JPH05206319A - 半導体装置およびその製造方法 - Google Patents

半導体装置およびその製造方法

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JPH05206319A
JPH05206319A JP4012887A JP1288792A JPH05206319A JP H05206319 A JPH05206319 A JP H05206319A JP 4012887 A JP4012887 A JP 4012887A JP 1288792 A JP1288792 A JP 1288792A JP H05206319 A JPH05206319 A JP H05206319A
Authority
JP
Japan
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die pad
semiconductor chip
semiconductor device
resin
sealing
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Application number
JP4012887A
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English (en)
Inventor
Teruya Hashii
光弥 橋井
Yoshihiro Tomita
至洋 冨田
Makio Okada
真喜雄 岡田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP4012887A priority Critical patent/JPH05206319A/ja
Publication of JPH05206319A publication Critical patent/JPH05206319A/ja
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    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00—Package configurations
    • H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
    • H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink

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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 放熱性のきわめて良い半導体装置を提供す
る。 【構成】 ダイパッド2と、このダイパッド2上に取り
付けられる半導体チップ1と、前記ダイパッド2および
半導体チップ1を樹脂封止する封止用樹脂4を備え、前
記ダイパッド2を前記半導体チップ1を包みこむように
形成し、このダイパッド2の内側および半導体チップ1
を封止用樹脂4によって樹脂封止する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば、パワー集積
回路のような高い放熱性が要求される半導体装置および
その製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図14は従来の半導体装置を示す断面図
であり、図において、符号1は半導体チップ、2は半導
体チップ1を取り付けるダイパッド、3は外部リード、
そして、符号4は半導体チップ1およびダイパッド2を
樹脂封止するための封止用樹脂である。
【0003】半導体チップ1はダイパッド2の上にはん
だ付け、あるいは樹脂などの接着材によって接着されて
いる。また、半導体チップ1およびダイパッド2はとも
に封止用樹脂4によって外部に露出しないように全体が
完全に樹脂封止され、かつ、側部には複数本の外部リー
ド3が突設されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の半導体装置は以
上のように構成され、外部に露出する放熱体は外部リー
ドのみであるため、半導体チップより発生する熱の放熱
性がきわめて悪いという課題があった。この発明は、か
かる課題を解決するために提案されたもので、高い放熱
性を備えた半導体装置および製造容易な半導体装置の製
造方法を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明に係る請求項第
1項記載の半導体装置においては、ダイパッドが封止用
樹脂の表面に露出して取り付けられている。
【0006】この発明に係る請求項第2項記載の半導体
