JPH05333109A - 空き入力端子検出回路 - Google Patents

空き入力端子検出回路

Info

Publication number
JPH05333109A
JPH05333109A JP4079686A JP7968692A JPH05333109A JP H05333109 A JPH05333109 A JP H05333109A JP 4079686 A JP4079686 A JP 4079686A JP 7968692 A JP7968692 A JP 7968692A JP H05333109 A JPH05333109 A JP H05333109A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
pulse
reference voltage
signal
section
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP4079686A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsushi Kimura
篤 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP4079686A priority Critical patent/JPH05333109A/ja
Publication of JPH05333109A publication Critical patent/JPH05333109A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】CMOS系ディジタルICにおける空き入力端
子を自動的に判定し、判定結果を記憶して、作業の効率
化をはかる空き入力端子検出回路を提供する。 【構成】ICの多数の空き入力端子を検出する空き入力
端子検出回路において、複数の被試験入力端子のうちの
1個の端子を選択する入力選択部101とこの入力選択
部の出力信号を計測に適した信号レベルに変換する入力
電圧変換部102と、この入力電圧変換部の出力信号の
上限と下限を規定する上限基準電圧発生部103及び下
限基準電圧発生部104と、信号レベルを入力し上限基
準電圧発生部から発生する上限基準電圧と比較し上限を
越えていた場合にパルスを出力する第1の比較部105
と、前記信号レベルを入力し前記下限基準電圧発生部か
ら発生する下限基準電圧と比較し下限を越えていない場
合にパルスを出力する第2の比較部106とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は空き入力端子検出回路に
関し、特にCMOS系論理処理ICの空き入力端子の検
査する必要のある検査等に使用する空き入力端子検出回
路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の空き入力端子検出回路は
図4に示すように、多端子を有するIC端子部203の
一端子を接触子等で接続し、入力信号200の有無を検
出するために測定に便利な電圧に変換する入力電圧変換
部102と、波形観測器202とから構成されている。
今入力信号200が図4(b)に示すOVと5Vの電圧
を有するある同期のパルスの場合に、入力電圧変換部1
02はパルス電圧OVの時点では+5Vの電源電圧はR
1を通して短絡され、OVが出力される。パルス電圧+
5Vの時点では電源電圧+5Vが出力され、波形観測器
202でパルスを目視でき伝用端子と判定する。一方空
き端子の場合には入力信号200がないので例えばR1
=R2とすれば2.5Vの直流を目視でき空き端子と判
定していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この従来の空き入力端
子検出回路では、人為的操作により一端ずつ検査が進め
られ、特に入力信号は測定用プローブ等を直接人間がI
Cの端子に当てる事で与えられ、また空き入力端子であ
るか否かの判定は測定器の観測波形を見ながら目視によ
り1点ずつ判定していたので、数百から数千もの端子の
場合には多大な労力と時間、そして単純作業の繰り返し
から生ずるミスが増えるという欠点があった。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の空き入力端子検
出回路は、ICの多数の空き入力端子を検出するため
に、ある周期のくり返しパルス信号のなしありで空き端
子のありなしを判定する空き入力端子検出回路におい
て、複数の被試験入力端子のうちの1個の端子を選択す
る入力選択部と、この入力選択部の出力信号を計測に適
した信号レベルに変換する入力電圧変換部と、この入力
電圧変換部の出力信号の上限と下限を規定する上限基準
電圧発生部及び下限基準電圧発生部と、前記信号レベル
を入力し前記上限基準電圧発生部から発生する上限基準
電圧と比較し上限を越えていた場合にパルスを出力する
第1の比較部と、前記信号レベルを入力し前記下限基準
電圧発生部から発生する下限基準電圧と比較し下限を越
えていない場合にパルスを出力する第2の比較部と、前
記第1および第2の出力パルスの立上りでトリガパルス
を出力する立上りパルス発生部と、前記立上りパルス信
号の無い場合にのみ空き入力端子のある旨を表示する表
示部と、前記立上りパルス信号のありなしの情報を記憶
するメモリと、前記入力選択部に切り替え情報を与え、
かつ前記メモリに蓄積するためのアドレス信号を与える
制御部とを有する。
【0005】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例のブロック図、図2,図3
は測定時の各部の波形図である。図1において入力選択
部101は複数の被試験端子1〜Nからの信号を制御部
110の選択信号を受けて順次出力を切り替える入力選
択部である。複数の被試験端子への接続はICクリップ
の利用やデバイス検査用テスターのピンへの接続等が想
定される。入力電圧変換部102は従来例と同様に直流
電圧+5Vが付加され抵抗R1,R2を備えている。入
力パルスありとなしの場合の出力電圧も従来例と同様で
ある。この出力は比較部105,106に入力される。
一方パルスのあり又はパルスなしの上限下限のしきい値
電圧を発生する上限基準電圧発生部103,下限基準電
圧発生部を104を備えている。比較部105,106
