JPH05322700A - 液晶パネルの検査装置 - Google Patents
液晶パネルの検査装置Info
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- JPH05322700A JPH05322700A JP15454092A JP15454092A JPH05322700A JP H05322700 A JPH05322700 A JP H05322700A JP 15454092 A JP15454092 A JP 15454092A JP 15454092 A JP15454092 A JP 15454092A JP H05322700 A JPH05322700 A JP H05322700A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 電気信号処理技術を用いて液晶パネルの画像
表示機能の適否を自動的に検査することにより、検査者
の肉体的，心理的疲労を除去し、多数の液晶パネルに対
しても信頼性が高い検査を行なう。 【構成】 検査対象の液晶パネル10を構成する全画素1
1, 11, …を光通過または光遮断の状態に制御し、点光
源１からレンズ２を介して平行光を液晶パネル10に照射
し、液晶パネル10を通過した光を光電変換器４にて電気
信号に変換し、その電気信号の特定周波数成分に着目し
て判定部５にて液晶パネル10の光通過性能，光遮断性能
を判定し、画像表示機能の適否を検査する。
表示機能の適否を自動的に検査することにより、検査者
の肉体的，心理的疲労を除去し、多数の液晶パネルに対
しても信頼性が高い検査を行なう。 【構成】 検査対象の液晶パネル10を構成する全画素1
1, 11, …を光通過または光遮断の状態に制御し、点光
源１からレンズ２を介して平行光を液晶パネル10に照射
し、液晶パネル10を通過した光を光電変換器４にて電気
信号に変換し、その電気信号の特定周波数成分に着目し
て判定部５にて液晶パネル10の光通過性能，光遮断性能
を判定し、画像表示機能の適否を検査する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、画像表示機能を有する
液晶パネルの表示機能を検査する装置に関し、特に、液
晶パネルを構成する全画素における光通過性能，光遮断
性能を検査する液晶パネルの検査装置に関するものであ
る。
液晶パネルの表示機能を検査する装置に関し、特に、液
晶パネルを構成する全画素における光通過性能，光遮断
性能を検査する液晶パネルの検査装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】多数の画素をマトリックス状に配設した
液晶パネルにあっては、従来、以下に述べるような手順
の目視検査によって画像表示機能の適否を検査してい
る。液晶パネルに制御信号を印加して液晶パネルの全画
素が光通過状態になるように制御しておいて、液晶パネ
ルに可視光線を照射し、液晶パネルを構成する全画素が
一様にその光線を通過させているか否かを目視検査によ
り判定する。続いて、液晶パネルに制御信号を印加して
液晶パネルの全画素が光遮断状態になるように制御して
おいて、液晶パネルに可視光線を照射し、液晶パネルを
構成する全画素が一様にその光線を遮断させているか否
かを目視検査により判定する。
液晶パネルにあっては、従来、以下に述べるような手順
の目視検査によって画像表示機能の適否を検査してい
る。液晶パネルに制御信号を印加して液晶パネルの全画
素が光通過状態になるように制御しておいて、液晶パネ
ルに可視光線を照射し、液晶パネルを構成する全画素が
一様にその光線を通過させているか否かを目視検査によ
り判定する。続いて、液晶パネルに制御信号を印加して
液晶パネルの全画素が光遮断状態になるように制御して
おいて、液晶パネルに可視光線を照射し、液晶パネルを
構成する全画素が一様にその光線を遮断させているか否
かを目視検査により判定する。
【０００３】なお、投射型テレビ用液晶パネルのような
小型の液晶パネルに対しては、レンズを含む光学系を用
いて可視光線を拡大照射し、同様の目視検査により画像
表示機能の適否を検査している。
