JPH05215691A - はんだ付け外観検査装置 - Google Patents
はんだ付け外観検査装置Info
- Publication number
- JPH05215691A JPH05215691A JP961092A JP961092A JPH05215691A JP H05215691 A JPH05215691 A JP H05215691A JP 961092 A JP961092 A JP 961092A JP 961092 A JP961092 A JP 961092A JP H05215691 A JPH05215691 A JP H05215691A
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- circuit
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 10
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- 238000005339 levitation Methods 0.000 abstract 2
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 6
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】リード浮きや、はんだ接続部ぬれ不良などの欠
陥検出能力を向上する。 【構成】実装部品２に照明器具３が照明光を照射し、そ
の反射光の画像データについて、検査ウィンドウ発生回
路１０がパッドの先端に検査ウィンドウを発生させ、良
否判定回路１２は、リード浮きや、はんだ接続部ぬれ不
良などの場合のようにウィンドウ内濃淡値データ総和が
大きい場合を不良と判断する。
陥検出能力を向上する。 【構成】実装部品２に照明器具３が照明光を照射し、そ
の反射光の画像データについて、検査ウィンドウ発生回
路１０がパッドの先端に検査ウィンドウを発生させ、良
否判定回路１２は、リード浮きや、はんだ接続部ぬれ不
良などの場合のようにウィンドウ内濃淡値データ総和が
大きい場合を不良と判断する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明ははんだ付け外観検査装
置、特に、プリント基板上に実装された表面実装部品の
はんだ付け状態を外観上から検査することを特徴とす
る、はんだ付け外観検査装置に関する。
置、特に、プリント基板上に実装された表面実装部品の
はんだ付け状態を外観上から検査することを特徴とす
る、はんだ付け外観検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の技術は、例えば、特開平 2-10251
公報に示されているような基板検査装置がある。 従来
のはんだ付け外観検査装置について図面を参照して詳細
に説明する。図４は、従来の一例を示すブロック図であ
る。
公報に示されているような基板検査装置がある。 従来
のはんだ付け外観検査装置について図面を参照して詳細
に説明する。図４は、従来の一例を示すブロック図であ
る。
【０００３】図４に示すはんだ付け外観検査装置は、プ
リント基板１上に実装されている部品２に照明を照射す
るリング状照明装置１５と、反射光の画像を取り込むカ
メラ１６と、カメラ１６の出力信号を二値化する二値化
回路１７と、反射光の明部領域を抽出する領域抽出回路
１８と、領域抽出回路１８の出力データから良否判定を
行う判定回路１９を有している。
リント基板１上に実装されている部品２に照明を照射す
るリング状照明装置１５と、反射光の画像を取り込むカ
メラ１６と、カメラ１６の出力信号を二値化する二値化
回路１７と、反射光の明部領域を抽出する領域抽出回路
１８と、領域抽出回路１８の出力データから良否判定を
行う判定回路１９を有している。
【０００４】カメラ１６は、照明装置１５が部品２に照
射した時の反射光を取り込み画像データを二値化回路１
７に出力する。二値化回路１７は画像データを二値化す
る。ここで、はんだ付け部が良品の場合は、二値化した
画像データの中に少数の大きい明部領域があり、はんだ
付け部が不良品の場合は、二値化した画像データは複雑
に入り組んだ多数の小さい明部領域を含むという特徴が
ある。以上のことから判定回路１９は、明部領域の数が
多いときは不良と判定し、少ないときは良品と判定す
る。
射した時の反射光を取り込み画像データを二値化回路１
７に出力する。二値化回路１７は画像データを二値化す
る。ここで、はんだ付け部が良品の場合は、二値化した
画像データの中に少数の大きい明部領域があり、はんだ
