JPH05264400A - 光ディスク欠陥検査方法及びその装置 - Google Patents
光ディスク欠陥検査方法及びその装置Info
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- JPH05264400A JPH05264400A JP6180492A JP6180492A JPH05264400A JP H05264400 A JPH05264400 A JP H05264400A JP 6180492 A JP6180492 A JP 6180492A JP 6180492 A JP6180492 A JP 6180492A JP H05264400 A JPH05264400 A JP H05264400A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＣＤ−Ｒの光ディスクにおいて、欠陥と、こ
の欠陥が存在するフレームの時間情報とを対として集計
することが可能な光ディスク欠陥検査方法及びその装置
を提供する。 【構成】 光ディスク面上の蛇行するグルーブ２の周波
数変動によって時間情報９を持たせ、そのグルーブ２中
にピット又はマークを形成することにより情報の記録を
行う光ディスク検査方法において、グルーブ２から欠陥
データ１０を検出すると同時に、その欠陥データ１０に
対応した時間情報９をも検出し、これら欠陥データ１０
と時間情報９とを対として集計するようにした。
の欠陥が存在するフレームの時間情報とを対として集計
することが可能な光ディスク欠陥検査方法及びその装置
を提供する。 【構成】 光ディスク面上の蛇行するグルーブ２の周波
数変動によって時間情報９を持たせ、そのグルーブ２中
にピット又はマークを形成することにより情報の記録を
行う光ディスク検査方法において、グルーブ２から欠陥
データ１０を検出すると同時に、その欠陥データ１０に
対応した時間情報９をも検出し、これら欠陥データ１０
と時間情報９とを対として集計するようにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク欠陥検査方
法及びその装置に関する。
法及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、光ディスク（ＣＤ）には、ピット
が予め形成され記録可能領域という部分は存在しなかっ
たが、近年、追記或いは書換え可能なタイプ（通称、オ
レンジブック，ＣＤ−Ｒと称される）のものが提案され
ている。図５（ａ）は前者の例を示すものであり、ピッ
ト１の列が有する情報中に時間情報（１／７５秒単位、
これをフレームという）を持たせている。これに対し
て、図５（ｂ）は後者の例を示すものであり、蛇行する
グルーブ２（案内溝）の周波数変動によって時間情報を
持たせ、そのグルーブ２中にピット又はマークを形成し
ていくことにより情報の記録を行うというものである。
が予め形成され記録可能領域という部分は存在しなかっ
たが、近年、追記或いは書換え可能なタイプ（通称、オ
レンジブック，ＣＤ−Ｒと称される）のものが提案され
ている。図５（ａ）は前者の例を示すものであり、ピッ
ト１の列が有する情報中に時間情報（１／７５秒単位、
これをフレームという）を持たせている。これに対し
て、図５（ｂ）は後者の例を示すものであり、蛇行する
グルーブ２（案内溝）の周波数変動によって時間情報を
持たせ、そのグルーブ２中にピット又はマークを形成し
ていくことにより情報の記録を行うというものである。
【０００３】この場合、ＣＤ−Ｒのグルーブ２が有する
時間情報は「ＡＴＩＰ」と一般に呼ばれており、グルー
ブ２を２２．０５ＫＨｚを中心に１ＫＨｚ変動させて、
１フレーム中に４２ビットのＩ／Ｏデータを表現してい
る。図６はＡＴＩＰの概念を表したものであり、（ａ）
はフレーム長（１３．３ｍｓ）、（ｂ）はグルーブ蛇行
信号から抽出されたＡＴＩＰ信号、（ｃ）はＡＴＩＰ信
号中の４２ビットデータの内容を示すものである。な
お、ＡＴＩＰデータのうち、真に時間情報を有している
のは、「ＡＴＩＭＥ」と呼ばれる領域である。
時間情報は「ＡＴＩＰ」と一般に呼ばれており、グルー
ブ２を２２．０５ＫＨｚを中心に１ＫＨｚ変動させて、
１フレーム中に４２ビットのＩ／Ｏデータを表現してい
る。図６はＡＴＩＰの概念を表したものであり、（ａ）
はフレーム長（１３．３ｍｓ）、（ｂ）はグルーブ蛇行
信号から抽出されたＡＴＩＰ信号、（ｃ）はＡＴＩＰ信