小型の液晶パネルに対しては、レンズを含む光学系を用
いて可視光線を拡大照射し、同様の目視検査により画像
表示機能の適否を検査している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述したような目視検
査による従来の検査方法は、少数の検査対象のサンプル
（液晶パネル）に時間をかけて検査する場合には、必要
な設備構成が簡便であること、液晶パネルのサイズ変更
への対応が容易であること等を考えると、最も合理的な
検査方法であると言える。
査による従来の検査方法は、少数の検査対象のサンプル
（液晶パネル）に時間をかけて検査する場合には、必要
な設備構成が簡便であること、液晶パネルのサイズ変更
への対応が容易であること等を考えると、最も合理的な
検査方法であると言える。
【０００５】しかしながら、多数のサンプルの検査が必
要である場合には、検査場所が暗室内に限定されている
という状況を考えると、目視検査の検査者の肉体的，心
理的疲労は甚大となり、この結果、検査が長時間にわた
ると時間の経過と共に目視検査の信頼性が低下するとい
う問題点がある。
要である場合には、検査場所が暗室内に限定されている
という状況を考えると、目視検査の検査者の肉体的，心
理的疲労は甚大となり、この結果、検査が長時間にわた
ると時間の経過と共に目視検査の信頼性が低下するとい
う問題点がある。
【０００６】本発明は斯かる事情に鑑みてなされたもの
であり、電気信号処理技術を用いて液晶パネルの画像表
示機能の適否を自動的に検査することができ、検査者の
肉体的，心理的苦痛を除去し、多数の液晶パネルに対し
ても信頼性が高い検査を行なうことができる液晶パネル
の検査装置を提供することを目的とする。
であり、電気信号処理技術を用いて液晶パネルの画像表
示機能の適否を自動的に検査することができ、検査者の
肉体的，心理的苦痛を除去し、多数の液晶パネルに対し
ても信頼性が高い検査を行なうことができる液晶パネル
の検査装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明に係る液晶パネル
の検査装置は、複数の画素を有する液晶パネルの表示機
能を検査する装置において、前記液晶パネルの全画素を
光通過，光遮断の各状態に制御する制御手段と、前記液
晶パネルに光を照射する光源と、前記液晶パネルを通過
後の光を電気信号に変換する光電変換手段と、該光電変
換手段にて得られる電気信号の周波数成分を検出し、そ
の電気信号における特定の周波数成分の有無に基づいて
前記液晶パネルの表示機能を検査する検査手段とを備え
たことを特徴とする。
の検査装置は、複数の画素を有する液晶パネルの表示機
能を検査する装置において、前記液晶パネルの全画素を
光通過，光遮断の各状態に制御する制御手段と、前記液
晶パネルに光を照射する光源と、前記液晶パネルを通過
後の光を電気信号に変換する光電変換手段と、該光電変
換手段にて得られる電気信号の周波数成分を検出し、そ
の電気信号における特定の周波数成分の有無に基づいて
前記液晶パネルの表示機能を検査する検査手段とを備え
たことを特徴とする。
【０００８】
【作用】本発明の液晶パネルの検査装置では、検査対象
の液晶パネルを構成する全画素を光通過，光遮断の状態
に制御し、光源から光を液晶パネルに照射し、液晶パネ
ルを通過した光を光電変換手段にて受光して電気信号に
変換し、その電気信号の特定周波数成分に着目して液晶
パネルの光通過性能，光遮断性能を判定し、画像表示機
能の適否を検査する。このように本発明では、目視検査
による人的な判断を加えることなく、光電変換手段から
の電気信号に基づいて画像表示機能の適否の検査を自動
的に行なう。
の液晶パネルを構成する全画素を光通過，光遮断の状態
に制御し、光源から光を液晶パネルに照射し、液晶パネ
ルを通過した光を光電変換手段にて受光して電気信号に
変換し、その電気信号の特定周波数成分に着目して液晶
パネルの光通過性能，光遮断性能を判定し、画像表示機
能の適否を検査する。このように本発明では、目視検査
による人的な判断を加えることなく、光電変換手段から
の電気信号に基づいて画像表示機能の適否の検査を自動
的に行なう。
【０００９】
