JPH05335366A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPH05335366A JPH05335366A JP4163656A JP16365692A JPH05335366A JP H05335366 A JPH05335366 A JP H05335366A JP 4163656 A JP4163656 A JP 4163656A JP 16365692 A JP16365692 A JP 16365692A JP H05335366 A JPH05335366 A JP H05335366A
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
-
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
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- H10W70/67—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers characterised by their insulating layers or insulating parts
- H10W70/68—Shapes or dispositions thereof
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- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07551—Connecting or disconnecting of bond wires characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
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- H10W72/547—Dispositions of multiple bond wires
- H10W72/5473—Dispositions of multiple bond wires multiple bond wires connected to a common bond pad
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- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
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- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体装置の樹脂封止工程において、ボンデ
ィングワイヤが樹脂により変形されて、隣接のワイヤ同
士が接触するのを防ぐ。 【構成】 銅板1上に、絶縁体2を介してリードフレー
ム3を、また導電性接着剤4を介してチップ5を固着す
る。チップ5上のパッドとリードフレーム3とをボンデ
ィングワイヤ6で接続する際に、絶縁体2上を中継点と
して用いる。
ィングワイヤが樹脂により変形されて、隣接のワイヤ同
士が接触するのを防ぐ。 【構成】 銅板1上に、絶縁体2を介してリードフレー
ム3を、また導電性接着剤4を介してチップ5を固着す
る。チップ5上のパッドとリードフレーム3とをボンデ
ィングワイヤ6で接続する際に、絶縁体2上を中継点と
して用いる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置に関し、特
に樹脂封止された半導体装置に関する。
に樹脂封止された半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】多層リードフレームを用いた半導体装置
では、チップおよびリードフレームが銅板上に固着され
ることが多い。即ち、図3に示されるように、銅板1上
に絶縁体2を介してリードフレーム3が固着され、銅板
1の中央には導電性接着剤4を介してチップ5が搭載さ
れる。そして、チップ5−リードフレーム間をボンディ
ングワイヤ6により接続した後、全体をモールド樹脂7
により封止している。
では、チップおよびリードフレームが銅板上に固着され
ることが多い。即ち、図3に示されるように、銅板1上
に絶縁体2を介してリードフレーム3が固着され、銅板
1の中央には導電性接着剤4を介してチップ5が搭載さ
れる。そして、チップ5−リードフレーム間をボンディ
ングワイヤ6により接続した後、全体をモールド樹脂7
により封止している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の半導体
装置では、チップとリードフレーム間が直接ボンディン
グワイヤにより接続されているため、ボンディングワイ
ヤが長い場合には、樹脂封止の際にボンディングワイヤ
が変形してしまい、隣り合うボンディングワイヤ同士が
接触してしまうという問題点があった。
装置では、チップとリードフレーム間が直接ボンディン
グワイヤにより接続されているため、ボンディングワイ
ヤが長い場合には、樹脂封止の際にボンディングワイヤ
が変形してしまい、隣り合うボンディングワイヤ同士が
接触してしまうという問題点があった。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置は、
金属板の中央にチップが搭載され、その周辺に絶縁体を
介してリードフレームが固着され、全体がモールド樹脂
により封止されたものであって、チップ−リードフレー
ム間を接続するボンディングワイヤは、チップ−リード
フレーム間の途中で絶縁体上にもボンディングされてい
る。
金属板の中央にチップが搭載され、その周辺に絶縁体を
介してリードフレームが固着され、全体がモールド樹脂
により封止されたものであって、チップ−リードフレー
ム間を接続するボンディングワイヤは、チップ−リード
フレーム間の途中で絶縁体上にもボンディングされてい
る。
【0005】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図1は、本発明の第1の実施例を示す断面
図である。この半導体装置は、次のようにして組み立て
られる。銅板1に、予めリードフレーム3が固着されて
いる絶縁体2を接着剤を用いて接着する。この絶縁体2
の内側部分には突起が形成されており、この突起上には
メタライズ層が形成されている。
て説明する。図1は、本発明の第1の実施例を示す断面
図である。この半導体装置は、次のようにして組み立て
られる。銅板1に、予めリードフレーム3が固着されて
いる絶縁体2を接着剤を用いて接着する。この絶縁体2
の内側部分には突起が形成されており、この突起上には
メタライズ層が形成されている。
【0006】次に、銅板1上に導電性接着剤4を用いて
チップ5をマウントする。次いで、ボンディングワイヤ
6を用いてチップ上のパッド−絶縁体2上のメタライズ
層−リードフレーム3の順にボンディングを行い、最後
にモールド樹脂7にて封止を行う。
チップ5をマウントする。次いで、ボンディングワイヤ
6を用いてチップ上のパッド−絶縁体2上のメタライズ
