JPH05209917A - 簡易型パルス・ノイズ試験器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】パルス・ノイズを簡易に試験することのできる
簡易型パルス・ノイズ試験器に関し、発生したパルス・
ノイズの発生回数、パルス幅を計数し、その計数値を保
持しておくことのできる小型で簡易型のパルス・ノイズ
試験器を実現することを目的とする。 【構成】入力するパルスの極性を判定するパルス極性判
定手段１０と、パルスの数をカウントするパルス数計数
手段２０と、基準の周期を持つクロック信号を発生する
クロック発生手段３０と、クロック信号を計数し、入力
するパルスのパルス幅を計測するパルス幅計数手段４０
と、パルス数計数手段２０の出力するパルス数と、パル
ス幅計数手段４０の出力するパルス幅を保持して表示す
る表示手段５０と、各手段１０、２０、３０、４０、５
０に電源を供給する電源供給手段６０とを備え、パルス
数とパルス幅とを同時に試験するように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はパルス・ノイズを簡易に
試験することのできる簡易型パルス・ノイズ試験器に関
する。

【０００２】各種電子装置、通信装置に使用されるプリ
ント板パッケージは部品の実装密度が高くなり、且つそ
こに搭載される集積回路の集積度も高くなっているた
め、１枚のプリント板パッケージの機能は高度化し、複
雑化してきている。

【０００３】このようなプリント板パッケージの障害に
は、部品等の破損による固定の障害と、部品等の経時変
化により電子回路の動作点が移動すること等によって生
じる間欠的な障害とがある。

【０００４】固定の障害では、障害現象を再現できるの
で、原因の追求、修理を容易に行うことができるが、間
欠障害では、障害現象を簡単に再現することができず、
障害原因の究明に長い時間を要している。

【０００５】このようなプリント板パッケージで発生す
るパルス・ノイズ障害を検出することのできる簡易型の
試験器が要求されている。

【０００６】

【従来の技術】図６は従来例を説明する図を示す。図中
の１００は試験対象のプリント板パッケージであり、２
００はプリント板パッケージ１００を搭載する装置、３
００はプリント板パッケージ１００を試験するためのテ
ストプログラム（以下ＴＰと称する）、４００はロジッ
クアナライザ、４１０は操作部、４２０は波形表示部、
４３０は時間表示部である。

【０００７】上述の従来例において、プリント板パッケ
ージ１００に障害が発生した場合は、その障害を探索す
るためにＴＰ３００により、装置２００、プリント板パ
ッケージ１００を動作させ、その出力端子に、例えば、
ロジックアナライザ４００等の汎用の試験器を接続し
て、障害現象を再現させ、その時のパルス波形、パルス
の持続時間等を観測することにより、障害原因を追求
し、修理、再発防止等の対策を講じている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】上述の従来例において
は、ロジックアナライザ４００等の汎用の試験器を接続
して、試験を行うので、技術レベルの高い技術者の長時
間の作業が必要となる。

【０００９】また、障害が間欠障害の場合には、さらに
長い時間の障害探索やデータ収集が必要となる。さら
に、障害の再現が困難な場合には、対象となる装置１０
０の設置場所で通常の条件で装置２００を稼働させ、障
害を再現させる場合もある。このような装置２００の設
置場所で障害探索を行う場合には、長時間の障害探索が
難しくなるとともに、スペース、電源等の点からロジッ
クアナライザ４００等の大型の汎用測定器を装置２００
の設置場所に設置することも困難である。

【００１０】本発明は発生したパルス・ノイズの発生回
数、パルス幅を計数し、その計数値を保持しておくこと
のできる小型で簡易型のパルス・ノイズ試験器を実現し
ようとする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理を説
明するブロック図である。図中の１０は入力するパルス
の極性を判定するパルス極性判定手段であり、２０は入
力するパルスの数をカウントするパルス数計数手段であ
り、３０は基準の周期を持つクロック信号を発生するク
ロック発生手段である。

【００１２】また、４０はクロック発生手段３０の発生
するクロック信号を計数することにより、入力するパル
スのパルス幅を計測するパルス幅計数手段であり、５０
は計数手段２０の出力するパルス数と、パルス幅計数手
段４０の出力するパルス幅を保持して表示する表示手段
であり、６０は各手段１０、２０、３０、４０、５０に
電源を供給する電源供給手段であり、かかる手段によ
り、入力パルスのパルス数とパルス幅とを同時に試験す
る。

【００１３】

【作用】本発明はプリント板パッケージ（図示省略）の
発生するパルス・ノイズを測定するものであり、試験対
象のプリント板パッケージの測定端子をパルス極性判定
手段１０に接続する。パルス極性判定手段１０では、入
力したパルス・ノイズの極性を判定、表示するととも
に、その出力をパルス数計数手段２０およびパルス幅計
数手段４０に入力する。

