JPH0528254B2 - - Google Patents
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- JPH0528254B2 JPH0528254B2 JP11067485A JP11067485A JPH0528254B2 JP H0528254 B2 JPH0528254 B2 JP H0528254B2 JP 11067485 A JP11067485 A JP 11067485A JP 11067485 A JP11067485 A JP 11067485A JP H0528254 B2 JPH0528254 B2 JP H0528254B2
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-
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、例えばポリプロピレンやポリエチレ
ン等のプラスチツクでなる被処理物の表面にプラ
ズマを照射して該被処理物の表面処理を行うプラ
ズマ処理装置に関する。Detailed Description of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to a plasma processing apparatus that performs surface treatment on a workpiece made of plastic such as polypropylene or polyethylene by irradiating plasma onto the surface of the workpiece. Regarding.
(従来技術)
近年、例えば自動車においては軽量化等を図る
べくポリプロピレンやポリエチレン等でなるプラ
スチツク製の部品ないし製品(例えばプラスチツ
クバンパ)が採用される場合が多くなつている
が、この種のプラスチツクは一般に塗膜との密着
性が比較的悪いことが知られている。そのため、
上記のようなプラスチツク製品の表面を塗装する
場合には、これに先立つて該製品の表面に塗膜を
密着させ易くするための処理を予め施しておく必
要があるが、このような表面処理を行うものとし
てプラズマ処理装置が用いられる。該装置は、通
例、プラズマガスの導入口と排気口とが対向状に
設けられた円筒状のプラズマ反応室と、この反応
室に供給される処理ガス(主として酸素ガスが使
用される)を予めプラズマ化するマイクロ波発振
器等でなるプラズマ発生装置と、処理効果を高め
るべく上記反応室内を減圧ないし真空状態にする
真空ポンプとから主として構成される。そして、
上記反応室内で被処理物に上記プラズマ化された
処理ガスを照射して接触させることにより該被処
理物の表面に官能基を形成し、これにより該表面
を活性化して塗膜との密着性を向上させるように
なつている。(Prior art) In recent years, for example, plastic parts or products made of polypropylene, polyethylene, etc. (for example, plastic bumpers) have been increasingly used in automobiles to reduce weight. It is generally known that adhesion to paint films is relatively poor. Therefore,
When painting the surface of a plastic product as described above, it is necessary to apply a treatment in advance to make it easier for the paint film to adhere to the surface of the product. A plasma processing apparatus is used for this purpose. This device usually includes a cylindrical plasma reaction chamber in which a plasma gas inlet and an exhaust port are provided facing each other, and a processing gas (mainly oxygen gas is used) to be supplied to this reaction chamber. It mainly consists of a plasma generation device such as a microwave oscillator that generates plasma, and a vacuum pump that reduces the pressure or evacuates the inside of the reaction chamber to enhance the processing effect. and,
In the reaction chamber, the object to be treated is irradiated with the plasma processing gas and brought into contact with the object to form functional groups on the surface of the object, thereby activating the surface and improving adhesion to the coating film. It is starting to improve.
しかし、上記のような従来のプラズマ処理装置
においては、導入口から反応室内に導入されたプ
ラズマガスが排気口に向つて流れ、該導入口と排
気口とを結ぶ直線の近傍から外れた周辺部にはプ
ラズマガスが十分に行き渡らないため、反応室内
におけるプラズマガス分布が均一にならない傾向
があり、その結果、被処理物に対する処理性が該
被処理物の配置状態や部位によつて相違するとい
う欠点があつた。 However, in the conventional plasma processing apparatus as described above, the plasma gas introduced into the reaction chamber from the inlet flows toward the exhaust port, and the peripheral portions that are outside the vicinity of the straight line connecting the inlet and exhaust port are Because the plasma gas does not spread sufficiently in the reaction chamber, the plasma gas distribution within the reaction chamber tends to be uneven, and as a result, the processing performance of the object to be processed differs depending on the arrangement and location of the object. There were flaws.
