JPH0623976Y2 - インサーキットテスタ用ピンボード構造 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この考案は、インサーキットテスタ用ピンボード構造に
係り、さらに詳しくは、被測定基板を検査しようとする
際の破損防止を図ったインサーキットテスタ用ピンボー
ド構造に関する。

［従来の技術］ 近時、インサーキットテスタは、半導体素子等の部品を
実装した後の被測定基板に対し、ハンダブリッジや部品
の誤挿入などによる製造不良を見付け出すための検査機
として多くの製造ラインで使用されている。ところで、
このようなインサーキットテスタを用いて被測定基板を
検査するに際しては、インサーキットテスタを構成して
いるピンボードに植設されている多数本のコンタクトプ
ローブを被測定基板の所定のポイントに強制的に接触さ
せるためのフィクスチャが必要となる。このフィクスチ
ャに関しては、被測定基板を押し棒により上部から押し
下げることによりコンタクトプローブに接触させるプレ
スタイプのものと、真空引きによる大気圧で被測定基板
を引き付けてコンタクトプローブに接触させるバキウム
タイプのものとがある。

第２図は、インサーキットテスタにおけるフィクスチャ
がプレスタイプのものである場合の従来構造を示すもの
であり、ピンボード31には、部品42が実装された被測定
基板41に穿設されているガイド孔43との関係で正確に位
置決めされた複数本のガイド棒32が植設されている。前
記被測定基板41は、前記ガイド孔43を介してガイド棒32
が挿通され、かつ、進退可能に植設されているフラット
ピン33により水平状となって下支えされるとともに、押
し棒45により押し下げられることにより、コンタクトプ
ローブ34と接触するに至り、被測定基板41からの情報を
得ることができるようになっている。

［考案が解決しようとする問題点］ ところで、第２図に示した構造のフィクスチャの場合、
被測定基板41に予め穿設されているガイド孔43にフラッ
クスが付着していたり、あるいは、被測定基板41自体が
何らかの事情で反り返っていたりすると、押し棒45によ
る押し下げ時に位置関係がずれてガイド棒32をガイド孔
43に円滑に挿入することができず、被測定基板41やガイ
ド棒32等を破損してしまうおそれがあった。特に、製造
ラインがインラインタイプのものであるときにこのよう
な事態が発生する場合、次々に上記破損事故が引き起こ
すおそれがあった。

［問題点を解決するための手段］ この考案は、プレスタイプのフィクスチャにみられた上
記問題点に鑑みてなされたものであり、その構成上の特
徴は、被測定基板の測定位置にコンタクトプローブを当
接するために用いられるピンボードには、前記被測定基
板に設けられたガイド孔に対しこれを案内して支持する
ために挿入される複数本のガイド棒を進退可能に植設す
るとともに、これらのガイド棒の終端部には、その下方
に配設されている検出用スイッチに対し、ガイド棒の下
降量が異常に大きいときに押圧接触することができる押
圧部材を配設したことにある。

［実施例］ 以下、図面に基づいてこの考案の実施例を説明する。

適宜の部品23が実装されている被測定基板21を正確に位
置決めして案内するためのガイド棒２は、前記被測定基
板21の測定位置に当接するべく多数本のコンタクトプロ
ーブ３が進退可能に植設されているピンボード１におけ
る適宜の位置に複数本植設することで配設されている。

この場合のピンボード１に対するガイド棒２の具体的な
取付け構造は、まず、予め穿設してあるピンボード１の
通孔４に対し、この通孔４の口径よりもその外径を若干
大きく形成してあるソケット５をその下端部にコイル状
のスプリング６を抜脱困難に取着した上で圧入し、これ
を固定する。このようにしてピンボード１に固定された
ソケット５には、下端部に小径部７を有するガイド棒２
を挿入し、前記小径部７の終端部をスプリング６の終端
部とともに押圧部材８に固着し、ガイド棒２をソケット
５に対し進退可能に支持させることで取り付けられてい
る。また、ガイド棒２の先端部の適宜の位置には、予め
設けられているガイド孔22を介して案内されてくる被測
定基板21を一定の位置においてこれを水平状に支持する
ためのストッパー片９が付設されている。

