JPH0545640A - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
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- JPH0545640A JPH0545640A JP22458291A JP22458291A JPH0545640A JP H0545640 A JPH0545640 A JP H0545640A JP 22458291 A JP22458291 A JP 22458291A JP 22458291 A JP22458291 A JP 22458291A JP H0545640 A JPH0545640 A JP H0545640A
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- JP
- Japan
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- liquid crystal
- display device
- crystal display
- electrode
- insulating layer
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、電極パタン形成時の欠陥を低減
し、また表示が明るい液晶表示装置の提供を目的とす
る。 【構成】 画素電極が非線形スイッチング素子の平坦
化、絶縁あるいはパッシベーション層上にコンタクトホ
ールあるいはスルーホールを介して形成されていること
を特徴とする液晶表示装置。
し、また表示が明るい液晶表示装置の提供を目的とす
る。 【構成】 画素電極が非線形スイッチング素子の平坦
化、絶縁あるいはパッシベーション層上にコンタクトホ
ールあるいはスルーホールを介して形成されていること
を特徴とする液晶表示装置。
Description
【0001】
【技術分野】本発明は、電極パターン形成時の欠陥を低
減し、また表示が明るい液晶表示装置に関する。
減し、また表示が明るい液晶表示装置に関する。
【0002】
【従来技術】カラー表示を行うための手法の一つに、カ
ラーフィルタを透明電極パタンに合わせてそれぞれ形成
し、裏面に光源を設置しその透過光を利用してカラーフ
ィルタの色を認識する方法がある。しかし、この表示方
式は照明装置を必要とし、しかも通常偏光子を二枚設置
するTNモードやSTNモードで用いられるため表示が
暗くなりやすいことから照明を非常に明るくする必要が
あり、低消費電力化や薄型化を図るのが非常に難しいと
いう欠点があった。又、液晶駆動素子としてTFT(Th
in Film Transistor)を各画素に対応させて設けるとと
もにカラーフィルタを設置し、裏面に設置した光源から
の光によってカラー表示を実現する手法においても上記
と同様の欠点があった。一方、近年、ポリマーのマトリ
ックス中に液晶を分散させたポリマー分散型液晶表示装
置の提案がなされているが、これらは、液晶層の厚さの
影響を受けにくい、大面積化が可能、偏光板を必要とし
ない等の特徴を持つことから注目されている。また、特
開平1−241520号公報には、このポリマー分散型
液晶を用い、カラーフィルタと対応させてカラー表示を
行う技術が開示されている。しかし、該公報に記載の方
法においても次のような欠点がある。すなわち、液晶が
光を透過する状態を“ON”、光を散乱する状態を“O
FF”とするため、“OFF”時でも表側(表示面側)
から入射した光が液晶層で散乱されカラーフィルタを透
過してしまうので“黒色”表示において十分な黒さを得
ることが難しく、十分なコントラスト比も得にくい。裏
面からの光源を利用する構造の場合には、この光源の輝
度を増加することによって、ある程度コントラスト比を
向上させることができるが、“黒色”の表示は白っぽく
なってしまう。また、裏面からの光源を使用せずに、反
射光を用いる構造とした場合には、特にコントラスト比
が小さくなってしまう。また、電子通信学会技法 EI
D89−103には、紫外線重合性化合物が形成する3
次元網目構造中に液晶を分散させたポリマーネットワー
ク型液晶を表示素子の液晶層として用いることにより、
低電圧駆動、優れた急峻性等の利点が得られることが示
してある。しかし、該文献はカラー表示の実施について
何ら言及していない。さらに、JAPAN Displ
ay ’89,p572−575には、カプセル化液晶
をTFTにより駆動させ、照明手段を用いて表示を行う
技術が開示されているが、この手法は液晶粒子を透過光
で観察するためカラー表示は行われていない。そこで、
本出願人は、先きに裏面からの光源を用いなくとも十分
なコントラスト比が得られ、裏面からの照明を必要とし
ないカラー表示を可能とし、裏面の照明装置のないぶん
だけより一層の薄型化が可能なカラー液晶表示装置を提
供する方法を呈示している。液晶層の光散乱を利用した
ディスプレイ方式にはPC型(Phase Change:相転
移)、DS型(Dynamic Scattering)、熱効果型、ある
いはPDLC(ポリマー分散型液晶やポリマーネットワ
ーク型液晶を総称して以下このように記述する)等が知
られているが、PDLCを用いた場合は液晶分子を配向
させるラビング等の工程が必要ないため、安定した表示
品質を得やすい。しかし、PDLCは従来のSTN型液
晶などと比べると急峻性が悪いために、STN型液晶デ
ィスプレイのような単純マトリクス駆動を行う場合で
は、デューティ比は、1/60〜1/100程度が限界
であり、ディスプレイの大画面化は難しいと考えられ