このような問題に対処するものとしては、例え
ば実開昭59−28535号公報に開示されたプラズマ
処理装置がある。これは、第4図に示すように、
プラズマ反応室Aに複数の排気口B,…,Bを設
けると共に、これらの排気口B,…,Bに開閉弁
C,…,Cを夫々備え、反応室Aに設けられたプ
ラズマ導入口Dからシヤワ管D′を介して該反応
室A内にプラズマを導入しながら上記各弁C,
…,Cを同時に又は間欠的に順次開いていくよう
にしたものである。これによれば上記導入口Dか
ら反応室A内に導入されたプラズマが各排気口
B,…,Bの数と位置に応じて多方向に流れるた
め、反応室A内における被処理物の配置状態によ
る処理性の差を比較的少なくすることができる。
しかし、上記のような構成によつても反応室A内
におけるプラズマガス分布の不均一さを完全に解
消することができず、そのため被処理物間又は同
一処理物における各部位間で若干の処理性の差が
生じる嫌いがある。 An example of a plasma processing apparatus that addresses this problem is disclosed in Japanese Utility Model Application Publication No. 59-28535. This is as shown in Figure 4.
The plasma reaction chamber A is provided with a plurality of exhaust ports B, ..., B, and each of these exhaust ports B, ..., B is provided with an on-off valve C, ..., C, and a plasma introduction port D provided in the reaction chamber A is provided. The above-mentioned valves C, while introducing plasma into the reaction chamber A through the shower pipe D'.
..., C are opened sequentially or simultaneously or intermittently. According to this, the plasma introduced into the reaction chamber A from the introduction port D flows in multiple directions depending on the number and position of each exhaust port B, ..., B, so the arrangement of the objects to be processed in the reaction chamber A Differences in processability depending on the state can be made relatively small.
However, even with the above configuration, it is not possible to completely eliminate the non-uniformity of the plasma gas distribution within the reaction chamber A, and therefore some processing may occur between objects to be processed or between different parts of the same object. I don't like the fact that there are gender differences.
(発明の目的)
本発明は、従来のプラズマ処理装置における上
記のような実情に対処するもので、プラズマ反応
室内におけるプラズマガスの分布が均一になるプ
ラズマ処理装置を提供することにより、この種の
プラズマガス分布の不均一ないし偏在化によつて
生じる被処理物表面に対する処理性の差を解消
し、もつて該被処理物表面に対して均一なプラズ
マ処理が行われるようにすることを目的とする。(Objective of the Invention) The present invention addresses the above-mentioned actual situation in conventional plasma processing apparatuses, and by providing a plasma processing apparatus in which the distribution of plasma gas in a plasma reaction chamber is uniform, this type of plasma processing apparatus can be improved. The purpose is to eliminate differences in processing performance on the surface of a workpiece caused by uneven or uneven distribution of plasma gas, and to ensure that uniform plasma processing is performed on the surface of the workpiece. do.
(発明の構成)
即ち、本発明に係るプラズマ処理装置は、プラ
ズマ反応室に複数の排気通路を接続し且つ各排気
通路に該通路を開閉する開閉弁を夫々備えると共
に、各排気通路内を流れるプラズマの流量を夫々
検出する流量検出手段と、上記各開閉弁を制御す
る制御手段とを備えたことを特徴とする。該制御
手段は、上記反応室から各排気通路を介して排出
されるプラズマの排出量が互いに等しくなるよう
に上記流量検出手段からの信号に基づいて上記各
開閉弁を制御する。ここで、上記流量検出手段と
しては例えば差圧式流量計或いは当該プラズマの
発光量からその流量を検出する照度センサ等が用
いられ、これらは各排気通路に対応させて夫々備
えられる。(Structure of the Invention) That is, the plasma processing apparatus according to the present invention connects a plurality of exhaust passages to a plasma reaction chamber, and each exhaust passage is provided with an on-off valve that opens and closes the passage. The present invention is characterized by comprising flow rate detection means for respectively detecting the flow rate of plasma, and control means for controlling each of the on-off valves. The control means controls each of the on-off valves based on the signal from the flow rate detection means so that the amount of plasma discharged from the reaction chamber through each exhaust passage is equal to each other. Here, as the flow rate detection means, for example, a differential pressure type flow meter or an illuminance sensor that detects the flow rate from the amount of light emitted by the plasma is used, and these are provided corresponding to each exhaust passage.