【実施例】以下、本発明をその実施例を示す図面に基づ
いて具体的に説明する。
いて具体的に説明する。
【００１０】図１は、本発明に係る液晶パネルの検査装
置の構成を示す模式図である。図１において10は、多数
の画素11, 11, …をマトリクックス状に配設させてなる
検査対象の液晶パネルである。液晶パネル10の光入力側
には点光源１が設けられ、点光源１と液晶パネル10との
間にはレンズ２が設けられている。レンズ２の焦点に点
光源１が位置決めされており、点光源１から出射された
光がレンズ２により平行光となって液晶パネル10に照射
されるようになっている。また、液晶パネル10の光出力
側には、液晶パネル10を通過した光を受光する光電変換
器４が設けられており、液晶パネル10と光電変換器４と
の間には液晶パネル10を通過した光を光電変換器４に集
光させるための集光レンズ３が設けられている。光電変
換器４は、液晶パネル10を通過した光を電気信号に変換
し、変換した電気信号を判定部５へ出力する。判定部５
は、光電変換器４からの電気信号に基づいて液晶パネル
10の光通過性能, 光遮断性能の適否を判定し、その判定
結果を表示部６へ出力する。表示部６はその判定結果を
表示する。また、７は各部材の動作を制御すべく各部材
に制御信号を出力する制御信号発生部である。制御信号
発生部７は４種の制御信号を液晶パネル10, 光電変換器
４, 判定部５, 表示部６へ各別に出力する。制御信号発
生部７は、液晶パネル10の全画素が光通過, 光遮断の２
つの状態の何れかを取り得るように制御するための制御
信号を液晶パネル10へ出力する。また、制御信号発生部
７は、光エネルギを電気エネルギに変換する変換動作を
制御するための制御信号を光電変換器４へ出力する。更
に、制御信号発生部７は、光通過性能, 光遮断性能の適
否を判定する判定動作を制御するための制御信号を判定
部５へ出力し、判定結果を表示する表示動作を制御する
ための制御信号を表示部６へ出力する。なお、光を取り
扱う部材（点光源１，レンズ２，集光レンズ３，光電変
換器４，液晶パネル10）は、正確な検査を行なうために
暗箱の中に収納しておき、外部の不要な光線の侵入を防
止する。
置の構成を示す模式図である。図１において10は、多数
の画素11, 11, …をマトリクックス状に配設させてなる
検査対象の液晶パネルである。液晶パネル10の光入力側
には点光源１が設けられ、点光源１と液晶パネル10との
間にはレンズ２が設けられている。レンズ２の焦点に点
光源１が位置決めされており、点光源１から出射された
光がレンズ２により平行光となって液晶パネル10に照射
されるようになっている。また、液晶パネル10の光出力
側には、液晶パネル10を通過した光を受光する光電変換
器４が設けられており、液晶パネル10と光電変換器４と
の間には液晶パネル10を通過した光を光電変換器４に集
光させるための集光レンズ３が設けられている。光電変
換器４は、液晶パネル10を通過した光を電気信号に変換
し、変換した電気信号を判定部５へ出力する。判定部５
は、光電変換器４からの電気信号に基づいて液晶パネル
10の光通過性能, 光遮断性能の適否を判定し、その判定
結果を表示部６へ出力する。表示部６はその判定結果を
表示する。また、７は各部材の動作を制御すべく各部材
に制御信号を出力する制御信号発生部である。制御信号
発生部７は４種の制御信号を液晶パネル10, 光電変換器
４, 判定部５, 表示部６へ各別に出力する。制御信号発
生部７は、液晶パネル10の全画素が光通過, 光遮断の２
つの状態の何れかを取り得るように制御するための制御
信号を液晶パネル10へ出力する。また、制御信号発生部
７は、光エネルギを電気エネルギに変換する変換動作を
制御するための制御信号を光電変換器４へ出力する。更
に、制御信号発生部７は、光通過性能, 光遮断性能の適
否を判定する判定動作を制御するための制御信号を判定
部５へ出力し、判定結果を表示する表示動作を制御する
ための制御信号を表示部６へ出力する。なお、光を取り
扱う部材（点光源１，レンズ２，集光レンズ３，光電変
換器４，液晶パネル10）は、正確な検査を行なうために
暗箱の中に収納しておき、外部の不要な光線の侵入を防
止する。
