JPH11316112A5 - - Google Patents

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JPH11316112A5
JPH11316112A5 JP1998353940A JP35394098A JPH11316112A5 JP H11316112 A5 JPH11316112 A5 JP H11316112A5 JP 1998353940 A JP1998353940 A JP 1998353940A JP 35394098 A JP35394098 A JP 35394098A JP H11316112 A5 JPH11316112 A5 JP H11316112A5
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Description

【特許請求の範囲】
【請求項1】
物体の平面に対して垂直に物体を通る光軸を有する物体のイメージを検知するカメラと、
前記光軸の一方の側に配置される一部を有し、物体の平面に対して斜めに物体への光の照射を行う斜光源と、
前記斜光源の一部に対して光軸の反対側に配置され、斜光源から光軸を横切る光を前記カメラに向けて反射し、前記斜光源の一部との間に位置する前記物体の一部が形状としてカメラに撮像されるようにするリフレクタと、
撮像中に前記リフレクタによって反射されることなく、前記斜光源から前記カメラに光が直接送り込まれるのを阻止し、前記斜光源からの光が前記リフレクタに対して斜めに通過するウィンドウを有する基準面と
を備える平面を有する物体を検査する装置。
【請求項2】
物体が集積回路であり、光軸を中心にして集積回路をほぼ包囲する少なくとも1つのリフレクタを含み、前記斜光源が光軸を中心にして集積回路をほぼ包囲し、光軸を中心にして集積回路の側縁の全てに対してバック・ライトとして光を照射して、少なくとも1つのリフレクタで反射することによってカメラに撮像されるようにする請求項1に記載の装置。
【請求項3】
前記斜光源が、前記集積回路の平面に対して10度以下をなして当該集積回路の側縁に光を照射し、当該光がリフレクタによって前記カメラに反射される請求項2に記載の装置。
【請求項4】
前記リフレクタと前記斜光源が、前記物体の同じ部分について2つ以上の異なるイメージを捕捉し、前記物体の部分の三次元情報が得られるように物体に対して移動可能である請求項1に記載の装置。
【請求項5】
前記物体の側縁に光を照射する第2の光源をさらに含み、前記第2の光源からの光が物体の側縁から通過し、光軸と交差することなく光学素子に達して、カメラによって検知されるように方向付けられる請求項1〜3のいずれかに記載の装置。
【請求項6】
集積回路に向かい合い、当該集積回路の平面に対して垂直に通る光軸に沿って集積回路のイメージを検知するステップと、
前記光軸の反対側の位置において光を反射させるため、前記集積回路の一部を通過した光を当該集積回路の平面に対して斜めに向けるステップと、
前記集積回路の品質を表す形状の一部を撮像するため、前記集積回路の一部から通過してくる光を反射するステップと、
斜めに向けられた光が反射位置に対して通過するウィンドウを有し、当該斜めに向けられた光を反射させることなく撮像されることを阻止する基準面を使用するステップと
を含む平面を有する集積回路の品質を検査する方法。
【請求項7】
光軸を中心にして集積回路をほぼ包囲する第1の光源から集積回路の平面に対し斜めの方向に光を照射するステップをさらに含み、光軸を中心にして集積回路をほぼ包囲する少なくとも4つの面で反射し、光軸を中心にして集積回路の側縁の全てに対してバック・ライトとして光を照射し反射することよって撮像されるようにする請求項6に記載の方法。
【請求項8】
集積回路の側縁に照射するために第2の光源から光を方向付けるステップであって、ここで、照射された光は側縁から通過し光軸と交差することなく光学素子に到達する、ステップと、
側縁から通過する光を撮像されるよう方向付けるために光学素子を使用するステップと
をさらに含む請求項7に記載の方法。
【請求項9】
第2の光源からの光がフロント・ライトとして集積回路を照射する請求項8に記載の方法。
【請求項10】
第2の光源からの光が斜めに向けられた光に対してかなりの角度をなして向けられる請求項8に記載の方法。
JP10353940A 1997-12-01 1998-11-27 集積回路の交差光軸検査システム Pending JPH11316112A (ja)

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SG1997004179A SG67446A1 (en) 1997-12-01 1997-12-01 Cross optical axis inspection system for integrated circuits
SG9704179.2 1997-12-01
US09/012,294 US6055055A (en) 1997-12-01 1998-01-23 Cross optical axis inspection system for integrated circuits

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JPH11316112A JPH11316112A (ja) 1999-11-16
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JP10353940A Pending JPH11316112A (ja) 1997-12-01 1998-11-27 集積回路の交差光軸検査システム