る。そこで、画素一個一個にTFT、TFD、MIM等
の非線形素子を使用すれば、上記のような急峻性は必要
がないので、安定した表示品質と大画面化、高精細画面
化が可能となってくる。しかし各画素毎の非線形スイッ
チング素子としてTFTを用いた場合、次のような問題
が生じる。すなわち、TFTが形成されている領域及び
ゲート配線、ソース配線の部分と、これらの製造上必要
な間隔を合わせた領域には画素電極を形成することがで
きないので、表示面積に対する画素電極の割合(開口
率)が低下してしまい表示面が暗くなってしまう。特に
高精細化を図るほど開口率の低下が著しい。また、通常
液晶表示装置をTFTで駆動する場合、ソースラインを
通して書き込んだ印加電圧を次の書き込みまでの時間保
持するため、液晶と並列に容量を作り込む必要があり、
図1(a)に示したような付加容量や、(b)に示した
ような蓄積容量方式をとる。ところが、このような容量
を得る方式として(a)の付加容量方式を採用した場合
にはゲートラインの容量が増大してしまいゲート駆動時
の負荷が増えゲートラインの遅延が増えてしまう。一
方、(b)の蓄積容量方式を採用した場合にはゲートラ
インの容量が増大することはないが蓄積容量形成用電極
をゲート電極と同時に形成する方法を用いた場合、配線
の交差部が2倍となってしまい歩留まりの点で不利とな
ってしまう。さらに、非線形スイッチング素子としてボ
トムゲート型のTFTを採用した場合にゲートラインと
ソースラインの交差部において断線や層間ショートなど
が生じやすいため歩留まりが向上しない原因の一つとな
っている。
ラーフィルタを透明電極パタンに合わせてそれぞれ形成
し、裏面に光源を設置しその透過光を利用してカラーフ
ィルタの色を認識する方法がある。しかし、この表示方
式は照明装置を必要とし、しかも通常偏光子を二枚設置
するTNモードやSTNモードで用いられるため表示が
暗くなりやすいことから照明を非常に明るくする必要が
あり、低消費電力化や薄型化を図るのが非常に難しいと
いう欠点があった。又、液晶駆動素子としてTFT(Th
in Film Transistor)を各画素に対応させて設けるとと
もにカラーフィルタを設置し、裏面に設置した光源から
の光によってカラー表示を実現する手法においても上記
と同様の欠点があった。一方、近年、ポリマーのマトリ
ックス中に液晶を分散させたポリマー分散型液晶表示装
置の提案がなされているが、これらは、液晶層の厚さの
影響を受けにくい、大面積化が可能、偏光板を必要とし
ない等の特徴を持つことから注目されている。また、特
開平1−241520号公報には、このポリマー分散型
液晶を用い、カラーフィルタと対応させてカラー表示を
行う技術が開示されている。しかし、該公報に記載の方
法においても次のような欠点がある。すなわち、液晶が
光を透過する状態を“ON”、光を散乱する状態を“O
FF”とするため、“OFF”時でも表側(表示面側)
から入射した光が液晶層で散乱されカラーフィルタを透
過してしまうので“黒色”表示において十分な黒さを得
ることが難しく、十分なコントラスト比も得にくい。裏
面からの光源を利用する構造の場合には、この光源の輝
度を増加することによって、ある程度コントラスト比を
向上させることができるが、“黒色”の表示は白っぽく
なってしまう。また、裏面からの光源を使用せずに、反
射光を用いる構造とした場合には、特にコントラスト比
が小さくなってしまう。また、電子通信学会技法 EI
D89−103には、紫外線重合性化合物が形成する3
次元網目構造中に液晶を分散させたポリマーネットワー
ク型液晶を表示素子の液晶層として用いることにより、
低電圧駆動、優れた急峻性等の利点が得られることが示
してある。しかし、該文献はカラー表示の実施について
何ら言及していない。さらに、JAPAN Displ
ay ’89,p572−575には、カプセル化液晶
をTFTにより駆動させ、照明手段を用いて表示を行う
技術が開示されているが、この手法は液晶粒子を透過光
で観察するためカラー表示は行われていない。そこで、
本出願人は、先きに裏面からの光源を用いなくとも十分
なコントラスト比が得られ、裏面からの照明を必要とし
ないカラー表示を可能とし、裏面の照明装置のないぶん
だけより一層の薄型化が可能なカラー液晶表示装置を提
供する方法を呈示している。液晶層の光散乱を利用した
ディスプレイ方式にはPC型(Phase Change:相転
移)、DS型(Dynamic Scattering)、熱効果型、ある
いはPDLC(ポリマー分散型液晶やポリマーネットワ
ーク型液晶を総称して以下このように記述する)等が知
られているが、PDLCを用いた場合は液晶分子を配向
させるラビング等の工程が必要ないため、安定した表示
品質を得やすい。しかし、PDLCは従来のSTN型液
晶などと比べると急峻性が悪いために、STN型液晶デ
ィスプレイのような単純マトリクス駆動を行う場合で
は、デューティ比は、1/60〜1/100程度が限界
であり、ディスプレイの大画面化は難しいと考えられ
る。そこで、画素一個一個にTFT、TFD、MIM等
の非線形素子を使用すれば、上記のような急峻性は必要
がないので、安定した表示品質と大画面化、高精細画面
化が可能となってくる。しかし各画素毎の非線形スイッ
チング素子としてTFTを用いた場合、次のような問題
が生じる。すなわち、TFTが形成されている領域及び
ゲート配線、ソース配線の部分と、これらの製造上必要
な間隔を合わせた領域には画素電極を形成することがで
きないので、表示面積に対する画素電極の割合(開口
率)が低下してしまい表示面が暗くなってしまう。特に