(発明の効果)
上記の構成によれば、導入口からプラズマ反応
室内に導入されたプラズマが該反応室に接続され
た複数の排気通路に向つて多方向に流れ、しかも
各排気通路から夫々排出されるプラズマの排出量
が互いに等しくなるため、該反応室内におけるプ
ラズマの濃度分布が均一化されるようになる。こ
れにより、この種の反応室内におけるプラズマ濃
度分布の不均一によつて生じる各被処理物間又は
その部位間の処理性の差を解消することができ、
各被処理物の表面の全ての部位を均一にプラズマ
処理することができるようになる。(Effects of the Invention) According to the above configuration, plasma introduced into the plasma reaction chamber from the inlet flows in multiple directions toward a plurality of exhaust passages connected to the reaction chamber, and is discharged from each exhaust passage. Since the amount of discharged plasma becomes equal to each other, the concentration distribution of plasma in the reaction chamber becomes uniform. This makes it possible to eliminate differences in processability between each object to be processed or between its parts, which is caused by non-uniform plasma concentration distribution in this type of reaction chamber.
All parts of the surface of each workpiece can be uniformly plasma-treated.
(実施例)
以下、本発明に係るプラズマ処理装置の実施例
について説明する。(Example) Hereinafter, an example of the plasma processing apparatus according to the present invention will be described.
第1図はプラズマ処理装置の側面を概略的に示
すもので、同図に示すように該処理装置1は、プ
ラズマ導入用の導入通路2が接続された円筒状の
プラズマ反応室3を有する。このプラズマ反応室
3は、第2図にその断面を拡大して示すように、
外壁部4及び内壁部5を有する二重構造とされ、
両壁部4,5間に周方向に略等間隔を有して仕切
られた複数の排気室6,…,6が形成されている
と共に、これらの排気室6,…,6に対応させて
複数の排気通路70〜78が夫々接続された構成と
されている。そして、各排気通路70〜78が別途
備えられた例えばロータリーポンプでなる真空ポ
ンプ8にパイプ9を介して接続されていることに
より、上記反応室3内が該ポンプ8によつて減圧
されるようになつている。ここで、上記導入通路
2にはマイクロ波発振器10が備えられ、該通路
2内を通過する酸素ガス等でなる処理ガスが該発
振器10からのマイクロ波によつてプラズマ化さ
れた上で、上記反応室3の内壁部5内に位置され
たシヤワ管2aを介して該内壁部5内に供給され
るようになつている。 FIG. 1 schematically shows a side view of a plasma processing apparatus, and as shown in the figure, the processing apparatus 1 has a cylindrical plasma reaction chamber 3 connected to an introduction passage 2 for introducing plasma. This plasma reaction chamber 3, as shown in an enlarged cross section in FIG.
It has a double structure having an outer wall part 4 and an inner wall part 5,
A plurality of partitioned exhaust chambers 6, . A plurality of exhaust passages 7 0 to 7 8 are connected to each other. Each of the exhaust passages 7 0 to 7 8 is connected via a pipe 9 to a separately provided vacuum pump 8, for example, a rotary pump, so that the pressure inside the reaction chamber 3 is reduced by the pump 8. It is becoming more and more like this. Here, the introduction passage 2 is equipped with a microwave oscillator 10, and the processing gas such as oxygen gas passing through the passage 2 is turned into plasma by the microwave from the oscillator 10, and then the It is designed to be supplied into the inner wall 5 of the reaction chamber 3 via a shower pipe 2a located within the inner wall 5.
