JPH0521865Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0521865Y2 JPH0521865Y2 JP4598687U JP4598687U JPH0521865Y2 JP H0521865 Y2 JPH0521865 Y2 JP H0521865Y2 JP 4598687 U JP4598687 U JP 4598687U JP 4598687 U JP4598687 U JP 4598687U JP H0521865 Y2 JPH0521865 Y2 JP H0521865Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- workpiece
- tube
- transfer table
- sealed chamber
- workpiece transfer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 14
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 6
- 239000004744 fabric Substances 0.000 claims description 3
- 239000011888 foil Substances 0.000 claims description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 6
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Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は、CVD(Chemical Vapor
Deposition)法によりSiウエハ、Ga−Asウエハ
等のワークの表面に薄膜を形成するCVD装置の
ワーク移送装置に関する。
Deposition)法によりSiウエハ、Ga−Asウエハ
等のワークの表面に薄膜を形成するCVD装置の
ワーク移送装置に関する。
(従来の技術)
従来、例えばSiウエハにCVD法により薄膜を
形成する場合は、プロセスチユーブ内にその一側
の取出口からSiウエハを収めて密閉し、該チユー
ブ内へ導入した反応ガスを加熱したSiウエハの表
面で化学反応させてその成分の薄膜を形成するを
一般とする。しかし乍ら該チユーブで薄膜形成処
理の終えた比較的温度の高いウエハをそのまま大
気中に取出すと、大気中のO2によりウエハの表
面に酸化膜が形成されてしまい膜厚の管理が難し
くなり、これは4MBit以上の高密度LSIの製造に
は適しない。
形成する場合は、プロセスチユーブ内にその一側
の取出口からSiウエハを収めて密閉し、該チユー
ブ内へ導入した反応ガスを加熱したSiウエハの表
面で化学反応させてその成分の薄膜を形成するを
一般とする。しかし乍ら該チユーブで薄膜形成処
理の終えた比較的温度の高いウエハをそのまま大
気中に取出すと、大気中のO2によりウエハの表
面に酸化膜が形成されてしまい膜厚の管理が難し
くなり、これは4MBit以上の高密度LSIの製造に
は適しない。
そこでかかる酸化膜の形成を防止する手段とし
て、第1図示のようにプロセスチユーブaの取出
口bに連続して真空化可能な密閉室cを設け、薄
膜形成処理の終えたウエハdを否活性ガスを導入
した密閉室c内で冷却したのち大気中に取出すこ
とが考えられる。
て、第1図示のようにプロセスチユーブaの取出
口bに連続して真空化可能な密閉室cを設け、薄
膜形成処理の終えたウエハdを否活性ガスを導入
した密閉室c内で冷却したのち大気中に取出すこ
とが考えられる。
(考案が解決しようとする問題点)
前記のようにプロセスチユーブaの取出口bに
密閉室cを連設すると、ウエハdを密閉室c内か
ら該チユーブa内へと自動的に挿入、取出しする
ためのワーク移送台fを設ける必要が生ずるが、
該移送台fをエアシリンダgで駆動する場合、密
閉室c内は真空化されるので外部にエアシリンダ
gを設けるを要し、その端部までの長さLが非常
に長くなり、装置が大型化して設置条件が限定さ
れる不都合がある。またこの場合ロツドhの外周
から油分が真空の密閉室c内へと侵入し、内部汚
染の原因となる欠点がある。
密閉室cを連設すると、ウエハdを密閉室c内か
ら該チユーブa内へと自動的に挿入、取出しする
ためのワーク移送台fを設ける必要が生ずるが、
