JPH05206635A - セラミック回路基板の製造方法 - Google Patents
セラミック回路基板の製造方法Info
- Publication number
- JPH05206635A JPH05206635A JP4012752A JP1275292A JPH05206635A JP H05206635 A JPH05206635 A JP H05206635A JP 4012752 A JP4012752 A JP 4012752A JP 1275292 A JP1275292 A JP 1275292A JP H05206635 A JPH05206635 A JP H05206635A
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- JP
- Japan
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- circuit board
- ceramic
- thermoplastic resin
- layer
- ceramic circuit
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- Pending
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- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 高精度の微細回路パターンを有し、さらに半
田濡れ性の良いセラミック回路基板の製造方法を提供す
る。 【構成】 セラミック基板1上に、ホウケイ酸鉛ガラス
またはホウケイ酸ガラスを主成分とする熱可塑性樹脂層
(焼成後ガラス層2となる)を形成し、その上に金属箔
層3を形成し、同時に焼成する。この製造方法によれ
ば、ガラス層2が金属箔層3とセラミック基板1を強固
に密着させ、高精度の微細回路パターンを有し、半田濡
れ性の良いセラミック回路基板を提供することができ
る。
田濡れ性の良いセラミック回路基板の製造方法を提供す
る。 【構成】 セラミック基板1上に、ホウケイ酸鉛ガラス
またはホウケイ酸ガラスを主成分とする熱可塑性樹脂層
(焼成後ガラス層2となる)を形成し、その上に金属箔
層3を形成し、同時に焼成する。この製造方法によれ
ば、ガラス層2が金属箔層3とセラミック基板1を強固
に密着させ、高精度の微細回路パターンを有し、半田濡
れ性の良いセラミック回路基板を提供することができ
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子機器などの回路構
成に用いる高精度配線が可能なセラミック回路基板の製
造方法に関する。
成に用いる高精度配線が可能なセラミック回路基板の製
造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、セラミック回路基板は、熱伝導性
や耐熱性,化学的耐久性が有機材料基板より優れている
ので、有機材料基板に代わるものとして利用が拡大して
いる。また電子機器の小型化,多様化に伴い、高密度配
線,高密度実装が可能な基板として広く使用されるよう
になってきた。さらに今後は半導体ベアチップ実装基板
として需要は高まると予想され、微細な配線が容易で、
信頼性の高いセラミック回路基板の製造方法が必要にな
ると考えられる。
や耐熱性,化学的耐久性が有機材料基板より優れている
ので、有機材料基板に代わるものとして利用が拡大して
いる。また電子機器の小型化,多様化に伴い、高密度配
線,高密度実装が可能な基板として広く使用されるよう
になってきた。さらに今後は半導体ベアチップ実装基板
として需要は高まると予想され、微細な配線が容易で、
信頼性の高いセラミック回路基板の製造方法が必要にな
ると考えられる。
【0003】以下に図面を参照しながら、従来のセラミ
ック回路基板の一例について説明する。
ック回路基板の一例について説明する。
【0004】図3に、従来のセラミック回路基板の構成
を示す。図4は従来の製造方法により電子部品を実装し
たセラミック回路基板の構成を示す。
を示す。図4は従来の製造方法により電子部品を実装し
たセラミック回路基板の構成を示す。
【0005】図3に示すように、従来のセラミック基板
は、アルミナなどからなるセラミック基板11上に、A
g粉やCu粉を主成分とし、これにホウケイ酸ガラスま
たはホウケイ酸ガラスと熱可塑性樹脂などを添加してな