【００１４】パルス数計数手段２０は入力したパルス・
ノイズの数を計数し、パルス幅計数手段４０では、クロ
ック発生手段３０の発生するクロック信号を基準信号と
して、パルス・ノイズのパルス幅を計数する。

【００１５】このパルス数計数手段２０、パルス幅計数
手段４０の出力を同時に表示手段５０に保持し、表示す
ることにより、パルス・ノイズの数およびパルス幅の試
験を同時に行うことができる。

【００１６】

【実施例】図２は本発明の実施例を説明する図である。
図中の１０、２０、３０、４０、５０はそれぞれ図１の
原理ブロック図で説明したパルス極性判定手段、パルス
数計数手段、クロック発生手段、パルス幅計数手段を示
し、各手段の中の１１、１２、４８はインバータ、１
３、１４は発光ダイオード（以下ＬＥＤと称する）、Ｒ
１、Ｒ２は抵抗、１５、１６、２３、４２、４３、４６
はＦＦ回路、１７、ＮＡ１はＮＡＮＤ回路、１８、２
１、Ａ１、Ａ２、Ａ３はＡＮＤ回路、１９はＮＯＲ回
路、２２、４４はカウンタ、３１は基準発振器、３２は
分周器、３３、４０Ａ、４７はセレクタ、４１はシフト
レジスタ、４５はＲＯＭ、４９はスイッチ、Ｏ１はＯＲ
回路、５１、５２、５３は表示器、５４はブザである。

【００１７】また、６０は内蔵電池６１、電源安定化回
路６２によりなる電源供給手段である。各回路中のＣは
クロック入力端子、Ｒはリセット端子、Ｑは出力端子、
Ｅはイネーブル端子、ＣＯはキャリィアウト端子であ
る。

【００１８】さらに、丸付き英字は同じ丸付き英字に接
続される。図３は本発明の実施例のタイムチャートであ
る。図２の実施例の動作を図３のタイムチャートにより
説明する。丸付き数字は図２の実施例の各点における信
号の波形を示す。入力端子に入力する波形をＰＡ、ＰＢ
の２つの例で説明する。

【００１９】 セレクタ３３より出力されるクロック
である。 ＰＡ 入力パルスＡを示す。 ＰＢ 入力パルスＢを示す。

【００２０】以下、入力パルスＰＡに対応する出力を実
線で、入力パルスＢに対応する出力を破線で示す。 −１、−２ ＦＦ回路１５、１６は入力が変化した
とき、その立ち上がりで動作する。したがって、ＦＦ回
路１５は入力パルスＰＡ（以下入力パルスＰＡの場合で
動作を説明する）の立ち上がりで「Ｈ」となり、入力パ
ルスＰＡを反転した信号が入力するＦＦ回路１６は入力
パルスＰＡの立ち下がりで「Ｈ」となり、ＦＦ回路１
５、１６ともに「Ｈ」となった時に、ＮＡＮＤ回路１７
から「Ｌ」が出力され、この「Ｌ」によりＦＦ回路１
５、１６ともにリセットされる。

【００２１】また、ＦＦ回路１５、１６の出力を入力と
するＡＮＤ回路１８の出力をカウンタ２２に入力して、
パルス数をカウントし、カウント結果を表示器５１に入
力する。

【００２２】また、入力パルスが「Ｈ」のときＬＥＤ１
３が点灯し、入力パルスが「Ｌ」のときＬＥＤ１４が点
灯し、入力パルスＰＡのレベルを表示する。 −３ ＮＯＲ回路１９には、ＦＦ回路１５、１６の出
力が入力されているので、ＦＦ回路１５、１６の何れか
が「Ｈ」となったときに、「Ｌ」が出力され、ＦＦ回路
４３がセットされ、「Ｈ」が出力される。

【００２３】−Ａ〜−Ｄ −３のＦＦ回路４３が
出力する「Ｈ」により、カウンタ４４がイネーブルとな
り、セレクタ３３から出力するクロックのカウントを行
って出力するカウンタ４４のＱＡ、ＱＢ、ＱＣ、ＱＤ出
力を示す。

【００２４】図４は、カウンタ４４のＱＡ、ＱＢ、Ｑ
Ｃ、ＱＤの出力を入力することにより、出力するＲＯＭ
４５のデータの例を示す。 −ＣＯ カウンタ４４が１６カウントして出力するキ
ャリィアウト出力である。

【００２５】 セレクタ４７は、ＡＮＤ回路Ａ１〜Ａ
３により、どのタイミング（ＤＳ０、ＤＳ１、ＤＳ２）
でパルスを検出するかのタイミングを設定するものであ
り、シフトレジスタ４１でシフトしたパルスをＯＲ回路
Ｏ１の出力するタイミングでラッチして出力する。

【００２６】−０〜−７ シフトレジスタ４１の出
力を示す。シフトレジスタ４１は８ビットのシフトレジ
スタであり、下位４桁をＤ０、上位４桁をＤ１として、
表示器５２、５３に入力し表示を行う。

