JPH05180960A - 遅延時間測定装置 - Google Patents

遅延時間測定装置

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Publication number
JPH05180960A
JPH05180960A JP36034391A JP36034391A JPH05180960A JP H05180960 A JPH05180960 A JP H05180960A JP 36034391 A JP36034391 A JP 36034391A JP 36034391 A JP36034391 A JP 36034391A JP H05180960 A JPH05180960 A JP H05180960A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
delay time
difference
attenuation
circuit
delay
Prior art date
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Pending
Application number
JP36034391A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshibumi Igarashi
俊文 五十嵐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Pending legal-status Critical Current

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  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 受信信号の入力レベルに対応してアッテネー
ション量を切り換えて遅延時間を測定する遅延時間測定
装置の測定精度を向上する。 【構成】 送信信号発生回路1から出力される送信信号
を用いて、位相差計測回路4、マイクロコンピュータ5
によりアッテネータ3のアッテネーション量の差による
遅延時間の差をアッテネーション量に対応して予め測定
し、かつこれを記憶回路6に記憶させておき、外部回路
からの受信信号を用いて計測した遅延時間を、記憶回路
6に記憶させた時間差により補正する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はデータ遅延時間測定装置
に関し、特に自装置内遅延時間の自動補正を行う遅延時
間測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の遅延時間測定装置は、装置外部の
回路を通ることによる遅延時間を測定する際に、入力信
号レベルを内部で一定にするためにアッテネータのアッ
テネーション量を制御している。そして、予め自装置内
遅延時間を測定しておき、外部回路経由の遅延時間測定
値から自装置内遅延時間を減算して外部回路の遅延時間
を求めている。ここで、自装置内遅延時間の測定時に
は、アッテネータを固定のアッテネーション量で行って
いる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このため、従来の遅延
時間測定装置では、外部回路の入力信号レベルを一定に
するためにアッテネーション量を変化させたときの自装
置内遅延時間の変化については測定値に対して補正され
ることはなく、高精度な遅延時間の測定が困難になると
いう問題がある。本発明の目的は、遅延時間を高精度に
測定することができる遅延時間測定装置を提供すること
にある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、受信信号の入
力レベルに対応して切り換えるアッテネータのアッテネ
ーション量の差による遅延時間の差をアッテネーション
量に対応して予め測定する手段を有しており、計測時に
アッテネーション量に応じて計測遅延時間を補正する。
【0005】
【作用】予め測定したアッテネーション量の差に対する
遅延時間の差を、計測時にアッテネーション量に応じて
計測遅延時間を補正することで、アッテネーション量の
変化による自装置内遅延時間の変化を補正することがで
きる。
【0006】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の装置の一実施例のブロック図であ
る。送信信号発生回路1から発生した信号は入力信号切
換スイッチ2をCAL側にすることにより自装置内で折
り返され、ディジタル制御アッテネータ3を経由して位
相差計測回路4に入力される。位相差計測回路4では、
送信信号発生回路1からの信号とディジタル制御アッテ
ネータ3からの自装置内折り返し受信信号との位相差を
計測する。マイクロコンピュータ5はディジタル制御ア
ッテネータ3へ制御信号を出力し、アッテネーション量
を変化させながら、位相差計測回路4で測定した位相差
データを入力し、アッテネーション量に対応させた自装
置内遅延時間として記憶回路6に格納する。
【0007】次に、入力信号の切換スイッチ2をOPR
側にすることにより、装置外部の回路を通ることによる
遅延時間を測定する構成となるが、このとき受信信号の
入力レベルによってディジタル制御アッテネータ3のア
ッテネーション量をマイクロコンピュータ5が自動的に
制御する。このときのアッテネーション量はマイクロコ
ンピュータ5で保持しており、外部回路経由の遅延時間
測定値からアッテネーション量に対応した自装置内折り
返し遅延時間を減算し、外部回路の遅延時間を算出す
る。
【0008】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、受信信号
の入力レベル調整のためのアッテネータのアッテネーシ
ョン量の変化による自装置内遅延時間の変化を補正する
ことができるので、高精度な遅延時間の測定が可能にな
るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のブロック図である。
【符号の説明】
1 送信信号発生回路 2 入力信号切換スイッチ 3 ディジタル制御アッテネータ 4 位相差計測回路 5 マイクロコンピュータ 6 記憶回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 送信信号と、この送信信号と同一の周波
    数を有する受信信号との位相差を測定し、送信と受信の
    遅延時間を測定する遅延時間測定装置において、受信信
    号の入力レベルに対応して切り換えるアッテネータのア
    ッテネーション量(減衰量)の差による遅延時間の差を
    アッテネーション量に対応して予め測定する手段を有
    し、計測時にアッテネーション量に応じて計測遅延時間
    を補正するように構成したことを特徴とする遅延時間測
    定装置。
JP36034391A 1991-12-30 1991-12-30 遅延時間測定装置 Pending JPH05180960A (ja)

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