高精細化を図るほど開口率の低下が著しい。また、通常
液晶表示装置をTFTで駆動する場合、ソースラインを
通して書き込んだ印加電圧を次の書き込みまでの時間保
持するため、液晶と並列に容量を作り込む必要があり、
図1(a)に示したような付加容量や、(b)に示した
ような蓄積容量方式をとる。ところが、このような容量
を得る方式として(a)の付加容量方式を採用した場合
にはゲートラインの容量が増大してしまいゲート駆動時
の負荷が増えゲートラインの遅延が増えてしまう。一
方、(b)の蓄積容量方式を採用した場合にはゲートラ
インの容量が増大することはないが蓄積容量形成用電極
をゲート電極と同時に形成する方法を用いた場合、配線
の交差部が2倍となってしまい歩留まりの点で不利とな
ってしまう。さらに、非線形スイッチング素子としてボ
トムゲート型のTFTを採用した場合にゲートラインと
ソースラインの交差部において断線や層間ショートなど
が生じやすいため歩留まりが向上しない原因の一つとな
っている。
【0003】
【目 的】本発明は、反射型・直視型の液晶表示装置
において開口率の低下を防ぎ、歩留まりの低下を生じる
こと無く蓄積容量が形成でる構造を提供するものであ
る。また、反射型・直視型・透過型の液晶表示装置にか
かわらず、非線形スイッチング素子としてボトムゲート
型のTFTを用いた場合にゲートラインとソースライン
の交差部での断線や層間のショートの発生を低下させ歩
留まりを向上させる構造を提供するものである。
において開口率の低下を防ぎ、歩留まりの低下を生じる
こと無く蓄積容量が形成でる構造を提供するものであ
る。また、反射型・直視型・透過型の液晶表示装置にか
かわらず、非線形スイッチング素子としてボトムゲート
型のTFTを用いた場合にゲートラインとソースライン
の交差部での断線や層間のショートの発生を低下させ歩
留まりを向上させる構造を提供するものである。
【0004】
【構成】従来、TFT,TFDを用いた液晶表示装置に
おいては、図2(c)、(d)のような構成が用いられ
ていたため、TFTあるいはTFDが形成されている領
域、及びソースラインが形成されている領域と、これら
を実際に形成するために必要な製造上の余裕部分を加え
た領域には、画素電極を形成することができないために
開口率を低下させていた。そこで本発明は、裏基板に設
けられる画素電極を、同基板上に形成された非線形スイ
ッチング素子の平坦化、絶縁あるいはパッシベーション
層上にコンタクトホールあるいはスルーホールを介して
形成させることにより、図2の(a)、(b)のように
なり、画素電極の下に非線形スイッチング素子・配線が
形成されているため開口率を向上することが可能とな
る。図2では、ボトムゲート型のTFTを例にとって説
明したが、正スタガ型やプレーナ型のTFTの場合も同
様の効果が得られる。図2中、1は基板、2はゲート電
極、3はゲート絶縁膜、4はアモルファスシリコン、5
はオーミック層、6はチャンネルストッパ、7はソース
電極、8はドレイン電極、9は画素電極である。また、
19は金属層a、20は金属層b、11は絶縁層であ
る。
おいては、図2(c)、(d)のような構成が用いられ
ていたため、TFTあるいはTFDが形成されている領
域、及びソースラインが形成されている領域と、これら
を実際に形成するために必要な製造上の余裕部分を加え
た領域には、画素電極を形成することができないために
開口率を低下させていた。そこで本発明は、裏基板に設
けられる画素電極を、同基板上に形成された非線形スイ
ッチング素子の平坦化、絶縁あるいはパッシベーション
層上にコンタクトホールあるいはスルーホールを介して
形成させることにより、図2の(a)、(b)のように
なり、画素電極の下に非線形スイッチング素子・配線が
形成されているため開口率を向上することが可能とな
る。図2では、ボトムゲート型のTFTを例にとって説
明したが、正スタガ型やプレーナ型のTFTの場合も同
様の効果が得られる。図2中、1は基板、2はゲート電
極、3はゲート絶縁膜、4はアモルファスシリコン、5
はオーミック層、6はチャンネルストッパ、7はソース
電極、8はドレイン電極、9は画素電極である。また、
19は金属層a、20は金属層b、11は絶縁層であ
る。
【0005】また、非線形スイッチング素子としてTF
Tを採用した場合にゲートラインとソースラインの交差
部において断線や層間ショートなどが生じやすいため歩
留まりが向上しない原因の一つとなっている。そこで本
発明は、TFTは基板上に成膜された絶縁層上に形成さ
せ、該TFTのゲート電極及びその配線部が上記絶縁層
に埋め込まれた状態の構成を採用することにより(図3
参照)、ゲート配線による段差が生じないので、ゲート
配線の上部に絶縁層を介して形成されるソースラインの
断線を防止することができる。
Tを採用した場合にゲートラインとソースラインの交差
部において断線や層間ショートなどが生じやすいため歩
留まりが向上しない原因の一つとなっている。そこで本
発明は、TFTは基板上に成膜された絶縁層上に形成さ
せ、該TFTのゲート電極及びその配線部が上記絶縁層
に埋め込まれた状態の構成を採用することにより(図3
参照)、ゲート配線による段差が生じないので、ゲート
配線の上部に絶縁層を介して形成されるソースラインの
断線を防止することができる。
【0006】さらに液晶表示装置をTFTやTFDで駆
動する場合、ソースラインを通して書き込んだ印加電圧
を次の書き込みまでの時間保持するため、液晶と並列に
容量を設置する必要があるが、通常図1(a)に示した
ような付加容量や(b)に示したような蓄積容量方式を
