JPH05190425A - 照明装置 - Google Patents

照明装置

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JPH05190425A
JPH05190425A JP4021605A JP2160592A JPH05190425A JP H05190425 A JPH05190425 A JP H05190425A JP 4021605 A JP4021605 A JP 4021605A JP 2160592 A JP2160592 A JP 2160592A JP H05190425 A JPH05190425 A JP H05190425A
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章 宮地
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  • Non-Portable Lighting Devices Or Systems Thereof (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 レーザ光のスペクトルを狭帯化して照射する
レーザ光源を含む照明装置において、狭帯化スペクトル
のバックグラウンド光を除去し、よりスペクトル幅の狭
いレーザ光を射出する照明装置を得る。 【構成】 レーザ光源から射出した光束の光路中に、前
記光束を断面所定領域で制限し、狭帯化によって射出す
べき波長の光束のみを空間的に抽出する抽出手段を配置
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばULSIの回路
パターンの製造に用いる投影露光装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】LSIの微細化を推進する上で、回路パ
ターンを転写する投影露光装置の解像性能の向上は欠か
せない。KrFエキシマレーザの発振スペクトルを狭く
し、投影レンズ系の色収差が出ないようにした形式のエ
キシマステッパは、1986年のATT社の発表以来実
用化の努力が続けられている。この種の装置では、従来
の水銀ランプのg線やi線を用いた露光装置に比べて短
波長を用いているので解像力が高く、レチクルパターン
の転写の忠実度が高いので、0.35μmルールのLS
Iに最も適した露光装置と考えられている。
【0003】従来行なわれているエキシマレーザの発振
スペクトルの狭帯化は、例えば図8に示すような構成の
光源装置を用いている。このレーザ光源は、Kr,F
2,Ne等の混合気体を封入し、放電によって生じた光
を増幅するゲイン部31と出力側ビームスプリッタ34
と、スペクトルの狭帯化を行なうプリズム32とグレー
ティング33より構成されている。
【0004】狭帯化された出力光の一部はビームスプリ
ッタ35により分岐して波長モニタ36に入射される。
波長モニタ36からはスペクトルの中心波長とスペクト
ル幅の情報が波長制御部37に送られ、波長制御部37
はこの情報に基いてグレーティング33の回転角を制御
することにより、出力ビームの中心波長をほぼ一定値に
安定させる。なお、プリズム32、グレーティング33
の代わりにエタロンを用いるかまたはそれらを適宜組み
合わせて用いる場合もある。但し波長制御部37の制御
範囲は中心波長の管理のみであった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記のようなエキシマ
レーザ光源においては、図9に実線Aで示す如くレーザ
の発振スペクトルが狭帯化されている。図において、上
記のプリズム32およびグレーティング33等の狭帯化
素子が無く、単なる全反射鏡のみがある場合、即ち狭帯
化してないレーザ光のスペクトルを破線Bで示す。この
時のスペクトル幅△λG (FWHM)は300〜400pmで
あり、狭帯化された場合のスペクトルAの半値幅△λ0
の値約3pmと比べて100倍以上大きい。
【0006】このように、スペクトルを狭帯化すること
によって、露光光学系の投影レンズの持つ色収差がほぼ
無視できるようになる。しかしながら、実際には狭帯化
された本来必要なスペクトル以外に、狭帯化されなかっ
たスペクトルのASE(Amplified Spontaneous Emissi
on)光がわずかながら強度IBGのバックグラウンド光と
してレーザ光源から出力されていることが一般的に知ら
れている。
【0007】このバックグラウンド光は、その強度の殆
どがビームの像面においてフレアとして現われ、結像光
学系の色収差の影響を受けて、結像のコントラストを低
下させる。このコントラストの低下により最小解像線幅
が大きくなるだけでなく、最小解像線幅より大きな0.