然して、上記内壁部5には、その内部を各排気
室6,…,6を介して各排気通路70,…,78に
連通させる排気口6a,…,6aが夫々設けられ
ていると共に、これらの排気口6a,…,6aに
は各排気室6,…,6つまり排気通路70〜78を
夫々開閉するルーバー(開閉弁)110〜118が
夫々備えられている。そして、これらのルーバー
110〜118のうち、導入通路2aの略対向位置
に接続された排気通路70を開閉するルーバー
(以下、マスタールーバーという)110には、こ
れを駆動するサーボモータ12と該ルーバー11
0の開度を検出するマスタールーバー位置検出器
13とが連結され、またそれ以外の各ルーバー
(以下、スレイブルーバーという)111〜118
には同じく駆動用のステツピングモータ141〜
148と該ルーバーの開度検出用のスレイブルー
バー位置検出器151〜158とが夫々連結されて
いる。また、上記各排気通路70〜78には差圧式
流量計160〜168が夫々設けられているが、こ
れらの流量計は各排気通路70〜78に夫々設けら
れたオリフイス7a,…,7aの上流側と下流側
の圧力差を検出することにより該通路70〜78内
を通過するプラズマの流量を検知するようになつ
ている。そして、上記各ルーバー110〜118
は、反応室3内から各排気通路70〜78を介して
排出されるプラズマの排出量が互いに等しくなる
ように、第3図に示す制御回路17によつて制御
される。 The inner wall portion 5 is provided with exhaust ports 6a , . The exhaust ports 6a, . . . , 6a are provided with louvers (opening / closing valves) 11 0 to 11 8 for opening and closing the exhaust chambers 6, . Of these louvers 11 0 to 11 8 , the louver (hereinafter referred to as master louver) 11 0 that opens and closes the exhaust passage 7 0 connected to the position substantially opposite to the introduction passage 2a is equipped with a servo motor that drives it. 12 and the louver 11
The master louver position detector 13 that detects the opening degree of 0 is connected, and each of the other louvers (hereinafter referred to as slave louvers) 11 1 to 11 8
Similarly, there is a stepping motor 14 1 for driving.
14 8 and slave louver position detectors 15 1 to 15 8 for detecting the opening degree of the louver are respectively connected. Further, differential pressure type flowmeters 160 to 168 are provided in each of the exhaust passages 70 to 78, respectively, and these flowmeters are connected to orifices 7a provided in each of the exhaust passages 70 to 78 , respectively. , ..., 7a, the flow rate of plasma passing through the passages 7 0 to 7 8 is detected by detecting the pressure difference between the upstream and downstream sides of the passages 7 0 to 7 8 . And each of the above louvers 11 0 to 11 8
are controlled by a control circuit 17 shown in FIG. 3 so that the amount of plasma discharged from the reaction chamber 3 through each of the exhaust passages 7 0 to 7 8 is equal to each other.
次に、この第3図に示す制御回路17について
説明すると、該制御回路17は、マスタールーバ
ー開度設定器18からの信号a及び上記マスター
ルーバー位置検出器13からの信号bが夫々入力
される第1減算器19と、上記マスタールーバー
用差圧式流量計160からの信号c及び各スレイ
ブルーバー用差圧式流量計161〜168からの信
号d1〜d8が夫々入力される複数(スレイブルーバ
ーと同数)の第2減算器201〜208とを有す
る。このうち第1減算器19は上記信号aによつ
て示される値から信号bによつて示される値を減
算すると共に、その結果を信号eとして第3減算
器21及びサーボアンプ22を介して上記マスタ
ールーバー110の駆動用サーボモータ12に出
力し、これにより該モータ12をサーボアンプ出
力の極性及び電流値に応じて回動させてマスター
ルーバー110を上記開度設定器18による設定
位置で停止させるようになつている。また、上記
第2減算器201(以下、他の第2減算器202〜
208についても同様に構成されている)は、上
記信号cによつて示される値から信号dによつて
示される値を減算すると共に、その結果を信号f1
として極性判別器231及び絶対値増幅器241に
出力するようになつている。そのうち極性判別器
231は信号f1が正の値を示す時、即ち排気通路
70内のプラズマ流量よりも排気通路71内のプラ
ズマ流量の方が少ない時はスレイブルーバー11
1を開動させるべくその駆動用ステツピングモー
タ141に開動信号g1を、また信号f1が負の値を
示す時、即ち排気通路70内のプラズマ流量より
も排気通路71内のプラズマ流量の方が多い時は
該ルーバー111を閉動させる閉動信号h1を夫々
ステツピングモータアンプ251を介して出力す
ると共に、信号f1が零ないし所定範囲内で零とみ
なされる値を示す時はインバータ261に停止信
号i1を出力するようになつている。一方、上記絶
対値増幅器241は、上記第2減算器201からの
信号f1の示す絶対値を増幅した上で電圧−周波数
変換器271に送出するが、この変換器271は、
上記増幅された信号f1′(電圧信号)の出力に応じ
て周波数が高くなるように該信号f1′を周波数に
変換した上で、角度指令パルスf1″としてアンド
回路281に出力するように構成されている。そ
の場合、該アンド回路281は、これに入力され
る上記インバータ261からの信号i1′(信号iの反
転信号)がONの時に限り、上記角度指令パルス
f1″の入力を受けてステツピングモータアンプ2