該移送台fをエアシリンダgで駆動する場合、密
閉室c内は真空化されるので外部にエアシリンダ
gを設けるを要し、その端部までの長さLが非常
に長くなり、装置が大型化して設置条件が限定さ
れる不都合がある。またこの場合ロツドhの外周
から油分が真空の密閉室c内へと侵入し、内部汚
染の原因となる欠点がある。
更に油分の侵入防止のため第2図示のようにベ
ロースiをロツドhに取付けることも考えられる
が、この場合ベローズiのため更にシリンダgの
端部まで長さL′長くなつて好ましくない。
ロースiをロツドhに取付けることも考えられる
が、この場合ベローズiのため更にシリンダgの
端部まで長さL′長くなつて好ましくない。
本考案は、プロセスチユーブと密閉室の間にワ
ークを移送する移送台を設けたときに生ずる前記
不都合を解決することを目的とするものである。
ークを移送する移送台を設けたときに生ずる前記
不都合を解決することを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段)
本考案では、プロセスチユーブの一側の取出口
に連続して真空化される密閉室を設け、該密閉室
内に、該プロセスチユーブ内へ該取出口を介して
Siウエハ等のワークを挿入し、その内部で該ワー
クの表面に該チユーブに導入したガスの成分の化
学反応による薄膜が形成されると該ワークを該チ
ユーブから取出すワーク移送台を設けるようにし
たものに於いて、該密閉室に区画室を設けてその
内部に該ワーク移送台の移動方向に沿つたチエン
その他の無端帯を張設し、該ワーク移送台と該無
端帯を該区画室に形成したスリツトを介して連結
すると共に該無端帯に該スリツトを覆うSUS箔、
樹脂布その他のカバーを取付けすることにより前
記問題点を解決するようにした。
に連続して真空化される密閉室を設け、該密閉室
内に、該プロセスチユーブ内へ該取出口を介して
Siウエハ等のワークを挿入し、その内部で該ワー
クの表面に該チユーブに導入したガスの成分の化
学反応による薄膜が形成されると該ワークを該チ
ユーブから取出すワーク移送台を設けるようにし
たものに於いて、該密閉室に区画室を設けてその
内部に該ワーク移送台の移動方向に沿つたチエン
その他の無端帯を張設し、該ワーク移送台と該無
端帯を該区画室に形成したスリツトを介して連結
すると共に該無端帯に該スリツトを覆うSUS箔、
樹脂布その他のカバーを取付けすることにより前
記問題点を解決するようにした。
(作 用)
Siウエハ等のワークが外部から運び込まれ密閉
室内のワーク移送台上に載せられると、該密閉室
及びプロセスチユーブ内を真空化し、該ワーク移
送台がワークを該チユーブ内に挿入する。該チユ
ーブ内で該ワークに加熱を与え乍ら反応ガスを導
入するとその成分が該ワークの表面に化学反応に
より薄膜状に付着してCVD法による薄膜が形成
される。このあと該ワークは密閉室へワーク移送
台により取出され、充分冷却されたのち密閉室の
外部へと取出される。この場合、該ワーク移動台
の移動は密閉室に設けられた区画室内のチエー
ン、ワイヤ等の無端帯により行なえるのでCVD
装置の長さが短くなり、該区画室に形成される該
移動台と無端帯の連結用のスリツトは無端帯に取
付けたカバーにより覆われるので無端帯の作動に
より発生するダストが密閉室へ侵入することを妨
げ、ワークがダストにより汚染されることがな
い。
室内のワーク移送台上に載せられると、該密閉室
及びプロセスチユーブ内を真空化し、該ワーク移
送台がワークを該チユーブ内に挿入する。該チユ
ーブ内で該ワークに加熱を与え乍ら反応ガスを導
入するとその成分が該ワークの表面に化学反応に
より薄膜状に付着してCVD法による薄膜が形成
される。このあと該ワークは密閉室へワーク移送
台により取出され、充分冷却されたのち密閉室の
外部へと取出される。この場合、該ワーク移動台
の移動は密閉室に設けられた区画室内のチエー
ン、ワイヤ等の無端帯により行なえるのでCVD
装置の長さが短くなり、該区画室に形成される該
移動台と無端帯の連結用のスリツトは無端帯に取
付けたカバーにより覆われるので無端帯の作動に
より発生するダストが密閉室へ侵入することを妨
げ、ワークがダストにより汚染されることがな
い。
(実施例)
本考案の実施例を図面に基づき説明すると、第
3図に於いて符号1は周囲に断熱材及びヒータ2
を設けた石英製のプロセスチユーブ、3は該チユ
ーブ1の取出口、4は該チユーブ1内を真空化す
るための排気口、5は該チユーブ1内にSiH4等
の反応ガスを導入する反応ガス導入口を示し、該
