JPH0534576U - 回路基板検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 被検査回路基板の測定部位に付着している絶
縁性不純物などを破壊して、同測定部位にコンタクトピ
ンを確実に接触させる。 【構成】 ピンボード１０のプローブ挿通孔１４にコン
タクトピン１３を摺動自在に挿通するとともに、プロー
ブ挿通孔１４の下部に空気室１５を形成し、同空気室１
５内を与圧、減圧することにより、コンタクトピン１３
を上下動させる。 【効果】 被検査回路基板をフィクスチュアにて固定し
た状態で、測定部位に付着している絶縁性不純物などを
破壊することができる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は回路基板検査装置に関し、さらに詳しく言えば、多数のコンタクト プローブを備えるピンボードに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

回路基板に検査すべき測定部位が多数ある場合、それらを一度に検査するには ピンボードが用いられる。

【０００３】 すなわち、図３に例示されているように、アクリル樹脂板などからなるピンボ ード１に、被検査回路基板２の測定部位（例えば、ハンダ付け部）２ａ，２ｂに 位置的に対応するようにコンタクトプローブ１ａ，１ｂを植設し、プレス式もし くはバキューム式のフィクスチュアにて被検査回路基板２を押し下げて、各測定 部位２ａ，２ｂをコンタクトプローブ１ａ，１ｂにほぼ同時に接触させるように している。

【０００４】 各コンタクトプローブ１ａ，１ｂは筒状のスリーブ３と、同スリーブ３に摺動 可能に保持されたピン本体４とからなり、この場合、同ピン本体４は図示しない コイルバネにてスリーブ３から突出する方向に付勢されている。

【０００５】

【考案が解決しようとする課題】

したがって、ピン本体４は測定部位２ａ，２ｂに対し、所定のバネ圧をもって 接触することになるが、その測定部位２ａ，２ｂにフラックスなどの絶縁性不純 物が付着していて接触不良となった場合には、被検査回路基板２をコンタクトプ ローブ１ａ，１ｂから離し、再度接触させるようにしている。

【０００６】 しかしながら、それには被検査回路基板２を一旦コンタクトプローブのピン本 体４の移動ストローク以上引き上げなければならず、時間がかかるとともに、再 接触時の位置精度の面でも問題が生じていた。

【０００７】 上記のような絶縁性不純物による接触不良を少なくするには、バネ圧を高めれ ば良いのであるが、それには大きなコイルバネが必要とされる。

【０００８】 しかしながら、そうするとコンタクトプローブ自体の直径が大きくなり、コン タクトプローブをピンボードに配置する場合、それらの配置間隔が広くなり、高 密度実装基板に適用できなくなる。

【０００９】 また、バネ荷重を高めると、図４（Ａ）に示されているように、実装部品５の リード端子５ａが本来ハンダ付け不良となっている場合でも、ピン本体４のバネ 圧により同図（Ｂ）に示されているように、強制的に接触されて良品と誤認して しまう事態が生ずる。

【００１０】 さらには、バネ性コンタクトプローブは、ピン本体４が押し込められる際のス トロークにより、そのバネ荷重が異なるため、測定部位の基板上の高さなども考 慮してピンボード１にセッティングしなければならない、と言う煩わしさがあっ た。

【００１１】

【課題を解決するための手段】

この考案は、上記従来の欠点を解決するためになされたもので、その構成上の 特徴は、被検査回路基板の測定部位に対応する位置にコンタクトプローブを配置 してなるピンボードを備え、同ピンボードと上記被検査回路基板とを相対的に接 近、離反させて上記コンタクトプローブを上記被検査回路基板の測定部位に接触 させる回路基板検査装置において、上記コンタクトプローブは、一端が上記測定 部位に接触する所定の形状に形成され、他端に径大とされたストッパ部材を有す るコンタクトピンからなり、上記ピンボードには、上記コンタクトピンが摺動自 在に挿通されるプローブ挿通孔と、上記ストッパ部材よりも大きな径をもって同 プローブ挿通孔に同軸的に連設された空気室と、同空気室を空気加減圧手段に接 続する空気通路と、リード線を介して上記コンタクトピンに接続される信号取り 出し用のコネクタ部材とが設けられており、上記コンタクトピンを上記空気室内 の空気圧により上記被検査回路基板に対して進退させるようにしたことにある。

【００１２】

【作用】

上記構成によれば、コンタクトピンは空気圧によってその軸方向に往復動され る。したがって、被検査回路基板をフィクスチュアによって固定した状態で、コ ンタクトピンのみを必要回数動かすことにより、絶縁不純物による接触不良を排 除することができる。