号中の４２ビットデータの内容を示すものである。な
お、ＡＴＩＰデータのうち、真に時間情報を有している
のは、「ＡＴＩＭＥ」と呼ばれる領域である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ＣＤ−Ｒにおいては、
グルーブ中にピット又はマークを形成することによって
情報記録を行うため、記録信号の品質を保証するために
出荷に先立って各フレームのグルーブ中に、ゴミ、異常
などによる欠陥データが存在しないかを検査しておく必
要がある。そこで、従来のヘッダ部とデータ部とが分離
している光ディスクに対しては、欠陥データと、この欠
陥データに対応したアドレスとを対にして集計する欠陥
検査方法が知られている。しかし、この方法は、ヘッダ
部に相当する時間情報がデータ部（フレーム）全体にわ
たる場合の精密な欠陥検査方法ではない。
グルーブ中にピット又はマークを形成することによって
情報記録を行うため、記録信号の品質を保証するために
出荷に先立って各フレームのグルーブ中に、ゴミ、異常
などによる欠陥データが存在しないかを検査しておく必
要がある。そこで、従来のヘッダ部とデータ部とが分離
している光ディスクに対しては、欠陥データと、この欠
陥データに対応したアドレスとを対にして集計する欠陥
検査方法が知られている。しかし、この方法は、ヘッダ
部に相当する時間情報がデータ部（フレーム）全体にわ
たる場合の精密な欠陥検査方法ではない。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明で
は、光ディスク面上の蛇行するグルーブの周波数変動に
よって時間情報を持たせ、そのグルーブ中にピット又は
マークを形成することにより情報の記録を行う光ディス
ク検査方法において、前記グルーブから欠陥データを検
出すると同時に、前記欠陥データに対応した時間情報を
検出し、前記欠陥データと前記時間情報とを対として集
計するようにした。
は、光ディスク面上の蛇行するグルーブの周波数変動に
よって時間情報を持たせ、そのグルーブ中にピット又は
マークを形成することにより情報の記録を行う光ディス
ク検査方法において、前記グルーブから欠陥データを検
出すると同時に、前記欠陥データに対応した時間情報を
検出し、前記欠陥データと前記時間情報とを対として集
計するようにした。
【０００６】請求項２記載の発明では、光ディスク面上
の蛇行するグルーブの周波数変動によって時間情報を持
たせ、そのグルーブ中にピット又はマークを形成するこ
とにより情報の記録を行う光ディスク検査装置におい
て、光ピックアップ部から検出された再生信号をもとに
前記グルーブの欠陥データの検査を行う欠陥検査手段を
設け、前記光ピックアップ部から検出されたトラックエ
ラー信号をもとに前記欠陥データに対応した時間情報の
検出を行う時間情報検出手段を設け、この時間情報検出
手段からの前記時間情報と前記欠陥検査手段からの前記
欠陥データとを対として集計する欠陥情報集計手段を設
けた。
の蛇行するグルーブの周波数変動によって時間情報を持
たせ、そのグルーブ中にピット又はマークを形成するこ
とにより情報の記録を行う光ディスク検査装置におい
て、光ピックアップ部から検出された再生信号をもとに
前記グルーブの欠陥データの検査を行う欠陥検査手段を
設け、前記光ピックアップ部から検出されたトラックエ
ラー信号をもとに前記欠陥データに対応した時間情報の
検出を行う時間情報検出手段を設け、この時間情報検出
手段からの前記時間情報と前記欠陥検査手段からの前記
欠陥データとを対として集計する欠陥情報集計手段を設
けた。
【０００７】
【作用】請求項１，２記載の発明においては、欠陥デー
タと共に、その欠陥データが存在するフレームの時間情
報も対にして集計しているため、欠陥部位をフレーム単
位で精度良く特定することが可能となる。
タと共に、その欠陥データが存在するフレームの時間情
報も対にして集計しているため、欠陥部位をフレーム単
位で精度良く特定することが可能となる。
【０００８】
【実施例】本発明の一実施例を図１〜図４に基づいて説
明する。なお、従来技術（図５及び図６参照）と同一部
分についての説明は省略し、その同一部分については同
一符号を用いる。
明する。なお、従来技術（図５及び図６参照）と同一部
分についての説明は省略し、その同一部分については同
一符号を用いる。
【０００９】図１は、光ディスク３（ＣＤ−Ｒ）面上の
蛇行するグルーブ２の周波数変動によって時間情報を持
