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19085991A JPH0512668A (ja) | 1991-07-04 | 1991-07-04 | 異常ピツト検出方法及び検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19085991A JPH0512668A (ja) | 1991-07-04 | 1991-07-04 | 異常ピツト検出方法及び検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0512668A true JPH0512668A (ja) | 1993-01-22 |
Family
ID=16264964
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19085991A Pending JPH0512668A (ja) | 1991-07-04 | 1991-07-04 | 異常ピツト検出方法及び検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0512668A (ja) |
-
1991
- 1991-07-04 JP JP19085991A patent/JPH0512668A/ja active Pending
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