JPH0529147U - Icパツケージ外視検査装置 - Google Patents
Icパツケージ外視検査装置Info
- Publication number
- JPH0529147U JPH0529147U JP7835391U JP7835391U JPH0529147U JP H0529147 U JPH0529147 U JP H0529147U JP 7835391 U JP7835391 U JP 7835391U JP 7835391 U JP7835391 U JP 7835391U JP H0529147 U JPH0529147 U JP H0529147U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- package
- illuminator
- visual inspection
- light
- reflected light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ICパッケージ上面の段差部や側面のカケや
ボイドを明確に識別できる高信頼性のICパッケージ外
視検査装置を提供する。 【構成】 ICパッケージ6に対して光を照射する照明
器は、ICパッケージ6上面を照明する第1の照明器2
と、ICパッケージ6の側面部に対しICパッケージ6
の斜め上方より光を照射する第2の照明器1とからなる
ことを特徴とする。
ボイドを明確に識別できる高信頼性のICパッケージ外
視検査装置を提供する。 【構成】 ICパッケージ6に対して光を照射する照明
器は、ICパッケージ6上面を照明する第1の照明器2
と、ICパッケージ6の側面部に対しICパッケージ6
の斜め上方より光を照射する第2の照明器1とからなる
ことを特徴とする。
Description
【0001】
本考案はICパッケージのカケ、ボイド等を明確に識別できる外視検査装置に 関する。
【0002】
従来の技術について図2及び図3を参照して説明する。
【0003】 図2は従来例によるICパッケージの外視検査装置の側面図、図3(a),( b),(c)はそれぞれ被検査物であるICパッケージの平面図、正面図、側面 図、図3(d)はカケ、ボイドのある場合の平面図である。
【0004】 従来例によるICパッケージ外視検査装置(以下、単に外視検査装置と記す) は、図2に示すように、検査面を均一に照射するリングガイド照明器2、カメラ レンズ3、光電変換部であるCCDカメラ4、接写リング5、検査物置き台7、 CCDカメラ4の信号を処理する画像処理装置(図示せず)によって構成される 。
【0005】 以上の構成において、検査面を均一に照射するリングガイド照明器2により置 き台7に置かれた検査物であるICパッケージ6の検査面Aに照射し、その反射 光をカメラレンズ3、接写レンズ5を通してCCDカメラ4が捕え、反射光を電 気信号に変換し、画像処理装置に伝え、該画像処理装置にて判別を行う。
【0006】
ところが、以上の構成においては、ICパッケージ6に対する照明はICパッ ケージ6の上面を照射するリングガイド照明器2からの光だけであり、図3(d )に示すICパッケージ6の検査面Aの段差部分A′及び該段差部分A′に平行 な側面BにおけるカケC,ボイドDからの反射光が極めて少ない。
【0007】 従って濃淡の有意差が非常に小さく、画像処理装置で判別するのに時間がかか り、判別する方法も複雑となる。
【0008】 そこで、本考案の目的は、検査物からの反射光が充分得られる外視検査装置を 提供することにある。
【0009】
前記目的を達成するために本考案は、ICパッケージに対し光を照射する照明 器と、前記ICパッケージからの反射光を検出し電気信号に変換する光電変換部 と、該光電変換部の信号を処理する画像処理装置とを備えてなるICパッケージ 外視検査装置において、前記照明器は前記ICパッケージ上面を照明する第1の 照明器と、前記ICパッケージの側面部に対し前記ICパッケージの斜め上方よ り光を照射する第2の照明器とからなることを特徴とする。
【0010】
本考案によるICパッケージ外視検査装置の照明器は、ICパッケージ上面を 照明する第1の照明器の他に、ICパッケージの側面部に対しICパッケージの 斜め上方より光を照射する第2の照明器を備えているので、ICパッケージ上面 端部に設けられた極性判別用の段差部や、第1の照明器だけでは充分な反射光が 得られなかったICパッケージ側面部にも十分光が照射される。
【0011】 従って、従来は判別が困難であった、前述の段差部や側面部のカケ、ボイド等 を短時間で明確に識別でき、高信頼性のICパッケージ外視検査装置を実現でき る。
【0012】
本考案の一実施例について、図1を参照して説明する。なお、図2及び図3に 示す従来例と同一機能部分には同一記号を付している。
【0013】 本実施例によるICパッケージ外視検査装置は、スリット形状の光を照射する 1対のラインガイド照明器1,検査面を均一に照射する第1の照明器2としてリ ングガイド照明器2(以下、リングガイド照明器2と記す)、カメラレンズ3, 光電変換部4としてCCDカメラ4(以下、CCDカメラ4と記す)、接写レン ズ5,検査物置き台7,CCDカメラ4の信号を処理する画像処理装置(図示せ ず)によって構成される。第2の照明器1である1対のラインガイド照明器1( 以下、ラインガイド照明器1と記す)は、検査面の段差と平行な側面B,Bから それぞれ20mm離れ、角度10〜20°斜め上方より検査面Aの段差部分A′ ,該段差部分A′と平行な側面B,Bにスリット形状の光を照射する。
【0014】 また、リングガイド照明器2は、置き台7に置かれたICパッケージ6の真上 に60mm離れた所に位置し、検査面Aを均一に照射する。カメラレンズ3,接 写レンズ5は、CCDカメラ4に適度な倍率(×30倍)を設定する。
【0015】 以上のような構成において、スリット形状の光を照射する1対のラインガイド 照明器1により検査面Aの段差部分A′,検査面の段差と平行な側面B,Bを照 射し、且つ、検査面Aを均一に照射するリングガイド照明器2により置き台7に 置かれたICパッケージ6の検査面Aに照射する。その2つの複合された反射光 をカメラレンズ3,接写レンズ5を通してCCDカメラ4が捕え、反射光を電気 信号に変換し、画像処理装置に伝え、画像処理装置にて判別を行う。