【００１１】また、図２は図１の判定部５の内部構成を
示すブロック図である。図中51は入力される光電変換器
４からのアナログの電気信号を例えば８ビットのディジ
タル信号に変換するＡ／Ｄ変換器であり、Ａ／Ｄ変換器
51は変換したディジタル信号をメモリ52へ出力する。メ
モリ52は、このディジタル信号を記憶し、必要に応じて
記憶内容がＤ／Ａ変換器53に読み出される。Ｄ／Ａ変換
器53はメモリ52からの出力ディジタル信号をアナログ信
号に変換してコンパレータ54へ出力する。コンパレータ
54は、Ｄ／Ａ変換器53からの出力とレベル信号発生器57
からの出力とをレベル比較し、その比較結果をバンドパ
スフィルタ55へ出力する。バンドパスフィルタ55は、コ
ンパレータ54からの出力の中から所定の周波数帯域の信
号のみを通過させて適否判定器56へ出力する。適否判定
器56は、バンドパスフィルタ55の出力の有無（または電
圧値の大小）に基づいて、液晶パネル10における光通過
性能, 光遮断性能の適否を判定し、判定結果を表示部６
へ出力する。
示すブロック図である。図中51は入力される光電変換器
４からのアナログの電気信号を例えば８ビットのディジ
タル信号に変換するＡ／Ｄ変換器であり、Ａ／Ｄ変換器
51は変換したディジタル信号をメモリ52へ出力する。メ
モリ52は、このディジタル信号を記憶し、必要に応じて
記憶内容がＤ／Ａ変換器53に読み出される。Ｄ／Ａ変換
器53はメモリ52からの出力ディジタル信号をアナログ信
号に変換してコンパレータ54へ出力する。コンパレータ
54は、Ｄ／Ａ変換器53からの出力とレベル信号発生器57
からの出力とをレベル比較し、その比較結果をバンドパ
スフィルタ55へ出力する。バンドパスフィルタ55は、コ
ンパレータ54からの出力の中から所定の周波数帯域の信
号のみを通過させて適否判定器56へ出力する。適否判定
器56は、バンドパスフィルタ55の出力の有無（または電
圧値の大小）に基づいて、液晶パネル10における光通過
性能, 光遮断性能の適否を判定し、判定結果を表示部６
へ出力する。
【００１２】次に、このような構成を有する検査装置を
用いた検査方法の動作について説明する。検査として
は、液晶パネル10の光通過性能を検査する通過特性検査
と液晶パネル10の光遮断性能を検査する遮断特性検査と
の２つの検査がある。まず、通過特性検査について説明
する。
用いた検査方法の動作について説明する。検査として
は、液晶パネル10の光通過性能を検査する通過特性検査
と液晶パネル10の光遮断性能を検査する遮断特性検査と
の２つの検査がある。まず、通過特性検査について説明
する。
【００１３】まず、制御信号発生部７から液晶パネル10
に制御信号を出力して、液晶パネル10の全画素11, 11,
…を光通過状態にする。点光源１からの出射光をレンズ
２にて平行光にし、その平行光を液晶パネル10に照射す
る。液晶パネル10を通過した光を集光レンズ３にて光電
変換器４へ集光させ、光電変換器４にてその入射光をエ
ネルギに応じて電気信号に変換させて、その電気信号を
判定部５へ出力する。
に制御信号を出力して、液晶パネル10の全画素11, 11,
…を光通過状態にする。点光源１からの出射光をレンズ
２にて平行光にし、その平行光を液晶パネル10に照射す
る。液晶パネル10を通過した光を集光レンズ３にて光電
変換器４へ集光させ、光電変換器４にてその入射光をエ
ネルギに応じて電気信号に変換させて、その電気信号を
判定部５へ出力する。
【００１４】判定部５に入力された電気信号を、Ａ／Ｄ
変換器51にてディジタル変換した後にメモリ52に記憶す
る。液晶パネル10の全画素11, 11, …におけるディジタ
ルの電気信号をメモリ52に記憶する。全ての画素におけ
る記憶処理が終了した後、メモリ52の記憶内容を一定間
隔のタイミングにて読み出し、Ｄ／Ａ変換器53にてアナ
ログ変換する。コンパレータ54にて、Ｄ／Ａ変換器53の
出力とレベル信号発生器57の出力とが比較され、その比
較結果がバンドパスフィルタ55ヘ出力される。
変換器51にてディジタル変換した後にメモリ52に記憶す
る。液晶パネル10の全画素11, 11, …におけるディジタ
ルの電気信号をメモリ52に記憶する。全ての画素におけ
