JPH0543793B2 - - Google Patents

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JPH0543793B2
JPH0543793B2 JP14506890A JP14506890A JPH0543793B2 JP H0543793 B2 JPH0543793 B2 JP H0543793B2 JP 14506890 A JP14506890 A JP 14506890A JP 14506890 A JP14506890 A JP 14506890A JP H0543793 B2 JPH0543793 B2 JP H0543793B2
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JP
Japan
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magnetic field
film
substrate
electric field
space
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JP14506890A
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English (en)
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JPH03166379A (ja
Inventor
Takashi Inushima
Naoki Hirose
Mamoru Tashiro
Shunpei Yamazaki
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Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Original Assignee
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はマイクロ波電を加えるとともに、外部
磁場を加え、それらの相互作用を用い、かつその
電界の最も大きい空間に被膜形成手段を設け、被
膜形成を行うための薄膜形成装置および形成方法
に関する。
〔従来の技術〕
従来、薄膜の形成手段としてECR(電子サイク
ロトロン共鳴)を用い、その発散磁場を利用して
この共鳴空間より「離れた位置」に基板を配設
し、そこでの被膜特にアモルフアス構造を有する
被膜を形成する方法が知られている。
さらに一般的にはかかるECR CVD(化学気相
法)に加えて、反応性ガスを用いる被膜形成手段
として数種類知られており、それらは熱CVD、
加熱フイラメントCVD、化学輸送法、13.56MHz
の周波数を用いるプラズマCVD法、マイクロ波
のみを用いるプラズマCVD法が知られている。
特にECR CVD法は活性種を磁場によりピンチン
グし、高エネルギ化することにより電子エネルギ
を大きくし、効率よく気体をプラズマ化させてい
る。しかしプラズマ化させることにより、気体が
有する高エネルギにより基板の被形成面がスパツ
タ(損傷)を受けることを防ぐため、このECR
条件を満たした空間より「難れた位置」に基板を
配設し、高エネルギ条件下でのプラズマ状態を避
けたイオンシヤワー化した反応性気体を到達させ
ることにより被膜形成または異方性エツチングを
行つていた。
〔従来の問題点〕
しかしかかるシヤワー化した反応性気体を用い
た被膜形成方法では、その気体の種類により異方
性エツチングまたはアモルフアス構造の被膜形成
等のエツチングまたはデイポジツシヨンのいずれ
か一方のプロセスのみを採用したものであつた。
そのため、この場合の被形成面上にはアモルフア
ス構造の被膜が形成されやすく、結晶性特に多結
晶性または単結晶を有する被膜の形成はきわめて
困難であつた。加えて高いエネルギを用いること
により、初めて反応性気体の活性化または反応を
させ得る被膜形成も不可能であつた。
〔問題を解決すべき手段〕
本発明は被膜形成をその一部でエツチングをさ
せつつ被膜形成を行わんとするもので、好ましく
は少なくとも一部に結晶性を有する被膜を形成せ
んとするものである。この目的のため、マイクロ
波電力の電強度が最も大きくなる領域に被形成面
を有する基板を配設する。さらにその領域で電
場・磁場相互作用を有せしめる。例えば、ECR
(電子サイクロトロン共鳴)を生ぜしめる。さら
に磁場の強度程度を調整すると、この領域におい