【００１３】 また、コイルバネを必要としないため、プローブをより小径化することができ る。

【００１４】 さらには、空気圧によるため、コンタクトピンの移動ストロークに関係なく、 測定部位に対する接触圧をほぼ一律に設定することが可能となる。

【００１５】

【実施例】

図１にはこの考案に係る回路基板検査装置に適用されるピンボード１０の要部 拡大断面図が示されている。

【００１６】 この実施例において、ピンボード１０は、ともにアクリル樹脂板からなる２枚 のボード１１，１２の積層体からなる。

【００１７】 被検査回路基板２（図３参照）と対向する上側の第１のボード１１には、コン タクトピン１３が摺動自在に挿通されるプローブ挿通孔１４が穿設されている。 この実施例では、プローブ挿通孔１４内にはコンタクトピン１３との間の気密性 を高めるために、ステンレス材からなる案内筒１４ａが嵌合されている。

【００１８】 コンタクトピン１３は所定径の棒状をなす例えば工具鋼からなり、測定部位に 接触する先端は尖鋭に形成されているが、その後端部には径大に形成されたスト ッパ部材としてのフランジ１３ａが設けられている。

【００１９】 第１のボード１１において、プローブ挿通孔１４の下部には、コンタクトピン １３のフランジ１３ａよりも大径の空気室１５が同軸的に形成されている。

【００２０】 図２を併せて参照すると、下側の第２のボード１２の第１のボード１１に対す る接合面には、空気室１５を例えば空気ポンプなどの図示しない空気加減圧手段 に連通するための空気通路１６を形成する溝１７が設けられている。

【００２１】 また、同第２のボード１２側には、空気室１５と同軸的に対向し、同空気室１ ５の一部となる穴１８が形成されており、その底部には信号取り出し用の端子ピ ン１９がこの第２のボード１２を貫通するように設けられている。

【００２２】 コンタクトピン１３はリード線２０を介して端子ピン１９に接続され、コンタ クトピン１３にて検出された測定信号は端子ピン１９および同端子ピン１９に接 続された引き出し線２１を介して図示しない測定部に供給される。

【００２３】 測定作業の一例について説明する。まず、空気ポンプを作動させ空気通路１６ を介して空気室１５に空気を供給し、その圧力にてコンタクトピン１３を上方に 突出させる。

【００２４】 次に、被検査回路基板をプレス式もしくはバキューム式のフィクスチュアによ り、所定位置まで押し下げ、同基板の測定部位にコンタクトピン１３を接触させ る。

【００２５】 そして、空気ポンプにより空気室１５の与圧、減圧を繰り返し、コンタクトピ ン１３を数回上下動させ、絶縁性不純物を破壊した後、実際の検査工程に入る。

【００２６】 上記実施例とは異なり、被検査回路基板をフィクスチュアにより、所定位置ま で押し下げた後、空気ポンプを作動させてコンタクトピン１３を測定部位に接触 させるようにしても良い。

【００２７】 また、検査工程中に必要に応じてコンタクトピン１３を数回上下させて絶縁性 不純物を破壊するようにしても良い。

【００２８】 なお、コンタクトピン１３，空気室１５および空気通路１６などの形状は上記 実施例に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。

【００２９】

【考案の効果】

以上説明したように、この考案によれば、コンタクトピンを空気圧によってそ の軸方向に往復動するようにしたことにより、被検査回路基板をフィクスチュア によって固定した状態のままで、コンタクトピンのみを必要回数動かすことによ り、絶縁不純物による接触不良を排除することができる。

【００３０】 また、コイルバネを必要としないため、プローブをより小径化することができ るとともに、より長寿命化を図ることができる。

【００３１】 さらには、空気圧によるため、コンタクトピンの移動ストロークに関係なく、 測定部位に対する接触圧をほぼ一律に設定することが可能となる、などの効果が 奏される。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案の回路基板検査装置に適用されるピン
ボードの一例を示した要部断面図。

【図２】図１のＡ−Ａ線断面図。

【図３】従来例を説明するための説明図。

【図４】従来例の欠点を説明するための説明図。

【符号の説明】

２ 被検査回路基板 １０ ピンボード １１ 第１のボード １２ 第２のボード １３ コンタクトピン １３ａ フランジ １４ プローブ挿通孔 １５ 空気室 １６ 空気通路 １７ 溝 １９ 端子ピン ２０ リード線

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検査回路基板の測定部位に対応する位
   置にコンタクトプローブを配置してなるピンボードを備
   え、同ピンボードと上記被検査回路基板とを相対的に接
   近、離反させて上記コンタクトプローブを上記被検査回
   路基板の測定部位に接触させる回路基板検査装置におい
   て、 上記コンタクトプローブは、一端が上記測定部位に接触
   する所定の形状に形成され、他端に径大とされたストッ
   パ部材を有するコンタクトピンからなり、 上記ピンボードには、上記コンタクトピンが摺動自在に
   挿通されるプローブ挿通孔と、上記ストッパ部材よりも
   大きな径をもって同プローブ挿通孔に同軸的に連設され
   た空気室と、同空気室を空気加減圧手段に接続する空気
   通路と、リード線を介して上記コンタクトピンに接続さ
   れる信号取り出し用のコネクタ部材とが設けられてお
   り、 上記コンタクトピンを上記空気室内の空気圧によって上
   記被検査回路基板に対して進退させるようにしたことを
   特徴とする回路基板検査装置。