JPH05144300A - 情報機器の診断システム - Google Patents

情報機器の診断システム

Info

Publication number
JPH05144300A
JPH05144300A JP3305041A JP30504191A JPH05144300A JP H05144300 A JPH05144300 A JP H05144300A JP 3305041 A JP3305041 A JP 3305041A JP 30504191 A JP30504191 A JP 30504191A JP H05144300 A JPH05144300 A JP H05144300A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
eeprom
address
test
writing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP3305041A
Other languages
English (en)
Inventor
Hirotaka Kihara
広孝 木原
Chiho Mizunaga
千穂 水永
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP3305041A priority Critical patent/JPH05144300A/ja
Publication of JPH05144300A publication Critical patent/JPH05144300A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 システム全体の診断時間を格段に低減する。 【構成】 テスト用のプログラムがスタートすると、C
PUは初期設定を行い、ステップS301で不要な割り
込みを禁止する処理、割り込みタイミングを設定するた
めのタイマーセット処理及び割り込みを許可する処理か
らなる割り込みセットを行い、その後、ステップS30
2、S303で処理を行う。タイマー限時がタイムアッ
プすると、ステップS304にジャンプし、ステップS
306でEEPROMの該当する番地に対するデータの
書き込みを開始し、その後、メインルーチンにリターン
する。そして、データの書き込みに必要な時間に相当す
るタイマー限時が再度タイムアップすると、サブルーチ
ンにジャンプし、データが書き込まれた番地からデータ
を読み出し、ステップS312で書き込まれたデータと
読み出したデータとを比較し、EEPROMのテストを
行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、EEPROMを含む各
種デバイスを備え、該各種デバイスの故障状態を検査で
きるようになった情報機器の診断システムに関する。
【0002】
【従来の技術】パーソナルコンピュータ等の情報機器に
装備されるデータ保持用の不揮発性メモリとして、最近
ではEEPROM(Electrically Era
sable Programmable Rom)が多
用される傾向にある。
【0003】ところで、この種の情報機器においては、
例えば出荷前やその後定期的にEEPROMやその他の
デバイス、例えば、他のROM、RAM、表示装置、印
刷装置およびキーボードの正常、異常状態を診断(テス
ト)する必要がある。この診断はCPUがテスト用のプ
ログラムに従って行う。
【0004】図3はEEPROM、他のROMおよびR
AMを備えた情報機器における従来の診断手順を示す。
テスト用のプログラムがスタートすると、CPUはステ
ップS1で、まずROMのテストを行い、続いてステッ
プS2でRAMのテストを行う。そして、RAMのテス
トが終了すると、ステップS3でEEPROMのテスト
を行う。すなわち、従来方法では各種デバイスのテスト
をデバイス毎に順次行っていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、EEPRO
Mのテストは、該EEPROMの全番地に番地毎にデー
タを書き込み、続いて書き込まれたデータを番地毎に読
み出し、書き込まれたデータと読み出したデータとを比
較照合して行われる。ここで、EEPROMに対するデ
ータの書き込み・読み出しは、その構造上、書き込み時
間が読み出し時間よりも極端に長くなっている。この書
き込み時間は、情報機器にとっては、他の処理が行えな
いため、単なる待ち時間に過ぎず、無駄時間となる。
【0006】このような理由により、上記の従来方法で
は、EEPROMの診断工程において長時間を要する結
果、特に記憶容量が大きなEEPROMを備えた情報機
器のテストを行う場合にシステム全体の診断に多大な無
駄時間を要するという欠点があった。
【0007】本発明はこのような従来技術の欠点を解消
するものであり、システム全体の診断時間を格段に低減
でき、多大な無駄時間を発生することがない情報機器の
診断システムを提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の情報機器の診断
システムは、EEPROMを含む各種デバイスを備え、
該各種デバイスの故障状態を検査できるようになった情
報機器の診断システムにおいて、該EEPROMの番地
にデータを書き込み、次いで該番地に書き込まれたデー
タを読み出して該EEPROMの検査を行うサブプログ
ラムと、その他のデバイスの検査を行うメインプログラ
ムと、該メインプログラムの実行中に割り込みをかけ、
処理手順を該サブプログラムにジャンプさせ、該EEP
ROMの任意の番地に対するデータの書き込みが開始さ
れると、処理手順を該メインプログラムにリターンさ
せ、書き込みが終了した時点で処理手順を再度該サブプ
ログラムにジャンプさせてデータの読み出し処理を行わ
せる割り込み設定手段とを備えてなり、そのことにより
上記目的が達成される。
【0009】
【作用】上記構成によれば、検査用のプログラムがスタ
ートし、メインプログラムで他のデバイスの診断等を行
っている際に、割り込み設定手段により割り込み処理が
開始されると、EEPROM検査用のサブプログラムの
内容が実行され、EEPROMの任意の番地に対するデ
ータの書き込みが開始される。データの書き込みが開始
されると、割り込み設定手段が処理手順をメインプログ
ラムにリターンするので、データの書き込みが終了する
迄の間、メインプログラムの処理内容が実行される。
【0010】すなわち、上記システム構成によれば、E
EPROMの番地に対するデータの書き込みと、他のデ
バイスのテストがいわば並行して行われので、結局他の
デバイスのテストとEEPROMのテストが並行して行
われることになる。
【0011】
【実施例】以下に本発明の実施例を説明する。
【0012】図1は本発明が適用される情報機器のシス
テム構成を示す。CPU1はこのシステムの制御中枢と
なるものであり、ROM2に格納された制御プログラム