装置においては、ダイパッドが半導体チップを包みこむ
ように形成され、当該ダイパッドの中および半導体チッ
プが封止用樹脂によって樹脂封止されている。
【0007】この発明に係る請求項第3項記載の半導体
装置においては、ダイパッドが半導体チップを包みこむ
ように形成され、かつ前記半導体チップおよび前記ダイ
パッド全体が封止用樹脂によって樹脂封止されている。
【0008】この発明に係る請求項第4項記載の半導体
装置においては、ダイパッドが半導体チップを包みこむ
ように形成され、かつ、当該ダイパッドの開口端部に放
熱用フィンが封止用樹脂より露出して突設されている。
【0009】この発明に係る請求項第5項記載の半導体
装置においては、放熱板が封止用樹脂の表面に露出して
取り付けられている。
【0010】この発明に係る請求項第6項記載の半導体
装置においては、放熱板がダイパッドおよび半導体チッ
プを包みこむように形成され、かつ、当該放熱板の中、
前記ダイパッドおよび半導体チップが封止用樹脂によっ
て樹脂封止されている。
【0011】この発明に係る請求項第7項記載の半導体
装置においては、ダイパッドの端部部に、外部に露出す
る放熱用突起が封止用樹脂の表面に沿って設けられてい
る。
【0012】この発明に係る請求項第8項記載の半導体
装置においては、ヒートスプレッダーが設けられ、当該
ヒートスプレッダーがダイパッドおよび半導体チップと
ともに封止用樹脂によって樹脂封止され、かつ、当該ヒ
ートスプレッダーの端部に、外部に露出する放熱用突起
が設けられている。
【0013】この発明に係る請求項第9項記載の半導体
装置においては、ヒートスプレッダーが設けられ、当該
ヒートスプレッダーがダイパッドおよび半導体チップと
ともに封止用樹脂によって樹脂封止され、前記ヒートス
プレッダーの端部に、外部に露出する放熱用突起が設け
られ、かつ、当該放熱用突起が外部リードとともに下方
に折り曲げられている。
【0014】この発明にかかる請求項第10項記載の半
導体装置の製造方法においては、放熱板をダイパッドお
よび半導体チップを包みこむように形成し、当該放熱板
の中にダイパッド上に半導体チップを取り付け、かつ、
前記半導体チップとリードフレームとを接続線によって
接続したものを挿入し、つづいて、前記放熱板の中を封
止用樹脂によって樹脂封止する。
【0015】この発明にかかる請求項第11項記載の半
導体装置の製造方法においては、ダイパットおよび半導
体チップを包み込むように形成された放熱板を所定間隔
おきに配し、当該放熱板の中にダイパッド上に半導体チ
ップを取り付けるとともに、前記半導体チップとリード
フレームとを接続線によって接続したものを挿入し、つ
づいて、各放熱板の中を封止用樹脂によって樹脂封止
し、つづいて、前記リードフレームを各半導体装置ごと
に切り離す。
【0016】
【作用】この発明に係る請求項第1項記載の半導体装置
は、ダイパッドが外部に露出していることにより放熱性
が高められる。
【0017】この発明に係る請求項第2項記載の半導体
装置は、ダイパッドが半導体チップを包み込むように形
成され、かつ、ダイパッドの外側面を除いてダイパッド
の中および半導体チップのみが封止用樹脂によって樹脂
封止されているため、ダイパッドの露出面積がきわめて
大きく放熱性が高められる。
【0018】この発明に係る請求項第3項記載の半導体
装置は、ダイパッドが半導体チップを包みこむように形
成され、かつ前記半導体チップおよび前記ダイパッド全
体が封止用樹脂によって樹脂封止されていることによ
り、半導体装置の性能が高められる。
【0019】この発明に係る請求項第4項記載の半導体
装置は、ダイパッドが半導体チップを包み込むように形
成され、かつ、ダイパッドの中および半導体チップのみ
が封止用樹脂によって樹脂封止され、ダイパッドの表面
は外部に露出され、さらに、ダイパッドの開口端部に外
部に露出する放熱用フィンが突設されているため、ダイ
パッドの露出面積はさらに大きく放熱性が高められる。
【0020】この発明に係る請求項第5項記載の半導体
装置は、放熱板が外部に露出して取り付けられているた
め、放熱性が高められる。
【0021】この発明に係る請求項第6項記載の半導体
装置は、放熱板がダイパッドおよび半導体チップを包み
込むように形成され、かつ、放熱板の中、ダイパッドお
よび半導体チップのみが封止用樹脂によって樹脂封止さ
れ、放熱板の表面は外部に露出していることにより、露
出面積がきわめて大きく放熱性が高められる。
【0022】この発明に係る請求項第7項記載の半導体
装置は、ダイパッドの端部に、外部に露出する放熱用突
起が封止用樹脂の表面に沿って設けられていることによ
り、放熱性が高められる。
【0023】この発明に係る請求項第8項記載の半導体
装置は、ヒートスプレッダーの端部に、外部に露出する
放熱用突起が設けられていることにより、放熱性が高め
られる。