はそれぞれ上限、下限のしきい値電圧を入力し、入力さ
れるパルスのありなしを判定する。ここで下限基準電圧
発生部104はパルスがないにもかからわらず、雑音等
により見かけ上パルスありと判定するのを防止するため
に下限しきい値を設けている。立上りパルス発生部10
7は比較部105,106のそれぞれのパルス出力信号
の立上りを検出してトリガパルスを発生する。したがっ
てパルスなしの場合には特にパルスを出力しない。表示
パルス変換部108は、このトリガパルスを受けて表示
部109およびメモリ111に空き端子情報を入力する
ために最適なパルス幅に変換する。制御部110は被試
験端子1〜Nの選択信号と、これに同期したアドレス信
号をメモリ111に送出する。
【0006】次に各部の動作を図2,図3の波形図によ
り説明する。図2は空き入力端子を検出している場合
で、入力電圧変換部102のR1=R2であれば5Vの
電源電圧に対し2.5Vの直流値で落ちつきパルス波形
は現れない。例えば前述の上限基準電圧と下限基準電圧
をそれぞれ2.5V±0.5V程度に設定しておけば基
準値を越えるものは無く立上りパルス発生部107の出
力を存在しない。図3は試験端子が空き入力端子で無い
場合で、動作状態であれば何らかのパルス信号がくる事
を利用している。第1パルスと第2パルスが基準値を越
えたことを示す比較部105,106の出力信号から立
上りパルス発生部107のように越えた事を示すトリガ
パルスに変換し出力する。立上りパルス発生部107で
は被試験端子が5VまたはOVに固定されている場合も
想定して、比較部105,106の何れかがある電圧に
固定された場合も基準値を越えていると判断し、周期的
なトリガパルスを出力するように工夫してある。表示パ
ルス変換部108は最大周期より長い時定数を持つワン
シュット回路等によりトリガパルスにより再トリガされ
出力が表示に適した連続信号となるように設定する。し
たがって空き入力端子を検出し、トリガの無い場合にの
み表示パルス変換部108の出力には連続パルス信号が
出なくなる。表示部109は前述の連続信号が無い場合
にのみ空き入力端子を検出した旨を表示する。メモリ1
11は制御部110からの出力をアドレス値として表示
パルス変換部108の結果をメモリ蓄える。メモリ11
1を設ける事により空き入力端子検出結果を蓄えてお
き、後でまとめて検証する事で作業効率をあげるだけで
なく記録紙への打ち出しや自動検査にも柔軟に対応でき
る要素を備えている。ちなみに従来同様の1端子ずつの
確認も制御部110の制御信号を固定する事により用意
に実現可能である。
【0007】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、入力選択
部と制御部とで選択し自動的に切り替えていく事によ
り、作業の効率化がはかられる。また、基準電圧発生器
と比較器を設ける事により、従来、オシロスコープ等に
より目視によって判定していたパルスの有無を、瞬時に
判別でき、判定に要する検査時間が短縮される。また、
メモリ等に書き込む機能を有しているのでメモリ内の情
報を有効に利用する事で記録紙への打ち出しや、結果検
証等に利用できる多くの効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のブロック図である。
【図2】本実施例の各部の波形図である。
【図3】本実施例の各部の波形図である。
【図4】従来例のブロック図である。
【符号の説明】
101 入力選択部 102 入力電圧変換部 103 上限基準電圧発生部 104 下限基準電圧発生部 105,106 比較部 107 立上りパルス発生部 108 表示パルス変換部 109 表示部 110 制御部 111 メモリ 202 波形観測器 203 IC端子部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ICの多数の空き入力端子を検出するた
    めに、ある周期のくり返しパルス信号のなしありで空き
    端子のありなしを判定する空き入力端子検出回路におい
    て、複数の被試験入力端子のうちの1個の端子を選択す
    る入力選択部と、この入力選択部の出力信号を計測に適
    した信号レベルに変換する入力電圧変換部と、この入力
    電圧変換部の出力信号の上限と下限を規定する上限基準
    電圧発生部及び下限基準電圧発生部と、前記信号レベル
    を入力し前記上限基準電圧発生部から発生する上限基準
    電圧と比較し上限を越えていた場合にパルスを出力する
    第1の比較部と、前記信号レベルを入力し前記下限基準
    電圧発生部から発生する下限基準電圧と比較し下限を越
    えていない場合にパルスを出力する第2の比較部と、前
    記第1および第2の出力パルスの立上りでトリガパルス
    を出力する立上りパルス発生部と、前記立上りパルス信
    号の無い場合にのみ空き入力端子のある旨を表示する表
    示部と、前記立上りパルス信号のありなしの情報を記憶
    するメモリと、前記入力選択部に切り替え情報を与え、
    かつ前記メモリに蓄積するためのアドレス信号を与える
    制御部とを有することを特徴とする空き入力端子検出回
    路。
  2. 【請求項2】 前記第2の比較部に対する下限基準電圧
    の設定値が前記パルス信号の0レベル時に重畳される雑
    音レベルより少なくとも高く設定されていることを特徴
    とする請求項1記載の空き入力端子検出回路。
JP4079686A 1992-04-01 1992-04-01 空き入力端子検出回路 Withdrawn JPH05333109A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4079686A JPH05333109A (ja) 1992-04-01 1992-04-01 空き入力端子検出回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4079686A JPH05333109A (ja) 1992-04-01 1992-04-01 空き入力端子検出回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05333109A true JPH05333109A (ja) 1993-12-17