付け部が不良品の場合は、二値化した画像データは複雑
に入り組んだ多数の小さい明部領域を含むという特徴が
ある。以上のことから判定回路１９は、明部領域の数が
多いときは不良と判定し、少ないときは良品と判定す
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のはんだ
付け外観検査装置は、リード先端のはんだ付け部が良品
のときでも、フィレット形状が複雑で画像データの明部
領域の数が不良品のときよりも多い場合があり良否判定
ミスが多いという欠点があった。特に、リード浮きやは
んだ接続ぬれ不良等を判定ミスした場合には致命的な結
果となる。
付け外観検査装置は、リード先端のはんだ付け部が良品
のときでも、フィレット形状が複雑で画像データの明部
領域の数が不良品のときよりも多い場合があり良否判定
ミスが多いという欠点があった。特に、リード浮きやは
んだ接続ぬれ不良等を判定ミスした場合には致命的な結
果となる。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のはんだ付け外観
検査装置は、プリント基板上の表面実装部品を照らす照
明器具と、前記照明器具による反射光を取り込むカメラ
と、前記カメラが取り込んだ画像のアナログ濃淡信号を
ディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換回路と、前記Ａ／Ｄ
変換回路の出力データを格納する画像メモリと、パッド
先端部に検査ウィンドウを発生する検査ウィンドウ発生
回路と、ウィンドウ内の画像濃淡値データの総和を求め
るウィンドウ内データ演算回路と、前記データ演算回路
の出力データとしきい値とを比較し良否を判定する良否
判定回路とを含んで構成される。
検査装置は、プリント基板上の表面実装部品を照らす照
明器具と、前記照明器具による反射光を取り込むカメラ
と、前記カメラが取り込んだ画像のアナログ濃淡信号を
ディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換回路と、前記Ａ／Ｄ
変換回路の出力データを格納する画像メモリと、パッド
先端部に検査ウィンドウを発生する検査ウィンドウ発生
回路と、ウィンドウ内の画像濃淡値データの総和を求め
るウィンドウ内データ演算回路と、前記データ演算回路
の出力データとしきい値とを比較し良否を判定する良否
判定回路とを含んで構成される。
【０００７】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して詳細に
説明する。図１は本発明の一実施例を示すブロック図で
ある。
説明する。図１は本発明の一実施例を示すブロック図で
ある。
【０００８】図１に示すはんだ付け外観検査装置は、基
板１上の実装部品２に照明光を照射する照明器具３と、
検査対象箇所からの反射光を取り込むためのカメラ４
と、カメラ４の出力信号をディジタル値に変換するＡ／
Ｄ変換回路５と、Ａ／Ｄ変換回路５の出力データを格納
する画像メモリ６と、パッド先端部に検査ウィンドウを
発生させる検査ウィンドウ発生回路１０と、検査ウィン
ドウ発生回路１０と画像メモリ６とが接続されたウィン
ドウ内データ演算回路１１と、ウィンドウ内データ演算
回路１１の出力が接続された良否判定回路１２とを含ん
で構成される。
板１上の実装部品２に照明光を照射する照明器具３と、
検査対象箇所からの反射光を取り込むためのカメラ４
と、カメラ４の出力信号をディジタル値に変換するＡ／
Ｄ変換回路５と、Ａ／Ｄ変換回路５の出力データを格納
する画像メモリ６と、パッド先端部に検査ウィンドウを
発生させる検査ウィンドウ発生回路１０と、検査ウィン
ドウ発生回路１０と画像メモリ６とが接続されたウィン
ドウ内データ演算回路１１と、ウィンドウ内データ演算
回路１１の出力が接続された良否判定回路１２とを含ん
で構成される。
【０００９】照明器具３は実装部品２のフィレット部に
照明光を照射する。次に、カメラ４が反射光を取り込み
アナログ濃淡信号をＡ／Ｄ変換回路５に出力する。Ａ／
Ｄ変換回路５は、Ａ／Ｄ変換後ディジタル濃淡値データ
を画像メモリ６に出力する。検査ウィンドウ発生回路１
０は、図３に示すように、パッド８の先端部に検査ウィ
ンドウ９を発生させる。ここで、通常のはんだ供給量の
場合、図２（ａ）に示すように良品であればはんだ７が
パッド８の先端部まで流れでず、一方、図２（ｂ）に示
すようなはんだ接続部ぬれ不良やリード浮きが生じたと
きは、はんだ７がリード１３に吸い上がらず、パッド８
の先端部に流れでる。したがって、良品の場合はウィン
ドウ９内の濃淡値データの総和が小さく、不良品の場合