る記憶処理が終了した後、メモリ52の記憶内容を一定間
隔のタイミングにて読み出し、Ｄ／Ａ変換器53にてアナ
ログ変換する。コンパレータ54にて、Ｄ／Ａ変換器53の
出力とレベル信号発生器57の出力とが比較され、その比
較結果がバンドパスフィルタ55ヘ出力される。
【００１５】液晶パネル10の全画素11, 11, …に欠陥が
なくすべてが光通過状態になっている場合には、各画素
に対応するメモリ52の全アドレスに電気信号が記憶され
ているので、コンパレータ54の出力波形は図３(a) のよ
うになる。図３(a) における波形を周波数領域で見る
と、DC成分とメモリ読み出しタイミングの基本周波数及
びその高調波成分とからなる。この場合には、バンドパ
スフィルタ55から電気信号が適否判定器56に出力されな
い。
なくすべてが光通過状態になっている場合には、各画素
に対応するメモリ52の全アドレスに電気信号が記憶され
ているので、コンパレータ54の出力波形は図３(a) のよ
うになる。図３(a) における波形を周波数領域で見る
と、DC成分とメモリ読み出しタイミングの基本周波数及
びその高調波成分とからなる。この場合には、バンドパ
スフィルタ55から電気信号が適否判定器56に出力されな
い。
【００１６】一方、液晶パネル10の何れかの画素11に欠
陥があってその部分では光が通過していない場合には、
その欠陥画素に対応するメモリ52のアドレスには電気信
号が記憶されていないので、コンパレータ54の出力波形
は、欠陥画素に対応した部分のパルスが欠落した図３
(b) のようになる。図３(b) に示す波形は、図３(c) と
図３(d) とに示す波形の和と考えられる。即ち、図３
(b) の波形の周波数成分は、図３(c) の波形の周波数成
分（欠陥がない場合の成分と同じ）に図３(d) の波形の
周波数成分（これは欠陥がないときの基本周波数成分よ
りも低い周波数成分を含む）を加えたものとなる。この
場合には、バンドパスフィルタ55から電気信号が適否判
定器56に出力される。
陥があってその部分では光が通過していない場合には、
その欠陥画素に対応するメモリ52のアドレスには電気信
号が記憶されていないので、コンパレータ54の出力波形
は、欠陥画素に対応した部分のパルスが欠落した図３
(b) のようになる。図３(b) に示す波形は、図３(c) と
図３(d) とに示す波形の和と考えられる。即ち、図３
(b) の波形の周波数成分は、図３(c) の波形の周波数成
分（欠陥がない場合の成分と同じ）に図３(d) の波形の
周波数成分（これは欠陥がないときの基本周波数成分よ
りも低い周波数成分を含む）を加えたものとなる。この
場合には、バンドパスフィルタ55から電気信号が適否判
定器56に出力される。
【００１７】適否判定器56にて、バンドパスフィルタ55
からの出力の有無により液晶パネル10の光通過性能の適
否が判定される。つまり、バンドパスフィルタ55から電
気信号が得られない場合にはその光通過性能は良好であ
ると判定され、一方、バンドパスフィルタ55から電気信
号が得られる場合にはその光通過性能は不良であると判
定される。そして、この判定結果が表示部６に出力され
て、表示部６に表示される。
からの出力の有無により液晶パネル10の光通過性能の適
否が判定される。つまり、バンドパスフィルタ55から電
気信号が得られない場合にはその光通過性能は良好であ
ると判定され、一方、バンドパスフィルタ55から電気信
号が得られる場合にはその光通過性能は不良であると判
定される。そして、この判定結果が表示部６に出力され
て、表示部６に表示される。
【００１８】次に、液晶パネル10の光遮断性能を検査す
る遮断特性検査の手順について説明する。制御信号発生
部７から液晶パネル10に制御信号を出力して、液晶パネ
ル10の全画素11, 11, …を光遮断状態にする。そして、
上述した透過特性検査と同様に、液晶パネル10に平行光
を照射してその通過光を光電変換器４にて電気信号に変
換し、その電気信号に基づいて光遮断性能を検査する。
る遮断特性検査の手順について説明する。制御信号発生
部７から液晶パネル10に制御信号を出力して、液晶パネ