51を介してスレイブルーバー111の駆動用モー
タ141に角度パルスj1を出力し、これによる該
モータ141が該信号j1の周波数に応じた速度で
回転駆動されるようになつている。つまり、上記
第2減算器201の出力信号f1の極性が零又はこ
れに近い値の時はアンド回路281から角度パル
スj1が出力されなくなつて上記ステツピングモー
タ251の動作が停止するように構成されている。 Next, the control circuit 17 shown in FIG. 3 will be explained. The control circuit 17 receives the signal a from the master louver opening setting device 18 and the signal b from the master louver position detector 13, respectively. A first subtractor 19 , a plurality of ( and second subtracters 20 1 to 20 8 (same number as slave blue bars). Of these, the first subtracter 19 subtracts the value indicated by the signal b from the value indicated by the signal a, and sends the result as a signal e to the above-mentioned The output is sent to the drive servo motor 12 of the master louver 11 0 , which rotates the motor 12 in accordance with the polarity and current value of the servo amplifier output to move the master louver 11 0 to the position set by the opening setting device 18. It is designed to be stopped. Further, the second subtractor 20 1 (hereinafter, other second subtracters 20 2 to
20 8 ) subtracts the value indicated by the signal d from the value indicated by the signal c, and uses the result as the signal f 1
The signal is output to the polarity discriminator 23 1 and the absolute value amplifier 24 1 as a signal. Among them, the polarity discriminator 23 1 selects the slave louver 11 when the signal f 1 shows a positive value, that is, when the plasma flow rate in the exhaust passage 7 1 is smaller than the plasma flow rate in the exhaust passage 7 0 .
In order to open the driving stepping motor 141 , an opening signal g1 is sent to the driving stepping motor 141 , and when the signal f1 shows a negative value, that is, the plasma flow rate in the exhaust passageway 71 is higher than the plasma flow rate in the exhaust passageway 70 . When the flow rate is larger, a closing signal h1 for closing the louver 111 is outputted via the stepping motor amplifier 251 , and the signal f1 is zero or a value considered to be zero within a predetermined range. When this is indicated, a stop signal i1 is output to the inverter 261 . On the other hand, the absolute value amplifier 24 1 amplifies the absolute value of the signal f 1 from the second subtracter 20 1 and sends it to the voltage-frequency converter 27 1 .
The amplified signal f 1 ′ (voltage signal) is converted into a frequency so that the frequency becomes higher according to the output of the signal f 1 ′, and then outputted to the AND circuit 28 1 as an angle command pulse f 1 ″. In that case, the AND circuit 28 1 receives the angle command pulse only when the signal i 1 ' (inverted signal of the signal i) from the inverter 26 1 inputted thereto is ON.
Stepping motor amplifier 2 receives input of f 1 ″
An angular pulse j 1 is output to the drive motor 14 1 of the slave lever 11 1 through the signal j 5 1 , so that the motor 14 1 is rotationally driven at a speed corresponding to the frequency of the signal j 1 . There is. That is, when the polarity of the output signal f 1 of the second subtractor 20 1 is zero or a value close to zero, the angle pulse j 1 is no longer output from the AND circuit 28 1 and the operation of the stepping motor 25 1 is interrupted. Configured to stop.