とる。ところが、(a)の付加容量方式を採用した場合
にはゲートラインの容量が増大してしまいゲート駆動時
の負荷が増えゲートラインの遅延が増えてしまう。一
方、(b)の蓄積容量方式を採用した場合にはゲートラ
インの容量が増大することはないが蓄積容量形成用電極
をゲート電極と同時に形成する方法を用いた場合、配線
の交差部が2倍となってしまい歩留まりの低下を生じる
可能性がある。そこで、本発明は、前記の問題点を解決
するため、TFTあるいはTFDの下部に絶縁層を介し
て蓄積容量を形成する電極を設け、この蓄積容量を形成
する電極と対向基板の電極とを接続し、蓄積容量として
機能させるという手段を採用した(図4参照)。すなわ
ち、前記電極は画素毎のパターニングをする必要もな
く、この電極のためにその上部に段差が生じることもな
い。また、この蓄積容量は絶縁層の膜厚とその材料によ
って適宜制御することが可能である。
動する場合、ソースラインを通して書き込んだ印加電圧
を次の書き込みまでの時間保持するため、液晶と並列に
容量を設置する必要があるが、通常図1(a)に示した
ような付加容量や(b)に示したような蓄積容量方式を
とる。ところが、(a)の付加容量方式を採用した場合
にはゲートラインの容量が増大してしまいゲート駆動時
の負荷が増えゲートラインの遅延が増えてしまう。一
方、(b)の蓄積容量方式を採用した場合にはゲートラ
インの容量が増大することはないが蓄積容量形成用電極
をゲート電極と同時に形成する方法を用いた場合、配線
の交差部が2倍となってしまい歩留まりの低下を生じる
可能性がある。そこで、本発明は、前記の問題点を解決
するため、TFTあるいはTFDの下部に絶縁層を介し
て蓄積容量を形成する電極を設け、この蓄積容量を形成
する電極と対向基板の電極とを接続し、蓄積容量として
機能させるという手段を採用した(図4参照)。すなわ
ち、前記電極は画素毎のパターニングをする必要もな
く、この電極のためにその上部に段差が生じることもな
い。また、この蓄積容量は絶縁層の膜厚とその材料によ
って適宜制御することが可能である。
【0007】本発明の液晶駆動用電極を設けた一対の基
板間に液晶層を挾持した構造を有し、それぞれの画素の
駆動を各画素毎に設けた非線形スイッチング素子によっ
て行う液晶表示装置は特定の構造のものに限定されるも
のではない。また、直視型液晶表示装置、すなわち表示
装置の使用者が見る側を表、反対側を裏とした場合に、
裏側基板に表基板を透過してきた光を吸収するような構
造を設けたもの、あるいは反射型液晶表示装置、すなな
ち裏基板の表面または裏面に表基板を透過してきた光を
反射するような構造を設けたものも本発明の液晶表示装
置として使用される。
板間に液晶層を挾持した構造を有し、それぞれの画素の
駆動を各画素毎に設けた非線形スイッチング素子によっ
て行う液晶表示装置は特定の構造のものに限定されるも
のではない。また、直視型液晶表示装置、すなわち表示
装置の使用者が見る側を表、反対側を裏とした場合に、
裏側基板に表基板を透過してきた光を吸収するような構
造を設けたもの、あるいは反射型液晶表示装置、すなな
ち裏基板の表面または裏面に表基板を透過してきた光を
反射するような構造を設けたものも本発明の液晶表示装
置として使用される。
【0008】また液晶相の構成およびそれを構成する素
材の種類も特に限定されるものではないが、たとえば
(a)ポリマーにより形成された三次元網状構造に取り
囲まれるように液晶を分散させたポリマーネットワーク
型液晶層からなる膜あるいは(b)ポリマーのマトリッ
クス中に粒子状の液晶を分散させたポリマー分散型液晶
相からなる膜があげらる。また、これら液晶相に色素を
分散させたカラー液晶表示装置であってもよい。
材の種類も特に限定されるものではないが、たとえば
(a)ポリマーにより形成された三次元網状構造に取り
囲まれるように液晶を分散させたポリマーネットワーク
型液晶層からなる膜あるいは(b)ポリマーのマトリッ
クス中に粒子状の液晶を分散させたポリマー分散型液晶
相からなる膜があげらる。また、これら液晶相に色素を
分散させたカラー液晶表示装置であってもよい。
【0009】以下本発明を実施例に基づき詳細に説明す
る。 実施例1 図5は本発明による反射型の液晶表示装置の1実施例を
示したものである。基板1としてはガラスを用いたが、
ポリエチレンテレフタレート、ポリカーボネート、ポリ
エーテルサルフォン、ポリアリレートなどのような透明
なポリマー基板を使用することもできる。液晶層13と
しては、下記のようないわゆるポリマー分散型液晶を用
いた。エポキシ樹脂と硬化剤を所定量混合した液に、シ
アノビフェニル系のネマティック液晶を重量で4:1の
割合で混合した。これをホモジナイザーにて均一混合し
た液晶分散液を透明電極14上に塗布後80℃で加熱硬
化して液晶層を作成した。エポキシ樹脂のかわりにポリ
ビニルアルコール、二官能型光硬化アクリル樹脂等を用
いることができる。液晶としてはシアノビフェニル系以
外にもエステル系、ピリミジン系などや、それらの混合
物等の通常のネマティック液晶を用いることができる。
液晶粒子の大きさは10μm以下程度が適当であり、そ
の含有量は10〜50wt%程度が適当である。液晶層
の厚さは約15μmであった。基板1′上にはスイッチ
ング素子として作用するTFTが各画素毎に形成されて
おり、入力されたデータに応じてそれぞれが対応する画
素電極9のスイッチ動作を行う。これらのTFTが形成
された上部に、絶縁層としてSiNxを2μmの膜厚で
成膜し、これにTFTのドレイン電極部8にスルーホー
ルを形成する。この上部に画素電極9となるAlを1.
