JPH0531549Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔考案の目的〕 （産業上の利用分野） 本考案は表面が絶縁された金属材料などの引張
破断試験に使用される試験片破断検出装置に関す
る。

（従来の技術） 金属材料の試験方法の一つに引張破断試験があ
る。

この引張破断試験は試験片の両端を材料試験機
のチヤツクで把持し、これらのチヤツク間に引張
力を作用させて試験片が破断する引張力を測定記
録するもので、試験片の破断の検出は電流を利用
した試験片破断検出装置によつて行なわれること
が多い。すなわち、試験片に対して複数の接触子
を所定距離をおいて取付け、かつ試験片に電流を
流しておき、試験片破断による電流切れによつて
試験片の破断をこれらの接触子を介して検出する
ようにしている。

上述した従来の試験片破断検出装置は試験片が
裸の金属材料の場合には何等の問題もなく実施で
きるが、試験片の表面に酸化膜などの絶縁被膜が
形成されている場合には、接触子と試験片の導電
部分の間が絶縁被膜によつて絶縁されるため、電
流によつて試験片の破断を検出することができな
い。

（考案が解決しようとする問題点） このような場合には接触子が取付けられる試験
片の表面の絶縁被膜を予め剥離しておかねばなら
ず、手間がかかる上、絶縁被膜の剥離時に試験片
に傷をつけ、引張破断試験値に誤差を発生させる
という問題点があつた。

〔考案の構成〕

（問題点を解決するための手段） 本考案の試験片破断検出装置は背景技術におけ
る上述のごとき欠点を除去すべくなされたもの
で、材料試験機のチヤツク間に取付けられた絶縁
被膜を有する導電性試験片に所定の間隔をおいて
取付けられた接触子と、これらの接触子に、前記
試験片の絶縁被膜を破壊するに足りる高電圧を印
加すると共に前記絶縁被膜の破壊は前記試験片に
低電流を流す電源および電気回路と、前記試験片
の破断によつて電流が零になると出力を生ずる破
断検出器とを具備することを特徴とする。

（作用） 上述のように構成した本考案の試験片破断検出
装置によれば、最初に電気回路からの高電圧によ
つて試験片の絶縁被膜が破壊され、これらの破壊
点を通して接触子と試験片の間の通電が可能とな
る。この通電に伴い接触子間の電圧は低電圧に降
下し、回路は安全状態に保たれる。従つて、この
試験片電流の切断を破断検出器によつて検出する
ことにより試験片の破断を検出できる。

（実施例） 以下、図面を参照して本考案の実施例を説明す
る。

図において、金属材料の表面に酸化膜などの絶
縁被膜１を有する試験片２は材料試験機のチヤツ
ク３，４間に必要に応じて絶縁物（図示せず）を
介して把持される。

この試験片には接触子５，６が所定距離をおい
て取付けられる。これらの接触子５，６はリード
線７，８を介して漏洩トランス９の２次側に接続
されており、また、一方、リード線８の途中に
は、２次側電流が零になつた際に、出力信号を生
ずる破断検出器１０が介挿されている。漏洩トラ
ンス９の１次側には電源１１が接続されている。

上述のように構成した本考案の試験片破断検出
装置において、電源１１の電圧を漏洩トランス９
に印加した試験開始直後には、漏洩トランス９の
２次側は接触子５，６と試験片２の間に介在する
絶縁被膜１により閉ループとはならず、２次側電
流は流れないが、破断検出器１０は信号が出力さ
れないよう図示しない回路によりインタロツクさ
れ、かつ漏洩トランス９の特性としてその２次側
電圧が高くなり、この高電圧によつて接触子５，
６と試験片２の間に介在する絶縁被膜１は破壊さ
れ導通する。

それと共に漏洩磁束が増加し、２次側は低電圧
に降下し、回路は安全状態に保たれ、かつ破断検
出器１０のインタロツクが解除される。

この状態で、従来と同様に材料試験機を作動さ
せてチヤツク３，４間に引張力を作用させ、試験
片を破断させる。

試験片２が破断すると、それまで閉ループを構
成した漏洩トランスの２次側回路がオープンとな
り２次側電流が零となるので、破断検出器１０か
ら破断検出信号が出力され、試験片の破断を報知
する。

なお、以上の説明では高電圧の発生および電流
制限用の電気回路として漏洩トランスを用いる例
につき述べたが、本考案はこれに限定されるもの
ではなく、例えば電源として直流電源を使用し、
漏洩トランス９に替えて高い電圧降下用抵抗を有
する抵抗回路を使用し、絶縁被膜の破壊までは絶
縁被膜に高電圧が作用し、絶縁被膜の破壊通電後
は試験片２に流れる電流が低い値に保たれるよう
にしてもよい。

〔考案の効果〕

上述のように、本考案の試験片破断検出装置に
おいては、試験片が表面に絶縁被膜を有する導電
材料の場合であつても電源の投入当初に発生する
高電圧によつて絶縁被膜を破壊し、そこを通して
試験片に通電することができる。

従つて、絶縁被膜を剥離する工程を省略するこ
とができ、試験能率を向上させることができる
上、絶縁被膜剥離時に試験片に傷を与えて試験片
の引張強さなどを狂わせる恐れを回避できる。

【図面の簡単な説明】

図は本考案の試験片破断検出装置の実施例を示
す回路図である。 １……絶縁被膜、２……試験片、３，４……チ
ヤツク、５，６……接触子、７，８……リード
線、９……漏洩トランス、１０……破断検出器、
１１……電源。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 １ 材料試験機のチヤツク間に取付けられた絶縁
   被膜を有する導電性試験片に所定の間隔をおい
   て取付けられた接触子と；これらの接触子に、
   前記試験片の絶縁被膜を破壊するに足りる高電
   圧を印加すると共に前記絶縁被膜の破壊後には
   前記試験片に低電流を流す電源および電気回路
   と；前記試験片の破断によつて電流が零になる
   と出力を生ずる破断検出器と；を具備すること
   を特徴とする試験片破断検出装置。 ２ 電気回路が漏洩トランスからなることを特徴
   とする実用新案登録請求の範囲第１項記載の試
   験片破断検出装置。 ３ 電気回路が抵抗回路からなることを特徴とす
   る実用新案登録請求の範囲第１項記載の試験片
   破断検出装置。