また、この制御回路17には、上記各第2減算
器201〜208からの全ての信号f1〜f8を加算す
る加算器29が設けられている。この加算器29
はモード切換スイツチ30を介して上記第3減算
器21に接続されており、その出力信号kの極性
が正の場合にはマスタールーバー110側に、ま
た負の場合にはスレイブルーバー111〜118側
に夫々過剰のプラズマガスが流れていることを示
し、極性が零の場合には両ルーバー110及び1
11〜118側に流れているプラズマガスの量が互
いに吊り合つていることを示すようになつてい
る。その場合、該加算器29の出力の絶対値が上
記プラズマガスの偏在量を示す。そして、この制
御回路17においては、上記切換スイツチ30が
加算器29側に選択されている場合、第3減算器
21で第1減算器19の出力信号eから加算器2
9の出力信号kを減算して、その結果を信号lと
してサーボアンプ22を介してサーボモータ12
に送出することにより、上記マスタールーバー開
度設定器18で設定したマスタールーバー110
の初期開度を補正し、これにより該初期開度量の
如何に拘らず常時各ルーバー110〜118側に流
れる(つまり、各排気通路70〜78に流入する)
プラズマの流量を互いに等しくし得るように構成
されている。 The control circuit 17 is also provided with an adder 29 that adds all the signals f 1 to f 8 from the second subtracters 20 1 to 20 8 . This adder 29
is connected to the third subtracter 21 via the mode changeover switch 30, and when the polarity of the output signal k is positive, it is sent to the master louver 11 0 side, and when it is negative, it is sent to the slave louver 11 1 - This indicates that excess plasma gas is flowing to the 11 8 side, and if the polarity is zero, both louvers 11 0 and 1
This shows that the amount of plasma gas flowing to the 1 1 to 11 8 sides is suspended from each other. In that case, the absolute value of the output of the adder 29 indicates the uneven distribution amount of the plasma gas. In this control circuit 17, when the changeover switch 30 is selected to the adder 29 side, the third subtracter 21 converts the output signal e of the first subtracter 19 into the adder 29.
The output signal k of 9 is subtracted, and the result is sent to the servo motor 12 via the servo amplifier 22 as a signal l.
By sending the data to the master louver 11 0 set by the master louver opening setting device 18,
As a result, regardless of the initial opening amount, the air always flows toward each of the louvers 11 0 to 11 8 (that is, it flows into each exhaust passage 7 0 to 7 8 ).
The configuration is such that the plasma flow rates can be made equal to each other.
次に、上記実施例の作用を説明する。 Next, the operation of the above embodiment will be explained.
被処理物X,…,Xが所定位置に配置された状
態で予め真空ポンプ8によつて所定圧まで減圧し
たプラズマ反応室3の内壁部5内に導入通路2か
らプラズマを導入することにより、被処理物X,
…,Xの表面を処理するのであるが、その場合、
先ず、第3図に示すマスタールーバー開度設定器
18によつてマスタールーバー110の初期開度
が設定される。つまり、上記開度設定器18の出
力信号aが第1、第3減算器19,21及びサー
ボアンプ22を介してマスタールーバー駆動用サ
ーボモータ12に入力されることにより、該モー
タ12がサーボアンプ22の出力信号の極性及び
電流値に従つて回転され、その結果、マスタール
ーバー110の開度が変化すると共に、その変化
量に応じた出力信号bがマスタールーバー位置検
出器13から第1減算器19に入力される。そし
て、該信号bが上記開度設定器18の信号aによ
る設定値に一致して第1減算器19の出力信号e
が零になつた時に、上記サーボモータ12が停止
することにより、マスタールーバー110が上記
開度設定器18による所定の開度位置で停止され
る。 By introducing plasma from the introduction passage 2 into the inner wall 5 of the plasma reaction chamber 3, which has been previously depressurized to a predetermined pressure by the vacuum pump 8, with the objects to be processed X, ..., X placed at predetermined positions, Workpiece X,
…, the surface of X is processed, but in that case,
First, the initial opening degree of the master louver 110 is set by the master louver opening degree setting device 18 shown in FIG. That is, by inputting the output signal a of the opening setting device 18 to the master louver driving servo motor 12 via the first and third subtracters 19 and 21 and the servo amplifier 22, the motor 12 is activated by the servo amplifier. As a result, the opening degree of the master louver 110 changes, and an output signal b corresponding to the amount of change is first subtracted from the master louver position detector 13. The signal is input to the device 19. Then, the signal b matches the setting value of the signal a of the opening setting device 18, and the output signal e of the first subtractor 19
When becomes zero, the servo motor 12 stops, and the master louver 110 is stopped at the predetermined opening position set by the opening setting device 18.