35μm線幅において、本来深くなるべき焦点深度が浅
くなるという問題点があった。
【0008】本発明は、上記問題を解消し、狭帯化スペ
クトルのバックグラウンド光を除去し、スペクトル幅の
より狭いレーザ光を射出する照明装置を得ることを目的
とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1に記載の発明に係る照明装置では、レーザ
光のスペクトルを狭帯化して射出するレーザ光源を含む
照明装置において、前記レーザ光源は、前記狭帯化によ
って射出すべき第1スペクトルの基本光束と、該基本光
束に沿って進むと共に該基本光束の断面周囲にずれた位
置を通る第2スペクトルのノイズ成分を同時に射出して
なり、前記レーザ光源から射出したレーザ光の光路中に
配置され、前記基本光束と前記ノイズ成分のうち、前記
基本光束のみを空間的に抽出する抽出手段と、前記基本
光束に対する前記ノイズ成分の空間的な位置に応じて前
記抽出手段を調節可能とする調節手段を備えた。
【0010】また、請求項2に記載の発明に係る照明装
置では、請求項1に記載の照明装置において、前記抽出
手段は、スリット、ピンホール、のうちの少なくとも一
方を含むものである。
【0011】また、請求項3に記載の発明に係る照明装
置では、請求項1に記載の露光装置において、前記抽出
手段を通過した前記レーザ光のスペクトルと強度との関
係を検出する検出手段と、前記関係に基いて前期強度の
対数値を求めることによって前記ノイズ成分の存否を判
断する判断手段と、前記判断手段の結果に基いて前記調
整手段を調整する制御手段とを有している。
【0012】
【作用】本発明は、レーザ光源からの光束を該光束断面
の所定領域で制限し、狭帯化された本来必要な基本光束
のみを抽出する抽出手段を備えた露光装置であり、これ
によってレーザ光源より狭帯化されないまま放出された
バックグラウンド光の除去ができる。また、レーザ光の
波長と強度との関係(分光特性)を検出する検出手段の
結果に基いてバックグラウンド光の有無を判断し、該判
断結果をフィードバックして制御手段を介して調整手段
を操作することによって抽出手段を調節する。
【0013】ここで、抽出手段としてスリットを用いた
場合を例に本発明の作用を説明する。レーザ光の分光特
性の検出において、通常の出力では図9にみられるよう
にバックグラウンド光は狭帯化されたスペクトルに比べ
て強度が非常に小さいため、その有無を判断するのが困
難である。
【0014】しかしながら、エキシマレーザ光の分光特
性の形状は、一般にガウシアンまたはローレンチアンで
表わされるため対数化することによって二次関数で表わ
すことができる。そこで本発明においては、図7に示す
ように、検出された分光特性のデータについてそのエネ
ルギー強度値の対数値を求めらる。その結果バックグラ
ウンド光は、図7においてピークの裾部に曲線BGで示
すように現われ、これによってバックグラウンド光の有
無が容易に判断できる。
【0015】即ち、として図7に破線で示したようなバ
ックグラウンド光のない分光特性のデータをリファレン
スとして持っていれば、図7に実線で示したような検出
データと比較することによって、バックグラウンド光B
Gの有無が容易に判断できる。この結果をフィードバッ
クして調整手段を操作し、スリット幅を調整すれば、バ
ックグラウンド光が除去されたレーザ光を得ることがで
きる。
【0016】以上に説明した如く、本発明においては、
検出されたレーザ光の分光特性を対数化することにより
容易にバックグラウンド光の有無を検出し、該検出結果
に応じて抽出手段を調整することでバックグラウンド光
を除去することが可能となる。
【0017】
【実施例】以下に本発明の実施例を説明する。図1に、
本発明の一実施例である 照明装置を用いるのに好適な
投影露光装置の概略構成図を示す。本実施例の構成は、
スペクトルを狭帯化し波長安定化したKrFエキシマレ
ーザ光源1、駆動装置を備えた抽出部材2、分光特性検
出器3、レーザ光の強度を変化させる可変減衰器4、ビ
ームの断面方向の強度分布を均一化するビーム一様化素
子5、ビームスプリッター6、ビームの照明領域を規定
する可変ブラインド7、ミラー8、コンデンサーレンズ
9、レチクルR、投影レンズPL、ウエハW、光量検出
器11、露光量制御部10とからなる。
【0018】抽出部材2によって、レーザ光源1の出力
のフレア、即ちバックグラウンド光が除去される。検出
器3による検出結果は駆動装置にフィードバックされ、
抽出部材2が制御される。以下にこの抽出部材について
説明する。
【0019】図2に抽出部材としてスリット状の開口部
を備えた遮光部材(以下、単にスリットと称す)を用い
た場合の実施例を示す。図において、エキシマレーザ1
から狭帯化されたレーザ光が狭帯化されていないバック