たせ、そのグルーブ２中にピット又はマークを形成する
ことにより情報の記録を行う光ディスク検査装置の全体
構成を示すものである。
蛇行するグルーブ２の周波数変動によって時間情報を持
たせ、そのグルーブ２中にピット又はマークを形成する
ことにより情報の記録を行う光ディスク検査装置の全体
構成を示すものである。
【００１０】この場合、光ピックアップ部４から検出さ
れた再生信号（ＲＦ信号）をもとにグルーブ２の欠陥デ
ータ１０の検査を行う欠陥検査手段としての欠陥検査部
５が設けられている。また、光ピックアップ部４から検
出されたトラックエラー信号（ＴＥ信号）をもとに欠陥
データ１０に対応した時間情報（ＡＴＩＭＥ）９の検出
を行う時間情報検出手段としての時間情報検出部６が設
けられている。そして、欠陥検査部５と時間情報検出部
６との後段には、欠陥情報集計手段としての欠陥情報集
計部７が接続されている。この欠陥情報集計部７は、時
間情報検出部６からのＡＴＩＭＥ９と、欠陥検査部５か
らの欠陥データ１０とを対として集計する働きがある。
そして、前記欠陥検査部５は、欠陥検出部５ａと、ラッ
チ５ｂとからなっている。また、前記時間情報検出部６
は、バンドパスフィルタ６ａ（Ｂ．Ｐ．Ｆ）と、ＡＴＩ
Ｐデコータ６ｂとからなっている。
れた再生信号（ＲＦ信号）をもとにグルーブ２の欠陥デ
ータ１０の検査を行う欠陥検査手段としての欠陥検査部
５が設けられている。また、光ピックアップ部４から検
出されたトラックエラー信号（ＴＥ信号）をもとに欠陥
データ１０に対応した時間情報（ＡＴＩＭＥ）９の検出
を行う時間情報検出手段としての時間情報検出部６が設
けられている。そして、欠陥検査部５と時間情報検出部
６との後段には、欠陥情報集計手段としての欠陥情報集
計部７が接続されている。この欠陥情報集計部７は、時
間情報検出部６からのＡＴＩＭＥ９と、欠陥検査部５か
らの欠陥データ１０とを対として集計する働きがある。
そして、前記欠陥検査部５は、欠陥検出部５ａと、ラッ
チ５ｂとからなっている。また、前記時間情報検出部６
は、バンドパスフィルタ６ａ（Ｂ．Ｐ．Ｆ）と、ＡＴＩ
Ｐデコータ６ｂとからなっている。
【００１１】このような構成において、図２は、蛇行す
るグルーブ２における欠陥部８における検出データの様
子を示したものである。これは、フレームＮ＋１中に欠
陥部８が存在する場合の様子を示し、ＲＦ信号（反射光
量）が欠陥部８によって低下している。そこで、本実施
例では、このような欠陥部８に対して、図３に示すよう
に、欠陥フレームのＡＴＩＭＥ９（時間情報、具体的に
は、分，秒のフレーム）と、これに対応する欠陥データ
１０（個数、長さ等）を対にして集計するようにしたも
のである。
るグルーブ２における欠陥部８における検出データの様
子を示したものである。これは、フレームＮ＋１中に欠
陥部８が存在する場合の様子を示し、ＲＦ信号（反射光
量）が欠陥部８によって低下している。そこで、本実施
例では、このような欠陥部８に対して、図３に示すよう
に、欠陥フレームのＡＴＩＭＥ９（時間情報、具体的に
は、分，秒のフレーム）と、これに対応する欠陥データ
１０（個数、長さ等）を対にして集計するようにしたも
のである。
【００１２】図１において、ＣＤ−Ｒ３から光ピックア
ップ部４を介して、ＲＦ信号（グルーブ２からの反射光
量に対応する）と、ＴＥ信号とが得られる。ＲＦ信号
は、欠陥検査部５に入力され、ここで欠陥検査が行われ
る。この欠陥検査部５内ではＲＦ信号は欠陥検出部５ａ
とラッチ５ｂとに２分され、欠陥検出部５ａは周知の方
法（信号レベルの低下等）により欠陥を検出し、ラッチ
５ｂによりその内容が保持される。その保持されたデー
タは欠陥データ１０として欠陥集計部７に送られる。
ップ部４を介して、ＲＦ信号（グルーブ２からの反射光
量に対応する）と、ＴＥ信号とが得られる。ＲＦ信号
は、欠陥検査部５に入力され、ここで欠陥検査が行われ
る。この欠陥検査部５内ではＲＦ信号は欠陥検出部５ａ
とラッチ５ｂとに２分され、欠陥検出部５ａは周知の方
法（信号レベルの低下等）により欠陥を検出し、ラッチ
５ｂによりその内容が保持される。その保持されたデー
タは欠陥データ１０として欠陥集計部７に送られる。
【００１３】一方、ＴＥ信号は、バンドパスフィルタ６
ａを通ってＡＴＩＰ信号を抽出した後、ＡＴＩＰデコー
ダ６ｂに入力される。このＡＴＩＰデコーダ６ｂでは、
ＳＹＮＣ ＣＲＣ のチェックを行いＡＴＩＭＥ９を解読
し、このＡＴＩＭＥ９を欠陥集計部７に出力する。ま