ところで、このようにしてマスタールーバー1
10が開かれている状態で例えば第3図に鎖線で
示すようにスレイブルーバー111〜118が閉じ
られている場合には、上記プラズマが該マスター
ルーバー110に向つて流れてプラズマ反応室3
a内における該プラズマの分布が夫均一となる
が、上記構成によれば、各スレイブルーバー11
1〜118に対応させて排気通路71〜78が接続さ
れ、該排気通路71〜78内を流れるプラズマの流
量とマスタールーバー110によつて開閉される
排気通路70内を流れるプラズマの流量とが互い
に等しくなるように、各ルーバー110〜118が
制御回路17によつて開閉制御されることにな
る。 By the way, in this way, master louver 1
For example, when the slave louvers 11 1 to 11 8 are closed as shown by the chain lines in FIG. 3 while the master louver 11 0 is open, the plasma flows toward the master louver 11 0 and a plasma reaction occurs. Room 3
Although the distribution of the plasma within a becomes uniform, according to the above configuration, each slave louver 11
Exhaust passages 7 1 to 7 8 are connected in correspondence with the exhaust passages 7 1 to 7 8 , and the exhaust passages 7 0 are opened and closed depending on the flow rate of plasma flowing through the exhaust passages 7 1 to 7 8 and the master louver 11 0 . The opening and closing of the louvers 11 0 to 11 8 are controlled by the control circuit 17 so that the flow rates of the flowing plasma are equal to each other.
即ち、上記マスタールーバー110によつて開
閉される排気通路70内のプラズマ流量と、各ス
レイブルーバー111〜118によつて開閉される
排気通路71〜78内のプラズマ流量とが各排気通
路70及び71〜78に設けられた差圧式流量計1
60及び161〜168によつて夫々検出された上
で各第2減算器201〜208において比較され
る。そして、前者のプラズマ流量が後者のプラズ
マ流量よりも多い場合には、各極性判別器231
〜238から開動信号g1〜g8が夫々出力されて当
該スレイブルーバーが当初位置よりも更に開方向
に、逆に少ない場合には、各極性判別器231〜
238から閉動信号h1〜h8が夫々出力されて当該
スレイブルーバーが閉方向に夫々回転駆動される
ことにより、各排気通路70〜78内を流れるプラ
ズマ流量が互いに等しくされ、その結果としてプ
ラズマ反応室3内のプラズマ分布が均一化される
ことになる。これにより、上記したようなプラズ
マ反応室内におけるプラズマ分布の不均一によつ
て生じる各被処理物X,…,X間又はその部位間
の処理性の差が解消され、各被処理物X,…,X
の表面の全ての部位が均一にプラズマ処理される
ことになる。 That is, the plasma flow rate in the exhaust passage 7 0 opened and closed by the master louver 11 0 and the plasma flow rate in the exhaust passages 7 1 to 7 8 opened and closed by each slave louver 11 1 to 11 8 are the same. Differential pressure flowmeter 1 provided in each exhaust passage 7 0 and 7 1 to 7 8
6 0 and 16 1 to 16 8 respectively, and compared in each second subtractor 20 1 to 20 8 . If the former plasma flow rate is greater than the latter plasma flow rate, each polarity discriminator 23 1
~ 23 8 output the opening movement signals g 1 ~ g 8 respectively, and if the slave blue bar is moved further in the opening direction than the initial position, or vice versa, each polarity discriminator 23 1 ~
Closing motion signals h 1 to h 8 are outputted from the respective exhaust passages 7 0 to 7 8 and the respective slave louvers are rotationally driven in the closing direction, so that the flow rates of plasma flowing through the exhaust passages 7 0 to 7 8 are made equal to each other. As a result, the plasma distribution within the plasma reaction chamber 3 is made uniform. As a result, the difference in processability between the objects to be processed X,..., ,X
All parts of the surface will be uniformly plasma treated.