る導電ペーストを印刷して導体層12を形成する。さら
に、このように構成されたセラミック基板を焼成するこ
とによって、セラミック回路基板が完成される。つぎ
に、図4に示すように、このように構成されたセラミッ
ク回路基板に回路部品を実装し、電子機器の回路として
使用する。
は、アルミナなどからなるセラミック基板11上に、A
g粉やCu粉を主成分とし、これにホウケイ酸ガラスま
たはホウケイ酸ガラスと熱可塑性樹脂などを添加してな
る導電ペーストを印刷して導体層12を形成する。さら
に、このように構成されたセラミック基板を焼成するこ
とによって、セラミック回路基板が完成される。つぎ
に、図4に示すように、このように構成されたセラミッ
ク回路基板に回路部品を実装し、電子機器の回路として
使用する。
【0006】図4に示すように、セラミック基板13上
に形成した導体層14上に半導体パッケージ15やチッ
プ部品18を配置し、リード16を介して半田17によ
って導体層14に接続している。
に形成した導体層14上に半導体パッケージ15やチッ
プ部品18を配置し、リード16を介して半田17によ
って導体層14に接続している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の構成では、導電ペーストをスクリーン印刷して形成
した導体層14の形状は、インクのニジミ,ヒゲあるい
はインクが透過するスクリーン(紗)の影響による輪郭
部の直線性の低下などの問題が発生し、設計精度を実現
することが困難であった。特に、微細なパターン、例え
ば線幅が60μm以下のライン印刷ではラインの途切れ
などの問題が発生し、60μmのパターンは実用できな
かった。
来の構成では、導電ペーストをスクリーン印刷して形成
した導体層14の形状は、インクのニジミ,ヒゲあるい
はインクが透過するスクリーン(紗)の影響による輪郭
部の直線性の低下などの問題が発生し、設計精度を実現
することが困難であった。特に、微細なパターン、例え
ば線幅が60μm以下のライン印刷ではラインの途切れ
などの問題が発生し、60μmのパターンは実用できな
かった。
【0008】また、表面の平滑性も悪く、表面粗さバラ
ツキ±10μm以下を必要とする半導体のフリップチッ
プ実装には採用が困難であった。
ツキ±10μm以下を必要とする半導体のフリップチッ
プ実装には採用が困難であった。
【0009】さらに、導電性パターンの作成時には85
0℃〜900℃の温度で基板全体が焼成されるので、ホ
ウケイ酸ガラスやホウケイ酸鉛ガラスを主成分とするガ
ラスによってセラミック基板13と導体層14は強く密
着するが、上記ガラスが導体層14の表面を変性し、金
属箔に比べて、半田17の濡れが悪くなるという課題を
有していた。
0℃〜900℃の温度で基板全体が焼成されるので、ホ
ウケイ酸ガラスやホウケイ酸鉛ガラスを主成分とするガ
ラスによってセラミック基板13と導体層14は強く密
着するが、上記ガラスが導体層14の表面を変性し、金
属箔に比べて、半田17の濡れが悪くなるという課題を
有していた。
【0010】本発明は、上記課題を解決するものであ
り、微細パターンが精度良く形成され、半田濡れ性が良
好な導体層を有するセラミック回路基板の製造方法を提
供することを目的とするものである。
り、微細パターンが精度良く形成され、半田濡れ性が良
好な導体層を有するセラミック回路基板の製造方法を提
供することを目的とするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明のセラミック回路基板の製造方法は、セラミッ
ク基板上に、ホウケイ酸ガラスまたはホウケイ酸鉛ガラ
スを主成分とするフィラーを含む熱可塑性樹脂層を形成
する工程と、前記熱可塑性樹脂層上に、導電性金属箔を
形成する工程と、前記セラミック基板と熱可塑性樹脂層
を金属箔層を同時に焼成するようにしたものである。
に本発明のセラミック回路基板の製造方法は、セラミッ
ク基板上に、ホウケイ酸ガラスまたはホウケイ酸鉛ガラ
スを主成分とするフィラーを含む熱可塑性樹脂層を形成
する工程と、前記熱可塑性樹脂層上に、導電性金属箔を
形成する工程と、前記セラミック基板と熱可塑性樹脂層
を金属箔層を同時に焼成するようにしたものである。
【0012】
【作用】この製造方法によれば、エッチングにより予め
精度良くパターン形成された金属箔パターンを積層する
ので、微細なパターンも設計通りに作成することができ
る。積層された金属箔パターンは表面が平滑で、半田濡