ル10の全画素11, 11, …を光遮断状態にする。そして、
上述した透過特性検査と同様に、液晶パネル10に平行光
を照射してその通過光を光電変換器４にて電気信号に変
換し、その電気信号に基づいて光遮断性能を検査する。
【００１９】液晶パネル10の全画素11, 11, …に欠陥が
なくすべてが光透過状態になっている場合には、各画素
に対応するメモリ52の全アドレスに電気信号が記憶され
ず、メモリ52から電気信号は読み出されない（または零
が読み出される）。そして、コンパレータ54から負の出
力電圧が出されないようにしておけば、コンパレータ54
からの出力も零となる。この場合には、バンドパスフィ
ルタ55から電気信号が適否判定器56に出力されない。
なくすべてが光透過状態になっている場合には、各画素
に対応するメモリ52の全アドレスに電気信号が記憶され
ず、メモリ52から電気信号は読み出されない（または零
が読み出される）。そして、コンパレータ54から負の出
力電圧が出されないようにしておけば、コンパレータ54
からの出力も零となる。この場合には、バンドパスフィ
ルタ55から電気信号が適否判定器56に出力されない。
【００２０】一方、液晶パネル10の何れかの画素11に欠
陥があってその部分では光が通過している場合には、そ
の欠陥画素に対応するメモリ52のアドレスには電気信号
が記憶されているので、コンパレータ54に正の出力パル
スが発生する。この場合には、バンドパスフィルタ55か
ら電気信号が適否判定器56に出力される。
陥があってその部分では光が通過している場合には、そ
の欠陥画素に対応するメモリ52のアドレスには電気信号
が記憶されているので、コンパレータ54に正の出力パル
スが発生する。この場合には、バンドパスフィルタ55か
ら電気信号が適否判定器56に出力される。
【００２１】適否判定器56にて、バンドパスフィルタ55
からの出力の有無により液晶パネル10の光遮断性能の適
否が判定される。つまり、バンドパスフィルタ55から電
気信号が得られない場合にはその光遮断性能は良好であ
ると判定され、一方、バンドパスフィルタ55から電気信
号が得られる場合にはその光遮断性能は不良であると判
定される。そして、この判定結果が表示部６に出力され
て、表示部６に表示される。
からの出力の有無により液晶パネル10の光遮断性能の適
否が判定される。つまり、バンドパスフィルタ55から電
気信号が得られない場合にはその光遮断性能は良好であ
ると判定され、一方、バンドパスフィルタ55から電気信
号が得られる場合にはその光遮断性能は不良であると判
定される。そして、この判定結果が表示部６に出力され
て、表示部６に表示される。
【００２２】以上のように、本発明では、液晶パネル10
の検査開始の指示を検査者が行なうだけで、液晶パネル
10の画像表示機能（光通過性能，光遮断性能）を自動的
に行なうとができる。また、検査装置において光に関与
する部材のみを小型の暗箱に収納しておくことにより、
検査者は通常の明るさの部屋にて検査作業を行なうこと
ができ、従来の目視検査に比べて、作業環境が大幅に改
善され、検査作業が長時間にわたっても検査者の肉体
的，心理的疲労が大幅に軽減される。
の検査開始の指示を検査者が行なうだけで、液晶パネル
10の画像表示機能（光通過性能，光遮断性能）を自動的
に行なうとができる。また、検査装置において光に関与
する部材のみを小型の暗箱に収納しておくことにより、
検査者は通常の明るさの部屋にて検査作業を行なうこと
ができ、従来の目視検査に比べて、作業環境が大幅に改
善され、検査作業が長時間にわたっても検査者の肉体
的，心理的疲労が大幅に軽減される。
【００２３】なお、レベル信号発生器57にて発生される
信号のレベルを調整することにより、液晶パネル10の各
画素11, 11, …における中間程度の欠陥を検査すること
も可能である。
信号のレベルを調整することにより、液晶パネル10の各
画素11, 11, …における中間程度の欠陥を検査すること
も可能である。
【００２４】また、検査対象の液晶パネル10の装着, 脱
着処理を自動的に行なう機構を設ければ、全自動検査シ
ステムの構築も可能である。
着処理を自動的に行なう機構を設ければ、全自動検査シ
ステムの構築も可能である。
