JPH04310808A - はんだ付け外観検査装置 - Google Patents
はんだ付け外観検査装置Info
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- JPH04310808A JPH04310808A JP3076664A JP7666491A JPH04310808A JP H04310808 A JPH04310808 A JP H04310808A JP 3076664 A JP3076664 A JP 3076664A JP 7666491 A JP7666491 A JP 7666491A JP H04310808 A JPH04310808 A JP H04310808A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- window
- circuit
- lead
- back fillet
- inspective
- Prior art date
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- Pending
Links
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- 238000005476 soldering Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 17
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 7
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- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
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Landscapes
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、はんだ付け外観検査装
置に関する。
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の技術としては、例えば、特開平２
−１０２５１公報に示されているような検査装置がある
。
−１０２５１公報に示されているような検査装置がある
。
【０００３】この検査装置は、図４に示すように、プリ
ント基板１上に実装されている部品２に照明を照射する
リング状照明装置２０と、反射光の画像を取り込むカメ
ラ２１と、カメラ２１の出力データを二値化する二値化
回路２２と、反射光の明部領域を抽出する領域抽出回路
２３と、領域抽出回路２３の出力データから良否判定を
行う判定回路２４を有している。
ント基板１上に実装されている部品２に照明を照射する
リング状照明装置２０と、反射光の画像を取り込むカメ
ラ２１と、カメラ２１の出力データを二値化する二値化
回路２２と、反射光の明部領域を抽出する領域抽出回路
２３と、領域抽出回路２３の出力データから良否判定を
行う判定回路２４を有している。
【０００４】カメラ２１は、照明装置２０が部品２に照
射した時の反射光を取り込み画像データを二値化回路２
２に出力する。二値化回路２２は画像データを二値化す
る。ここで、はんだ付け部が良品の場合は、二値化した
画像データの中に少数の大きくで明るい領域があり、は
んだ付け部が不良品の場合は、二値化した画像データは
複雑に入り組んだ多数の小さい明部領域を含むという特
徴がある。以上のことから判定回路２４は、明部領域の
数が多いときは不良と判定し、少ないときは良品と判定
する。
射した時の反射光を取り込み画像データを二値化回路２
２に出力する。二値化回路２２は画像データを二値化す
る。ここで、はんだ付け部が良品の場合は、二値化した
画像データの中に少数の大きくで明るい領域があり、は
んだ付け部が不良品の場合は、二値化した画像データは
複雑に入り組んだ多数の小さい明部領域を含むという特
徴がある。以上のことから判定回路２４は、明部領域の
数が多いときは不良と判定し、少ないときは良品と判定
する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した、従来の技術
は、リード先端のはんだ付け部が良品のときでも、フィ
レット形状が複雑で画像データの明部領域の数が不良品
のときよりも多い場合があり良否判定ミスが多いという
欠点があった。
は、リード先端のはんだ付け部が良品のときでも、フィ
レット形状が複雑で画像データの明部領域の数が不良品
のときよりも多い場合があり良否判定ミスが多いという
欠点があった。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のはんだ付け外観
検査装置は、プリント基板上の表面実装部品のリードの
バック・フィレット部を照らす照明と、前記照明による
反射光を取り込むカメラと、前記カメラが取り込んだ画
像のアナログ濃淡信号をディジタル値に変換するＡ／Ｄ
変換回路と、前記バック・フィレット部に検査ウィンド
ウを発生するウィンドウ発生回路と、該Ａ／Ｄ変換回路
より得られたデータと良否判定基準と照らし合わせ良否
を判定する良否判定回路とを含んで構成される。
検査装置は、プリント基板上の表面実装部品のリードの
バック・フィレット部を照らす照明と、前記照明による
反射光を取り込むカメラと、前記カメラが取り込んだ画
像のアナログ濃淡信号をディジタル値に変換するＡ／Ｄ
変換回路と、前記バック・フィレット部に検査ウィンド
ウを発生するウィンドウ発生回路と、該Ａ／Ｄ変換回路
より得られたデータと良否判定基準と照らし合わせ良否
を判定する良否判定回路とを含んで構成される。
【０００７】
【実施例】次に、本発明について、図面を参照して詳細
に説明する。図１は本発明の一実施例を示すブロック図
、図２は検査ウィンドウの発生の斜視図である。