た、このＡＴＩＰデコーダ６ｂからは、信号Ｓ１，Ｓ２
が出力されており、Ｓ１は欠陥検査部５に送られ、Ｓ２
は欠陥集計部７に送られる。この場合、Ｓ１は、欠陥検
出部５ａのリセット及びラッチを行うための信号であ
り、この信号により欠陥データ１０が確定すると同時に
再び新たな欠陥検出が開始される。また、Ｓ２は、欠陥
集計部７への記憶信号であり、これによりＡＴＩＭＥ９
及び欠陥データ１０が新たに欠陥集計部７に記憶されて
いく。これらＳ１，Ｓ２は具体的には、図４に示すよう
に、フレーム境界に同期した信号となっている。
ａを通ってＡＴＩＰ信号を抽出した後、ＡＴＩＰデコー
ダ６ｂに入力される。このＡＴＩＰデコーダ６ｂでは、
ＳＹＮＣ ＣＲＣ のチェックを行いＡＴＩＭＥ９を解読
し、このＡＴＩＭＥ９を欠陥集計部７に出力する。ま
た、このＡＴＩＰデコーダ６ｂからは、信号Ｓ１，Ｓ２
が出力されており、Ｓ１は欠陥検査部５に送られ、Ｓ２
は欠陥集計部７に送られる。この場合、Ｓ１は、欠陥検
出部５ａのリセット及びラッチを行うための信号であ
り、この信号により欠陥データ１０が確定すると同時に
再び新たな欠陥検出が開始される。また、Ｓ２は、欠陥
集計部７への記憶信号であり、これによりＡＴＩＭＥ９
及び欠陥データ１０が新たに欠陥集計部７に記憶されて
いく。これらＳ１，Ｓ２は具体的には、図４に示すよう
に、フレーム境界に同期した信号となっている。
【００１４】上述したような欠陥検査方法を用いること
により、ＣＤ−Ｒ全面に渡って欠陥が存在するフレーム
のＡＴＩＭＥ９と欠陥データ１０とを対として収集する
ことができるようになり、これによりフレーム単位で精
度良く欠陥部位を特定することができる。
により、ＣＤ−Ｒ全面に渡って欠陥が存在するフレーム
のＡＴＩＭＥ９と欠陥データ１０とを対として収集する
ことができるようになり、これによりフレーム単位で精
度良く欠陥部位を特定することができる。
【００１５】
【発明の効果】請求項１記載の発明は、光ディスク面上
の蛇行するグルーブの周波数変動によって時間情報を持
たせ、そのグルーブ中にピット又はマークを形成するこ
とにより情報の記録を行う光ディスク検査方法におい
て、前記グルーブから欠陥データを検出すると同時に、
前記欠陥データに対応した時間情報を検出し、前記欠陥
データと前記時間情報とを対として集計するようにした
ので、欠陥データと共に、その欠陥データが存在するフ
レームの時間情報も対にして集計しているため、欠陥部
位をフレーム単位で精度良く特定することができるもの
である。
の蛇行するグルーブの周波数変動によって時間情報を持
たせ、そのグルーブ中にピット又はマークを形成するこ
とにより情報の記録を行う光ディスク検査方法におい
て、前記グルーブから欠陥データを検出すると同時に、
前記欠陥データに対応した時間情報を検出し、前記欠陥
データと前記時間情報とを対として集計するようにした
ので、欠陥データと共に、その欠陥データが存在するフ
レームの時間情報も対にして集計しているため、欠陥部
位をフレーム単位で精度良く特定することができるもの
である。
【００１６】請求項２記載の発明は、光ディスク面上の
蛇行するグルーブの周波数変動によって時間情報を持た
せ、そのグルーブ中にピット又はマークを形成すること
により情報の記録を行う光ディスク検査装置において、
光ピックアップ部から検出された再生信号をもとに前記
グルーブの欠陥データの検査を行う欠陥検査手段を設
け、前記光ピックアップ部から検出されたトラックエラ
ー信号をもとに前記欠陥データに対応した時間情報の検
出を行う時間情報検出手段を設け、この時間情報検出手
段からの前記時間情報と前記欠陥検査手段からの前記欠
陥データとを対として集計する欠陥情報集計手段を設け
たので、請求項１記載の発明と同様な効果を得ることが
できるものである。
蛇行するグルーブの周波数変動によって時間情報を持た
せ、そのグルーブ中にピット又はマークを形成すること
により情報の記録を行う光ディスク検査装置において、
光ピックアップ部から検出された再生信号をもとに前記
グルーブの欠陥データの検査を行う欠陥検査手段を設
け、前記光ピックアップ部から検出されたトラックエラ
ー信号をもとに前記欠陥データに対応した時間情報の検
出を行う時間情報検出手段を設け、この時間情報検出手
段からの前記時間情報と前記欠陥検査手段からの前記欠
陥データとを対として集計する欠陥情報集計手段を設け
たので、請求項１記載の発明と同様な効果を得ることが
