JPH05128019A - 入出力システムの動作状態のテスト方法 - Google Patents
入出力システムの動作状態のテスト方法Info
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- JPH05128019A JPH05128019A JP3291078A JP29107891A JPH05128019A JP H05128019 A JPH05128019 A JP H05128019A JP 3291078 A JP3291078 A JP 3291078A JP 29107891 A JP29107891 A JP 29107891A JP H05128019 A JPH05128019 A JP H05128019A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、入出力システムの動作状態をテス
トプログラムにより試験する方法に関し、試験精度を向
上させる。 【構成】 チャネル, サブチャネル, 入出力装置からな
る入出力システムの動作状態をスキャンアウトする状態
スキャン命令ｂを設け, 該入出力命令を実行したときの
入出力システムの動作状態と、コンディション・コード
(CC)との関係を対応テーブルｆとして主記憶装置上に設
け、該入出力命令と, チャネルコマンド語(CCW) を使用
して、所定の入出力システムの動作状態を設定し、上記
状態スキャン命令ｂを発行し、続いて、入出力命令を発
行して、該入出力命令を実行したときの動作状態を主記
憶装置に格納し、該主記憶装置に格納されている入出力
システムの動作状態を読み出し、編集して、上記対応テ
ーブルｆを参照し、意図する状態かどうかを判定し、そ
のときのコンディション・コード(CC)との対応からハー
ドウェア障害か、テストプログラム(TP)障害かを判定す
る。
トプログラムにより試験する方法に関し、試験精度を向
上させる。 【構成】 チャネル, サブチャネル, 入出力装置からな
る入出力システムの動作状態をスキャンアウトする状態
スキャン命令ｂを設け, 該入出力命令を実行したときの
入出力システムの動作状態と、コンディション・コード
(CC)との関係を対応テーブルｆとして主記憶装置上に設
け、該入出力命令と, チャネルコマンド語(CCW) を使用
して、所定の入出力システムの動作状態を設定し、上記
状態スキャン命令ｂを発行し、続いて、入出力命令を発
行して、該入出力命令を実行したときの動作状態を主記
憶装置に格納し、該主記憶装置に格納されている入出力
システムの動作状態を読み出し、編集して、上記対応テ
ーブルｆを参照し、意図する状態かどうかを判定し、そ
のときのコンディション・コード(CC)との対応からハー
ドウェア障害か、テストプログラム(TP)障害かを判定す
る。
Description
【産業上の利用分野】本発明は、入出力システムの動作
状態をテストプログラムにより試験する方法に関する。
最近のデータ処理の多様化に伴い、該データ処理システ
ムの構成も複雑化する動向にあり、例えば、チャネル,
サブチャネル, 入出力装置からなる入出力システムも、
その構成が複雑になっており、該入出力システムの動作
状態を、テストプログラムで試験する場合、できる限
り、詳細な内部状態を想定して、入出力命令とチャネル
コマンド語(CCW) を選択し、テストすることが必要とな
る。この場合、テストプログラムの状態設定の不適切
か、ハードウェア障害かの切り分けが的確にできること
が要求される。
状態をテストプログラムにより試験する方法に関する。
最近のデータ処理の多様化に伴い、該データ処理システ
ムの構成も複雑化する動向にあり、例えば、チャネル,
サブチャネル, 入出力装置からなる入出力システムも、
その構成が複雑になっており、該入出力システムの動作
状態を、テストプログラムで試験する場合、できる限
り、詳細な内部状態を想定して、入出力命令とチャネル
コマンド語(CCW) を選択し、テストすることが必要とな
る。この場合、テストプログラムの状態設定の不適切
か、ハードウェア障害かの切り分けが的確にできること
が要求される。
【従来の技術】図４，図５は、従来の入出力システムの
動作状態をテストする方法を説明する図であり、図４は
計算機システムの構成例を示し、図５は入出力システム
をテストするときの動作を流れ図で示している。図４に
おいて、中央処理装置(CPU) 1 で入出力命令が発行さ
れ、入出力システムで実行されたとき、該入出力システ
ムの動作状態は、チャネル 3, サブチャネル 30,入出力