に説明する。図１は本発明の一実施例を示すブロック図
、図２は検査ウィンドウの発生の斜視図である。
【０００８】図１に示すはんだ付け外観検査装置は、基
板１上の実装部品２のリードのバック・フィレット部に
照明光３を照射する照明部４と、照明光３によって得ら
れる反射光５を取り込むための、図２のように斜めに設
置されたカメラ６〜９と、カメラ６〜９の出力である画
像データａ〜ｄをディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換回
路１０〜１３と、図２のように実装部品２のバック・フ
ィレット部に検査ウィンドウ１４を発生するウィンドウ
発生回路１５と、検査ウィンドウ１４内の反射光の画像
データ、すなわちＡ／Ｄ変換回路１０〜１３の出力デー
タｅ〜ｈをもとに、はんだ付け状態の良否を判定する判
定回路１６とを含んで構成される。
板１上の実装部品２のリードのバック・フィレット部に
照明光３を照射する照明部４と、照明光３によって得ら
れる反射光５を取り込むための、図２のように斜めに設
置されたカメラ６〜９と、カメラ６〜９の出力である画
像データａ〜ｄをディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換回
路１０〜１３と、図２のように実装部品２のバック・フ
ィレット部に検査ウィンドウ１４を発生するウィンドウ
発生回路１５と、検査ウィンドウ１４内の反射光の画像
データ、すなわちＡ／Ｄ変換回路１０〜１３の出力デー
タｅ〜ｈをもとに、はんだ付け状態の良否を判定する判
定回路１６とを含んで構成される。
【０００９】図１において、照明部４は実装部品のリー
ドのバック・フィレット部に照明光３を照射する。ここ
で、図２のように、はんだ付け部が良品であれば強い反
射光５がカメラに戻るが、はんだ付け部が不良であれば
反射光５は乱反射してカメラには微弱な光しか戻らない
。したがって、はんだ付け部が良品の場合は、検査ウィ
ンドウ１４内のディジタル出力データの総和が、比較的
大きな値になり、不良品の場合は比較的小さな値になる
。判定回路１６は、検査ウィンドウ１４内のディジタル
出力データの総和が、あらかじめ設定しておくしきい値
よりも大きい値であれば、“良品”、小さい値であれば
“不良品”と判定する。
ドのバック・フィレット部に照明光３を照射する。ここ
で、図２のように、はんだ付け部が良品であれば強い反
射光５がカメラに戻るが、はんだ付け部が不良であれば
反射光５は乱反射してカメラには微弱な光しか戻らない
。したがって、はんだ付け部が良品の場合は、検査ウィ
ンドウ１４内のディジタル出力データの総和が、比較的
大きな値になり、不良品の場合は比較的小さな値になる
。判定回路１６は、検査ウィンドウ１４内のディジタル
出力データの総和が、あらかじめ設定しておくしきい値
よりも大きい値であれば、“良品”、小さい値であれば
“不良品”と判定する。
【００１０】
【発明の効果】本発明のはんだ付け外観検査装置は、リ
ード先端のフィレット部の代わりにリードのバック・フ
ィレットに検査ウィンドウを発生させるため、はんだ付
け状態の良否判定がしやすく欠陥検出率が向上するとい
う効果を有する。
ード先端のフィレット部の代わりにリードのバック・フ
ィレットに検査ウィンドウを発生させるため、はんだ付
け状態の良否判定がしやすく欠陥検出率が向上するとい
う効果を有する。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】検査ウィンドウ発生の斜視図である。
【図３】斜めカメラの配置図である。
【図４】従来の一例を示すブロック図である。
１ 基板
２ 実装部品
３ 照明光
４ 照明部
５ 反射光
６〜９，２１ カメラ
１０〜１３ Ａ／Ｄ変換回路
１４ 検査ウィンドウ
１５ ウィンドウ発生回路
１６，２４ 判定回路
１７ リード
１８ はんだ
１９ パッド
２０ リング状照明装置
２２ 二値化回路
２３ 領域抽出回路
ａ〜ｄ 画像データ
ｅ〜ｈ ディジタル・データ
Claims (1)
- 【請求項１】 プリント基板上の表面実装部品のリー
ドのバック・フィレット部を照らす照明と、前記照明に
よる反射光を取り込むカメラと、前記カメラが取り込ん
だ画像のアナログ濃淡信号をディジタル値に変換するＡ
／Ｄ変換回路と、前記バック・フィレット部に検査ウィ
ンドウを発生するウィンドウ発生回路と、該Ａ／Ｄ変換
回路より得られたデータと良否判定基準と照らし合わせ
良否を判定する良否判定回路とを含むことを特徴とする
はんだ付け外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3076664A JPH04310808A (ja) | 1991-04-10 | 1991-04-10 | はんだ付け外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3076664A JPH04310808A (ja) | 1991-04-10 | 1991-04-10 | はんだ付け外観検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04310808A true JPH04310808A (ja) | 1992-11-02 |
Family
ID=13611680
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3076664A Pending JPH04310808A (ja) | 1991-04-10 | 1991-04-10 | はんだ付け外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04310808A (ja) |
-
1991
- 1991-04-10 JP JP3076664A patent/JPH04310808A/ja active Pending
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