JPH0531228U - 半導体パツケージモールドのゲートブレイク装置 - Google Patents

半導体パツケージモールドのゲートブレイク装置

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JPH0531228U
JPH0531228U JP8814491U JP8814491U JPH0531228U JP H0531228 U JPH0531228 U JP H0531228U JP 8814491 U JP8814491 U JP 8814491U JP 8814491 U JP8814491 U JP 8814491U JP H0531228 U JPH0531228 U JP H0531228U
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JP
Japan
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gate
semiconductor package
pedestal
punch
package mold
Prior art date
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Pending
Application number
JP8814491U
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English (en)
Inventor
克樹 中庭
信一 浅野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsumi Electric Co Ltd
Original Assignee
Mitsumi Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0531228U publication Critical patent/JPH0531228U/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】リードフレームにゲート部が残留するのを防止
して、製品歩留を向上させることができると共に、モー
ルド工程以降の製造工程への不具合を回避することがで
きる、半導体パッケージモールドのゲートブレイク装置
を提供する。 【構成】パッケージ11a,11bを下方から支える受
け台13と、この受け台13上にパッケージ11a,1
1bを支持した状態でカル部15を下方へ打ち込むパン
チ16とを備えた半導体パッケージモールドのゲートブ
レイク装置10において、上記受け台13を上記パンチ
16の打撃時に所定の角度まで内側下方へに傾斜するよ
うに形成したものである。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、半導体パッケージモールドのゲートブレイク装置に係り、特に半導 体パッケージを下方から支える受け台の構造を改良した半導体パッケージモール ドのゲートブレイク装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般に、半導体の製造は、例えば、ダイボンダーでリードフレーム上等に半導 体チップを搭載するダイボンド工程と、キュア炉内で接着剤を硬化させる接着剤 硬化工程と、ワイヤーボンダーで半導体チップにワイヤーボンディングを行うワ イヤーボンド工程と、モールド装置でワイヤーごと半導体チップの樹脂封止を行 うモールド工程とを順に経て成されている。
【0003】 その内、上記モールド工程は、上述のようにモールド装置でワイヤーごと半導 体チップの樹脂封止を行っている。その際、上記モールド装置には、端子成形前 の平板状のリードフレーム上にその長手方向に沿って複数の半導体チップを搭載 したものが二列で、上記ワイヤーボンド工程から移送されて来る。そして、これ ら二列のリードフレーム上に搭載された半導体チップを、例えば、一列について 三個ずつ、計六個の半導体チップの樹脂封止を同時に行っている。
【0004】 すなわち、二列のリードフレーム上に搭載された複数の半導体チップを、複数 の注入口を有する成形型内に収容し、一つの注入口からの樹脂射出により同時に 六個の半導体チップを樹脂モールドしている。従って、上記成形型の注入口は二 列のリードフレームの間に位置され、該成形型内には上記注入口から六個の半導 体チップに連通する分岐路が形成されている。
【0005】 このようにして、半導体チップの樹脂モールドが完了すると、図4に示されて いるように、二列のリードフレーム1a,1bの間には、上記分岐路に相当する 部分に樹脂が残留したゲート部2と、上記注入口に相当する部分に樹脂が残留し たカル部3とが形成されている。従って、樹脂モールドの後処理として上記ゲー ト部2及びカル部3を除去する必要がある。
【0006】 従来、上記ゲート部2及びカル部3を除去するための半導体パッケージモール ドのゲートブレイク装置4は、上記図4に示したように構成されていた。すなわ ち、上記ゲートブレイク装置4は、上記樹脂モールドされた半導体チップ(以下 、「パッケージ」という。)5を下方から支える固定式受け台6と、該受け台6 上にパッケージ5を支持した状態で上記カル部3を下方へ打ち込むパンチ7とを 備えている。上記ゲート部2はカル部3と一体成形されているので、上記パンチ 7の打撃により上記ゲート部2及びカル部3を除去することができるものである 。
【0007】
【考案が解決しようとする課題】
ところで、上述のような半導体パッケージモールドのゲートブレイク装置4に あっては、上記受け台6が固定式であるため、図5に示されているように、リー ドフレーム1a,1bの縁部にゲート部2の一部が残留することがあり、製品歩 留の低下や、モールド工程以降の製造工程に不具合を来すという問題があった。
【0008】 本考案の目的は、上記課題に鑑み、リードフレームにゲート部が残留するのを 防止して、製品歩留を向上させることができると共に、モールド工程以降の製造 工程への不具合を回避することができる、半導体パッケージモールドのゲートブ レイク装置を提供するにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的は、本考案に係る半導体パッケージモールドのゲートブレイク装置に よれば、パッケージを下方から支える受け台と、該受け台上にパッケージを支持 した状態でカル部を下方へ打ち込むパンチとを備えた半導体パッケージモールド のゲートブレイク装置において、上記受け台を上記パンチの打撃時に所定の角度 まで内側下方へと傾斜するように形成したことにより、達成される。
【0010】
【作用】
上記構成によれば、上記パッケージを下方から支える受け台が、上記パンチの 打撃時に所定の角度まで内側下方へに傾斜するように形成されている。
【0011】 従って、上記パンチでカル部を下方へ打ち込むと、その打撃時に上記リードフ レームがゲート部に対して屈曲した状態になる。すなわち、カル部を含むゲート 部から上記リードフレームが剥がれるような状態で、上記パンチにより衝撃を受 けることになり、上記ゲート部がリードフレームに残留するのが確実に防止され る。
