JPH0541382Y2 - - Google Patents
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- JPH0541382Y2 JPH0541382Y2 JP1776787U JP1776787U JPH0541382Y2 JP H0541382 Y2 JPH0541382 Y2 JP H0541382Y2 JP 1776787 U JP1776787 U JP 1776787U JP 1776787 U JP1776787 U JP 1776787U JP H0541382 Y2 JPH0541382 Y2 JP H0541382Y2
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- light
- photodetector
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この考案は、光検出素子表面に微塵が付着する
ことのない光検出器に関するものである。
ことのない光検出器に関するものである。
熱変換形光検出器の光吸収体としては種々の材
質、構造がある。大出力用光検出器の一部を除
き、光吸収効率の高い、すなわち、光エネルギー
から熱エネルギーへの変換効率の高い光吸収体の
表面構造は、光の波長と同程度以下の極めて微細
な凹凸構造をもつ。
質、構造がある。大出力用光検出器の一部を除
き、光吸収効率の高い、すなわち、光エネルギー
から熱エネルギーへの変換効率の高い光吸収体の
表面構造は、光の波長と同程度以下の極めて微細
な凹凸構造をもつ。
もつとも優れた光吸収体の一つである金黒の構
造はその典型である。これは、金の蒸着の途中過
程において、不活性気体を導入することにより半
凝固状態の金の超微粒子を吸収体基板表面に堆積
したものである。
造はその典型である。これは、金の蒸着の途中過
程において、不活性気体を導入することにより半
凝固状態の金の超微粒子を吸収体基板表面に堆積
したものである。
このような微細構造は、微塵(ホコリ)が極め
て付着し易いうえ、一度付着した微塵の洗浄、吹
き取り等による清掃除去は不可能である。
て付着し易いうえ、一度付着した微塵の洗浄、吹
き取り等による清掃除去は不可能である。
このような光吸収体表面への微塵の付着、堆積
は光吸収効率の劣化を生じ、光検出器としての検
出感度の経時劣化の要因となる。したがつて、標
準光検出器等の検出感度の微小な変化も問題とな
る光検出器においては、光吸収体への微塵の付着
の防止は、使用上における重要な問題である。
は光吸収効率の劣化を生じ、光検出器としての検
出感度の経時劣化の要因となる。したがつて、標
準光検出器等の検出感度の微小な変化も問題とな
る光検出器においては、光吸収体への微塵の付着
の防止は、使用上における重要な問題である。
光吸収体への微塵の付着に対する最も効果的な
防止策は、第4図に示すように、光検出素子1の
光吸収体2の前面に光透過性の窓3を設けること
である。しかし、窓3として使用できる材質は、
少なくとも数%から50%以上に達する反射を生ず
る。したがつて、窓3の使用は超微細構造の光吸
収体2の光吸収効率が高いという特徴を消失させ
てしまう。
防止策は、第4図に示すように、光検出素子1の
光吸収体2の前面に光透過性の窓3を設けること
である。しかし、窓3として使用できる材質は、
少なくとも数%から50%以上に達する反射を生ず
る。したがつて、窓3の使用は超微細構造の光吸
収体2の光吸収効率が高いという特徴を消失させ
てしまう。
また、窓3による反射を防止するためには、窓
3の両面に反射防止膜を設ければよいが、光吸収
体2の性能に匹敵する十分低い反射にとどめるよ
うに構成した反射防止膜の波長依存性は大きく、
実質的に使用可能な波長は特定設計波長のごく近
傍の狭い範囲に限定されてしまう。
3の両面に反射防止膜を設ければよいが、光吸収
体2の性能に匹敵する十分低い反射にとどめるよ
うに構成した反射防止膜の波長依存性は大きく、
実質的に使用可能な波長は特定設計波長のごく近
傍の狭い範囲に限定されてしまう。
通常、このような微粒子の付着の好ましくない
光検出器においては、使用時以外は常に光入力部
に蓋をすることが行われているが、同一の検出器
により、空間ビームの測定および接栓を用いた光
フアイバ系の測定の両者を行う場合、あるいは、
光フアイバ系測定においても、複数の形式の異な
る接栓に共用する場合のように、光入力部の交換
を伴う場合、および光フアイバ接栓接続を行う光
検出器においては、非使用時の対策のみでは不十
分である。以下、第5図a,b、第6図a,b、
第7図a,b、第8図a,b,cを用いてその理
由を具体的に説明する。
光検出器においては、使用時以外は常に光入力部
に蓋をすることが行われているが、同一の検出器
により、空間ビームの測定および接栓を用いた光
フアイバ系の測定の両者を行う場合、あるいは、
光フアイバ系測定においても、複数の形式の異な
る接栓に共用する場合のように、光入力部の交換
を伴う場合、および光フアイバ接栓接続を行う光
検出器においては、非使用時の対策のみでは不十
分である。以下、第5図a,b、第6図a,b、
第7図a,b、第8図a,b,cを用いてその理
由を具体的に説明する。
第5図a,b、第6図a,bは入力部交換時に
おける光吸収体表面への微塵付着の過程を説明す
るための図である。
おける光吸収体表面への微塵付着の過程を説明す
るための図である。
これらの図において、第4図と同一符号は同一
部分を示し、4はジヤケツト、5は断熱材、6は
光入力部、7は前記光入力部6に取り付けられた
光フアイバ接栓のレセプタクル、7aは前記レセ
プタクル7の孔部、7bは小孔である。第5図a
に示した状態から第5図bに示すように光入力部
6を取り外す場合、限定された空間からその中で
大きい部分を閉める光入力部6が除去されるた
め、除去されつつある部分の圧力が低下して空気
の流れが発生し、空間内部の微塵の移動、渦流を
生じ、その一部が光吸収体2の表面に付着する。
また、内部の圧力低下に伴い、外部からも空気が
流入するため、これによつて運ばれた微塵の一部
も光吸収体2の表面に到達する。
部分を示し、4はジヤケツト、5は断熱材、6は
光入力部、7は前記光入力部6に取り付けられた
光フアイバ接栓のレセプタクル、7aは前記レセ
プタクル7の孔部、7bは小孔である。第5図a
に示した状態から第5図bに示すように光入力部
6を取り外す場合、限定された空間からその中で
大きい部分を閉める光入力部6が除去されるた
め、除去されつつある部分の圧力が低下して空気
の流れが発生し、空間内部の微塵の移動、渦流を
生じ、その一部が光吸収体2の表面に付着する。
また、内部の圧力低下に伴い、外部からも空気が
流入するため、これによつて運ばれた微塵の一部
も光吸収体2の表面に到達する。
また、第6図a,bに示すように光入力部6を
取り付ける場合にも、第6図aに示すような流れ
を発生するうえ、内部圧力の上昇に伴つて第6図
bに示すように孔部7aから内部空気の一部が外
部に流出し、これらの過程で光吸収体2の表面に
微塵が付着する。
取り付ける場合にも、第6図aに示すような流れ
を発生するうえ、内部圧力の上昇に伴つて第6図
bに示すように孔部7aから内部空気の一部が外
部に流出し、これらの過程で光吸収体2の表面に
微塵が付着する。
さらに、第7図a,b、第8図a,b,cはレ
セプタクル7を持つ光入力部6が装着された状態
で、フエルール8の着脱過程を説明するための図
である。
セプタクル7を持つ光入力部6が装着された状態
で、フエルール8の着脱過程を説明するための図
である。
すなわち、第7図aに示すようにフエルール8
の先端の進入に伴い、フエルール8とレセプタク
ル7の孔部7aが形成する空間の容積は減少す
る。また、フエルール8の外壁と孔部7a間の間
隔が光フアイバの中心位置精度維持のため極めて
小さく(2μm程度)構成されているため、フエル
ール8の挿入速度が大きいときは、第7図bに示
すように小孔7bを介して光吸収体2の表面に向
つて空気が噴出し、微塵を付着させる。
の先端の進入に伴い、フエルール8とレセプタク
ル7の孔部7aが形成する空間の容積は減少す
る。また、フエルール8の外壁と孔部7a間の間
隔が光フアイバの中心位置精度維持のため極めて
小さく(2μm程度)構成されているため、フエル
ール8の挿入速度が大きいときは、第7図bに示
すように小孔7bを介して光吸収体2の表面に向
つて空気が噴出し、微塵を付着させる。
また、第8図aに示すように、フエルール8が
挿入された状態から、第8図bに示すようにフエ
ルール8を引き出す場合にも、フエルール8の先
端がレセプタクル7から引き出される瞬間に第8
図cに示すように外部の空気がレセプタクル7内
に吸収され、光吸収体2に微塵を付着させる。
挿入された状態から、第8図bに示すようにフエ
ルール8を引き出す場合にも、フエルール8の先
端がレセプタクル7から引き出される瞬間に第8
図cに示すように外部の空気がレセプタクル7内
に吸収され、光吸収体2に微塵を付着させる。
上記のような従来の光検出器では、光入力部6
の交換時および接栓着脱時において、光吸収体2
の表面に微塵が付着して検出感度が劣化するとい
う問題点があつた。
の交換時および接栓着脱時において、光吸収体2
の表面に微塵が付着して検出感度が劣化するとい
う問題点があつた。
この考案はかかる問題点を解決するためになさ
れたもので、微塵の付着によつて生じる検出感度
の経時劣化を効果的に軽減できる光検出器を得る
ことを目的とする。
れたもので、微塵の付着によつて生じる検出感度
の経時劣化を効果的に軽減できる光検出器を得る
ことを目的とする。
この考案に係る光検出器は、光検出素子の表面
を保護するシヤツタ部と、このシヤツタ部が光検
出素子の表面を保護していない開状態の時に接続
部に取り付けられた光入力部の係合部と係合し、
あるいは光入力部の接続部への着脱を阻止する阻
止部とから構成した着脱制限機構を接続部に設け
たものである。
を保護するシヤツタ部と、このシヤツタ部が光検
出素子の表面を保護していない開状態の時に接続
部に取り付けられた光入力部の係合部と係合し、
あるいは光入力部の接続部への着脱を阻止する阻
止部とから構成した着脱制限機構を接続部に設け
たものである。
この考案においては、着脱制限機構のシヤツタ
部が光検出素子の表面を保護していない開状態の
時、取り付けられている光入力部は着脱制限機構
の阻止部によつてその係合部が係止されて、その
取り外しが阻止される。また、光入力部の取り付
けも阻止部によつて阻止される。
部が光検出素子の表面を保護していない開状態の
時、取り付けられている光入力部は着脱制限機構
の阻止部によつてその係合部が係止されて、その
取り外しが阻止される。また、光入力部の取り付
けも阻止部によつて阻止される。
第1図a,bはこの考案の光検出器の第1の実
施例の構成を説明するための図であり、第1図a
は光検出素子の表面が閉じて光入力部の交換が可
能となつた状態、第1図bは光検出素子の表面が
開いた測定可能な状態であつて、光入力部の交換
ができない状態を示す。
施例の構成を説明するための図であり、第1図a
は光検出素子の表面が閉じて光入力部の交換が可
能となつた状態、第1図bは光検出素子の表面が
開いた測定可能な状態であつて、光入力部の交換
ができない状態を示す。
これらの図において、9は光検出素子、10は
前記光検出素子9のマウント、11は入力光をガ
イドする光入力部、11aは前記光入力部11の
先端部の側面に形成された係合部としての溝、1
2は着脱制限機構で、マウント10と密に接触し
て光検出素子9の表面を開閉するように軸着され
た板状のシヤツタ部13と、シヤツタ部13と同
一の軸に軸着され、溝11aと係合する阻止部と
してのストツパ14とから構成されており、つま
み部15を走査することにより動作する。
前記光検出素子9のマウント、11は入力光をガ
イドする光入力部、11aは前記光入力部11の
先端部の側面に形成された係合部としての溝、1
2は着脱制限機構で、マウント10と密に接触し
て光検出素子9の表面を開閉するように軸着され
た板状のシヤツタ部13と、シヤツタ部13と同
一の軸に軸着され、溝11aと係合する阻止部と
してのストツパ14とから構成されており、つま
み部15を走査することにより動作する。
すなわち、この考案の光検出器では第1図aに
示すように、着脱制限機構12のシヤツタ部13
によつて光検出素子9の表面が保護されている時
のみ、溝11aとストツパ14との係合が開放さ
れて、光入力部11の取り付けおよび取り外しが
可能な構成となつている。このため、第1図bに
示すように、シヤツタ部13によつて光検出素子
9の表面が保護されておらず、溝11aとストツ
パ14が係合している状態の時は、光入力部11
を取り外すためにつまみ部15を操作して、第1
図aに示したように係合を開放する必要がある。
一方、この動作に伴つてシヤツタ部13も回動さ
れ、光検出素子9の表面も保護されるため、光入
力部11の取り付け、取り外し時には必ず光検出
素子9が保護される。
示すように、着脱制限機構12のシヤツタ部13
によつて光検出素子9の表面が保護されている時
のみ、溝11aとストツパ14との係合が開放さ
れて、光入力部11の取り付けおよび取り外しが
可能な構成となつている。このため、第1図bに
示すように、シヤツタ部13によつて光検出素子
9の表面が保護されておらず、溝11aとストツ
パ14が係合している状態の時は、光入力部11
を取り外すためにつまみ部15を操作して、第1
図aに示したように係合を開放する必要がある。
一方、この動作に伴つてシヤツタ部13も回動さ
れ、光検出素子9の表面も保護されるため、光入
力部11の取り付け、取り外し時には必ず光検出
素子9が保護される。
また、つまみ部15をクリツクストツプ機構等
を用いて、シヤツタ部13の開閉の途中位置に停
止しない構造とすることにより、ストツパ14に
よる係合の不完全な状態において、光入力部11
の着脱を行うことにより発生する事故を防止する
ことができる。
を用いて、シヤツタ部13の開閉の途中位置に停
止しない構造とすることにより、ストツパ14に
よる係合の不完全な状態において、光入力部11
の着脱を行うことにより発生する事故を防止する
ことができる。
第2図はこの考案の第2の実施例の構成を説明
するための図である。
するための図である。
この図において、第1図a,bと同一符号は同
一部分を示し、16は前記光入力部11に取り付
けられた光フアイバ接栓のレセプタクル、17は
ジヤケツト、18は着脱制限機構で、一体に形成
されたシヤツタ部19とストツパ20とつまみ部
21とから構成され、回転軸22によつて回動可
能に保持されている。
一部分を示し、16は前記光入力部11に取り付
けられた光フアイバ接栓のレセプタクル、17は
ジヤケツト、18は着脱制限機構で、一体に形成
されたシヤツタ部19とストツパ20とつまみ部
21とから構成され、回転軸22によつて回動可
能に保持されている。
この実施例においても主な動作は第1の実施例
とほぼ同様であるが、この構造は、つまみ部21
を光検出器の側面より操作する点が異なる。
とほぼ同様であるが、この構造は、つまみ部21
を光検出器の側面より操作する点が異なる。
また、第3図a,bはこの考案の第3の実施例
の構成を説明するための図である。
の構成を説明するための図である。
これらの図において、第1図a,bと同一符号
は同一部分を示し、23は着脱制限機構で、一体
に成形されたシヤツタ部24とストツパ25とつ
まみ部26とから構成されている。
は同一部分を示し、23は着脱制限機構で、一体
に成形されたシヤツタ部24とストツパ25とつ
まみ部26とから構成されている。
上記の第1および第2の実施例では、回動によ
つてシヤツタ部13,19の開閉および係合を行
う構成のものを示したが、この実施例は、つまみ
部22を上下に移動させることによりシヤツタ部
24の開閉および係合を行う構成のものである。
つてシヤツタ部13,19の開閉および係合を行
う構成のものを示したが、この実施例は、つまみ
部22を上下に移動させることによりシヤツタ部
24の開閉および係合を行う構成のものである。
なお、上記実施例では、ストツパ14,20,
25として、いずれも板状のものを示したが、こ
れは棒状(ピン状)のものであつてもよいことは
いうまでもない。
25として、いずれも板状のものを示したが、こ
れは棒状(ピン状)のものであつてもよいことは
いうまでもない。
また、上記実施例では、光検出素子として熱変
換形のものを用いた例について説明したが、光電
変換形についても同様に適用することができる。
換形のものを用いた例について説明したが、光電
変換形についても同様に適用することができる。
また、この考案の機構は、単一機構で、光入力
部交換とフアイバ着脱の両者に対応でき、光入力
部の交換、着脱に関わらず、光フアイバの着脱に
際し、シヤツタ部を操作することによつて、光検
出器の保護を行うことも可能である。
部交換とフアイバ着脱の両者に対応でき、光入力
部の交換、着脱に関わらず、光フアイバの着脱に
際し、シヤツタ部を操作することによつて、光検
出器の保護を行うことも可能である。
この考案は以上説明したとおり光検出素子の表
面を保護するシヤツタ部と、このシヤツタ部が光
検出素子の表面を保護していない開状態の時に接
続部に取り付けられた光入力部の係合部と係合
し、あるいは光入力部の接続部への着脱を阻止す
る阻止部とから構成した着脱制限機構を接続部に
設けたので、不用意な光入力部等の着脱によつ
て、光検出素子の表面に微塵が付着して、性能を
低下させることを防止できるという効果がある。
面を保護するシヤツタ部と、このシヤツタ部が光
検出素子の表面を保護していない開状態の時に接
続部に取り付けられた光入力部の係合部と係合
し、あるいは光入力部の接続部への着脱を阻止す
る阻止部とから構成した着脱制限機構を接続部に
設けたので、不用意な光入力部等の着脱によつ
て、光検出素子の表面に微塵が付着して、性能を
低下させることを防止できるという効果がある。
第1図a,bはこの考案の光検出器の第1の実
施例の構成を説明するための図、第2図はこの考
案の第2の実施例の構成を説明するための図、第
3図a,bはこの考案の第3の実施例の構成を説
明するための図、第4図は光検出素子の構成の一
例を説明するための図、第5図a,b、第6図
a,b、第7図a,b、第8図a,b,cは従来
の光検出器を説明するための図である。 図中、9は光検出素子、10はマウント、11
は光入力部、11aは溝、12,18,23は着
脱制限機構、13,19,24はシヤツタ部、1
4,20,25はストツパ、15,21,26は
つまみ部、16はレセプタクル、17はジヤケツ
トである。
施例の構成を説明するための図、第2図はこの考
案の第2の実施例の構成を説明するための図、第
3図a,bはこの考案の第3の実施例の構成を説
明するための図、第4図は光検出素子の構成の一
例を説明するための図、第5図a,b、第6図
a,b、第7図a,b、第8図a,b,cは従来
の光検出器を説明するための図である。 図中、9は光検出素子、10はマウント、11
は光入力部、11aは溝、12,18,23は着
脱制限機構、13,19,24はシヤツタ部、1
4,20,25はストツパ、15,21,26は
つまみ部、16はレセプタクル、17はジヤケツ
トである。
Claims (1)
- 先端部に係合部が形成された入力光をガイドす
るための光入力部が着脱される接続部を有し、前
記光入力部によりガイドされた入力光をその内部
に有する光検出素子により検出する光検出器であ
つて、前記光検出素子の表面を保護するシヤツタ
部と、このシヤツタ部が前記光検出素子の表面を
保護していない開状態の時に前記接続部に取り付
けられた前記光入力部の係合部と係合し、あるい
は前記光入力部の前記接続部への着脱を阻止する
阻止部とから構成した着脱制限機構を前記接続部
に設けたことを特徴とする光検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1776787U JPH0541382Y2 (ja) | 1987-02-12 | 1987-02-12 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1776787U JPH0541382Y2 (ja) | 1987-02-12 | 1987-02-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63126839U JPS63126839U (ja) | 1988-08-18 |
| JPH0541382Y2 true JPH0541382Y2 (ja) | 1993-10-20 |
Family
ID=30810821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1776787U Expired - Lifetime JPH0541382Y2 (ja) | 1987-02-12 | 1987-02-12 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0541382Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0618259Y2 (ja) * | 1988-11-05 | 1994-05-11 | ジューキ株式会社 | 測色計 |
-
1987
- 1987-02-12 JP JP1776787U patent/JPH0541382Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63126839U (ja) | 1988-08-18 |
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