【００２７】また、セレクタ４０Ａはパルスの測定を連
続で行うか、１回のみ行うかの設定を行うものであり、
連続に設定した場合は、パルスが入力する毎に表示が、
最新の値に変化するが、１回に設定すると、最初のパル
スの測定値を表示し、停止する。したがって、間欠障害
の場合でも、この簡易型パルス・ノイズ試験器を接続
し、装置を通常の動作条件で動作させることにより長時
間の無人試験も可能である。

【００２８】また、ブザ５４を鳴動させることにより、
離れた場所からもパルス・ノイズが発生したことを作業
者に知らせることができる。図５は本発明の実施例によ
るパルス検出結果を説明する図である。図は入力パルス
Ａ、Ｂに対して、それぞれＤＳ０、ＤＳ１、ＤＳ２のタ
イミングで検出したデータを示す。

【００２９】例えば、表示器５２、５３（図中表示セグ
メントと示す）の表示が「０３」となった場合には、
「Ｈ」が２τ（τはクロックの周期）継続し、「Ｌ」が
６τ継続したことを示す。このように、表示器５２、５
３の表示からパルス・ノイズの波形とクロックの周期か
ら、パルス幅を求めることができる。

【００３０】また、本実施例においては、電源供給手段
６０を内蔵電池６１と電源安定化回路６２より構成し、
且つ小型に構成することにより、装置の設置場所に余裕
のない場所でも試験を簡単に行うことが可能となる。

【００３１】

【発明の効果】本発明によれば、電子回路から発生する
パルス・ノイズのパルス数、パルス幅を試験し、その結
果を保持、出力することができる。また、小型、軽量と
し電源を内部電池から供給することにより、現地でも簡
単に使用でき、間欠障害に対しても、本発明の試験器を
接続し連続可動させることにより、長時間の障害データ
の収集が可能となり、障害の原因究明が容易になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の原理を説明するブロック図

【図２】 本発明の実施例を説明する図

【図３】 本発明の実施例のタイムチャート

【図４】 本発明の実施例のＲＯＭの入出力データの例

【図５】 本発明の実施例によるパルス検出結果を説明
する図

【図６】 従来例を説明する図

【符号の説明】

１０ パルス極性判定手段 ２０ パルス数計数手段 ３０ クロック発生手段 ４０ パルス幅計数手段 ５０ 表示手段 ６０ 電源供給手段 １１、１２、４８ インバータ １３、１４ ＬＥＤ Ｒ１、Ｒ２ 抵抗 １５、１６、２３、４２、４３、４６ ＦＦ回路 １７、ＮＡ１ ＮＡＮＤ回路 １８、２１、Ａ１、Ａ２、Ａ３ ＡＮＤ回路 １９ ＮＯＲ回路 ２２、４４ カウンタ ３１は基準発振器 ３２ 分周器 ３３、４０Ａ、４７ セレクタ ４１ シフトレジスタ ４５ ＲＯＭ ４９ スイッチ Ｏ１ ＯＲ回路 ５１、５２、５３ 表示器 ５４ ブザ ６１ 内蔵電池 ６２ 電源安定化回路 １００ プリント板パッケージ ２００ 装置 ３００ ＴＰ ４００ ロジックアナライザ ４１０ 操作部 ４２０ 波形表示部 ４３０ 時間表示部

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子回路から発生するパルス・ノイズを
   試験する簡易型の試験器であって、 入力するパルスの極性を判定するパルス極性判定手段
   （１０）と、 入力するパルスの数をカウントするパルス数計数手段
   （２０）と、 基準の周期を持つクロック信号を発生するクロック発生
   手段（３０）と、 前記クロック発生手段（３０）の発生するクロック信号
   を計数することにより、入力するパルスのパルス幅を計
   測するパルス幅計数手段（４０）と、 前記パルス数計数手段（２０）の出力するパルス数と、
   前記パルス幅計数手段（４０）の出力するパルス幅を保
   持して表示する表示手段（５０）と、 前記各手段（１０、２０、３０、４０、５０）に電源を
   供給する電源供給手段（６０）とを備え、 パルス数とパルス幅とを同時に試験することを特徴とす
   る簡易型パルス・ノイズ試験器。
2. 【請求項２】 前記パルス幅計数手段（４０）にセレク
   タ（４０Ａ）を設け、複数のパルスが入力するとき、前
   記パルスセレクタ（４０Ａ）により、測定対象のパルス
   を指定することを特徴とする請求項１記載の簡易型パル
   ス・ノイズ試験器。
3. 【請求項３】 前記電源供給手段（６０）は内蔵電池
   （６１）と電源安定化回路（６２）より構成したことを
   特徴とする請求項１記載の簡易型パルス・ノイズ試験
   器。