層−リードフレーム3の順にボンディングを行い、最後
にモールド樹脂7にて封止を行う。
【0007】このように構成された半導体装置では、ボ
ンディングワイヤが中継点を経由しているためフライイ
ングワイヤ長が短くなり、変形されにくくなる。そのた
め、モールド工程でのワイヤ変形による短絡事故が激減
し歩留りが向上する。
ンディングワイヤが中継点を経由しているためフライイ
ングワイヤ長が短くなり、変形されにくくなる。そのた
め、モールド工程でのワイヤ変形による短絡事故が激減
し歩留りが向上する。
【0008】本実施例では、絶縁体2に突起を設けて絶
縁体のボンディング面と、チップやリードフレームのボ
ンディング面との高低差を少なくしている。この構成に
よりフライイングワイヤ長をより短くすることができ、
また、ボンディング工程も容易化される。リードフレー
ムが多層リードフレームであるとき、リードフレームの
面に合わせて絶縁体の突起の表面にも凹凸を作ることが
できる。
縁体のボンディング面と、チップやリードフレームのボ
ンディング面との高低差を少なくしている。この構成に
よりフライイングワイヤ長をより短くすることができ、
また、ボンディング工程も容易化される。リードフレー
ムが多層リードフレームであるとき、リードフレームの
面に合わせて絶縁体の突起の表面にも凹凸を作ることが
できる。
【0009】図2は、本発明の第2の実施例を示す断面
図である。本実施例は、絶縁体2上で2回ワイヤボンデ
ィングを行っている点が先の実施例と相違しているが、
その他の点では同様である。
図である。本実施例は、絶縁体2上で2回ワイヤボンデ
ィングを行っている点が先の実施例と相違しているが、
その他の点では同様である。
【0010】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の半導体装
置は、チップ−リードフレーム間のワイヤボンディング
を、リードフレームが固着された絶縁体を中継点として
行うものであるので、本発明によれば、ボンディングワ
イヤのフライイングワイヤ長を短くすることができる。
従って、本発明によれば、樹脂封止の際のボンディング
ワイヤの変形を抑制することができ、隣接するボンディ
ングワイヤ同士が接触するという事故を防止することが
できる。
置は、チップ−リードフレーム間のワイヤボンディング
を、リードフレームが固着された絶縁体を中継点として
行うものであるので、本発明によれば、ボンディングワ
イヤのフライイングワイヤ長を短くすることができる。
従って、本発明によれば、樹脂封止の際のボンディング
ワイヤの変形を抑制することができ、隣接するボンディ
ングワイヤ同士が接触するという事故を防止することが
できる。
【図1】 本発明の第1の実施例の断面図。
【図2】 本発明の第2の実施例の断面図。
【図3】 従来例の断面図。
1 銅板 2 絶縁体 3 リードフレーム 4 導電性接着剤 5 チップ 6 ボンディングワイヤ 7 モールド樹脂
Claims (1)
- 【請求項1】 絶縁体上にリードフレームが固定され、
半導体素子上のパッドと前記リードフレーム間がボンデ
ィングワイヤにより接続され、全体がモールド樹脂によ
り封止されている半導体装置において、前記ボンディン
グワイヤが、前記リードフレーム−前記半導体素子間に
おいて、前記絶縁体上にもボンディングされていること
を特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4163656A JP2795069B2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4163656A JP2795069B2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05335366A true JPH05335366A (ja) | 1993-12-17 |
| JP2795069B2 JP2795069B2 (ja) | 1998-09-10 |
Family
ID=15778088
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4163656A Expired - Fee Related JP2795069B2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2795069B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4839556A (en) * | 1983-02-25 | 1989-06-13 | Rca Licensing Corporation | Cathode-ray tube having an improved shadow mask contour |
| US7199477B1 (en) * | 2000-09-29 | 2007-04-03 | Altera Corporation | Multi-tiered lead package for an integrated circuit |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6113931U (ja) * | 1984-06-29 | 1986-01-27 | 関西日本電気株式会社 | 半導体装置 |
| JPH0399455A (ja) * | 1989-09-05 | 1991-04-24 | Advanced Micro Devices Inc | 高性能のプラスチックでカプセル封じされた集積回路のパッケージ |
-
1992
- 1992-05-29 JP JP4163656A patent/JP2795069B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6113931U (ja) * | 1984-06-29 | 1986-01-27 | 関西日本電気株式会社 | 半導体装置 |
| JPH0399455A (ja) * | 1989-09-05 | 1991-04-24 | Advanced Micro Devices Inc | 高性能のプラスチックでカプセル封じされた集積回路のパッケージ |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4839556A (en) * | 1983-02-25 | 1989-06-13 | Rca Licensing Corporation | Cathode-ray tube having an improved shadow mask contour |
| US7199477B1 (en) * | 2000-09-29 | 2007-04-03 | Altera Corporation | Multi-tiered lead package for an integrated circuit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2795069B2 (ja) | 1998-09-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |