JPH052932B2 - - Google Patents

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JPH052932B2
JPH052932B2 JP58058802A JP5880283A JPH052932B2 JP H052932 B2 JPH052932 B2 JP H052932B2 JP 58058802 A JP58058802 A JP 58058802A JP 5880283 A JP5880283 A JP 5880283A JP H052932 B2 JPH052932 B2 JP H052932B2
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JP
Japan
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grating
beam splitter
detectors
splitter according
section
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JP58058802A
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JPS58184518A (ja
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Fuookuto Peetaa
Kuntsuman Horusuto
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Carl Zeiss AG
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Carl Zeiss AG
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Publication date
Application filed by Carl Zeiss AG filed Critical Carl Zeiss AG
Publication of JPS58184518A publication Critical patent/JPS58184518A/ja
Publication of JPH052932B2 publication Critical patent/JPH052932B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J4/00Measuring polarisation of light
    • G01J4/04Polarimeters using electric detection means
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10Beam splitting or combining systems
    • G02B27/108Beam splitting or combining systems for sampling a portion of a beam or combining a small beam in a larger one, e.g. wherein the area ratio or power ratio of the divided beams significantly differs from unity, without spectral selectivity
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10Beam splitting or combining systems
    • G02B27/1086Beam splitting or combining systems operating by diffraction only
    • G02B27/1093Beam splitting or combining systems operating by diffraction only for use with monochromatic radiation only, e.g. devices for splitting a single laser source
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/13Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
    • H01S3/139Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the mutual position or the reflecting properties of the reflectors of the cavity, e.g. by controlling the cavity length

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  • Acyclic And Carbocyclic Compounds In Medicinal Compositions (AREA)
  • Surgical Instruments (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は実質的単色光線の異なる偏光成分の比
を検出するための光線分割器に関する。
この種の光線分割器はたとえば異なる偏光をも
つて存在するモードの強度比を求め、かつ共振器
長さの制御に使用するため、1つより多いモード
で振動するレーザの周波数を安定化する装置に必
要である。
西独特許第2043734号および第2053246号明細書
に記載されるようなレーザの周波数を安定化する
公知装置によれば安定化すべきレーザ管の第2出
力が利用され、そこから出る強度の低い一般には
利用されない部分光線が出口後方に配置した偏光
分割器たとえばウラストンプリズムによつてその
異なる偏光成分に分割される。しかしレーザ管の
この第2出力は市販のすべての管には存在せず、
または利用できない。
異なる偏光成分をレーザの本来の利用光線から
取出すため、同様西独特許第2043734号明細書か
ら互いに直角の2つのブルースタ板を光線内に配
置することが公知である。しかしこのような構造
は多数の欠点を有する。まず結合係数したがつて
取出す部分光束の強度が一定であり、すなわち通
過する利用光線の強度低下が場合により大き過ぎ
る。さらにこの光線のブルースタ板による平行偏
位は調節問題の原因となる。最後に板は板の内部
で繰返し反射が生じないように、片面を非常によ
く反射防止しなければならない。
米国特許第3588738号明細書には前記目的の光
線分割器が記載され、これは利用光線に対し45゜
の角度で傾斜した半透ミラーおよびその後方に配
置したウラストンプリズムからなる。このような
取出しは半透ミラー層での位相変移のため、入射
する直線偏光がダ円偏光に変る欠点を有する。さ
らに取出した2つの互いに垂直に偏光した部分光
束の強度は、分割器表面が入射成分の偏光方向と
形成する角度に応じて異なる。
本発明の目的はできるだけ簡単でコンパクトな
構造を有し、利用光線をできるだけ少ししか妨害
しない、ほぼ単色の光線の異なる偏光の部分光束
の比を検出するための光線分割器を得ることであ
る。
この目的は本発明の特徴により強度の大部分を
ゼロ次で分散する格子へ光線が入射し、偏光方向
を選択する装置が高い回折次数に対応する角範囲
に配置されていることによつて解決される。
所要の格子は階段高さをつねに、たとえば入射
光線の測定目的に必要な部分のみが高次で回折
し、利用光線は0次で妨げられずに格子を去るよ
うに適合させることができる。
この光線分割器の利点は格子を使用する際の利
用光線が公知光線分割器で生ずるような偏光復元
(depolarisieren)影響および有害な反射に影響
されずに留まることにある。有利に使用される透
過位相格子はいずれにせよ光路にすでに配置され
た構成要素たとえばレーザの光路拡大に使用する
レンズへ直接設置することができるので、反射防
止しなければならない付加的界面が発生しない。
光線分割器によつて一般に互いに垂直に偏光し
た2つの成分を取出すので、入射方向に対し対称
的溝形を有する格子を選択するのが有利であり、
この格子は0次のほかに主として1つの高次たと
えば1次でのみ利用光線の両側へ対称的に分散す
る。2つの回折次数に対応する角範囲内に、互い
に直交する検光子の後方に差分回路で動作する2
つの検出器を配置し、これによつて偏光成分の強
度比を測定する。
次に本発明の実施例を図面により説明する。
1はいわゆる2モードヘリウム−ネオンレーザ
を表わし、そのミラー2,3によつて仕切られる
共振器内に周波数が僅かに異なる互いに垂直に偏
光した2つの安定モードが形成される。ミラー3
を介して出た2つの異なる偏光成分からなる光線
はレンズ4および6によつて干渉計測定用に拡大
される。
第1平凸レンズ4の背面に位相格子5が支持さ
れ、この格子はレーザ1から出る波長630nmの光
線の強度の80%を0次で、すなわち回折せずに透
過させる。格子は5μmの格子定数を有し、溝形は
矩形である。
入射光線強度のそれぞれ約10%は格子5から1
次または−1次で回折し、それぞれコンデンサレ
ンズ7または8に支持される偏光シート9または
10へ入射する。このコンデンサレンズは光電受
信器11または12の感光面を照射し、その出力
信号は差動増幅器13によつてレーザ共振器の長
さの安定化、したがつて周波数安定化に使用する
ことができる。構成要素4〜12は共通の光密ケ
ーシング14内に1つの構造ユニツトに形成され
る。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の装置の光路図である。 1…レーザ、2,3…ミラー、4,6…レン
ズ、5…格子、7,8…コンデンサレンズ、9,
10…検光子、11,12…光電検知器、13…
差動増幅器、14…ケーシング。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 2つの検出器11,12で両者の成分の強度
    を測定することにより、実質的単色光線の異なる
    偏光成分を検出するための光線分割器において、
    光路内に格子5が配置されており、該格子が強度
    の大部分を0次で供給し、かつ偏光を選択する検
    光子9,10が、検出器11,12の前方の、高
    い回折次数に対応する角範囲に配置されているこ
    とを特徴とする光線分割器。 2 格子5が透過格子である特許請求の範囲第1
    項記載の光線分割器。 3 格子5が位相格子である特許請求の範囲第1
    項記載の光線分割器。 4 格子5が0次のほかに主として1つの高次で
    のみ回折する対称的溝形を有する格子である特許
    請求の範囲第1項から第3項までのいずれか1項
    記載の光線分割器。 5 格子5が光路内にある光学的構成要素4に直
    接支持されている特許請求の範囲第1項から第4
    項までのいずれか1項記載の光線分割器。 6 格子5がレーザ光線の拡大光学系に支持され
    ている特許請求の範囲第5項記載の光線分割器。 7 検出器として偏光シート9,10を使用して
    いる特許請求の範囲第1項から第6項までのいず
    れか1項記載の光線分割器。 8 差動回路で動作する2つの検出器11,12
    を使用する特許請求の範囲第1項から第7項まで
    のいずれか1項記載の光線分割器。 9 格子5を有する拡大光学系4,6、検光子
    9,10および検出器11,12が1つの共通の
    構造ユニツトを形成している特許請求の範囲第8
    項に記載の光線分割器。 10 検出器11,12の出力信号が光線1の出
    力および/または波長の安定化に使用される特許
    請求の範囲第8項記載の光線分割器。
JP58058802A 1982-04-06 1983-04-05 光線分割器 Granted JPS58184518A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3212809.6 1982-04-06
DE3212809A DE3212809C2 (de) 1982-04-06 1982-04-06 Meßeinrichtung für die Stabilisierung von Lasern

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JPS58184518A JPS58184518A (ja) 1983-10-28
JPH052932B2 true JPH052932B2 (ja) 1993-01-13

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JP58058802A Granted JPS58184518A (ja) 1982-04-06 1983-04-05 光線分割器

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US (1) US4547664A (ja)
EP (1) EP0091068B1 (ja)
JP (1) JPS58184518A (ja)
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0728626U (ja) * 1993-11-05 1995-05-30 アロン化成株式会社 彎曲管の製造装置

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0153313B1 (de) * 1983-02-25 1990-05-02 Ulrich Schmidt Mehrstrahl-messanordnung
US4672192A (en) * 1985-07-10 1987-06-09 Eastman Kodak Company Laser light beam noise reducing apparatus
DE3738770A1 (de) * 1986-09-27 1989-06-01 Zeiss Carl Fa Interferometer fuer geradheitsmessungen
DE3632922A1 (de) * 1986-09-27 1988-04-07 Zeiss Carl Fa Interferometer fuer geradheitsmessungen
JP2546388B2 (ja) * 1989-08-31 1996-10-23 日本電気株式会社 半導体レーザ装置の発振周波数安定化装置
DE4006618C2 (de) * 1990-03-02 1993-10-14 Fraunhofer Ges Forschung Vorrichtung zur Auskoppelung einer Meßstrahlung aus einem Laserstrahl
JP2810281B2 (ja) * 1992-09-28 1998-10-15 シャープ株式会社 偏光検出装置
DE4425358C2 (de) * 1993-08-04 2002-04-25 Fraunhofer Ges Forschung Optische Isolator-Vorrichtung zur Anordnung im Strahlengang zwischen einer Laserstrahlquelle und einem Objekt
ES2079282B1 (es) * 1993-09-13 1997-11-16 Fagor S Coop Dispositivo interferometrico y metodo para medir y para estabilizar la longitud de onda de diodo laser.
US5504762A (en) * 1994-10-11 1996-04-02 Spectra-Physics Lasers, Inc. Laser diode system with feedback control
DE19537706A1 (de) * 1995-10-11 1997-04-17 Lorenz Diener Verfahren und Vorrichtung zur störunempfindlichen analogen Echtzeitpolarimetrie
DE19621512A1 (de) * 1996-05-29 1997-12-04 Univ Schiller Jena Verfahren und Anordnung zur Auswertung des wellenlängenabhängigen Polarisationszustandes einer Strahlung
US5825792A (en) * 1996-07-11 1998-10-20 Northern Telecom Limited Wavelength monitoring and control assembly for WDM optical transmission systems
GB9715022D0 (en) * 1997-07-18 1997-09-24 Renishaw Plc Frequency stabilised laser diode
DE19751817A1 (de) * 1997-11-21 1999-05-27 Kalle Pentaplast Gmbh Verfahren zur kontinuierlichen Steuerung des Schrumpfes einer amorphen Folie und eine Anordnung hierfür
JPH11351970A (ja) * 1998-06-10 1999-12-24 Fujitsu Ltd 波長検出デバイス
US6483956B1 (en) * 1999-08-13 2002-11-19 California Institute Of Technology Fiber frequency locker
SG93289A1 (en) 1999-12-27 2002-12-17 Toda Kogyo Corp Magnetic recording medium and process for producing the same
US6821618B2 (en) 2000-12-22 2004-11-23 Toda Kogyo Corporation Magnetic recording medium and process for producing the same
JP3794552B2 (ja) * 2001-03-09 2006-07-05 古河電気工業株式会社 光モジュール、光送信器及び光モジュールの製造方法
DE102010023605B4 (de) * 2010-06-12 2015-08-20 Wenglor Sensoric Gmbh Lichtschranke
WO2014203110A1 (en) * 2013-06-19 2014-12-24 Primesense Ltd. Integrated structured-light projector
DE102014011954B4 (de) * 2013-08-28 2024-12-24 Jenoptik Optical Systems Gmbh Vorrichtung zur Messung einer Leistungsdichteverteilung einer Strahlungsquelle
KR102759963B1 (ko) 2015-09-03 2025-02-03 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. 빔 분할 장치
US10153614B1 (en) 2017-08-31 2018-12-11 Apple Inc. Creating arbitrary patterns on a 2-D uniform grid VCSEL array

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4823690B1 (ja) * 1963-09-03 1973-07-16
GB1218813A (en) * 1967-08-23 1971-01-13 Rca Corporatio Formerly Radio Speckle-free hologram recording apparatus
US3588738A (en) * 1968-09-03 1971-06-28 Hughes Aircraft Co Frequency stabilized laser
US3701042A (en) * 1970-02-03 1972-10-24 Hewlett Packard Co D. c. motor circuit for rotating a polarizer and providing a detector synchronizer signal for a laser stabilizing system
DD95123A1 (ja) * 1972-01-27 1973-01-12
GB1448676A (en) * 1973-01-12 1976-09-08 Secretary Industry Brit Stabilised laser
JPS5269378A (en) * 1975-12-05 1977-06-09 Hitachi Ltd Magnetic optical photometer
US4139257A (en) * 1976-09-28 1979-02-13 Canon Kabushiki Kaisha Synchronizing signal generator
US4134679A (en) * 1976-11-05 1979-01-16 Leeds & Northrup Company Determining the volume and the volume distribution of suspended small particles
JPS55101922A (en) * 1979-01-31 1980-08-04 Canon Inc Light splitter
US4314211A (en) * 1980-01-24 1982-02-02 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Servo-controlled optical length of mode-locked lasers
US4474467A (en) * 1981-12-28 1984-10-02 Itek Corporation Wavefront sensor using a surface acoustic wave diffraction grating

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0728626U (ja) * 1993-11-05 1995-05-30 アロン化成株式会社 彎曲管の製造装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP0091068A1 (de) 1983-10-12
DE3361385D1 (en) 1986-01-16
US4547664A (en) 1985-10-15
DE3212809A1 (de) 1983-10-13
JPS58184518A (ja) 1983-10-28
EP0091068B1 (de) 1985-12-04
DE3212809C2 (de) 1984-12-20

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