できるものである。
【図１】本発明の一実施例である光ディスク欠陥検査装
置の様子を示すブロック図である。
置の様子を示すブロック図である。
【図２】欠陥部に対して検出される各種信号の様子を示
す説明図である。
す説明図である。
【図３】欠陥部の検出データを示す模式図である。
【図４】フレーム境界に同期した信号の様子を示す説明
図である。
図である。
【図５】光ディスクの面上の様子を示す平面図である。
【図６】ＡＴＩＰの概念を示す説明図である。
２ グルーブ ４ 光ピックアップ部 ５ 欠陥検査手段 ６ 時間情報検出手段 ９ 時間情報 １０ 欠陥データ
Claims (2)
- 【請求項１】 光ディスク面上の蛇行するグルーブの周
波数変動によって時間情報を持たせ、そのグルーブ中に
ピット又はマークを形成することにより情報の記録を行
う光ディスク検査方法において、前記グルーブから欠陥
データを検出すると同時に、前記欠陥データに対応した
時間情報を検出し、前記欠陥データと前記時間情報とを
対として集計するようにしたことを特徴とする光ディス
ク欠陥検査方法。 - 【請求項２】 光ディスク面上の蛇行するグルーブの周
波数変動によって時間情報を持たせ、そのグルーブ中に
ピット又はマークを形成することにより情報の記録を行
う光ディスク検査装置において、光ピックアップ部から
検出された再生信号をもとに前記グルーブの欠陥データ
の検査を行う欠陥検査手段を設け、前記光ピックアップ
部から検出されたトラックエラー信号をもとに前記欠陥
データに対応した時間情報の検出を行う時間情報検出手
段を設け、この時間情報検出手段からの前記時間情報と
前記欠陥検査手段からの前記欠陥データとを対として集
計する欠陥情報集計手段を設けたことを特徴とする光デ
ィスク欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6180492A JPH05264400A (ja) | 1992-03-18 | 1992-03-18 | 光ディスク欠陥検査方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6180492A JPH05264400A (ja) | 1992-03-18 | 1992-03-18 | 光ディスク欠陥検査方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05264400A true JPH05264400A (ja) | 1993-10-12 |
Family
ID=13181647
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6180492A Pending JPH05264400A (ja) | 1992-03-18 | 1992-03-18 | 光ディスク欠陥検査方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05264400A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0883124A3 (en) * | 1997-06-02 | 2000-05-03 | Pioneer Electronic Corporation | Apparatus for reproducing information recorded on optical disc |
-
1992
- 1992-03-18 JP JP6180492A patent/JPH05264400A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0883124A3 (en) * | 1997-06-02 | 2000-05-03 | Pioneer Electronic Corporation | Apparatus for reproducing information recorded on optical disc |
| US6212155B1 (en) | 1997-06-02 | 2001-04-03 | Pioneer Electronic Corporation | Apparatus for reproducing information recorded on optical disc |
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