尚、この実施例においては各排気通路70〜78
内を流れるプラズマの流量を検出する手段として
差圧式流量計160〜168を用いたが、処理ガス
に窒素を混合した上で該窒素のプラズマの発光量
を照度検出器によつて検出し、これにより上記プ
ラズマの流量を検出するようにしても良い。 In this embodiment, each exhaust passage 7 0 to 7 8
Differential pressure flowmeters 16 0 to 16 8 were used as means for detecting the flow rate of plasma flowing through the chamber, but nitrogen was mixed with the processing gas and the amount of light emitted from the nitrogen plasma was detected by an illuminance detector. , The flow rate of the plasma may be detected thereby.
第1〜3図は本発明の実施例を示すもので、第
1図は該実施例に係るプラズマ処理装置の概略側
面図、第2図は第1図−線で切断した拡大縦
断面図、第3図は制御回路を示すブロツク図であ
る。また、第4図は従来のプラズマ処理装置を示
す正面図である。
1……プラズマ処理装置、3……プラズマ反応
室、6,70〜78……排気通路(6……排気室)、
11……開閉弁(110……マスタールーバー、
111〜118……スレイブルーバー)、160〜1
68……流量検出手段(差圧式流量計)、17……
制御手段(制御回路)。
1 to 3 show an embodiment of the present invention, FIG. 1 is a schematic side view of a plasma processing apparatus according to the embodiment, FIG. 2 is an enlarged longitudinal sectional view taken along the line of FIG. FIG. 3 is a block diagram showing the control circuit. Moreover, FIG. 4 is a front view showing a conventional plasma processing apparatus. 1... Plasma processing device, 3... Plasma reaction chamber, 6,7 0 to 7 8 ... Exhaust passage (6... Exhaust chamber),
11... Opening/closing valve (11 0 ... Master louver,
11 1 ~ 11 8 ... slave blue bar), 16 0 ~ 1
6 8 ...Flow rate detection means (differential pressure flowmeter), 17...
Control means (control circuit).
Claims (1)
マを照射して該被処理物表面を処理するプラズマ
処理装置であつて、上記反応室に接続された複数
の排気通路と、各排気通路に夫々設けられて該通
路を開閉する複数の開閉弁と、上記各排気通路内
を流れるプラズマの流量を夫々検出する流量検出
手段と、上記各排気通路から排出されるプラズマ
の排出量が互いに等しくなるように上記流量検出
手段からの信号に基づいて上記各開閉弁を制御す
る制御手段とを有することを特徴とするプラズマ
処理装置。1 A plasma processing apparatus for treating the surface of a workpiece by irradiating plasma onto the surface of the workpiece in a plasma reaction chamber, which includes a plurality of exhaust passages connected to the reaction chamber, and a plurality of exhaust passages provided in each exhaust passage. a plurality of on-off valves for opening and closing the passages; a flow rate detection means for respectively detecting the flow rate of plasma flowing in each of the exhaust passages; A plasma processing apparatus comprising: control means for controlling each of the on-off valves based on a signal from the flow rate detection means.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11067485A JPS61268730A (en) | 1985-05-22 | 1985-05-22 | Plasma treatment system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11067485A JPS61268730A (en) | 1985-05-22 | 1985-05-22 | Plasma treatment system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61268730A JPS61268730A (en) | 1986-11-28 |
| JPH0528254B2 true JPH0528254B2 (en) | 1993-04-23 |
Family
ID=14541580
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11067485A Granted JPS61268730A (en) | 1985-05-22 | 1985-05-22 | Plasma treatment system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61268730A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0658416B1 (en) * | 1993-11-23 | 2001-02-07 | Dyconex Patente Ag | Method for texturing polymer foils |
| CN114701154B (en) * | 2021-12-27 | 2023-12-01 | 南京苏曼等离子科技有限公司 | Device and method for continuously treating inner and outer surfaces of high polymer material pipeline |
-
1985
- 1985-05-22 JP JP11067485A patent/JPS61268730A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61268730A (en) | 1986-11-28 |
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