【0024】この発明に係る請求項第9項記載の半導体
装置は、ヒートスプレッダーの端部に外部に露出する放
熱用突起が突設され、かつ当該放熱用突起が外部リード
とともに下方に折り曲げられていることにより、放熱用
突起をを外部リードとともに基板にはんだ付けなどする
ことにより、さらに、放熱性は高められる。
【0025】この発明に係る請求項第10項記載の半導
体装置は、放熱板をダイパッドおよび半導体チップを包
みこむように形成し、当該放熱板の中にダイパッド上に
半導体チップを取り付け、かつ、前記半導体チップとリ
ードフレームとを接続線によって接続したものを挿入
し、つづいて、前記放熱板の中を封止用樹脂によって樹
脂封止することにより、半導体装置の製造が容易とな
る。
【0026】この発明に係る請求項第11項記載の半導
体装置は、ダイパットおよび半導体チップを包み込むよ
うに形成された放熱板を所定間隔おきに配し、当該放熱
板の中にダイパッド上に半導体チップを取り付けるとと
もに、前記半導体チップとリードフレームとを接続線に
よって接続したものを挿入し、つづいて、各放熱板の中
を封止用樹脂によって樹脂封止し、つづいて、前記リー
ドフレームを各半導体装置ごとに切り離すことにより、
半導体装置の量産が可能となる。
【0027】
【実施例】実施例1.図1は、請求項第1項に係る半導
体装置の一実施例を示す半導体装置の断面図であり、薄
い矩形板状に形成されたダイパット2の上面に半導体チ
ップ1がはんだ付け若しくは樹脂性の接着材などで接着
することにより取り付けられている。また、ダイパッド
2の下面を除いて、半導体チップ1およびダイパット2
は、封止用樹脂4によって外部に露出しないように完全
に樹脂封止され、ダイパッド2の下面のみが放熱し易い
ように外部に露出している。さらに、封止用樹脂の側部
に(紙面上垂直に)複数本の外部リードが突設されてい
る(図省略)。
【0028】実施例2.図2は、請求項第2項に係る半
導体装置の一実施例を示す半導体装置の断面図であり、
ダイパット2は半導体チップ1を包み込むように断面略
リップ溝状に形成されている。また、半導体チップ1は
ダイパッド2の底板部2aの上に、はんだ付け若しくは
樹脂性の接着材などで接着することにより取り付けられ
ている。そして、ダイパッド2の中に封止用樹脂4が充
填され、この封止用樹脂4によってダイパッド2の表面
を除いて、ダイパッド2の内側および半導体チップ1は
完全に樹脂封止され、ダイパッド2の表面のみが放熱し
易いように外部に露出している。また、四方に外部リー
ドが突出されている(図省略)。
【0029】実施例3.図3は、請求項第3項に係る半
導体装置の一実施例を示す半導体装置の断面図であり、
実施例2において、ダイパッド2の中だけでなくその外
側にも封止用樹脂4が充填され、この封止用樹脂4によ
って半導体チップ1とともにダイパッド2の全体が外部
に露出しないように完全に樹脂封止されている。その他
の構成は実施例2と略同じである。なお、ダイパッド2
の表側の封止用樹脂4の被覆厚は、ダイパッド2の放熱
性を低下させないように可能な限り薄くされている。
【0030】実施例4.図4は、請求項第4項に係る半
導体装置の一実施例を示す半導体装置の断面図であり、
実施例2において、ダイパット2の開口縁端部に、この
部分を相反する方向に水平に折り曲げることにより放熱
用フィン5,5が封止用樹脂より突出した状態に形成さ
れている。その他の構成は第2の実施例と略同じであ
る。
【0031】実施例5.図5は、請求項第5項に係る半
導体装置の一実施例を示す半導体装置の断面図であり、
図において、符号6は半導体チップ1より発生する熱を
放熱するための放熱板である。放熱板6は矩形板状に形
成され、ダイパッド2の下側に直接、接着材などによっ
て取り付けられている。そして、この放熱板6の下面を
除いて、半導体チップ1、ダイパッド2および放熱板6
の上面は封止用樹脂4によって外部に露出しないように
完全に樹脂封止され、放熱板6の下面のみが放熱し易い
ように外部に露出している。なお、実施例では放熱板6
はダイパッド2の裏側に直接取り付けられているが、放
熱板6とダイパッド2との間に封止用樹脂4を充填して
ダイパッド2より離して設置してもよい。
【0032】実施例6.図6は、請求項第6項に係る半
導体装置の一実施例を示す半導体装置の断面図であり、
実施例5において、放熱板6が半導体チップ1およびダ
イパッド2を包み込むように断面略リップ溝状に形成さ
れている。また、半導体チップ1はダイパッド2の上に
はんだ付け若しくは樹脂性の接着材などで接着すること
により取り付けられ、かつ、半導体チップ1およびダイ
パッド2はともに放熱板6の底板部6aの上に設置され
ている。そして、放熱板6の中に封止用樹脂4が充填さ
れ、この封止用樹脂4によって放熱板6の内側、ダイパ
ッド2および半導体チップ1は完全に樹脂封止され、放