装置 4の集合的な状態により決定され、その状態はコン
ディション・コード（ＣＣ）の値によって、中央処理装
置(CPU) 1に通知される。従来のテストプログラムで
は、この動作状態の正常性を確認するため、入出力命令
および、チャネルコマンド語（ＣＣＷ）により入出力シ
ステムの所定の動作状態を作り出し、その状態のコンデ
ィション・コード（ＣＣ）と, 期待するコンディション
・コード（ＣＣ）を比較する方法を採っていた。｛図５
の処理ステップ 100,102,105,106参照｝
動作状態をテストする方法を説明する図であり、図４は
計算機システムの構成例を示し、図５は入出力システム
をテストするときの動作を流れ図で示している。図４に
おいて、中央処理装置(CPU) 1 で入出力命令が発行さ
れ、入出力システムで実行されたとき、該入出力システ
ムの動作状態は、チャネル 3, サブチャネル 30,入出力
装置 4の集合的な状態により決定され、その状態はコン
ディション・コード（ＣＣ）の値によって、中央処理装
置(CPU) 1に通知される。従来のテストプログラムで
は、この動作状態の正常性を確認するため、入出力命令
および、チャネルコマンド語（ＣＣＷ）により入出力シ
ステムの所定の動作状態を作り出し、その状態のコンデ
ィション・コード（ＣＣ）と, 期待するコンディション
・コード（ＣＣ）を比較する方法を採っていた。｛図５
の処理ステップ 100,102,105,106参照｝
【発明が解決しようとする課題】然し、この方法では、
1) 全部で、例えば、１０通りある動作状態を０〜３の
コンディション・コード(CC)値で表すため、異なる動作
状態でも同じコンディション・コード(CC)値になる場合
があり、０〜３までのコンディション・コード(CC)値の
正常性を確認｛図５の処理ステップ 105,106参照｝して
も、全動作状態の正常性を保証できない。 2) 入出力システムの動作状態の設定には、例えば、チ
ャネル終了信号が出た後、入出力装置のディスク上を磁
気ヘッドがシーク中に入出力命令を発行するなどの微妙
なタイミングを必要とするが、このタイミングをテスト
プログラム(TP)で設定できたか確認できない。このた
め、全動作状態の試験が漏れたり、せっかくハードウェ
アの誤動作を発見しても、原因はテストプロの状態設定
不適切のためとして処理してしまい、その結果設計不良
を見逃すなどの問題があった。本発明は上記従来の欠点
に鑑み、入出力システムの動作状態をテストプログラム
(TP)により試験するのに、試験精度を向上させることが
できるテスト方法を提供することを目的とするものであ
る。
1) 全部で、例えば、１０通りある動作状態を０〜３の
コンディション・コード(CC)値で表すため、異なる動作
状態でも同じコンディション・コード(CC)値になる場合
があり、０〜３までのコンディション・コード(CC)値の
正常性を確認｛図５の処理ステップ 105,106参照｝して
も、全動作状態の正常性を保証できない。 2) 入出力システムの動作状態の設定には、例えば、チ
ャネル終了信号が出た後、入出力装置のディスク上を磁
気ヘッドがシーク中に入出力命令を発行するなどの微妙
なタイミングを必要とするが、このタイミングをテスト
プログラム(TP)で設定できたか確認できない。このた
め、全動作状態の試験が漏れたり、せっかくハードウェ
アの誤動作を発見しても、原因はテストプロの状態設定
不適切のためとして処理してしまい、その結果設計不良
を見逃すなどの問題があった。本発明は上記従来の欠点
に鑑み、入出力システムの動作状態をテストプログラム
(TP)により試験するのに、試験精度を向上させることが
できるテスト方法を提供することを目的とするものであ
る。
【課題を解決するための手段】図１，図２は本発明の一
実施例を示した図であり、図１はテストプログラム側の
構成例を流れ図で示しており、図２は、ハードウェア側
の構成例を示している。上記の問題点は下記の如くに構
成した入出力システムの動作状態のテスト方法によって
解決される。チャネル 3, サブチャネル 30,入出力装置
4からなる入出力システムの動作状態をスキャンアウト
する状態スキャン命令(b) を設けると共に、該入出力シ
ステムに対して入出力命令を実行したときの、該入出力
システムの動作状態と、コンディション・コード(CC)と
の関係を対応テーブル(f) として主記憶装置 6上に設
け、該入出力命令と, チャネルコマンド語(CCW) を使用
して、所定の入出力システムの動作状態を設定し、上記
状態スキャン命令(b) を発行し、続いて、入出力命令を