5μmの膜厚で成膜し、画素電極9をパターニングす
る。さらにこの上部にSiNxを5000Åの膜厚で成
膜し、パッシベーション層とした。本実施例においては
スイッチング素子として逆スタガ型のTFTを使用した
が、他の型のTFTやMIM等の他のスイッチング素子
を利用することも可能である。絶縁層の膜厚としては1
〜5μmが適当であるが、望ましくは2〜3μmがよ
く、材料としてはこの他にSiO2等を用いることがで
きる。また、これにスルーホールを形成する際にはスル
ーホールの内面と基板面となす角度が30〜70°、望
ましくは45〜60°とするのがよい。Alの膜厚とし
ては5000Å〜2μmが望ましく、さらに望ましくは
1〜1.5μmがよい。画素電極9の材料としてはCu
やCr等を用いることができる。画素電極9上のパッシ
ベーション層の膜厚は2000Å〜2μmが望ましく、
さらに望ましくは5000Å〜1μmとするのがよい。
本実施例では反射型の液晶表示装置を例にとっている
が、直視型の液晶表示装置の場合には画素電極の上部に
光吸収層を設けるようにすればよく、これはパッシベー
ション層の上部に形成されていても構わない。
る。 実施例1 図5は本発明による反射型の液晶表示装置の1実施例を
示したものである。基板1としてはガラスを用いたが、
ポリエチレンテレフタレート、ポリカーボネート、ポリ
エーテルサルフォン、ポリアリレートなどのような透明
なポリマー基板を使用することもできる。液晶層13と
しては、下記のようないわゆるポリマー分散型液晶を用
いた。エポキシ樹脂と硬化剤を所定量混合した液に、シ
アノビフェニル系のネマティック液晶を重量で4:1の
割合で混合した。これをホモジナイザーにて均一混合し
た液晶分散液を透明電極14上に塗布後80℃で加熱硬
化して液晶層を作成した。エポキシ樹脂のかわりにポリ
ビニルアルコール、二官能型光硬化アクリル樹脂等を用
いることができる。液晶としてはシアノビフェニル系以
外にもエステル系、ピリミジン系などや、それらの混合
物等の通常のネマティック液晶を用いることができる。
液晶粒子の大きさは10μm以下程度が適当であり、そ
の含有量は10〜50wt%程度が適当である。液晶層
の厚さは約15μmであった。基板1′上にはスイッチ
ング素子として作用するTFTが各画素毎に形成されて
おり、入力されたデータに応じてそれぞれが対応する画
素電極9のスイッチ動作を行う。これらのTFTが形成
された上部に、絶縁層としてSiNxを2μmの膜厚で
成膜し、これにTFTのドレイン電極部8にスルーホー
ルを形成する。この上部に画素電極9となるAlを1.
5μmの膜厚で成膜し、画素電極9をパターニングす
る。さらにこの上部にSiNxを5000Åの膜厚で成
膜し、パッシベーション層とした。本実施例においては
スイッチング素子として逆スタガ型のTFTを使用した
が、他の型のTFTやMIM等の他のスイッチング素子
を利用することも可能である。絶縁層の膜厚としては1
〜5μmが適当であるが、望ましくは2〜3μmがよ
く、材料としてはこの他にSiO2等を用いることがで
きる。また、これにスルーホールを形成する際にはスル
ーホールの内面と基板面となす角度が30〜70°、望
ましくは45〜60°とするのがよい。Alの膜厚とし
ては5000Å〜2μmが望ましく、さらに望ましくは
1〜1.5μmがよい。画素電極9の材料としてはCu
やCr等を用いることができる。画素電極9上のパッシ
ベーション層の膜厚は2000Å〜2μmが望ましく、
さらに望ましくは5000Å〜1μmとするのがよい。
本実施例では反射型の液晶表示装置を例にとっている
が、直視型の液晶表示装置の場合には画素電極の上部に
光吸収層を設けるようにすればよく、これはパッシベー
ション層の上部に形成されていても構わない。
【0010】実施例2 図6は本発明による直視型カラー液晶表示装置の1実施
例を示したものである。液晶層13としていわゆるポリ
マーネットワーク型液晶を用いて実施例1と同様にして
作製した。液晶層13の作製手順は以下のとおりであ
る。ポリメチルメタクリレート樹脂(PMMA)の15
wt%トルエン溶液に重量比10:1の割合でネマティ
ック液晶を添加した。撹拌により均一化し、透明電極1
4上に塗布後加熱して溶媒を除去することにより液晶層
が作成される。このポリマーネットワーク型液晶に用い
るられるポリマーとしては、アクリル樹脂、ポリスチレ
ン、ポリカーボネート、ポリビニルアルコール、シロキ
サン系、エステル系等の高分子液晶、およびエポキシ樹
脂、ポリアミド等通常の高分子化合物が例示され、液晶
としてはポリマー分散型と同様のものが例示される。液
晶の含有量はポリマー分散型よりも多くすることが容易
で、液晶の含有量が多い方が光散乱状態の散乱効率が高
いので、60〜90wt%程度が適当である。基板1′
上にはカラーフィルタが形成されており、液晶層13が
光を散乱する状態となった場合にそれぞれのフィルタの
色に応じた表示をするようなっている。基板1′上には
下部絶縁層11としてSiNxが2μmの膜厚で成膜さ
れており、この上部に逆スタガ型TFTが形成されてい
る。この時TFTのゲート電極2は下部絶縁層11に埋
め込まれた形状となっている。この構造のゲート電極2
の形成方法は以下の通りである。 下部絶縁層11′としてSiNxを2μmの膜厚で成
膜する。 ゲート電極2パタンの反転パタンをネガ型のレジスト
を用いて形成する。 上記レジストパタンをマスクとし、ドライエッチング
法を用い下部絶縁層をゲート電極2の膜厚だけ除去す
る。 ネガ型レジストのパタンを残したままでゲート電極と
してCrを3000Åの膜厚で成膜する。 ネガ型レジストを剥離して下部絶縁層にゲート電極2
を形成する。 つまり、リフトオフ法によって下部絶縁層11′に埋め
込まれたゲート電極2パタンを形成した。さらに、この