熱板6の表側のみが放熱し易いように外部に露出してい
る。なお、実施例では、ダイパッド2は放熱板6の底板
部6aの上に直接設置されているが、ダイパッド2と放
熱板6との間に封止用樹脂4を充填することにより隙間
が生じていてもよい。
【0033】実施例7.図7は、請求項第7項に係る半
導体装置の一実施例を示す半導体装置の断面図であり、
半導体チップ1およびダイパッド2はともに、封止用樹
脂4によって完全に樹脂封止されている。また、ダイパ
ッド2の周縁部には、この部分を封止用樹脂4の表面に
沿って真下に折り曲げるなどして露出面積を可能な限り
大きくするために放熱用突起7が設けられ、放熱効果が
高められている。また、四方に複数本の外部リード3が
突設されている。
【0034】実施例8.図8は、請求項第8項に係る半
導体装置の一実施例を示す半導体装置の断面図であり、
図において、符号8は半導体チップ1より発生する熱を
放熱するためのヒートスプレッターである。ヒートスプ
レッダー8はダイパッド2の下側に取り付けられ、半導
体チップ1、ダイパッド2とともに封止用樹脂4によっ
て外部に露出しないように完全に樹脂封止されている。
また、ヒートスプレッダー8の端部には、封止用樹脂
4の表面に沿って放熱用突起7が突設され、放熱用突起
7は封止用樹脂4の表面に沿って突設され、露出面積を
可能な限り大きくすることにより、放熱効果が高められ
ている。また、外部リード3が四方に突設されている。
【0035】実施例9.図9は、請求項第8項に係る半
導体装置の他の実施例を示す半導体装置の断面図であ
り、実施例8において、放熱用突起7が外部リード3と
3との間より水平に突設され、露出面積を可能な限り大
きくすることにより、放熱効果が高められている。その
他の構成は、実施例8と略同じであるため、その説明を
省略する。
【0036】実施例10.図10は、請求項第8項に係
る半導体装置の他の実施例を示す半導体装置の断面図で
あり、実施例8において、ヒートスプレッダー(図省
略)の端部に放熱用突起7が突設され、当該放熱用突起
7は露出面積を可能な限り大きくして放熱効果を高める
ために真上に略L字状に折り曲げられている。その他の
構成は実施例8と略同じであるため、その説明を省略す
る。
【0037】実施例11.図11は、請求項第9項に係
る半導体装置の一実施例を示す半導体装置の断面図であ
り、実施例8において、ヒートスプレッダー(図省略)
の端部に放熱用突起7が突設されている。放熱用突起7
は外部リード3と3との間より突設され、露出面積を大
きくするために外部リード3とともに下方に折り曲げら
れ、かつ、外部リード3とともに基板(図省略)にはん
だ付けすることにより放熱性が著しく高められている。
【0038】実施例12.図12は、請求項第10項に
係る半導体装置の製造方法の一実施例を示す半導体装置
の分解斜視図であり、図において、符号9はインナーリ
ードであり、10は半導体チップ1の電極とインナーリ
ード9とを接続するための接続線(ワイヤー)である。
【0039】あらかじめ、放熱板6をダイパッド2およ
び半導体チップ1を包みこむように形成し、当該放熱板
6の中にダイパッド2上に半導体チップ1を取り付け
(ダイボンデング)、かつ、前記半導体チップ1とイン
ナーリード9とを接続線10によって接続し(ワイヤー
ボンデング)、つづいて、前記放熱板6の中を樹脂封止
する。この製造方法により実施例6の半導体装置が得ら
れる。
【0040】実施例13.図13は、請求項第11項に
係る半導体装置の製造方法の一実施例を示す半導体装置
の斜視図であり、図において、符号11はリードフレー
ムである。リードフレーム11には、ダイパッド、イン
ナーリードおよび外部リードが形成される(いづれも、
図省略)。実施例12の半導体装置の製造方法におい
て、ダイパッド2上に半導体チップ1を取り付け、前記
半導体チップ1とリードフレーム11とを接続線10に
よって接続し、前記リードフレーム11をダイパッド2
および半導体チップ1とともに所定間隔おきに配された
放熱板6の中に挿入し、つづいて、各放熱板6の中を樹
脂封止し、つづいて、リードフレーム11を各半導体装
置ごとに切り離す。
【0041】
【発明の効果】以上説明したように、請求項第1項に係
る半導体装置によれば、ダイパッドが外部に露出してい
るため、放熱性がきわめてよいという効果がある。
【0042】また、請求項第2項に係る半導体装置によ
れば、ダイパッドが半導体チップを包み込むように形成
され、かつ、ダイパッドの外側面を除いてダイパッドの
中および半導体チップのみが封止用樹脂によって樹脂封
止されているため、ダイパッドの露出面積がきわめて大
きく放熱性がきわめてよいという効果がある。
【0043】また、請求項第3項に係る半導体装置によ
れば、ダイパッドが半導体チップを包みこむように形成
され、かつ前記半導体チップおよび前記ダイパッド全体