発行して、該入出力命令を実行したときの動作状態を主
記憶装置に格納し、該主記憶装置に格納されている入出
力システムの動作状態を読み出し、編集した動作状態に
基づいて、上記対応テーブル(f) を参照して、上記設定
した意図する状態かどうかを判定し、そのときのコンデ
ィション・コード(CC)との対応からハードウェア障害
か、テストプログラム(TP)障害かを判定するように構成
する。
実施例を示した図であり、図１はテストプログラム側の
構成例を流れ図で示しており、図２は、ハードウェア側
の構成例を示している。上記の問題点は下記の如くに構
成した入出力システムの動作状態のテスト方法によって
解決される。チャネル 3, サブチャネル 30,入出力装置
4からなる入出力システムの動作状態をスキャンアウト
する状態スキャン命令(b) を設けると共に、該入出力シ
ステムに対して入出力命令を実行したときの、該入出力
システムの動作状態と、コンディション・コード(CC)と
の関係を対応テーブル(f) として主記憶装置 6上に設
け、該入出力命令と, チャネルコマンド語(CCW) を使用
して、所定の入出力システムの動作状態を設定し、上記
状態スキャン命令(b) を発行し、続いて、入出力命令を
発行して、該入出力命令を実行したときの動作状態を主
記憶装置に格納し、該主記憶装置に格納されている入出
力システムの動作状態を読み出し、編集した動作状態に
基づいて、上記対応テーブル(f) を参照して、上記設定
した意図する状態かどうかを判定し、そのときのコンデ
ィション・コード(CC)との対応からハードウェア障害
か、テストプログラム(TP)障害かを判定するように構成
する。
【作用】本発明は、テストプログラム(TP)で設定した入
出力システムの動作状態、つまり、チャネル，サブチャ
ネル，入出力装置個々の動作状態をテストプログラム(T
P)で覗ける手段、具体的には、状態スキャン命令ｂでス
キャンアウトした入出力システムの動作状態と、コンデ
ィション・コード(CC)との対応付けをした対応テーブル
ｆを設けることで、テストプログラム(TP)で生成した意
図する動作状態と実際の状態との差と、そのとき得たコ
ンディション・コード(CC)の状態により、入出力システ
ムの種々の動作状態, ならびにその状態を示すコンディ
ション・コード(CC)値の正常性を確実・容易に検証でき
るようになり、結果として、テストプログラム(TP)の不
良か、ハードウェア障害かを切り分けることができるよ
うにしたものである。従って、テストプログラム(TP)の
信頼度が向上し、テスト漏れや, ハードウェアの誤動作
の検出漏れなどを防ぐことができる効果がある。
出力システムの動作状態、つまり、チャネル，サブチャ
ネル，入出力装置個々の動作状態をテストプログラム(T
P)で覗ける手段、具体的には、状態スキャン命令ｂでス
キャンアウトした入出力システムの動作状態と、コンデ
ィション・コード(CC)との対応付けをした対応テーブル
ｆを設けることで、テストプログラム(TP)で生成した意
図する動作状態と実際の状態との差と、そのとき得たコ
ンディション・コード(CC)の状態により、入出力システ
ムの種々の動作状態, ならびにその状態を示すコンディ
ション・コード(CC)値の正常性を確実・容易に検証でき
るようになり、結果として、テストプログラム(TP)の不
良か、ハードウェア障害かを切り分けることができるよ
うにしたものである。従って、テストプログラム(TP)の
信頼度が向上し、テスト漏れや, ハードウェアの誤動作
の検出漏れなどを防ぐことができる効果がある。
【実施例】以下本発明の実施例を図面によって詳述す
る。前述の図１，図２が本発明の一実施例を示した図で
あり、図３は本発明による判定表の例を示した図であ
る。本発明においては、チャネル 3, サブチャネル 30,
入出力装置 4からなる入出力システムの動作状態をスキ
ャンアウトする状態スキャン命令ｂを設け、該入出力シ
ステムに対して入出力命令を実行したときの、該入出力
システムの動作状態と、コンディション・コード（以
下、ＣＣということがある）との関係を対応テーブルｆ
として主記憶装置 6上に設けておき、上記状態スキャン
命令ｂと, 入出力命令を実行したときに得られる動作状
態に基づいて、上記対応テーブルｆを参照し、上記入出
力処理の動作状態と、該入出力命令の実行で得たＣＣと
の関係から、テストプログラム(TP)の障害が、ハードウ
ェアの障害かを切り分ける手段が、本発明を実施するの
に必要な手段である。尚、全図を通して同じ符号は同じ
対象物を示している。以下、図１，図２, 図３によっ