【0016】 この結果、検査面Aの段差部分A′,該段差部分A′と平行な側面B,Bから の反射光が多くなり、図3(d)に示す前記段差部分A′及び側面B,Bにある カケC,ボイドDとの濃淡の有意差が明確になり、画像処理装置で容易に判別で き、判定する時間も短くなる。
【0017】 なお、本実施例においては、光電変換部4としてCCDカメラを使用したが、 光電変換機能を有する装置であればこれに限るものではない。
【0018】
以上説明したように本考案によれば、ICパッケージの検査面、特に側面部か らの反射光の濃淡の有意差が明確になり、画像処理装置による判別が容易になり 判別時間も短縮できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例による外視検査装置の側面図
である。
である。
【図2】従来例による外視検査装置の側面図である。
【図3】(a),(b),(c)はそれぞれ検査物の平
面図、正面図、側面図、(d)はカケ、ボイドのある場
合の平面図である。
面図、正面図、側面図、(d)はカケ、ボイドのある場
合の平面図である。
1 第2の照明器 2 第1の照明器 4 光電変換部(CCDカメラ) 6 ICパッケージ
Claims (1)
- 【請求項1】 ICパッケージに対し光を照射する照明
器と、前記ICパッケージからの反射光を検出し電気信
号に変換する光電変換部と、該光電変換部の信号を処理
する画像処理装置とを備えてなるICパッケージ外視検
査装置において、 前記照明器は前記ICパッケージ上面を照明する第1の
照明器と、前記ICパッケージの側面部に対し前記IC
パッケージの斜め上方より光を照射する第2の照明器と
からなることを特徴とするICパッケージ外視検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7835391U JPH0529147U (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | Icパツケージ外視検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7835391U JPH0529147U (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | Icパツケージ外視検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0529147U true JPH0529147U (ja) | 1993-04-16 |
Family
ID=13659625
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7835391U Pending JPH0529147U (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | Icパツケージ外視検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0529147U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101437902B1 (ko) * | 2013-02-07 | 2014-09-17 | (주)아이엠에스나노텍 | 엘이디 패키지의 렌즈 외관 검사장치 |
-
1991
- 1991-09-27 JP JP7835391U patent/JPH0529147U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101437902B1 (ko) * | 2013-02-07 | 2014-09-17 | (주)아이엠에스나노텍 | 엘이디 패키지의 렌즈 외관 검사장치 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3709426B2 (ja) | 表面欠陥検出方法および表面欠陥検出装置 | |
| WO2002029393A3 (en) | Method and apparatus for enhanced embedded substrate inspection through process data collection and substrate imaging techniques | |
| EP2187267A3 (en) | Picture reading device and image forming apparatus | |
| EP0847024A3 (en) | Fingerprint input apparatus | |
| EP0362679A3 (en) | Inside surface inspection system and method therefor | |
| JPH11316112A5 (ja) | ||
| TW201411122A (zh) | 表面異物檢查系統及其控制方法 | |
| JP2007147433A (ja) | セラミック板の欠陥検出方法と装置 | |
| TW382061B (en) | Carrier for substrate and defect inspection apparatus for substrate | |
| JPH0529147U (ja) | Icパツケージ外視検査装置 | |
| JP2914967B2 (ja) | 外観検査方法 | |
| JPS59135353A (ja) | 表面傷検出装置 | |
| JP2006145377A (ja) | 塗装面欠陥の検出方法および装置 | |
| JPH10288508A (ja) | 外観検査装置 | |
| JPS61294302A (ja) | チップ部品ずれ検査方法 | |
| JP2818347B2 (ja) | 外観検査装置 | |
| JPH0523011Y2 (ja) | ||
| JP2000193606A (ja) | 壜の欠陥検査方法および装置 | |
| JP2001091471A (ja) | Pet成形品の検査装置 | |
| JPH0545302A (ja) | 検査装置 | |
| JP3102362U (ja) | 鏡面検査装置 | |
| JPH0634567A (ja) | ワーク欠損検出装置 | |
| JPH06104352A (ja) | 半導体装置およびその方向検査装置 | |
| JPS63151842A (ja) | 外観検査装置 | |
| JPH072964U (ja) | 光学式回路欠陥検査装置 |