が封止用樹脂によって樹脂封止されているため、腐食な
どを防止でき半導体装置の信頼性が良いという効果があ
る。
【0044】また、請求項第4項に係る半導体装置によ
れば、ダイパッドが半導体チップを包み込むように形成
され、かつ、ダイパッドの中および半導体チップのみが
封止用樹脂によって樹脂封止され、ダイパッドの表面は
外部に露出され、さらに、ダイパッドの開口端部に外部
に露出する放熱用フィンが突設されているため、露出面
積はさらに大きく放熱性がきわめてよいという効果があ
る。
【0045】また、請求項第5項に係る半導体装置によ
れば、放熱板が外部に露出して取り付けられているた
め、放熱性がきわめてよいという効果がある。
【0046】また、請求項第6項に係る半導体装置によ
れば、放熱板がダイパッドおよび半導体チップを包み込
むように形成され、かつ、放熱板の中、ダイパッドおよ
び半導体チップのみが封止用樹脂によって樹脂封止さ
れ、放熱板の表面は外部に露出しているため、露出面積
がきわめて大きく放熱性がきわめてよいという効果があ
る。
【0047】また、請求項第7項に係る半導体装置によ
れば、ダイパッドの端部に、外部に露出する放熱用突起
が封止用樹脂の表面に沿って設けられているため、放熱
性がきわめてよいという効果がある。
【0048】また、請求項第8項に係る半導体装置によ
れば、ヒートスプレッダーが設けられ、当該ヒートスプ
レッダーがダイパッドおよび半導体チップとともに封止
用樹脂によって樹脂封止され、かつ、前記ヒートスプレ
ッダーの端部に、外部に露出する放熱用突起が設けられ
ているため、放熱性がきわめてよいという効果がある。
【0049】また、請求項第9項に係る半導体装置によ
れば、放熱用突起が外部リードとともに下方に折り曲げ
られているため、放熱用突起を外部リードとともに基板
にはんだ付けなどすることにより、放熱用突起を介して
基板への放熱が可能になり、放熱性はきわめてよいとい
う効果がある。
【0050】また、請求項第10項に係る半導体装置に
よれば、放熱板をダイパッドおよび半導体チップを包み
こむように形成し、当該放熱板の中にダイパッド上に半
導体チップを取り付け、かつ、前記半導体チップとイン
ナーリードとを接続線によって接続したものを挿入し、
つづいて、前記放熱板の中を樹脂封止するため、半導体
装置の製造がきわめて容易にできるという効果がある。
【0051】また、請求項第11項に係る半導体装置に
よれば、ダイパッド上に半導体チップを取り付け、前記
半導体チップとリードフレームとを接続線によって接続
し、前記リードフレームをダイパッドおよび半導体チッ
プとともに所定間隔おきに配された放熱板の中に挿入
し、つづいて、各放熱板の中を樹脂封止し、つづいて、
リードフレームを各半導体装置ごとに切り離すことによ
り、一回の工程で数多くの半導体装置を製造することが
でき、半導体装置の量産が可能となるという効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】半導体装置の断面図である。
【図2】半導体装置の断面図である。
【図3】半導体装置の断面図である。
【図4】半導体装置の断面図である。
【図5】半導体装置の断面図である。
【図6】半導体装置の断面図である。
【図7】半導体装置の断面図である。
【図8】半導体装置の断面図である。
【図9】半導体装置の一部斜視図である。
【図10】半導体装置の一部斜視図である。
【図11】半導体装置の一部斜視図である。
【図12】半導体装置の製造方法を示す一部斜視図であ
る。
【図13】半導体装置の製造方法を示す一部斜視図であ
る。
【図14】従来の半導体装置の一例を示す断面図であ
る。
【符号の説明】
1 半導体チップ 2 ダイパッド 3 外部リード 4 封止用樹脂 5 放熱用フィン 6 放熱板 7 放熱用突起 8 ヒートスプレッター 9 インナーリード 10 接続線(ワイヤー) 11 リードフレーム

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ダイパッドと、このダイパッド上に取り
    付けられる半導体チップと、前記ダイパッドおよび半導
    体チップを樹脂封止する封止用樹脂を備えてなる半導体
    装置において、前記ダイパッドを封止用樹脂の表面に露
    出したことを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 ダイパッドと、このダイパッド上に取り
    付けられる半導体チップと、前記ダイパッドおよび半導
    体チップを樹脂封止する封止用樹脂を備えてなる半導体
    装置において、前記ダイパッドを前記半導体チップを包
    みこむように形成し、当該ダイパッドの中および半導体
    チップを樹脂封止したことを特徴とする半導体装置。