【0012】 このように、リードフレームにゲート部が残留するのを防止することができる ので、製品歩留を向上させることができると共に、モールド工程以降の製造工程 への不具合を回避することができるものである。
【0013】
【実施例】
以下、本発明に係る半導体パッケージモールドのゲートブレイク装置の好適一 実施例を添付図面に基づいて詳細に説明する。
【0014】 図1に示されているように、本実施例の半導体パッケージモールドのゲートブ レイク装置10は、従来同様に、樹脂モールドが完了してパッケージ11a,1 1bが形成された二列のリードフレーム12a,12bの上下に位置されている 。すなわち、上記パッケージ11a,11bは、下方から受け台13によってそ れぞれ支持されている。また、上記二列のリードフレーム12a,12bの間に は、ゲート部14及びカル部15が一体成形されており、該カル部15の上方に はパンチ16が位置されている。
【0015】 このパンチ16は、従来の装置と同様の構成で形成されており、図示しない昇 降手段により、上記ゲート部14及びカル部15を下方へ打ち込むように成って いる。そして、このパンチ16は、上記二列のリードフレーム12a,12bに 均等に衝撃を与えるために、上記カル部15と略同軸上に設けられている。
【0016】 また、上記受け台13は、その横断面がコ字状を呈するように形成されており 、その長手方向の長さは上記リードフレーム12a,12bと同等の長さに形成 されている。すなわち、これらリードフレーム12a,12bにそれぞれの長手 方向に沿って形成された複数のパッケージ11a,11bを下方から支持するに 充分な長さを有している。
【0017】 さらに、上記受け台13の上部隅部には、長手方向に沿って回動軸17が設け られている。該受け台13の上片13aは、図2に示されているように、上記パ ンチ16の打撃時に、この回動軸17により下方へ傾斜するように成っている。 この受け台13の上片13aを内側下方へ傾斜させるため、該受け台13はその コ字状の開部側を相対向させるように上記二列のリードフレーム12a,12b 下にそれぞれ位置されている。そして、上記受け台13の上片13aと下片13 bとの間には、上記パンチ16の打撃時に下方へ傾斜した上片13aを初期状態 に復元するためのバネ等の付勢部材18が介設されている。
【0018】 次に、上記実施例における作用を述べる。 上述したように、上記パッケージ11a,11bを下方から支える受け台13 が、上記パンチ16の打撃時に所定の角度まで内側下方へに傾斜するように形成 されている。この所定の角度とは、カル部15を含むゲート部14から上記リー ドフレーム12a,12bが剥がれるのに適した角度をいう。
【0019】 従って、図2に示したように、上記パンチ16でカル部15を下方へ打ち込む と、その打撃時に上記リードフレーム12a,12bがゲート部14に対して屈 曲した状態になる。すなわち、カル部15を含むゲート部14から上記リードフ レーム12a,12bが剥がれるような状態で、上記パンチ16により衝撃を受 けることになり、図3に示されているように、上記ゲート部15がリードフレー ム12a,12bに残留するのが確実に防止される。
【0020】 このように、リードフレーム12a,12bにゲート部15が残留するのを防 止することができるので、上記パッケージ11a,11bに割れ等の欠陥が生じ ることなく製品歩留を向上させることができ、又、モールド工程以降の製造工程 への不具合を有効に回避することができるものである。
【0021】
【考案の効果】
以上述べたように本考案に係る半導体パッケージモールドのゲートブレイク装 置によれば、リードフレームにゲート部が残留するのを防止して、製品歩留を向 上させることができると共に、モールド工程以降の製造工程への不具合を回避す ることができる、という優れた効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案に係る半導体パッケージモールドのゲー
トブレイク装置の一実施例を示す側面図である。
【図2】本考案に係る半導体パッケージモールドのゲー
トブレイク装置の一実施例における、パンチ打撃時の状
態を示す側面図である。
【図3】本考案に係る半導体パッケージモールドのゲー
トブレイク装置によりゲート部及びカル部を除去したリ
ードフレームの状況を示す平面図である。
【図4】従来の半導体パッケージモールドのゲートブレ
イク装置の一例を示す側面図である。
【図5】従来の半導体パッケージモールドのゲートブレ
イク装置によりゲート部及びカル部を除去したリードフ
レームの状況を示す平面図である。
【符号の説明】
10 ゲートブレイク装置 11a,11b パッケージ 12a,12b リードフレーム 13 受け台 14 ゲート部 15 カル部 16 パンチ

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パッケージを下方から支える受け台と、
    該受け台上にパッケージを支持した状態でカル部を下方
    へ打ち込むパンチとを備えた半導体パッケージモールド
    のゲートブレイク装置において、上記受け台を上記パン
    チの打撃時に所定の角度まで内側下方へと傾斜するよう
    に形成したことを特徴とする、半導体パッケージモール
    ドのゲートブレイク装置。
JP8814491U 1991-10-01 1991-10-01 半導体パツケージモールドのゲートブレイク装置 Pending JPH0531228U (ja)

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JP8814491U JPH0531228U (ja) 1991-10-01 1991-10-01 半導体パツケージモールドのゲートブレイク装置

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JP8814491U JPH0531228U (ja) 1991-10-01 1991-10-01 半導体パツケージモールドのゲートブレイク装置

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JPH0531228U true JPH0531228U (ja) 1993-04-23

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ID=13934743

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JP8814491U Pending JPH0531228U (ja) 1991-10-01 1991-10-01 半導体パツケージモールドのゲートブレイク装置

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