てのみ初めて分解または反応をさせることができ
る被膜形成が可能となる。例えば、i−カーボン
(ダイヤモンドまたは微結晶粒を有する炭素被膜)
また高融点の金属またはセラミツク性絶縁被膜で
ある。
すなわち本発明は従来より知られたマイクロ波
を用いたプラズマCVD法に磁場の力を加え、さ
らにマイクロ波の電場と磁場との相互作用、好ま
しくはECR(エレクトロンサイクロトロン共鳴)
条件又はホイツスラー共鳴条件を含む相互作用を
利用して、幅広い圧力範囲において高密度高エネ
ルギのプラズマを発生させる。その共鳴空間での
高エネルギ状態を利用して、例えば活性炭素原子
を多量に発生させ、再現性にすぐれ、均一な膜
厚、均質な特性のダイヤモンド、i−カーボン膜
等の被膜の形成を可能としたものである。また加
える磁場の強さを任意に変更可能な為、電子のみ
ではなく特定のイオンのECR条件を設定するこ
とができる特徴がある。
また本発明の構成に付加して、マイクロ波と磁
場との相互作用により高密度プラズマを発生させ
た後、基板表面上まで至る間に高エネルギを持つ
光(例えば紫外光)を照射し、活性種にエネルギ
を与えつづけると、高密度プラズマ発生領域より
十分離れた位置においても高エネルギ状態に励起
された炭素原子が存在し、より大面積にダイヤモ
ンド、i−カーボン膜を形成することも可能であ
つた。
さらに磁場とマイクロ波の相互作用により発生
する高エネルギ励起種に直流バイアス電圧を加え
て、基板側に多量の励起子が到達するようにする
ことは薄膜の形成速度を向上させる効果があつ
た。
以下に実施例を示し、さらに本発明を説明す
る。
〔実施例〕
第1図に本発明にて用いた磁場印加可能なマイ
クロ波プラズマCVD装置を示す。
同図において、この装置は減圧状態に保持可能
なプラズマ発生空間1、加熱空間3、補助空間
2、磁場を発生する電磁石5,5′およびその電
源25、マイクロ波発振器4、排気系を構成する
ターボ分子ポンプ8、ロータリーポンプ14、圧
力調整バルブ11、赤外線加熱ヒータ20、およ
びその電源23、赤外線反射面21、基板ホルダ
10′、基板10、マイクロ波導入窓15、ガス
導入系6,7、水冷系18,18′より構成され
ている。
まず薄膜形成用基板10を基板ホルダ10′上
に設置する。このホルダは高熱伝導性を有し、か
つマイクロ波をできるだけ乱さないため、セラミ
ツクの窒化アルミニユームを用いた。この基板ホ
ルダを赤外線ヒータ20より放物反射面21レン
ズ系22を用いて集光し加熱する。(例えば500
℃)次に水素6を10SCCMガス系7を通して高密
度プラズマ発生領域2へと導入し、外部より
2.45GHzの周波数のマイクロ波を500Wの強さで
加える。さらに、磁場約2Kガウスを磁石5,
5′より印加し、高密度プラズマをプラズマ発生
空間1にて発生させる。この時プラズマ発生空間
1の圧力は0.1Paに保持されている。この高密度
プラズマ領域より高エネルギを持つ水素原子また
は電子が基板10上に到り、表面を洗浄にする。
さらにこの水素を中止し、ガス系7より炭化物気
体例えばアセチレン(C2H2)、メタン(CH4)を
活性化せしめる。そして高エネルギに励起された
炭素原子が生成され、約500℃加熱された基板1
0上に、この炭素原子が体積し、ダイヤモンド又
はi−カーボン膜が形成される。
第1図において、磁場は2つのリング状の磁石
5,5′を用いたヘルムホルツコイル方式を採用
した。さらに、4分割した空間30に対し電場・
磁場の強度を調べた結果を第2図に示す。
第2図Aにおいて、横軸(X軸)は空間20の
横方向(反応性気体の放出方向)であり、縦軸
(R軸)は磁石の直径方向を示す。図面における
曲線は磁場の等電位面を示す。そしてその線に示
されている数字は磁石5が約2000ガウスの時に得
られる磁場の強さを示す。磁石5の強度を調整す
ると、電極・磁場の相互作用を有する空間100
(875±185ガウス)で大面積において磁場の強さ
を基板の被形成面の広い面積にわたつて概略均一
にさせることができる。図面は等磁場面を示し、
特に線26が875ガウスとなるECR(電子サイク
ロトロン共鳴)条件を生ずる等磁場面である。
さらにこの共鳴条件を生ずる空間100は第2
図Bに示す如く、電場が最大となる領域となるよ
うにしている。第2図Bの横軸は第2図Aと同じ
く反応性気体の流れる方向を示し、縦軸は電場
(電界強度)の強さを示す。
すると電界領域100以外に領域100′も最大とな
る領域に該当する。しかしにここに対応する磁場
(第2図A)はきわめて等磁場面が多く存在して