に従って各種の制御を行い、制御動作中に得られる各種
のデータ(制御変数)をRAM3に格納し、該データを
利用して種々の演算を実行する。また、EEPROM5
には不揮発に保持する必要があるデータが格納される。
【0013】加えて、このシステムには、表示装置、印
刷装置およびキーボード等からなる他のデバイスが装備
される。
【0014】CPU1は上記制御の他にROM2、RA
M3、EEPROM4およびその他のデバイスの正常、
異常状態を診断する。図2は、ROM2、RAM3およ
びEEPROM4のテストを行う場合のCPU1の制御
手順を示す。以下にその詳細を説明する。
【0015】CPU1はテスト用のプログラムがスター
トすると、ステップS300で、まず初期設定を行う。
このプログラムは初期設定やROM2、RAM3のテス
トを行うメインプログラム(メインルーチン)とEEP
ROM4のテストを行うサブプログラム(サブルーチ
ン)で構成されており、更に、サブルーチンはEEPR
OM4の番地にデータを書き込む書き込み処理Aと、該
番地に書き込まれたデータを読み出す読み出し処理Bで
構成されている。メインルーチンからサブルーチンへの
ジャンプおよびサブルーチンからメインルーチンへのリ
ターンは割り込み処理によって行われる。
【0016】ステップS300の初期設定では、具体的
には割り込みがかけられた場合にサブルーチンのジャン
プ先を設定する『JMPTBL』、EEPROM4のテ
ストを実行する番地を設定する『アドレス』およびEE
PROM4のテストが終了したか否かを判定するための
フラグを設定する『ENDFLG』処理を行う。
【0017】ここで、EEPROM4のテストは、0番
地から行われ、かつ、まずデータの書き込みが行われる
ので、テスト開始時には、『JMPTBL=A』、『ア
ドレス=0』に設定する。また、当然のことながら、こ
の段階ではテストが終了していないので、『ENDFL
G』は未終了状態を示す『ENDFLG=0』に設定す
る。テストが終了すると、『ENDFLG=1』に設定
される。
【0018】ステップS300の初期設定を終了する
と、次にステップS301で、割り込みセット処理を行
う。具体的には、不要な割り込みを禁止する処理、割り
込み処理を実行するタイミングを設定するためのタイマ
ーセット処理および割り込みを許可する処理を行う。こ
こで、タイマー限時は、EEPROM4の番地にデータ
を書き込むのに必要な時間に応じて設定され、一例とし
て、10msに設定される。
【0019】続いて、ステップS302、ステップS3
03に示すROM2のテストおよびRAM3のテストを
順に行うことになるが、この間にタイマー限時がタイム
アップし、割り込みがかけられると、サブルーチンにジ
ャンプして、EEPROM4のテストを行う。以下にサ
ブルーチンの内容を説明する。
【0020】このサブルーチンがコールされると、まず
ステップS304で、EEPROM4のいずれの番地を
テストするのかを、すなわちテスト番地をセットする。
第1回目の割り込みでは、ステップS300で『アドレ
ス=0』に初期設定されているので、ここではまず、テ
スト番地を0にセットする。
【0021】次いで、ステップS305でサブルーチン
のいずれの処理、すなわち書き込み処理Aを実行するの
か、読み出し処理Bを実行するのかを判定する。第1回
目の割り込みでは、ステップS300で『JMPTBL
=A』に初期設定されているので、『JMPTBL=
A』であると判定し、ステップS306に進む。
【0022】ステップS306では、EEPROM4の
0番地に対するデータの書き込みを開始する。続いて、
ステップS307で『JMPTBL』を『JMPTBL
=B』にセットし、次にステップS308でステップS
301と同様の割り込みセットを行って、タイマーをリ
セットする。その後、メインルーチンにリターンし、メ
インルーチンの処理を進める。
【0023】次いで、タイマー限時が再度タイムアップ
すると、すなわち、EEPROM4の0番地にデータを
書き込むのに必要な時間が経過すると、割り込みが再度
許可されるので、ステップS304にジャンプし、再度
EEPROM4のテスト番地をセットする。この時点で
は、EEPROM4の0番地に書き込まれたデータの読
み出しが行われていないので、テスト番地は0にセット
される。続いて、ステップS305でサブルーチンのい
ずれの処理を行うかを再度判定する。この場合は、ステ
ップS307で『JMPTBL=B』に設定されている
ので、読み出し処理Bであると判定し、ステップS30
9に進み、ここでEEPROM4の0番地に書き込まれ
たデータを読み出す。
【0024】続いて、ステップS310で書き込んだデ
ータと読み出したデータとを比較し、データOKか否か
を判定する。データOKであることを確認すると、ステ
ップS311に進み、ここでテスト番地を一つインクリ
メントする。すなわち、当初0番地であったので、ここ
では『アドレス=1』に設定する。
【0025】次いで、ステップS312でEEPROM
4の全ての番地のテストが終了したかどうかを判定す
る。終了していないことを確認すると、ステップS30
6に進み、以下ステップS306以降の処理を再行す
る。そして、再度ステップS312の判定処理を行い、
EEPROM4の全番地のテストが終了したことを確認
した時点でステップS313に進み、ここで『ENDF
LG』をテストが終了したことを示す『ENDFLG=
1』に設定し、その後、メインルーチンにリターンす
る。
【0026】一方、ステップS310でデータOKでな
いと判定されると、EEPROM4に故障が発生してお
り、その後にテストを行う必要がないので、この場合は
ステップS305からステップS313に進み、『EN
DFLG』を『ENDFLG=1』に設定し、メインル
ーチンにリターンする。
【0027】以上のような本発明によれば、EEPRO
M4のテストが、ROM2およびRAM3のテストに並
行して行われるので、システム全体のテスト時間を大幅
に低減できる。
【0028】なお、上記実施例ではテスト内容として、
ROM2、RAM3およびEEPROM4を例示した
が、他のデバイス5のテストをも併せて行うことができ
る。また、本発明は図1に示すシステム構成以外のシス
テム構成をとる情報機器の診断についても同様に適用で
きる。
【0029】
【発明の効果】以上の本発明情報機器の診断システムに
よれば、EEPROMの番地に対するデータの書き込み
と、他のデバイスの診断がいわば並行して行われので、
システム全体の診断時間を格段に低減でき、多大な無駄
時間を発生することがない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が適用される情報機器のシステム構成を
示すブロック図。
【図2】診断時におけるCPUの制御手順を示すフロー
チャート。
【図3】従来の診断手順を示すフローチャート。
【符号の説明】
1 CPU 2 ROM 3 RAM 4 EEPROM 5 その他のデバイス