グラウンド光とともに放出される。スリット24はフレ
アとして現われるバックグラウンド光を制限し、本来露
光に必要な狭帯化されたスペクトルのみがスリット24
の開口部を通過する。その開口部は、駆動部23によっ
て縦、横ともその幅を自由に変化させることが可能な構
造となっている。
【0020】スリット24を通過したレーザ光は、ビー
ムスプリッター22によって一部が反射され、分光特性
を検出するための検出器3、例えば分光器に入射する。
この検出器3による検出結果は、図7に示すように縦軸
にエネルギー強度を対数変換して表わされる。コンピュ
ータ21内の演算比較部にはリファレンスとして図7に
破線で示したようなバックグラウンド光のない分光特性
が与えられており、これと検出結果とを常時比較してバ
ックグラウンド光BGの有無の判断を行う。
【0021】バックグラウンド光が確認されれば、その
結果に基いて、コンピュータ21内の制御部はスリット
24の幅を狭めるように駆動部23を制御する。この動
作を繰り返すことにより、目的とするバックグラウンド
光のない純度の高い(スペクトル幅に狭い)狭帯化スペ
クトルが得られる。
【0022】図3は、上記に示したようなシーケンスを
フローチャートで表わしたものである。即ち、レーザ光
の分光特性を検出し(ステップ101)、各波長におけ
る強度値の対数を求める(ステップ102)。この結果
からバックグラウンド光の有無を判断し(ステップ10
3、104)、バックグラウンド光が存在するときは、
ステッパからの発振受け付けを停止する(ステップ10
5)。
【0023】通常の露光装置においては、レーザ側とス
テッパ側との間で、インターフェース信号によって協調
制御がなされている。分光特性の検出でバックグラウン
ド光が検出されれば、ステッパへ発振受付ができない状
態であることを知らせ、照明光学系中のシャッタを閉じ
る等の手段によりレーザ光がステッパ(特にウエハ上)
に届かない状態にする。その後、駆動部を制御してスリ
ットの開口部の形状を調整する。
【0024】バックグラウンド光が検出されているうち
はこのルーチンを繰り返してスリットの調整を行なう
が、分光特性の検出の結果、バックグラウンド光が除去
されたと判断されれば、発振受付の停止を解除し(ステ
ップ107)、ステッパ側から発振命令があればそれに
従ってレーザ光を発振する(ステップ108、10
9)。
【0025】次に抽出部材としてレンズ系とスリットと
を組み合せて用いる場合を図4に示す。エキシマレーザ
部1とスリット24との間に駆動部23を有したレンズ
系25を配置し、該レンズ系25の各光学素子を移動す
ることによりスリット24に照射するレーザ光の断面形
状を変化させフレアとして現われるバックグラウンド光
を除去する。
【0026】図2の場合のようにスリットのみを用いた
場合では、スリット開口部の形状を変更することによっ
てスリット通過後のビーム光の断面形状が所望のものよ
り小さくなってしまう恐れがある。そこで、上記の如く
レンズ系25を用い、スリット24の開口部の形状を変
更しない構成とすれば、図1に示す減衰器4に入射する
レーザ光の断面形状を所望のものにすることができる。
従って、減衰器4以降の装置の構成を変更、若しくは調
整する必要はなくなる。
【0027】図5は、スリットに照射するレーザ光を集
光させる構成としたものである。例えばシリンドリカル
レンズ等を含むレンズ系27aによって、その焦点位置
近傍に配置したスリット24a上にレーザ光を集光さ
せ、スリットの長手方向に直交する方向のフレアを除去
する。
【0028】スリット24aを通過したレーザ光は、レ
ンズ系27bによって上記の方向とほぼ直交する方向に
ついて集光され、レンズ系27bの焦点位置近傍に配置
したスリット24bによって、その方向のフレアが除去
される。スリット24bを通過したレーザ光は発散して
いるので、スリット24b以降の光路中に光学系を配置
することによって光束の断面形状を所望のものにすると
いう構成にしてもよい。
【0029】スリット24a、スリット24bは、それ
ぞれ駆動部23a、駆動部23bによってレーザ光の光
軸に沿って移動し、フレアを制限(遮光)する領域を変
化させる。また、スリット24a、スリット24bの位
置を固定し、レンズ系27a、レンズ系27bを移動す
る構成としてもよい。なお、図中での集光の様子は、ほ
ぼ直交する2方向を便宜上一平面に表示してある。
【0030】また、特に2つのスリット24a、スリッ
ト24bを用いて2回に分けてフレアを除去する必要は
なく、1つの集光光学系を用いてスリット上にレーザ光
を集光する構成としても同様の効果がある。以上の図
2、図4、図5に示す各実施例では、いずれもスリット
によってフレアを除去する構成としたが、このスリット
をピンホールに置き換えても同様の効果が得られる。