れ性が良く、電子部品を高い信頼性で実装することがで
きることとなる。
精度良くパターン形成された金属箔パターンを積層する
ので、微細なパターンも設計通りに作成することができ
る。積層された金属箔パターンは表面が平滑で、半田濡
れ性が良く、電子部品を高い信頼性で実装することがで
きることとなる。
【0013】
【実施例】以下に本発明の一実施例のセラミック回路基
板の製造方法を、図面を参照しながら説明する。
板の製造方法を、図面を参照しながら説明する。
【0014】図1に本発明の一実施例の製造方法により
得られたセラミック回路基板の構成を示す。図1に示す
ように、アルミナなどのセラミックからなるセラミック
基板1の上にホウケイ酸鉛ガラスを主成分とするガラス
層2が形成され、さらにその上に、表面が平滑なCu箔
を重ねる。半導体ベアチップ4はAuバンプ5を介して
半田6によってCu箔3に電気的に接続されている。セ
ラミック基板1の裏面には同様にしてチップコンデンサ
ー7が半田6によってCu箔3に電気的に接続されてい
る。
得られたセラミック回路基板の構成を示す。図1に示す
ように、アルミナなどのセラミックからなるセラミック
基板1の上にホウケイ酸鉛ガラスを主成分とするガラス
層2が形成され、さらにその上に、表面が平滑なCu箔
を重ねる。半導体ベアチップ4はAuバンプ5を介して
半田6によってCu箔3に電気的に接続されている。セ
ラミック基板1の裏面には同様にしてチップコンデンサ
ー7が半田6によってCu箔3に電気的に接続されてい
る。
【0015】前記構成のセラミック回路基板は、アルミ
ナ基板1上に、ホウケイ酸鉛ガラスを主成分とするフィ
ラーを含んだ熱可塑性樹脂層をスクリーン印刷により形
成する工程と、事前にエッチングで精度良くパターン形
成されたCu箔3を、熱可塑性樹脂2上に加熱加圧する
ことで接着する工程と、前記アルミナ基板1と熱可塑性
樹脂とCu箔3を900℃、N2中で同時焼成する工程
を通じて得られ、この工程中に熱可塑性樹脂は熱分解し
てなくなりガラス層2のみとなる。
ナ基板1上に、ホウケイ酸鉛ガラスを主成分とするフィ
ラーを含んだ熱可塑性樹脂層をスクリーン印刷により形
成する工程と、事前にエッチングで精度良くパターン形
成されたCu箔3を、熱可塑性樹脂2上に加熱加圧する
ことで接着する工程と、前記アルミナ基板1と熱可塑性
樹脂とCu箔3を900℃、N2中で同時焼成する工程
を通じて得られ、この工程中に熱可塑性樹脂は熱分解し
てなくなりガラス層2のみとなる。
【0016】以上の製造方法によって得られるセラミッ
ク回路基板について、以下にその製造工程をさらに具体
的に説明する。
ク回路基板について、以下にその製造工程をさらに具体
的に説明する。
【0017】図2に示すように、セラミック基板8上に
形成されたホウケイ酸鉛ガラスを主成分とする熱可塑性
樹脂層9は加熱加圧によって塑性変形し、パターン化し
たCu箔10を、セラミック基板に密着させる。その後
900℃の焼成工程を経て図1に示すようにセラミック
基板1とCu箔3を、ホウケイ酸鉛ガラスを主成分とす
るガラス層2によって強固に密着させる。
形成されたホウケイ酸鉛ガラスを主成分とする熱可塑性
樹脂層9は加熱加圧によって塑性変形し、パターン化し
たCu箔10を、セラミック基板に密着させる。その後
900℃の焼成工程を経て図1に示すようにセラミック
基板1とCu箔3を、ホウケイ酸鉛ガラスを主成分とす
るガラス層2によって強固に密着させる。
【0018】さらにCu箔3は、その上に半導体ベアチ
ップ7や、チップコンデンサー7を実装するとき半田4
の濡れ性を良くする部品パッドとなる。
ップ7や、チップコンデンサー7を実装するとき半田4
の濡れ性を良くする部品パッドとなる。
【0019】以上のように本実施例によれば、部品を実
装するCu箔を、エッチングなどの方法により精度良く
パータン形成した後、ガラス層を介してセラミック基板
に密着させるので、ガラスを含まないCu箔は半田濡れ
が良好となる。
装するCu箔を、エッチングなどの方法により精度良く
パータン形成した後、ガラス層を介してセラミック基板
に密着させるので、ガラスを含まないCu箔は半田濡れ
が良好となる。
【0020】なお、本実施例に用いたセラミック基板は
アルミナを主成分としたが、他のセラミック材を使用し
ても良く、ガラスフィラーをホウケイ酸鉛を主成分とし
たホウケイ酸ガラスを主成分としても良い。また熱可塑
性樹脂はアクリル樹脂を用いたが、他の熱可塑性樹脂で