上部にゲート絶縁膜3を兼ねた絶縁層としてのSiNx
を成膜して、順次逆スタガ型TFTを各画素毎に形成す
る。各画素電極9を全て正の電圧印加状態にしておき、
電解重合法によってポリアニリンを2.0μmの膜厚で
形成して光吸収層とした(図示せず)。さらにこの上部
にSiNxを5000Åの膜厚で成膜し、パッシベーシ
ョン層とした。ゲート電極2の材料としてはCrのほか
にAl,Ta,Cu等を用いることができ、その膜厚は
1000Å〜1.0μmが望ましく、さらに望ましくは
2000Å〜5000Åとするのがよい。
例を示したものである。液晶層13としていわゆるポリ
マーネットワーク型液晶を用いて実施例1と同様にして
作製した。液晶層13の作製手順は以下のとおりであ
る。ポリメチルメタクリレート樹脂(PMMA)の15
wt%トルエン溶液に重量比10:1の割合でネマティ
ック液晶を添加した。撹拌により均一化し、透明電極1
4上に塗布後加熱して溶媒を除去することにより液晶層
が作成される。このポリマーネットワーク型液晶に用い
るられるポリマーとしては、アクリル樹脂、ポリスチレ
ン、ポリカーボネート、ポリビニルアルコール、シロキ
サン系、エステル系等の高分子液晶、およびエポキシ樹
脂、ポリアミド等通常の高分子化合物が例示され、液晶
としてはポリマー分散型と同様のものが例示される。液
晶の含有量はポリマー分散型よりも多くすることが容易
で、液晶の含有量が多い方が光散乱状態の散乱効率が高
いので、60〜90wt%程度が適当である。基板1′
上にはカラーフィルタが形成されており、液晶層13が
光を散乱する状態となった場合にそれぞれのフィルタの
色に応じた表示をするようなっている。基板1′上には
下部絶縁層11としてSiNxが2μmの膜厚で成膜さ
れており、この上部に逆スタガ型TFTが形成されてい
る。この時TFTのゲート電極2は下部絶縁層11に埋
め込まれた形状となっている。この構造のゲート電極2
の形成方法は以下の通りである。 下部絶縁層11′としてSiNxを2μmの膜厚で成
膜する。 ゲート電極2パタンの反転パタンをネガ型のレジスト
を用いて形成する。 上記レジストパタンをマスクとし、ドライエッチング
法を用い下部絶縁層をゲート電極2の膜厚だけ除去す
る。 ネガ型レジストのパタンを残したままでゲート電極と
してCrを3000Åの膜厚で成膜する。 ネガ型レジストを剥離して下部絶縁層にゲート電極2
を形成する。 つまり、リフトオフ法によって下部絶縁層11′に埋め
込まれたゲート電極2パタンを形成した。さらに、この
上部にゲート絶縁膜3を兼ねた絶縁層としてのSiNx
を成膜して、順次逆スタガ型TFTを各画素毎に形成す
る。各画素電極9を全て正の電圧印加状態にしておき、
電解重合法によってポリアニリンを2.0μmの膜厚で
形成して光吸収層とした(図示せず)。さらにこの上部
にSiNxを5000Åの膜厚で成膜し、パッシベーシ
ョン層とした。ゲート電極2の材料としてはCrのほか
にAl,Ta,Cu等を用いることができ、その膜厚は
1000Å〜1.0μmが望ましく、さらに望ましくは
2000Å〜5000Åとするのがよい。
【0011】実施例3 図7は本発明による直視型カラー液晶表示装置の1実施
例を示したものである。液晶層としていわゆるポリマー
ネットワーク型液晶を用いて実施例2と同様にして作製
した。基板1上にはカラーフィルタ16が形成されてお
り、液晶層13が光を散乱する状態となった場合にそれ
ぞれのフィルタの色に応じた表示をするようになってい
る。基板1′上には蓄積容量の電極18としてCr電極
が2000Åの膜厚で成膜され、この電極は非表示部分
において基板1に形成されている透明電極14と接続さ
れる。この上部に下部絶縁層11′としてSiNxが
2.5μmの膜厚で成膜されており、さらにこの上部に
逆スタガ型TFTが形成されている。本実施例において
は下部絶縁層11′としてSiNxを用いたが、この絶
縁層11′は蓄積容量の誘電体として利用されるため、
この膜厚を調整することによって蓄積容量を制御するこ
とができる。また、場合によってはSiNxのほかにS
iO2等を用いることも可能であり、これらの積層膜と
するのも効果的である。
例を示したものである。液晶層としていわゆるポリマー
ネットワーク型液晶を用いて実施例2と同様にして作製
した。基板1上にはカラーフィルタ16が形成されてお
り、液晶層13が光を散乱する状態となった場合にそれ
ぞれのフィルタの色に応じた表示をするようになってい
る。基板1′上には蓄積容量の電極18としてCr電極
が2000Åの膜厚で成膜され、この電極は非表示部分
において基板1に形成されている透明電極14と接続さ
れる。この上部に下部絶縁層11′としてSiNxが
2.5μmの膜厚で成膜されており、さらにこの上部に
逆スタガ型TFTが形成されている。本実施例において
は下部絶縁層11′としてSiNxを用いたが、この絶
縁層11′は蓄積容量の誘電体として利用されるため、
この膜厚を調整することによって蓄積容量を制御するこ
とができる。また、場合によってはSiNxのほかにS
iO2等を用いることも可能であり、これらの積層膜と
するのも効果的である。
【0012】実施例4 図8は本発明による直視型カラー液晶表示装置の1実施
例を示したものである。液晶層13としていわゆるポリ
マーネットワーク型液晶を用いて実施例2と同様にして
作製した。基板1上にはカラーフィルタが形成されてお
り、液晶層13が光を散乱する状態となった場合にそれ
ぞれのフィルタの色に応じた表示をするようになってい
る。基板1′上には蓄積容量の電極としてのCr電極が
2000Åの膜厚で成膜され、この電極は非表示部分に
おいて基板1に形成されている透明電極14と接続され
る。この上部に下部絶縁層11′としてSiNxが2.