  3. 【請求項3】 ダイパッドと、このダイパッド上に取り
    付けられる半導体チップと、前記ダイパットおよび半導
    体チップを樹脂封止する封止用樹脂を備えてなる半導体
    装置において、前記ダイパッドを前記半導体チップを包
    みこむように形成し、かつ、前記半導体チップおよび前
    記ダイパッド全体を封止用樹脂によって樹脂封止してな
    ることを特徴とする半導体装置。
  4. 【請求項4】 ダイパッドと、このダイパッド上に取り
    付けられる半導体チップと、前記ダイパッドおよび半導
    体チップを樹脂封止する封止用樹脂を備えてなる半導体
    装置において、前記ダイパッドを前記半導体チップを包
    みこむように形成し、かつ、当該ダイパッドの端部に放
    熱用フィンを前記封止用樹脂より露出して形成したこと
    を特徴とする半導体装置。
  5. 【請求項5】 ダイパッドと、このダイパッド上に取り
    付けられる半導体チップと、前記ダイパッドおよび半導
    体チップを樹脂封止する封止用樹脂を備えてなる半導体
    装置において、放熱板を前記封止用樹脂の表面に露出し
    て取り付けたことを特徴とする半導体装置。
  6. 【請求項6】 ダイパッドと、このダイパッド上に取り
    付けられる半導体チップと、前記ダイパッドおよび半導
    体チップを樹脂封止する封止用樹脂を備えてなる半導体
    装置において、放熱板を前記ダイパッドおよび半導体チ
    ップを包みこむように形成し、かつ、当該放熱板の中、
    前記ダイパッドおよび半導体チップを封止用樹脂によっ
    て樹脂封止したことを特徴とする半導体装置。
  7. 【請求項7】 ダイパッドと、このダイパッド上に取り
    付けられる半導体チップと、前記ダイパッドおよび半導
    体チップを樹脂封止する封止用樹脂を備えてなる半導体
    装置において、前記ダイパッドの端部に、外部に露出す
    る放熱用突起を前記封止用樹脂の表面に沿って設けたこ
    とを特徴とする半導体装置。
  8. 【請求項8】 ダイパッドと、このダイパッド上に取り
    付けられる半導体チップと、前記ダイパッドおよび半導
    体チップを樹脂封止する封止用樹脂を備えてなる半導体
    装置において、ヒートスプレッダーを前記ダイパッドお
    よび半導体チップとともに封止用樹脂によって樹脂封止
    し、かつ、当該ヒートスプレッダーの端部に、外部に露
    出する放熱用突起を設けたことを特徴とする半導体装
    置。
  9. 【請求項9】 ダイパッドと、このダイパッド上に取り
    付けられる半導体チップと、前記ダイパッドおよび半導
    体チップを樹脂封止する封止用樹脂を備えてなる半導体
    装置において、ヒートスプレッダーをダイパッドおよび
    半導体チップとともに封止用樹脂によって樹脂封止し、
    当該ヒートスプレッダーの端部に、外部に露出する放熱
    用突起を設け、かつ、当該放熱用突起を外部リードとと
    もに下方に折り曲げたことを特徴とする半導体装置。
  10. 【請求項10】 放熱板をダイパッドおよび半導体チッ
    プを包みこむように形成し、この放熱板の中にダイパッ
    ド上に半導体チップを取り付け、かつ、前記半導体チッ
    プとリードフレームとを接続線によって接続したものを
    前記放熱板の中に挿入し、つづいて、前記放熱板の中を
    封止用樹脂によって樹脂封止することを特徴とする半導
    体装置の製造方法。
  11. 【請求項11】 ダイパッドおよび半導体チップを包み
    こむように形成された放熱板を所定間隔おきに配し、当
    該放熱板の中にダイパッド上に半導体チップを取り付け
    るとともに、前記半導体チップとリードフレームとを接
    続線によって接続したものを挿入し、つづいて、各放熱
    板の中を封止用樹脂によって樹脂封止し、つづいて、前
    記リードフレームを各半導体装置ごとに切り離すことを
    特徴とする半導体装置の製造方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0687007A3 (en) * 1994-05-31 1997-04-16 Motorola Inc Surface mount electronic assembly and manufacturing process
JP2007150044A (ja) * 2005-11-29 2007-06-14 Denso Corp 半導体装置
JP2016127196A (ja) * 2015-01-07 2016-07-11 株式会社ソシオネクスト 電子装置及び電子装置の製造方法

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