も良い。
アルミナを主成分としたが、他のセラミック材を使用し
ても良く、ガラスフィラーをホウケイ酸鉛を主成分とし
たホウケイ酸ガラスを主成分としても良い。また熱可塑
性樹脂はアクリル樹脂を用いたが、他の熱可塑性樹脂で
も良い。
【0021】また、本実施例では導電性金属箔層として
銅箔を用いたが、本発明はこれに限定されるものではな
く、半田濡れ性の良い金属であれば何でも良い。
銅箔を用いたが、本発明はこれに限定されるものではな
く、半田濡れ性の良い金属であれば何でも良い。
【0022】
【発明の効果】以上の実施例の説明から明らかなように
本発明によれば、セラミック基板上に、ホウケイ酸鉛ガ
ラスまたはホウケイ酸ガラスを主成分とするフィラーを
含む熱可塑性樹脂層を形成する工程と、前記熱可塑性樹
脂層上に、導電性金属箔層を接着する工程と、これらを
同時焼成して熱可塑性樹脂を分解除去する工程により、
金属箔を精度良くパターン加工した後に、セラミック基
板上に微細パターンを形成することができ、半田濡れ性
の良い導体層を有するセラミック回路基板を提供するこ
とができる。
本発明によれば、セラミック基板上に、ホウケイ酸鉛ガ
ラスまたはホウケイ酸ガラスを主成分とするフィラーを
含む熱可塑性樹脂層を形成する工程と、前記熱可塑性樹
脂層上に、導電性金属箔層を接着する工程と、これらを
同時焼成して熱可塑性樹脂を分解除去する工程により、
金属箔を精度良くパターン加工した後に、セラミック基
板上に微細パターンを形成することができ、半田濡れ性
の良い導体層を有するセラミック回路基板を提供するこ
とができる。
【図1】本発明の一実施例の製造方法により得られたセ
ラミック回路基板に部品を実装した状態を示す断面図
ラミック回路基板に部品を実装した状態を示す断面図
【図2】同セラミック回路基板の構成を示す断面図
【図3】従来のセラミック回路基板の断面図
【図4】同セラミック回路基板に部品を実装した状態を
示す断面図
示す断面図
1 セラミック基板 2 ガラス層 3 銅箔層 9 熱可塑性樹脂層
Claims (1)
- 【請求項1】 セラミック基板上に、ホウケイ酸ガラス
またはホウケイ酸鉛ガラスを主体とするフィラーを含む
熱可塑性樹脂層を形成する工程と、前記熱可塑性樹脂層
上に、導電性金属箔層を積層する工程と、前記セラミッ
ク基板と熱可塑性樹脂層と、金属箔層を同時に焼成し、
熱可塑性樹脂を分解除去するセラミック回路基板の製造
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4012752A JPH05206635A (ja) | 1992-01-28 | 1992-01-28 | セラミック回路基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4012752A JPH05206635A (ja) | 1992-01-28 | 1992-01-28 | セラミック回路基板の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05206635A true JPH05206635A (ja) | 1993-08-13 |
Family
ID=11814147
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4012752A Pending JPH05206635A (ja) | 1992-01-28 | 1992-01-28 | セラミック回路基板の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05206635A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016535924A (ja) * | 2013-07-29 | 2016-11-17 | フエロ コーポレーション | 導電トレースを形成する方法 |
-
1992
- 1992-01-28 JP JP4012752A patent/JPH05206635A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016535924A (ja) * | 2013-07-29 | 2016-11-17 | フエロ コーポレーション | 導電トレースを形成する方法 |
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