5μmの膜厚で成膜されており、この上部に逆スタガ型
TFTが形成されている。この時TFTのゲート電極は
下部絶縁層11′に埋め込まれた形状となっている。こ
の構造のゲート電極2の形成方法は実施例2と同様にリ
フトオフ法を用いて形成した。すなわち、ネガレジスト
パタンをマスクとし、ドライエッチング法を用い下部絶
縁層11′をゲート電極2の膜厚だけ除去し、ネガ型レ
ジストのパタンを残したままでゲート電極2としてCr
を3000Åの膜厚で成膜した後、ネガ型レジストを剥
離して下部絶縁層11′にゲート電極2を形成すること
により、下部絶縁層11′に埋め込まれたゲート電極2
パタンを形成した。上記の方法で形成したCr電極パタ
ンをゲート配線、及びゲート電極として逆スタガ型のT
FTを各画素毎に形成し、入力されたデータに応じてそ
れぞれが対応する画素電極9のスイッチ動作を行う。こ
れらのTFTが形成された上部に、絶縁層11としてS
iNxを2μmの膜厚で成膜し、これにTFTのドレイ
ン電極部8にスルーホールを形成する。この上部に画素
電極9となるAlを1.5μmの膜厚で成膜し、画素電
極9をパターニングする。さらにこの上部にSiNxを
5000Åの膜厚で成膜し、パッシベーション層12と
した。
例を示したものである。液晶層13としていわゆるポリ
マーネットワーク型液晶を用いて実施例2と同様にして
作製した。基板1上にはカラーフィルタが形成されてお
り、液晶層13が光を散乱する状態となった場合にそれ
ぞれのフィルタの色に応じた表示をするようになってい
る。基板1′上には蓄積容量の電極としてのCr電極が
2000Åの膜厚で成膜され、この電極は非表示部分に
おいて基板1に形成されている透明電極14と接続され
る。この上部に下部絶縁層11′としてSiNxが2.
5μmの膜厚で成膜されており、この上部に逆スタガ型
TFTが形成されている。この時TFTのゲート電極は
下部絶縁層11′に埋め込まれた形状となっている。こ
の構造のゲート電極2の形成方法は実施例2と同様にリ
フトオフ法を用いて形成した。すなわち、ネガレジスト
パタンをマスクとし、ドライエッチング法を用い下部絶
縁層11′をゲート電極2の膜厚だけ除去し、ネガ型レ
ジストのパタンを残したままでゲート電極2としてCr
を3000Åの膜厚で成膜した後、ネガ型レジストを剥
離して下部絶縁層11′にゲート電極2を形成すること
により、下部絶縁層11′に埋め込まれたゲート電極2
パタンを形成した。上記の方法で形成したCr電極パタ
ンをゲート配線、及びゲート電極として逆スタガ型のT
FTを各画素毎に形成し、入力されたデータに応じてそ
れぞれが対応する画素電極9のスイッチ動作を行う。こ
れらのTFTが形成された上部に、絶縁層11としてS
iNxを2μmの膜厚で成膜し、これにTFTのドレイ
ン電極部8にスルーホールを形成する。この上部に画素
電極9となるAlを1.5μmの膜厚で成膜し、画素電
極9をパターニングする。さらにこの上部にSiNxを
5000Åの膜厚で成膜し、パッシベーション層12と
した。
【0013】
【効果】請求項1においては、画素電極が非線形スイッ
チング素子やその配線電極の上部に、絶縁層を介して形
成されているため、画素電極と画素電極との電気的な分
離が可能な間隔をとる以外には表示にとって無効となる
領域が無く、開口率を向上することができる。従って、
従来より明るい液晶表示装置を実現することができる。
請求項2においては、ゲート電極の下部に絶縁層を設
け、この絶縁層にゲート電極を埋め込んだ構造とするこ
とにより、ゲート線による段差が生じることが無いの
で、ゲート配線の上部に形成されるソース配線の断線を
防止することができる。従って、電極配線パタン形成時
の欠陥を低減し、製造歩留まりを向上することができ
る。請求項3においては、蓄積容量がTFT、あるいは
TFDの下部に絶縁層を介して形成された電極と画素電
極で形成されるため、この電極は画素毎のパターニング
をする必要も無く、従ってこの電極のためにその上部に
段差が生じることは無い。
チング素子やその配線電極の上部に、絶縁層を介して形
成されているため、画素電極と画素電極との電気的な分
離が可能な間隔をとる以外には表示にとって無効となる
領域が無く、開口率を向上することができる。従って、
従来より明るい液晶表示装置を実現することができる。
請求項2においては、ゲート電極の下部に絶縁層を設
け、この絶縁層にゲート電極を埋め込んだ構造とするこ
とにより、ゲート線による段差が生じることが無いの
で、ゲート配線の上部に形成されるソース配線の断線を
防止することができる。従って、電極配線パタン形成時
の欠陥を低減し、製造歩留まりを向上することができ
る。請求項3においては、蓄積容量がTFT、あるいは
TFDの下部に絶縁層を介して形成された電極と画素電
極で形成されるため、この電極は画素毎のパターニング
をする必要も無く、従ってこの電極のためにその上部に
段差が生じることは無い。
【図1】(a)は従来の液晶表示装置の付加容量方式を
示す。 (b)は従来の液晶表示装置の蓄積容量方式を示す。
示す。 (b)は従来の液晶表示装置の蓄積容量方式を示す。
【図2】(a)は本発明の逆スタガ型TFT液晶表示装
置の断面図を示す。 (b)は本発明のTFDを用いた液晶表示装置の断面図
を示す。 (c)は従来の逆スタガ型TFT液晶表示装置の断面図
を示す。 (d)は従来のTFDを用いた液晶表示装置の断面図を
示す。
置の断面図を示す。 (b)は本発明のTFDを用いた液晶表示装置の断面図
を示す。 (c)は従来の逆スタガ型TFT液晶表示装置の断面図
を示す。 (d)は従来のTFDを用いた液晶表示装置の断面図を
示す。
【図3】下部絶縁層にゲート電極が埋め込まれた本発明
のTFTの断面図を示す。
のTFTの断面図を示す。
【図4】下部絶縁層が蓄積容量の誘電体である本発明の
TFTの断面図を示す。
TFTの断面図を示す。
【図5】TFTのドレイン電極部にスルーホールを形成
した本発明の液晶表示装置の断面図を示す。
した本発明の液晶表示装置の断面図を示す。
【図6】下部絶縁層にゲート電極が埋め込まれたTFT
を使用した本発明の液晶表示装置の断面図を示す。
を使用した本発明の液晶表示装置の断面図を示す。
【図7】下部絶縁層が蓄積容量の誘電体であるTFTを
使用した本発明の液晶表示装置の断面図である。
使用した本発明の液晶表示装置の断面図である。
【図8】蓄積容量の誘電体である下部絶縁層中にゲート
電極を埋め込んだTFTを使用した本発明の液晶表示装
置の断面図である。
電極を埋め込んだTFTを使用した本発明の液晶表示装
置の断面図である。