チユーブ1内へSiウエハ等のワーク6を運び込
み、該ワーク6を加熱し乍ら反応ガスを導入する
と該ワーク6の表面に該反応ガスの化学反応によ
る薄膜即ちCVD法による薄膜が形成される。該
ワーク6は比較的高温に加熱されるので、薄膜形
成後そのまま大気中に取出すと、大気中のO2が
該ワーク6の高温の表面に付着して酸化膜を形成
する不都合があり、これを防止すべく該取出口3
の前方に密閉室7が設けられる。該密閉室7はチ
ユーブ1へのワーク6の挿入の際には真空排気口
8から排気されて真空状態とされ、その取出後に
はガス導入口9からワーク6の冷却のために不活
性ガスを導入して不活性ガス状態とされるもの
で、その冷却後に扉10を開けて該ワーク6が外
部に取出される。尚、該密閉室7にはチユーブ1
内へ挿入するワーク6を洗浄するためのヒータ或
は放電電極等の洗浄装置を設けることも可能であ
る。
3図に於いて符号1は周囲に断熱材及びヒータ2
を設けた石英製のプロセスチユーブ、3は該チユ
ーブ1の取出口、4は該チユーブ1内を真空化す
るための排気口、5は該チユーブ1内にSiH4等
の反応ガスを導入する反応ガス導入口を示し、該
チユーブ1内へSiウエハ等のワーク6を運び込
み、該ワーク6を加熱し乍ら反応ガスを導入する
と該ワーク6の表面に該反応ガスの化学反応によ
る薄膜即ちCVD法による薄膜が形成される。該
ワーク6は比較的高温に加熱されるので、薄膜形
成後そのまま大気中に取出すと、大気中のO2が
該ワーク6の高温の表面に付着して酸化膜を形成
する不都合があり、これを防止すべく該取出口3
の前方に密閉室7が設けられる。該密閉室7はチ
ユーブ1へのワーク6の挿入の際には真空排気口
8から排気されて真空状態とされ、その取出後に
はガス導入口9からワーク6の冷却のために不活
性ガスを導入して不活性ガス状態とされるもの
で、その冷却後に扉10を開けて該ワーク6が外
部に取出される。尚、該密閉室7にはチユーブ1
内へ挿入するワーク6を洗浄するためのヒータ或
は放電電極等の洗浄装置を設けることも可能であ
る。
11は該ワーク6を載せて密閉室7からチユー
ブ1内へ挿入し、これより取出すワーク移送台
で、該移送台11の移動のために該密閉室7の側
方に区画室12,12を形成し、そこに該移送台
11の移動方向に沿つたチエン、ベルト、ワイヤ
等の無端帯13をスプロケツト等のホイール1
4,14に張設して設け、該移送台11と無端帯
13を区画室12のスリツト15を介して連結す
るようにした。そして該ホイール14が密閉室7
の外部に設けたモータ16により正逆回転される
と該移送台11は案内杆17,17に沿つて往復
動し、ワーク6を密閉室7からプロセスチユーブ
1内へ或は該チユーブ1から密閉室7内へと移送
する。
ブ1内へ挿入し、これより取出すワーク移送台
で、該移送台11の移動のために該密閉室7の側
方に区画室12,12を形成し、そこに該移送台
11の移動方向に沿つたチエン、ベルト、ワイヤ
等の無端帯13をスプロケツト等のホイール1
4,14に張設して設け、該移送台11と無端帯
13を区画室12のスリツト15を介して連結す
るようにした。そして該ホイール14が密閉室7
の外部に設けたモータ16により正逆回転される
と該移送台11は案内杆17,17に沿つて往復
動し、ワーク6を密閉室7からプロセスチユーブ
1内へ或は該チユーブ1から密閉室7内へと移送
する。
18はモータ16からの回転導入軸19の周囲
を外部から油分を混入させることなくシールする
真空回転シールである。
を外部から油分を混入させることなくシールする
真空回転シールである。
該区画室12で作動する無端帯13やホイール
14から多少ともダストが発生し、これが密閉室
7内のワーク6に付着するとその表面に形成され
る薄膜の品質の低下を来たすが、該区画室12の
スリツト15を覆うように該無端帯13の全長若
しくは一部にSUS箔或はテフロン(商品名)等
の樹脂布のカバー20を設け、区画室12に生じ
たダストが密閉室7へ混入しないようにした。
14から多少ともダストが発生し、これが密閉室
7内のワーク6に付着するとその表面に形成され
る薄膜の品質の低下を来たすが、該区画室12の
スリツト15を覆うように該無端帯13の全長若
しくは一部にSUS箔或はテフロン(商品名)等
の樹脂布のカバー20を設け、区画室12に生じ
たダストが密閉室7へ混入しないようにした。
該無端帯13は2本以上設けるようにしてもよ
く、区画室12は1個所だけに設けるようにして
もよい。21はワーク6がプロセスチユーブ1か