【0031】図6は、抽出部材としてエタロンを用いる
ものである。レーザ光源1から発振された狭帯化された
レーザ光をエタロン29に照射し、このエタロン29の
傾きを制御すること、即ちエタロン29に対するレーザ
光の入射角を制御することによって、バックグラウンド
光を除去する。これは、エタロン29をフィルターとし
て用いるものである。
【0032】このエタロン29を透過したレーザ光をス
リット24で制限することによって、さらにバックグラ
ウンド光を除去することができる。但し、このスリット
24は特に設ける必要はない。なお、エタロンは、上記
の図1、図4、図5に示す各実施例に適用できることは
言うまでもない。
【0033】以上の実施例では、バックグラウンド光を
除去した後のレーザ光の波長と強度との関係を検出する
手段の例として分光器を用いることとしたが、エタロン
を用いてレーザ光のフリンジを検出すようにしても良
い。この場合も、上記の実施例と同様に強度値の対数を
求めることによってバックグラウンド光の有無を判断す
ることができる。
【0034】また、レーザ光源としてKrFエキシマレ
ーザの他、ArFエキシマレーザ、F2 レーザ等を用い
ても良い。さらに、YAGレーザ等の固体レーザの高調
波や自由電子レーザ等を用いる場合にも本発明を適用す
ればスペクトルの純度が向上する。
【0035】
【発明の効果】以上に説明した如く本発明によれば、狭
帯化レーザ光の本来必要なスペクトル以外の不必要なバ
ックグラウンド光を除去できる為、ウエハ面上に形成さ
れる像のコントラストが向上する効果がある。また、ス
ペクトル幅を制御でき、より狭いスペクトル幅を得るこ
とも可能となり同様に像のコントラスト向上に寄与でき
る。
【0036】さらに、像のコントラストの向上により、
より細かいパターンまで転写でき、LSIの高密度化に
対応出来るだけでなく、焦点深度が深くなりLSIの線
幅制御精度が向上するので歩留りも良くなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係る投影露光装置の概略構成
図である。
【図2】本発明の制限手段としてスリットを用いた場合
のバックグラウンド光除去システムの説明図である。
【図3】本発明のバックグラウンド光除去機構のシーケ
ンスを示すフローチャート図である。
【図4】本発明の抽出手段としてレンズおよびスリット
を用いた場合のバックグラウンド光除去システムの説明
図である。
【図5】本発明の抽出手段としてレンズおよびスリット
を用いた場合のバックグラウンド光除去システムの他の
例の説明図である。
【図6】本発明の抽出手段としてエタロンを用いた場合
のバックグラウンド光除去システムの説明図である。
【図7】本発明の作用を説明するスペクトル強度を示す
線図である。
【図8】従来の投影露光装置のレーザ光源部の概略構成
図である。
【図9】スペクトル狭帯化の説明図である。
【符号の説明】
1:エキシマレーザ光源 2:抽出部材 3:検出器 4:可変減衰器 R:レチクル PL:投影レンズ W:ウエハ 11:エキシマレーザ 32:プリズム 33:グレーティング 22:ビームスプリッタ 23:駆動部 24,24a,24b:スリット 25:レンズ系 27a,27b:レンズ系 29:エタロン 21:コンピュータ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光のスペクトル幅を狭帯化して射
    出するレーザ光源を含む照明装置において、 前記レーザ光源は、前記狭帯化によって射出すべき第1
    スペクトルの基本光束と、該基本光束に沿って進むと共
    に該基本光束の断面周囲にずれた位置を通る第2スペク
    トルのノイズ成分を同時に射出してなり、前記レーザ光
    源から射出したレーザ光の光路中に配置され、前記基本
    光束と前記ノイズ成分のうち、前記基本光束のみを空間
    的に抽出する抽出手段と、前記基本光束に対する前記ノ
    イズ成分の空間的な位置に応じて前記抽出手段を調節可
    能とする調節手段を備えたことを特徴とする照明装置。
  2. 【請求項2】 前記抽出手段は、スリット、ピンホー
    ル、のうちの少なくとも一方を含むことを特徴とする請
    求項1に記載の照明装置。
  3. 【請求項3】 前記抽出手段を通過した前記レーザ光の
    スペクトルと強度との関係を検出する検出手段と、前記
    関係に基いて前期強度の対数値を求めることによって前
    記ノイズ成分の存否を判断する判断手段と、前記判断手
    段の結果に基いて前記調整手段を調整する制御手段とを
    有することを特徴とする請求項1に記載の照明装置。
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