1 表基板 1′ 裏基板 2 ゲート電極 3 ゲート絶縁層 4 アモルファスシリコン 5 オーミック層 6 チャンネルストッパ 7 ソース電極 8 ドレイン電極 9 画素電極 10 n-−a−Si層 11 絶縁層 11′ 下部絶縁層 12 パッシベーション層 13 液晶層 14 透明電極 15 保護層 16 カラフィルタ 17 スルーホール 18 蓄積容量電極 19 付加容量電極 20 金属層a 21 金属層b 22 ソースライン 23 ゲートライン
Claims (4)
- 【請求項1】 液晶駆動用電極を設けた一対の基板間に
液晶層を挾持した構造を有し、該液晶層が電圧を印加さ
れた場合と印加されない場合とで光を散乱する状態と光
を透過する状態とに変化するものであり、かつそれぞれ
の画素の駆動を各画素毎に設けた非線形スイッチング素
子によって行う液晶表示装置において、画素電極が非線
形スイッチング素子の平坦化、絶縁あるいはパッシベー
ション層上にコンタクトホールあるいはスルーホールを
介して形成されていることを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項2】 液晶駆動用電極を設けた一対の基板間に
液晶層を挾持した構造を有し、該液晶層が電圧を印加さ
れた場合と印加されない場合とで光を散乱する状態と光
を透過する状態とに変化するものであり、かつそれぞれ
の画素の駆動を各画素毎に設けたボトムゲート型のTF
Tによって行う液晶表示装置において、該TFTは基板
上に成膜された絶縁層上に形成されており、該TFTの
ゲート電極及びその配線部が上記絶縁層に埋め込まれた
状態で形成されていることを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項3】 各画素電極を駆動させる非線形スイッチ
ング素子に付随して蓄積容量が設けられ、該付随容量が
画素電極と非線形スイッチング素子の下部に絶縁層を介
して設けられた電極で構成されている請求項1または2
記載の液晶表示装置。 - 【請求項4】 液晶表示装置が直視型あるいは反射型液
晶表示装置である請求項1,2または3記載の液晶表示
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22458291A JPH0545640A (ja) | 1991-08-09 | 1991-08-09 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22458291A JPH0545640A (ja) | 1991-08-09 | 1991-08-09 | 液晶表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0545640A true JPH0545640A (ja) | 1993-02-26 |
Family
ID=16815996
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22458291A Pending JPH0545640A (ja) | 1991-08-09 | 1991-08-09 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0545640A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5327268A (en) * | 1992-02-19 | 1994-07-05 | Hitachi, Ltd. | Reflective type liquid crystal display with reversely staggered TFT structures |
| JP2002189429A (ja) * | 2000-09-06 | 2002-07-05 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置およびその作製方法 |
| EP1459360A4 (en) * | 2001-11-21 | 2005-09-14 | Visible Tech Knowledgy Inc | ACTIVE MATRIX TFT ARRAY BACK |
| WO2010116585A1 (ja) * | 2009-04-10 | 2010-10-14 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板及びそれを備えた液晶表示装置並びにアクティブマトリクス基板の製造方法 |
| US7977680B2 (en) | 2000-09-06 | 2011-07-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having thin film transistors on a metal substrate |
-
1991
- 1991-08-09 JP JP22458291A patent/JPH0545640A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5327268A (en) * | 1992-02-19 | 1994-07-05 | Hitachi, Ltd. | Reflective type liquid crystal display with reversely staggered TFT structures |
| JP2002189429A (ja) * | 2000-09-06 | 2002-07-05 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置およびその作製方法 |
| US7977680B2 (en) | 2000-09-06 | 2011-07-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having thin film transistors on a metal substrate |
| EP1459360A4 (en) * | 2001-11-21 | 2005-09-14 | Visible Tech Knowledgy Inc | ACTIVE MATRIX TFT ARRAY BACK |
| WO2010116585A1 (ja) * | 2009-04-10 | 2010-10-14 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板及びそれを備えた液晶表示装置並びにアクティブマトリクス基板の製造方法 |
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