【００２５】更に、光電変換器４にメモリ機能を持たせ
る場合には、電気信号を記憶しておくメモリ52を判定部
５内に設けておく必要はない。
る場合には、電気信号を記憶しておくメモリ52を判定部
５内に設けておく必要はない。
【００２６】
【発明の効果】以上のように本発明の液晶パネルの検査
装置では、液晶パネルの画像表示機能（光通過性能，光
遮断性能）の適否の検査を自動的に行なうことができ、
検査者の肉体的，心理的疲労を除去し、多数の液晶パネ
ルに対しても信頼性が高い検査を行なうことができる。
装置では、液晶パネルの画像表示機能（光通過性能，光
遮断性能）の適否の検査を自動的に行なうことができ、
検査者の肉体的，心理的疲労を除去し、多数の液晶パネ
ルに対しても信頼性が高い検査を行なうことができる。
【図１】本発明に係る液晶パネルの検査装置の構成を示
す模式図である。
す模式図である。
【図２】図１における判定部の内部構成を示すブロック
図である。
図である。
【図３】本発明に係る液晶パネルの検査装置の動作を説
明するための信号波形図である。
明するための信号波形図である。
１ 点光源 ２ レンズ ３ 集光レンズ ４ 光電変換器 ５ 判定部 ６ 表示部 ７ 制御信号発生部 10 液晶パネル 11 画素 51 Ａ／Ｄ変換器 52 メモリ 53 Ｄ／Ａ変換器 54 コンパレータ 55 バンドパスフィルタ 56 適否判定器 57 レベル信号発生器
Claims (1)
- 【請求項１】 複数の画素を有する液晶パネルの表示機
能を検査する装置において、前記液晶パネルの全画素を
光通過，光遮断の各状態に制御する制御手段と、前記液
晶パネルに光を照射する光源と、前記液晶パネルを通過
後の光を電気信号に変換する光電変換手段と、該光電変
換手段にて得られる電気信号の周波数成分を検出し、そ
の電気信号における特定の周波数成分の有無に基づいて
前記液晶パネルの表示機能を検査する検査手段とを備え
たことを特徴とする液晶パネルの検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15454092A JPH05322700A (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | 液晶パネルの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15454092A JPH05322700A (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | 液晶パネルの検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05322700A true JPH05322700A (ja) | 1993-12-07 |
Family
ID=15586496
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15454092A Pending JPH05322700A (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | 液晶パネルの検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05322700A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000333047A (ja) * | 1999-05-25 | 2000-11-30 | Rohm Co Ltd | 光学的撮像装置および光学的撮像方法 |
-
1992
- 1992-05-20 JP JP15454092A patent/JPH05322700A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000333047A (ja) * | 1999-05-25 | 2000-11-30 | Rohm Co Ltd | 光学的撮像装置および光学的撮像方法 |
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