JPH054507U - デユアル・インライン・パツケージ - Google Patents

デユアル・インライン・パツケージ

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Publication number
JPH054507U
JPH054507U JP1744791U JP1744791U JPH054507U JP H054507 U JPH054507 U JP H054507U JP 1744791 U JP1744791 U JP 1744791U JP 1744791 U JP1744791 U JP 1744791U JP H054507 U JPH054507 U JP H054507U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
package
substrate
tip
integrated circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP1744791U
Other languages
English (en)
Inventor
宏之 岸浪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP1744791U priority Critical patent/JPH054507U/ja
Publication of JPH054507U publication Critical patent/JPH054507U/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体集積回路を保護しているパッケージ部
分と基板の熱膨張係数の違いから生じる応力を吸収し、
はんだ付け部を守るためのリードを得る。 【構成】 先端から付け根までが先端と同じ細い幅で、
かつつば3の付いているリード2を半導体集積回路を保
護しているパッケージ部分1に取り付け、パッケージ部
分1と基板の熱膨張係数の違いから発生する応力を吸収
する。またリード2に設けられたつば3がパッケージ部
分1と基板の間に所定の距離を作り、その距離の分だけ
リード2が更に柔軟性を持つ。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、デュアル・インライン・パッケージ(Dual Inline Package)のリード構造に関する。
【0002】
【従来の技術】
図2は、従来のデュアル・インライン・パッケージ(以下単にパッケージとい う。)を示す図であり、図において、1は半導体集積回路を保護しているパッケ ージ部分、2はリードである。
【0003】 従来のパッケージは上記のように構成され、例えばパッケージをはんだ付けす る際、リード2の先端部の細い部分まで基板のスルーホールに挿入して、はんだ 付けされる。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】
上記のようなパッケージでは、リード2がパッケージを保護しているパッケー ジ部分1を支えており、パッケージ部分1と基板の熱膨張係数の違いから、リー ド2のはんだ付け部に応力が掛かり、リード2が太いために、リード2で応力を 吸収することができずリード2のはんだ付け部のはんだにクラック等の不具合が 生じるという問題点があった。
【0005】 この考案は、かかる課題を解決するために成されたものであり、半導体集積回 路を保護しているパッケージ部分と基板の熱膨張係数の違いから発生する応力を 吸収する構造をもつリードを提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】
この考案に係るパッケージは、半導体集積回路を保護しているパッケージ部分 と基板の熱膨張係数の違いから発生する応力を吸収できるように、リード全体を 細くし、柔軟性をもたせ、かつ基板のスルーホールにリードを挿入したとき、パ ッケージが基板から適当な高さ位置でとまるように、リードにつばを設けたもの である。
【0007】
【作用】
この考案は、リードの先端から付け根まで先端と同じ細い幅に成っており、柔 軟なため、半導体集積回路を保護しているパッケージ部分と基板の熱膨張係数の 違いから発生する応力を吸収できる。
【0008】 また、リードに設けられたつばが、パッケージと基板の間に適当な距離を作り 、その距離の分だけリードが更に柔軟性を持つことになる。このことにより、リ ードが半導体集積回路を保護しているパッケージ部分と基板の熱膨張係数の違い から発生する応力をより吸収できるようになる。
【0009】
【実施例】
実施例1. 図1はこの考案の一実施例を示す図であり、1は上記従来と全く同一のもので ある。2は先端から付け根まで先端と同じ細い幅のリードである。3はリードに 設けられたつばである。
【0010】 前記のようなリード構造を有するパッケージは半導体集積回路を保護している パッケージ部分1と基板の熱膨張係数の違いから発生する応力を先端から付け根 まで先端と同じ細い幅のリード2で、吸収することができる。
【0011】 また、リード2に設けられたつば3が、パッケージと基板の間に適当な距離を 作り、その距離の分だけリードが更に柔軟性を持つことになる。
【0012】
【考案の効果】
この考案は、以上説明したように構成されているので、以下に記載されるよう な効果を奏する。
【0013】 パッケージのリードを先端から付け根まで先端と同じような太さに細くし、リ ードの途中につばを設けるだけで、半導体集積回路を保護しているパッケージ部 分と基板の熱膨張係数の違いから発生する応力を吸収し、はんだ付け部を保護す ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この考案の実施例1を示す図である。
【図2】従来のデュアル・インライン・パッケージを示
す図である。
【符号の説明】
1 パッケージ部分 2 リード 3 つば

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 【請求項1】 リード付け根から先端までが同じ細い幅
    を有し、かつ、つばが設けられているリードを有するこ
    とを特徴とするデュアル・インライン・パッケージ。
JP1744791U 1991-03-22 1991-03-22 デユアル・インライン・パツケージ Pending JPH054507U (ja)

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JP1744791U JPH054507U (ja) 1991-03-22 1991-03-22 デユアル・インライン・パツケージ

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JP1744791U JPH054507U (ja) 1991-03-22 1991-03-22 デユアル・インライン・パツケージ

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JPH054507U true JPH054507U (ja) 1993-01-22

Family

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JP1744791U Pending JPH054507U (ja) 1991-03-22 1991-03-22 デユアル・インライン・パツケージ

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