て、本発明の入出力システムの動作状態のテスト方法を
説明する。図１にテストプログラム側の例，図２にハー
ド側の例を図示している。 〔テストプログラム側〕：図１参照 (1) 入出力命令, 及び、チャネルコマンド語 (以下、Ｃ
ＣＷという) を使用して所定の (即ち、意図する) 入出
力システムの動作状態を作り出す。 (図１の処理ステッ
プ 100参照) (2) チャネル 3, サブチャネル 30,入出力装置 4の状態
をスキャンする命令（状態スキャン命令と呼ぶ）ｂを発
行する。 (図１の処理ステップ 101参照) (3) 入出力命令を発行する。これにより、動作状態を通
知するＣＣを、該テストプログラム(TP)で得ることがで
きる。 (図１の処理ステップ 102参照) (4) 主記憶装置 6から、上記状態スキャン命令ｂの実行
によって格納されているチャネル 3, サブチャネル 30,
入出力装置 4の状態を示す情報を取り出し、この情報か
ら、本発明の対応テーブルｆ（図２参照）を参照し、入
出力システムの動作状態が意図した状態に設定できたか
判断する。 (図１の処理ステップ 103,104参照) (5) 意図する状態になっていれば、ハードウェアから得
たＣＣの値と期待するＣＣとしてテストプロ自身が持っ
た値とを比較し、ハードウェア, 及び、テストプログラ
ム(TP)の正常性の確認を行う。 (図１の処理ステップ 1
05,106参照)若し、意図しない状態であれば、ＣＣの状
態によって、状態の誤設定であるか、状態の誤設定では
あるが、ハードウェアは正常である等のメッセージを出
力する。 (図１の処理ステップ 107,108参照) 上記の判定の例として、図３に判定表の例を示す。本表
において、入出力システムの動作状態がテストプログラ
ム(TP)が意図したものであって、且つ、ＣＣが正常であ
れば、ハードウェア，テストプログラム(TP)共に、正常
であると認識するが、若し、ここで、該ＣＣが異常であ
ると、ハードウェアの障害と認識する。又、該入出力シ
ステムの動作状態がテストプログラム(TP)が意図したも
のでなかった場合で、ＣＣが対応する状態として正常で
あれば、テストプログラム(TP)の誤設定と認識し、該Ｃ
Ｃも、異常である場合には、テストプログラム(TP)／ハ
ードウェアの何れかの障害と認識する。 〔ハード側〕：図２参照 (1) チャネル制御装置 2は、サービスプロセッサ(SVP)
5 の発行した状態スキャン命令ｂを受け取った後、中央
処理装置(CPU) 1 の発行した入出力命令が来ると、その
ときの状態に応じて、中央処理装置(CPU) 1 にＣＣの値
を通知すると共に、各入出力システムの動作状態スキ
ャン回路（Ｂ）にテスト対象となるチャネル，サブチャ
ネル，入出力装置の番号を送る。 (2) 入出力システム動作状態スキャン回路（Ｂ）は、チ
ャネル 3,サブチャネル 30,入出力装置 4の状態をスキ
ャンし、主記憶装置(F) 6 に格納する。 〔メモリ格納情報〕: 図２参照 チャネル 3, サブチャネル 30,入出力装置 4は、個々に
使用可，割り込み保留，作動中，操作不可能を意味する
ステータスを保持しており、これらの組み合わせと入出
力命令でＣＣが決まる。従って、これらのステータスを
図２のテーブルｆのような形式でスキャン情報として編
集し、対応テーブルｆとして主記憶装置(F) 6 に格納す
る。 これにより、例えば、テストプログラム(TP)で、チャネ
ル＝１（使用可状態），サブチャネル＝０（どんな状態
でもよい），入出力装置＝０（どんな状態でもよい）を
作り試験した結果、上記対応テーブルでは、ＣＣ＝０で
あるにもかかわらず、ＣＣ＝２（ハード誤動作）を得た
とする。この場合、従来は機種を替えたり，違うチャネ
ルコマンド語(CCW) やデータを使用して再度試験し、原
因はハードウェアか，テストプロかを切り分けていた。
本発明による試験方法においては、スキャン情報
を編集した動作状態から、上記対応テーブルｆを参照す
ることにより、テストプログラム(TP)で個々の装置が意
図した状態にあるかどうかを判断できるため、例えば、
前述の図３の判定表に従って、ハードウェアの誤動作，
テストプログラムの誤設定をすぐに指摘することができ
る。このように、本発明においては、チャネル, サブチ
ャネル, 入出力装置からなる入出力システムの動作状態
をスキャンアウトする状態スキャン命令ｂを設けると共
に、該入出力命令を実行したときの入出力システムの動
作状態と、コンディション・コード(CC)との関係を対応
テーブルｆとして主記憶装置に設けておき、該入出力命
令と, チャネルコマンド語(CCW) を使用して、所定の
（意図する）入出力システムの動作状態を設定し、上記
状態スキャン命令ｂを発行し、続いて、入出力命令を発
行して、該入出力命令を実行したときの動作状態をスキ
ャンアウトして主記憶装置に格納し、該状態スキャン命
令の実行により主記憶装置に格納されている入出力シス
テムの動作状態を読み出し、編集して、上記対応テーブ
ルｆを参照して、設定した意図する状態かどうかを判定
し、そのときのコンディション・コード(CC)との対応か
らハードウェア障害か、テストプログラム障害かを判定
するようにしたところに特徴がある。
る。前述の図１，図２が本発明の一実施例を示した図で
あり、図３は本発明による判定表の例を示した図であ
る。本発明においては、チャネル 3, サブチャネル 30,
入出力装置 4からなる入出力システムの動作状態をスキ
ャンアウトする状態スキャン命令ｂを設け、該入出力シ
ステムに対して入出力命令を実行したときの、該入出力
システムの動作状態と、コンディション・コード（以
下、ＣＣということがある）との関係を対応テーブルｆ
として主記憶装置 6上に設けておき、上記状態スキャン
命令ｂと, 入出力命令を実行したときに得られる動作状
態に基づいて、上記対応テーブルｆを参照し、上記入出
力処理の動作状態と、該入出力命令の実行で得たＣＣと
の関係から、テストプログラム(TP)の障害が、ハードウ
ェアの障害かを切り分ける手段が、本発明を実施するの
に必要な手段である。尚、全図を通して同じ符号は同じ
対象物を示している。以下、図１，図２, 図３によっ
て、本発明の入出力システムの動作状態のテスト方法を
説明する。図１にテストプログラム側の例，図２にハー
ド側の例を図示している。 〔テストプログラム側〕：図１参照 (1) 入出力命令, 及び、チャネルコマンド語 (以下、Ｃ
ＣＷという) を使用して所定の (即ち、意図する) 入出
力システムの動作状態を作り出す。 (図１の処理ステッ
プ 100参照) (2) チャネル 3, サブチャネル 30,入出力装置 4の状態
をスキャンする命令（状態スキャン命令と呼ぶ）ｂを発
行する。 (図１の処理ステップ 101参照) (3) 入出力命令を発行する。これにより、動作状態を通
知するＣＣを、該テストプログラム(TP)で得ることがで
きる。 (図１の処理ステップ 102参照) (4) 主記憶装置 6から、上記状態スキャン命令ｂの実行
によって格納されているチャネル 3, サブチャネル 30,
入出力装置 4の状態を示す情報を取り出し、この情報か
ら、本発明の対応テーブルｆ（図２参照）を参照し、入
出力システムの動作状態が意図した状態に設定できたか
判断する。 (図１の処理ステップ 103,104参照) (5) 意図する状態になっていれば、ハードウェアから得
たＣＣの値と期待するＣＣとしてテストプロ自身が持っ
た値とを比較し、ハードウェア, 及び、テストプログラ
ム(TP)の正常性の確認を行う。 (図１の処理ステップ 1
05,106参照)若し、意図しない状態であれば、ＣＣの状
態によって、状態の誤設定であるか、状態の誤設定では
あるが、ハードウェアは正常である等のメッセージを出
力する。 (図１の処理ステップ 107,108参照) 上記の判定の例として、図３に判定表の例を示す。本表
において、入出力システムの動作状態がテストプログラ
ム(TP)が意図したものであって、且つ、ＣＣが正常であ
れば、ハードウェア，テストプログラム(TP)共に、正常
であると認識するが、若し、ここで、該ＣＣが異常であ
ると、ハードウェアの障害と認識する。又、該入出力シ
ステムの動作状態がテストプログラム(TP)が意図したも
のでなかった場合で、ＣＣが対応する状態として正常で
あれば、テストプログラム(TP)の誤設定と認識し、該Ｃ
Ｃも、異常である場合には、テストプログラム(TP)／ハ
ードウェアの何れかの障害と認識する。 〔ハード側〕：図２参照 (1) チャネル制御装置 2は、サービスプロセッサ(SVP)
5 の発行した状態スキャン命令ｂを受け取った後、中央
処理装置(CPU) 1 の発行した入出力命令が来ると、その
ときの状態に応じて、中央処理装置(CPU) 1 にＣＣの値
を通知すると共に、各入出力システムの動作状態スキ
ャン回路（Ｂ）にテスト対象となるチャネル，サブチャ
ネル，入出力装置の番号を送る。 (2) 入出力システム動作状態スキャン回路（Ｂ）は、チ
ャネル 3,サブチャネル 30,入出力装置 4の状態をスキ
ャンし、主記憶装置(F) 6 に格納する。 〔メモリ格納情報〕: 図２参照 チャネル 3, サブチャネル 30,入出力装置 4は、個々に
使用可，割り込み保留，作動中，操作不可能を意味する
ステータスを保持しており、これらの組み合わせと入出
力命令でＣＣが決まる。従って、これらのステータスを
図２のテーブルｆのような形式でスキャン情報として編
集し、対応テーブルｆとして主記憶装置(F) 6 に格納す
る。 これにより、例えば、テストプログラム(TP)で、チャネ
ル＝１（使用可状態），サブチャネル＝０（どんな状態
でもよい），入出力装置＝０（どんな状態でもよい）を
作り試験した結果、上記対応テーブルでは、ＣＣ＝０で
あるにもかかわらず、ＣＣ＝２（ハード誤動作）を得た
とする。この場合、従来は機種を替えたり，違うチャネ
ルコマンド語(CCW) やデータを使用して再度試験し、原
因はハードウェアか，テストプロかを切り分けていた。
本発明による試験方法においては、スキャン情報
を編集した動作状態から、上記対応テーブルｆを参照す
ることにより、テストプログラム(TP)で個々の装置が意
図した状態にあるかどうかを判断できるため、例えば、
前述の図３の判定表に従って、ハードウェアの誤動作，
テストプログラムの誤設定をすぐに指摘することができ
る。このように、本発明においては、チャネル, サブチ
ャネル, 入出力装置からなる入出力システムの動作状態
をスキャンアウトする状態スキャン命令ｂを設けると共
に、該入出力命令を実行したときの入出力システムの動
作状態と、コンディション・コード(CC)との関係を対応
テーブルｆとして主記憶装置に設けておき、該入出力命
令と, チャネルコマンド語(CCW) を使用して、所定の
（意図する）入出力システムの動作状態を設定し、上記
状態スキャン命令ｂを発行し、続いて、入出力命令を発
行して、該入出力命令を実行したときの動作状態をスキ
ャンアウトして主記憶装置に格納し、該状態スキャン命
令の実行により主記憶装置に格納されている入出力シス
テムの動作状態を読み出し、編集して、上記対応テーブ
ルｆを参照して、設定した意図する状態かどうかを判定
し、そのときのコンディション・コード(CC)との対応か
らハードウェア障害か、テストプログラム障害かを判定
するようにしたところに特徴がある。
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明の
入出力システムの動作状態テスト方法は、チャネル, サ
ブチャネル, 入出力装置からなる入出力システムの動作
状態をスキャンアウトする状態スキャン命令ｂを設ける
と共に、該入出力命令を実行したときの入出力システム
の動作状態と、コンディション・コード(CC)との関係を
対応テーブルｆとして主記憶装置に設けておき、該入出
力命令と, チャネルコマンド語(CCW) を使用したテスト
プログラム(TP)で、所定の入出力システムの動作状態を
設定し、上記状態スキャン命令ｂを発行し、続いて、入
出力命令を発行して、該入出力命令を実行したときの動
作状態が、該スキャンアウト命令の実行によりスキャン
アウトされる。該テストプログラム(TP)で主記憶装置に
格納されている該入出力システムの動作状態を読み出
し、編集して、上記対応テーブルｆを参照し、上記設定
した意図する状態かどうかを判定し、そのときのコンデ
ィション・コード(CC)との対応からハードウェア障害
か、テストプログラム障害かを判定するようにしたもの
であるので、本方法で入出力システムの動作状況のテス
トを行えば、テストプログラムの信頼度が向上し、テス
ト漏れやハードウェアの誤動作の検出漏れなどを防ぐこ
とができる効果が得られる。
入出力システムの動作状態テスト方法は、チャネル, サ
ブチャネル, 入出力装置からなる入出力システムの動作
状態をスキャンアウトする状態スキャン命令ｂを設ける
と共に、該入出力命令を実行したときの入出力システム
の動作状態と、コンディション・コード(CC)との関係を
対応テーブルｆとして主記憶装置に設けておき、該入出
力命令と, チャネルコマンド語(CCW) を使用したテスト
プログラム(TP)で、所定の入出力システムの動作状態を
設定し、上記状態スキャン命令ｂを発行し、続いて、入
出力命令を発行して、該入出力命令を実行したときの動
作状態が、該スキャンアウト命令の実行によりスキャン
アウトされる。該テストプログラム(TP)で主記憶装置に
格納されている該入出力システムの動作状態を読み出
し、編集して、上記対応テーブルｆを参照し、上記設定
した意図する状態かどうかを判定し、そのときのコンデ
ィション・コード(CC)との対応からハードウェア障害
か、テストプログラム障害かを判定するようにしたもの