いる。即ち領域100′には基板の被形成面の直径方
向(第2図Aにおける縦軸方向)での膜厚のばら
つきが大きくなり、26′の共鳴条件を満たす
ECR条件部分で良質の被膜ができるのみである。
結果として均一かつ均質な被膜を期待できない。
もちろんドーナツ型に作らんとする場合はそれ
でもよい。
また領域100に対してその原点対称の反対の側
にも電場が最大であり、かつ磁場が広い領域にわ
たつて一定となる領域を有する。基板の加熱を行
う必要がない場合はかかる空間での被膜形成が有
効である。しかしマイクロ波の電場を乱すことな
く加熱を行う手段が得にくい。
これらの結果、基板の出し入れの容易さ、加熱
の容易さを考慮し、均一な膜でありかつ均質な被
膜とするためには第2図Aの領域100が3つの領
域の中では最も工業的に量産性の優れた位置と推
定される。
この結果、本発明では領域100に基板10を配
設すると、この基板が円形であつた場合、半径
100mmまで、好ましくは半径50mmまでの大きさで
均一、均質に被膜形成が可能となつた。
さらに大面積とするには、例えばこの4倍の面
積において同じく均一な膜厚とするには周波数を
2.45GHzではなく1.225GHzとすればこの空間の直
径(第2図AのR方向)を2倍とすることができ
る。
第3図は第2図における基板10の位置におけ
る円形空間の磁場Aおよび電場Bの等磁場、等電
場の図面である。第3図Bより明らかなごとく、
電場は最大25KV/mにまで達せしめ得ることが
わかる。
また比較のために同条件下で磁場を印加せずに
薄膜形成を行つた。その時基板上に形成された薄
膜はグラフアイト膜であつた。
さらに本実施例と同条件下において基板温度を
650℃以上とした場合ダイヤモンド薄膜を形成す
ることが可能であつた。
本実施例にて形成された薄膜の電子線回析像を
とつたところアモルフアス特有のハローパターン
とともにダイヤモンドのスポツトがみられ、i−
カーボン膜となつていた。さらに基板温度を上げ
て形成してゆくにしたがい、ハローパターンが少
しづつ消えてゆき650℃以上でダイヤモンドとな
つた。
また基板加熱温度を150℃未満とした場合、磁
場を加えてもi−カーボン膜を作成することはで
きなかつた。
かかる方式において、基板上に炭化珪化物気体
(メチルシラン)を用い炭化珪素の多結晶膜を作
ることができる。アルミニユーム化物気体とアン
モニアとの反応により窒化アルミニユーム被膜を
作ることもできる。さらにタングステン、チタ
ン、モリブデンまたはそれらの珪化物の高融点導
体を作ることもできる。
〔効果〕
本発明の構成を取ることにより、従来作製され
ていた結晶性を少なくとも一部に有する被膜の作
製条件より幅広い条件下にて作製可能であつた。
また従来法に比べて大面積に均一な薄膜を形成
することが可能であつた。
さらに作製された薄膜は院張、圧縮とも膜応力
をほとんど有さない良好な膜であつた。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明で用いる磁場・電場相互作用を
用いたマイクロ波CVD装置の概略を示す。第2
図はコンピユータシミユレイシヨンによる磁場お
よび電場特性を示す。第3図は電場・磁場相互作
用をさせた位置での磁場および電場の特性を示
す。 1……プラズマ発生空間、10,10′……基
板および基板ホルダ、4……マイクロ波発振器、
5,5′……外部磁場発生器、20……基板加熱
ヒータ、100……最大電場となる空間。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 減圧状態に保持されたプラズマ発生室、該発
    生室を囲んで設けられた磁場発生手段、前記プラ
    ズマ発生室にマイクロ波を供給する手段を備えた
    磁場及び電場の相互作用を利用して被膜を形成す
    る方法であつて、前記プラズマ発生室にエツチン
    グさせる気体と被膜を形成させる気体とを導入
    し、該気体に対して外部より磁界及びマイクロ波
    を加え、電子サイクロトロン共鳴条件を満たす共
    鳴磁場の±21.2%以内の磁場領域内に被形成面を
    有する基板を設けることにより、被形成面上にエ
    ツチングをさせつつ被膜を形成することを特徴と
    する被膜形成方法。
JP14506890A 1990-06-01 1990-06-01 被膜形成方法 Granted JPH03166379A (ja)

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