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】EEPROMを含む各種デバイスを備え、
    該各種デバイスの故障状態を検査できるようになった情
    報機器の診断システムにおいて、 該EEPROMの番地にデータを書き込み、次いで該番
    地に書き込まれたデータを読み出して該EEPROMの
    検査を行うサブプログラムと、 その他のデバイスの検査を行うメインプログラムと、 該メインプログラムの実行中に割り込みをかけ、処理手
    順を該サブプログラムにジャンプさせ、該EEPROM
    の任意の番地に対するデータの書き込みが開始される
    と、処理手順を該メインプログラムにリターンさせ、書
    き込みが終了した時点で処理手順を再度該サブプログラ
    ムにジャンプさせてデータの読み出し処理を行わせる割
    り込み設定手段とを備えた情報機器の診断システム。
JP3305041A 1991-11-20 1991-11-20 情報機器の診断システム Withdrawn JPH05144300A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3305041A JPH05144300A (ja) 1991-11-20 1991-11-20 情報機器の診断システム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3305041A JPH05144300A (ja) 1991-11-20 1991-11-20 情報機器の診断システム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05144300A true JPH05144300A (ja) 1993-06-11

Family

ID=17940395

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3305041A Withdrawn JPH05144300A (ja) 1991-11-20 1991-11-20 情報機器の診断システム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05144300A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4044075B2 (ja) 半導体集積回路の試験回路及び試験方法
KR20010072036A (ko) 집적 회로의 셀프테스트를 실행하기 위한 셀프테스트장치를 포함하는 집적 회로
JP2006127553A (ja) プログラムのテスト及びデバッギングが容易な中央処理装置
JPH05144300A (ja) 情報機器の診断システム
JPS63148498A (ja) 自己診断機能を具備した記憶装置
CN121148459B (zh) 芯片存储区域测试方法、装置、设备以及计算机存储介质
JP2642975B2 (ja) Eeprom内蔵ワンチップマイクロコンピュータ
JPH01121945A (ja) シングルチップマイクロコンピュータ
JP2517370B2 (ja) インテリジェント計測カ―ドの制御方法
JPH06222917A (ja) 電子装置
JP2661447B2 (ja) 入出力装置の試験方法
JP2005327175A (ja) インサーキットエミュレータ装置およびスタックアクセス異常検知方法
JPS62187942A (ja) デバツグ制御処理方式
JP2003066105A (ja) Ic試験装置、制御ソフトウェア、及び試験方法
JPH02105230A (ja) 半導体集積回路
JPS6269329A (ja) メモリ破壊位置検出方式
JPS60549A (ja) メモリ試験方式
JPH04148431A (ja) パッケージ試験方式
JPS59191662A (ja) プログラム暴走検出方式
JPH11272490A (ja) 診断制御システム
JPH05241821A (ja) データ処理装置
JPH1145215A (ja) システムバス評価/試験装置および方法および記録媒体
JPH02244232A (ja) 情報処理装置
JPH02278364A (ja) 多重プロセッサの試験方式
JPH02278356A (ja) 主記憶装置の試験方式

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19990204