一方、ピンボード１の下方には、このピンボード１に固
着させた支腕部10を介することで、前記ガイド棒２に固
着されている押圧部材８と必要により接触可能となった
位置関係をとって検出用スイッチ11が配設されている。
この場合における押圧部材８と検出用スイッチ11との間
の具体的な位置関係については、被測定基板21が前記ス
トッパー片９を介して正しくガイド棒２にセットされ、
かつ、押し棒25によりコンタクトプローブ３と接触する
に至るまで押し下げられたときには、押圧部材８が検出
用スイッチ11に押圧接触することがない離間距離をおい
て配置されている。また、被測定基板21のガイド孔22内
にフラックス等の異物が固着していたり、被測定基板21
自体が反り返るなどすることで、本来は円滑に挿入され
るはずのガイド棒２がガイド孔22に適切に挿入できない
場合などには、押し棒25による押し下げ時に被測定基板
21とコンタクトプローブ３とが接触する以前に前記押圧
部材８が検出用スイッチ11と押圧接触し、スイッチをOF
FもしくはONとすることができる位置関係をとって配置
されている。

この考案は、このようにして構成されているので、被測
定基板21を検査しようとする際には、ピンボード１上に
進退可能に植設されている複数本のガイド棒２を被測定
基板21に穿設されているガイド孔22に挿入することでセ
ットする。この際、ガイド棒２の先端部には、被測定基
板21を水平状に支持するためのストッパー片９が付設さ
れているので、このストッパー片９に支持させて正しく
セットすることができる。このようにして被測定基板21
をガイド棒２にセットした後は、押し棒25を降下させて
被測定基板21を押圧し、所定のコンタクトプローブ３と
接触するに至るまで押し下げて所定の情報を取り込んだ
後、押し棒25による押圧力を解除することで検査作業を
終了することができる。

一方、被測定基板21のガイド孔22にフラックスが固着し
ていたり、被測定基板21自体が何らかの原因で反り返っ
ていたりする場合には、ガイド孔22にガイド棒２を正し
く挿入することができず、例えば、ガイド棒２に被測定
基板21におけるガイド孔22以外の部位が乗り上げてしま
ったり、あるいは、ガイド孔22にガイド棒２が引っ掛か
ったりして円滑に挿入することができないことがある。
このように被測定基板21が不適切にセットされた状態の
ままで押し棒25により押し下げられたときは、被測定基
板21がガイド棒２に正しく挿入されていない長さ分だけ
余計にガイド棒２が沈み込むことになり、その終端部に
固着されている押圧部材８が検出用スイッチ11に押圧接
触するに至る。したがって、被測定基板21のセッティン
グが不適切なものであるときは、自動的に電源スイッチ
をOFFもしくはONとすることができ、無理に押圧するこ
とにより生ずる被測定基板21やガイド棒２の破損を未然
に防止することができる。このため、特にインラインタ
イプのインサーキットテスタのピンボード構造として好
適に用いることができる。

［考案の効果］ 以上述べたように、この考案によれば、ガイド棒の終端
部に固着した押圧部材と、これと接触可能に配設した検
出用スイッチにより、被測定基板のセットの適否を自動
的に知ることができるので、被測定基板やガイド棒を破
損させる危険性を効果的に防止することができ、特に、
インラインタイプのインサーキットテスタのピンボード
構造として好適に用いることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この考案に係るピンボード構造の一例を示す
概略側面図、第２図は、従来例としてのピンボード構造
を示す概略側面図である。 １……ピンボード、２……ガイド棒、 ３……コンタクトプローブ、４……通孔、 ５……ソケット、６……スプリング、 ７……小径部、８……押圧部材、 ９……ストッパー片、10……支腕部、 11……検出用スイッチ、21……被測定基板、 22……ガイド孔、23……部品、 25……押し棒

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】被測定基板の測定位置にコンタクトプロー
   ブを当接するために用いられるピンボードには、前記被
   測定基板に設けられたガイド孔に対しこれを案内して支
   持するために挿入される複数本のガイド棒を進退可能に
   植設するとともに、これらのガイド棒の終端部には、そ
   の下方に配設されている検出用スイッチに対し、ガイド
   棒の下降量が異常に大きいときに押圧接触することがで
   きる押圧部材を配設したことを特徴とするインサーキッ
   トテスタ用ピンボード構造。