はウィンドウ９内の濃淡値データの総和が大きいという
特徴がある。良品判定回路１２は、ウィンドウ内データ
演算回路１１からの、ウィンドウ９内の濃淡値データの
総和により、良否を判定する。
照明光を照射する。次に、カメラ４が反射光を取り込み
アナログ濃淡信号をＡ／Ｄ変換回路５に出力する。Ａ／
Ｄ変換回路５は、Ａ／Ｄ変換後ディジタル濃淡値データ
を画像メモリ６に出力する。検査ウィンドウ発生回路１
０は、図３に示すように、パッド８の先端部に検査ウィ
ンドウ９を発生させる。ここで、通常のはんだ供給量の
場合、図２（ａ）に示すように良品であればはんだ７が
パッド８の先端部まで流れでず、一方、図２（ｂ）に示
すようなはんだ接続部ぬれ不良やリード浮きが生じたと
きは、はんだ７がリード１３に吸い上がらず、パッド８
の先端部に流れでる。したがって、良品の場合はウィン
ドウ９内の濃淡値データの総和が小さく、不良品の場合
はウィンドウ９内の濃淡値データの総和が大きいという
特徴がある。良品判定回路１２は、ウィンドウ内データ
演算回路１１からの、ウィンドウ９内の濃淡値データの
総和により、良否を判定する。
【００１０】
【発明の効果】本発明のはんだ付け外観検査装置は、フ
ィレット部の反射光の明部領域の数によって良否判定す
る代わりに、パッド先端部に検査ウィンドウを発生させ
良否判定をするため、リード浮きやはんだ接続ぬれ不良
等の欠陥検出率が向上するという効果を有する。
ィレット部の反射光の明部領域の数によって良否判定す
る代わりに、パッド先端部に検査ウィンドウを発生させ
良否判定をするため、リード浮きやはんだ接続ぬれ不良
等の欠陥検出率が向上するという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】（ａ），（ｂ）は良品のはんだ接続部を示す側
面図およびはんだ接続部ぬれ不良を示す側面図である。
面図およびはんだ接続部ぬれ不良を示す側面図である。
【図３】検査ウィンドウ発生の概略を示す上面図であ
る。
る。
【図４】従来の一例を示すブロック図である。
１ 基板 ２ 実装部品 ３，１５ 照明器具 ４，１６ カメラ、 ５ Ａ／Ｄ変換回路 ６ 画像メモリ ７ はんだ ８ パッド ９ 検査ウィンドウ １０ 検査ウィンドウ発生回路、 １１ ウィンドウ内データ演算回路 １２ 良否判定回路 １３ リード、 １４ 部品胴体 １７ 画像二値化回路 １８ 領域抽出回路 １９ 判定回路、 ２０ 強い反射光が戻る領域
Claims (1)
- 【請求項１】プリント基板上の表面実装部品を照らす照
明器具と、前記照明器具による反射光を取り込むカメラ
と、前記カメラが取り込んだ画像のアナログ濃淡信号を
ディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換回路と、前記Ａ／Ｄ
変換回路の出力データを格納する画像メモリと、パッド
先端部に検査ウィンドウを発生する検査ウィンドウ発生
回路と、ウィンドウ内の画像濃淡値データの総和を求め
るウィンドウ内データ演算回路と、前記データ演算回路
の出力データとしきい値とを比較し良否を判定する良否
判定回路とを含むことを特徴とするはんだ付け外観検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP961092A JPH05215691A (ja) | 1992-01-23 | 1992-01-23 | はんだ付け外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP961092A JPH05215691A (ja) | 1992-01-23 | 1992-01-23 | はんだ付け外観検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05215691A true JPH05215691A (ja) | 1993-08-24 |
Family
ID=11725071
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP961092A Withdrawn JPH05215691A (ja) | 1992-01-23 | 1992-01-23 | はんだ付け外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05215691A (ja) |
-
1992
- 1992-01-23 JP JP961092A patent/JPH05215691A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990408 |