であるので、本方法で入出力システムの動作状況のテス
トを行えば、テストプログラムの信頼度が向上し、テス
ト漏れやハードウェアの誤動作の検出漏れなどを防ぐこ
とができる効果が得られる。
【図１】本発明の一実施例を示した図（その１）
【図２】本発明の一実施例を示した図（その２）
【図３】本発明による判定表の例を示した図
【図４】従来の入出力システムの動作状態をテストする
方法を説明する図（その１）
方法を説明する図（その１）
【図５】従来の入出力システムの動作状態をテストする
方法を説明する図（その２）
方法を説明する図（その２）
1 中央処理装置(CPU) 2 チャネル制
御装置 3 チャネル 30 サブチャネ
ル 4 入出力装置(I/O) 5 サービスプ
ロセッサ(SVP) 6 主記憶装置(F) B 入出力システム動作状態スキャン回路 b 状態スキャン命令 f 対応テーブ
ル , , スキャン スキャンアウト情報の主記憶装置への格納
御装置 3 チャネル 30 サブチャネ
ル 4 入出力装置(I/O) 5 サービスプ
ロセッサ(SVP) 6 主記憶装置(F) B 入出力システム動作状態スキャン回路 b 状態スキャン命令 f 対応テーブ
ル , , スキャン スキャンアウト情報の主記憶装置への格納
Claims (1)
- 【請求項１】チャネル(3),サブチャネル(30), 入出力装
置(4) からなる入出力システムの動作状態をスキャンア
ウトする状態スキャン命令(b) を設けると共に, 該入出
力システムに対して入出力命令を実行したときの、該入
出力システムの動作状態と、コンディション・コード(C
C)との関係を対応テーブル(f) として主記憶装置(6)上
に設け、 該入出力命令と, チャネルコマンド語(CCW) を使用し
て、所定の入出力システムの動作状態を設定し、上記状
態スキャン命令(b) を発行し、続いて、入出力命令を発
行して、該入出力命令を実行したときの動作状態を主記
憶装置に格納し、 該主記憶装置に格納されている入出力システムの動作状
態を読み出し、編集した動作状態に基づいて、上記対応
テーブル(f) を参照して、上記設定した意図する状態か
どうかを判定し、そのときのコンディション・コード(C
C)との対応からハードウェア障害か、テストプログラム
(TP)障害かを判定することを特徴とする入出力システム
の動作状態のテスト方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3291078A JPH05128019A (ja) | 1991-11-07 | 1991-11-07 | 入出力システムの動作状態のテスト方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3291078A JPH05128019A (ja) | 1991-11-07 | 1991-11-07 | 入出力システムの動作状態のテスト方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05128019A true JPH05128019A (ja) | 1993-05-25 |
Family
ID=17764151
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3291078A Withdrawn JPH05128019A (ja) | 1991-11-07 | 1991-11-07 | 入出力システムの動作状態のテスト方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05128019A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0721056A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-01-24 | Nec Corp | ソフトウェアデバッグ方法 |
-
1991
- 1991-11-07 JP JP3291078A patent/JPH05128019A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0721056A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-01-24 | Nec Corp | ソフトウェアデバッグ方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990204 |