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EP (1) EP0919804A1 (ja)
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Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6915006B2 (en) * 1998-01-16 2005-07-05 Elwin M. Beaty Method and apparatus for three dimensional inspection of electronic components
US6072898A (en) * 1998-01-16 2000-06-06 Beaty; Elwin M. Method and apparatus for three dimensional inspection of electronic components
SG84530A1 (en) * 1998-05-21 2001-11-20 Agilent Technologies Inc Cross optical axis inspection system for integrated circuits
US6538750B1 (en) * 1998-05-22 2003-03-25 Cyberoptics Corporation Rotary sensor system with a single detector
US6243164B1 (en) * 1998-07-13 2001-06-05 Electro Scientific Industries Method and system for determining lead coplanarity
AU2002232855A1 (en) 2000-10-25 2002-05-21 Electro Scientific Industries, Inc. Integrated alignment and calibration of optical system
US6532063B1 (en) 2000-11-10 2003-03-11 Semiconductor Technologies & Instruments 3-D lead inspection
EP1220596A1 (en) * 2000-12-29 2002-07-03 Icos Vision Systems N.V. A method and an apparatus for measuring positions of contact elements of an electronic component
US20020135757A1 (en) * 2001-01-02 2002-09-26 Robotic Vision Systems, Inc. LCC device inspection module
WO2002054139A2 (en) * 2001-01-02 2002-07-11 Robotic Vision Systems, Inc. Lcc device inspection module
US7181083B2 (en) * 2003-06-09 2007-02-20 Eaton Corporation System and method for configuring an imaging tool
US6856694B2 (en) * 2001-07-10 2005-02-15 Eaton Corporation Decision enhancement system for a vehicle safety restraint application
JP4234402B2 (ja) * 2002-11-21 2009-03-04 富士機械製造株式会社 電子回路部品像取得装置
WO2004049267A1 (de) * 2002-11-23 2004-06-10 Odas Gmbh Verfahren zur fotografischen aufnahme eines zylinderförmigen, insbesondere plattenförmigen gegenstandes
US6944527B2 (en) * 2003-11-07 2005-09-13 Eaton Corporation Decision enhancement system for a vehicle safety restraint application
US7532749B2 (en) * 2003-11-18 2009-05-12 Panasonic Corporation Light processing apparatus
US7701564B2 (en) * 2005-05-18 2010-04-20 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. System and method for angular measurement
WO2009093445A1 (ja) * 2008-01-25 2009-07-30 Panasonic Corporation 検査装置及び検査方法
US8294760B2 (en) 2009-04-21 2012-10-23 Samsung Techwin Co., Ltd. Electronic part recognition apparatus and chip mounter having the same
US8461532B2 (en) * 2009-11-05 2013-06-11 The Aerospace Corporation Refraction assisted illumination for imaging
US8138476B2 (en) * 2009-11-05 2012-03-20 The Aerospace Corporation Refraction assisted illumination for imaging
US8450688B2 (en) 2009-11-05 2013-05-28 The Aerospace Corporation Refraction assisted illumination for imaging
JP5534919B2 (ja) * 2010-04-22 2014-07-02 富士機械製造株式会社 電子部品の撮像判定方法及び部品実装機
US9402036B2 (en) * 2011-10-17 2016-07-26 Rudolph Technologies, Inc. Scanning operation with concurrent focus and inspection
US9007454B2 (en) 2012-10-31 2015-04-14 The Aerospace Corporation Optimized illumination for imaging
CN107889522B (zh) 2015-08-26 2020-08-28 Abb瑞士股份有限公司 对象多视角检测设备及其方法
JP7199241B2 (ja) * 2019-02-07 2023-01-05 株式会社東芝 半導体検査システム及び半導体検査装置
WO2022187464A1 (en) 2021-03-03 2022-09-09 Battelle Memorial Institute Systems and methods for inspection of ic devices

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60247106A (ja) * 1984-05-22 1985-12-06 Fujitsu Ltd 形状検査装置
US4696047A (en) * 1985-02-28 1987-09-22 Texas Instruments Incorporated Apparatus for automatically inspecting electrical connecting pins
JPH0359446A (ja) * 1989-07-28 1991-03-14 Nec Corp 集積回路パッケージピン検査装置
JPH03203399A (ja) * 1989-12-29 1991-09-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 部品装着装置
JPH03210410A (ja) * 1990-01-12 1991-09-13 Fujitsu Ltd ピングリッドアレイ検査装置
US5185811A (en) * 1990-12-27 1993-02-09 International Business Machines Corporation Automated visual inspection of electronic component leads prior to placement
US5173796A (en) * 1991-05-20 1992-12-22 Palm Steven G Three dimensional scanning system
US5563703A (en) * 1994-06-20 1996-10-08 Motorola, Inc. Lead coplanarity inspection apparatus and method thereof

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