ら取出された後、その取出口3を閉じてチユーブ
1の清浄性を保持するための開閉自在の仕切弁で
ある。
く、区画室12は1個所だけに設けるようにして
もよい。21はワーク6がプロセスチユーブ1か
ら取出された後、その取出口3を閉じてチユーブ
1の清浄性を保持するための開閉自在の仕切弁で
ある。
(考案の効果)
以上のように本考案によるときは、CVD装置
のプロセスチユーブの取出口に連設した密閉室内
に区画室を設け、該区画室に張設した無端帯に該
区画室のスリツトを介してワーク移送台を連結
し、該スリツトを無端帯に取付けてカバーで覆う
ようにしたので、移送台をCVD装置を大型化す
ることなく作動させ得、CVD装置の設置が容易
になり、区画室内のダストはカバーにより阻まれ
て密閉室内のワークに付着することを妨げ、品質
の良い薄膜をワークに形成出来る等の効果があ
る。
のプロセスチユーブの取出口に連設した密閉室内
に区画室を設け、該区画室に張設した無端帯に該
区画室のスリツトを介してワーク移送台を連結
し、該スリツトを無端帯に取付けてカバーで覆う
ようにしたので、移送台をCVD装置を大型化す
ることなく作動させ得、CVD装置の設置が容易
になり、区画室内のダストはカバーにより阻まれ
て密閉室内のワークに付着することを妨げ、品質
の良い薄膜をワークに形成出来る等の効果があ
る。
第1図及び第2図は従来例の断面線図、第3図
は本考案の実施例の断面線図、第4図は第3図の
−線部分の具体的断面図、第5図は要部の斜
視図である。 1……プロセスチユーブ、3……取出口、6…
…ワーク、7……密閉室、11……ワーク移送
台、12,12……区画室、13……無端帯、1
5……スリツト、20……カバー。
は本考案の実施例の断面線図、第4図は第3図の
−線部分の具体的断面図、第5図は要部の斜
視図である。 1……プロセスチユーブ、3……取出口、6…
…ワーク、7……密閉室、11……ワーク移送
台、12,12……区画室、13……無端帯、1
5……スリツト、20……カバー。
Claims (1)
- プロセスチユーブの一側の取出口に連続して真
空化される密閉室を設け、該密閉室内に、該プロ
セスチユーブ内へ該取出口を介してSiウエハ等の
ワークを挿入し、その内部で該ワークの表面に該
チユーブに導入したガスの成分の化学反応による
薄膜が形成されると該ワークを該チユーブから取
出すワーク移送台を設けるようにしたものに於い
て、該密閉室に区画室を設けてその内部に該ワー
ク移送台の移動方向に沿つたチエンその他の無端
帯を張設し、該ワーク移送台と該無端帯を該区画
室に形成したスリツトを介して連結すると共に該
無端帯に該スリツトを覆うSUS箔、樹脂布その
他のカバーを取付けしたことを特徴とするCVD
装置に於けるワーク移送装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4598687U JPH0521865Y2 (ja) | 1987-03-28 | 1987-03-28 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4598687U JPH0521865Y2 (ja) | 1987-03-28 | 1987-03-28 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63153519U JPS63153519U (ja) | 1988-10-07 |
| JPH0521865Y2 true JPH0521865Y2 (ja) | 1993-06-04 |
Family
ID=30865231
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4598687U Expired - Lifetime JPH0521865Y2 (ja) | 1987-03-28 | 1987-03-28 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0521865Y2 (ja) |
-
1987
- 1987-03-28 JP JP4598687U patent/JPH0521865Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63153519U (ja) | 1988-10-07 |
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