Family

ID=13697094

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4079686A Withdrawn JPH05333109A (ja) 1992-04-01 1992-04-01 空き入力端子検出回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05333109A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2004031785A1 (ja) ジッタ測定装置、及び試験装置
EP0023708A1 (en) Overvoltage analyzer
US7079060B2 (en) Test circuit for evaluating characteristic of analog signal of device
JPH05333109A (ja) 空き入力端子検出回路
US5471136A (en) Test system for calculating the propagation delays in signal paths leading to a plurality of pins associated with a circuit
US5001363A (en) Circuit for measuring rotary shaft off-sets
WO2004081949A1 (ja) Dc試験装置及び半導体試験装置
JP4156105B2 (ja) Ic試験装置
US6445207B1 (en) IC tester and IC test method
JPH0633701Y2 (ja) オートレンジ回路
JPS592348B2 (ja) パルス応答波形の測定方式
JP3180435B2 (ja) 液晶駆動ドライバic試験装置
US6253341B1 (en) IC test system
JPH102937A (ja) Ic試験装置
JPH0580093A (ja) 電子回路のインピーダンス検査装置
JPH05346454A (ja) Lsi試験装置
JP2882413B2 (ja) 平均値の高速良否判定装置
JP4502448B2 (ja) Ic試験装置における電圧発生器の校正方法・電圧発生器の校正装置
KR0178694B1 (ko) 디스플레이 엘이디 동작상태 검사장치
JP3469369B2 (ja) 電気計測器
SU1005297A1 (ru) Устройство дл измерени и контрол параметров аналого-цифровых преобразователей
JPH0673227B2 (ja) 磁気デイスク特性測定装置
JP2846383B2 (ja) 集積回路試験装置
JPH0621816A (ja) D/aコンバータテスト回路
JPH0629722Y2 (ja) Ae計測装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19990608