JPH0547055B2 - - Google Patents

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JPH0547055B2
JPH0547055B2 JP61201862A JP20186286A JPH0547055B2 JP H0547055 B2 JPH0547055 B2 JP H0547055B2 JP 61201862 A JP61201862 A JP 61201862A JP 20186286 A JP20186286 A JP 20186286A JP H0547055 B2 JPH0547055 B2 JP H0547055B2
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JP
Japan
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beam splitter
angle
spectrophotometer
optical plane
optical axis
Prior art date
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Application number
JP61201862A
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English (en)
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JPS6255528A (ja
Inventor
Uigetsuto Peetaa
Urufu Roberuto
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Kontron Instruments Holding NV
Original Assignee
Kontron Instruments Holding NV
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Publication date
Application filed by Kontron Instruments Holding NV filed Critical Kontron Instruments Holding NV
Publication of JPS6255528A publication Critical patent/JPS6255528A/ja
Publication of JPH0547055B2 publication Critical patent/JPH0547055B2/ja
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    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10—Beam splitting or combining systems
    • G02B27/1006—Beam splitting or combining systems for splitting or combining different wavelengths
    • G02B27/1013—Beam splitting or combining systems for splitting or combining different wavelengths for colour or multispectral image sensors, e.g. splitting an image into monochromatic image components on respective sensors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〈技術分野〉 本発明は、光源から到来してモノクロメータに
て分散される光ビームが、ビーム分割器によつ
て、光学軸に沿つて測定セルを通り検出器に送ら
れる測定ビームと分散により形成される光学平面
内で光学軸に対し角度αで基準検出器に送られる
基準ビームとに分割される分光測光法に関する。
本発明はまた、回折格子モノクロメータと、光
学平面内にあつて光学軸に対し角度α／２の傾斜
で配置されたビーム分割器（ビームスプリツタ）
とを含む分光測光計に関する。
〈背景技術〉 上記原理によつて動作する分光測光計は周知で
あつて、２ビーム分光測光計または２ビーム分光
計と呼ばれる。高い信号分解能を持つ分光分析を
可能にするには、装置の基線はできる限りフラツ
トでなければならない。このことは測定ビームと
基準ビームの分光強度分布が実質的に同一の曲線
を有することを意味するが、実際にはそうならな
いことが周知である。ある波長領域では強度にか
なりのゆらぎが生じ、補正のために実質的な電子
装置が必要である。これらのゆらぎは主としてモ
ノクロメータの回折格子とビーム分割器の偏光効
果によるものとされる。
〈発明の要約〉 本発明の目的は分光強度の変化の問題が軽減さ
れた改良された２ビーム分光測光計を提供するこ
とである。
この目的のために、本発明によれば、基準ビー
ムをビーム分割器によつて光学平面からはずれて
角度βまで付加的に偏向させる。
本発明による分光測光計では、ビーム分割器は
光学平面に垂直な方向に特定の角度で付加的に傾
斜している。
〈実施例の説明〉 以下に本発明の例示的な一実施例を添付図面を
用いて記述する。
本発明の一実施例による分光測光計を示す添付
図面を参照するに、光源１がビーム２を生成し、
該ビームは入口スリツト３を通つて回折格子４に
送られ、そこで分光分散される。この格子分散に
よつて光学平面が定められる。入射ビームと格子
からのビームがこの光学平面内に存在する。
使用する光源は分光測定法で従来用いられてい
る任意の光源でよく、例えば、ハロゲンランプ、
キセノンランプ、ホローカソード管等であり、連
続的放射のものでも繰返しのフラツシユ放射を伴
うものでもよい。
入口スリツト３と出口スリツト６は回折格子４
と共に回折格子モノクロメータを構成している。
使用する回折格子は分光測光法で従来用いられて
いる任意の回折格子でよく、例えば、ホログラフ
イ回折格子等である。
モノクロメータの出口スリツト６を通つたビー
ムはビーム偏向を伴う半透明鏡またはビームチヨ
ツパにより形成されるビーム分割器７に到達す
る。従来と同様、ビーム分割器７の反射面は、基
準ビーム１１の角度αまでの偏向を得るために、
光学軸に対し光学平面内で角度α／２の傾斜で配
置されたビーム分割器（ビームスプリツタ）。さ
らに、既知の分光測光計とは異なつて、ビーム分
割器の反射面は、ビームの反射成分が光学平面か
ら角度βで取り出されるようにある角度だけ傾斜
されている。
角度αは従来と同様、約90゜である。角度βは
約45゜が最適値であることが発見された。しかし
ながら、いずれの角度もクリテイカルなものでは
なく、上記値からの相当な相違が可能である。
ビーム分割器の上記配置はビーム分割器を通つ
て直線的に進む測定ビーム８には何ら影響を与え
ない。測定ビーム８は、従来と同様に、測定セル
９中を通過し、検出器１０によりピツクアツプさ
れる。
他方、偏向された基準ビーム１１は、光学平面
からはずれて取り出され、入口平面から対応する
角度だけオフセツトされて配置された基準検出器
１２によりピツクアツプされる。
ビーム分割器７と基準検出器１２のこの配置
は、従来に比較して分光強度の差をかなり低減す
る。この捕償が、後続の電子的信号処理段におい
て従来よりかなり簡単に補正を行なうことを可能
にする。本装置の基線は全体として大いに改善さ
れ、それによつてより高い信号分解能が保証され
る。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例による分光測光計の主要
構成素子の斜視図である。 符号の説明 １…光源、３…入口スリツト、４
…回折格子、６…出口スリツト、７…ビーム分割
器、８…測定ビーム、９…測定セル、１０…検出
器、１１…基準ビーム、１２…基準検出器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １ 光源から到来してモノクロメータにて分散さ
    れる光ビームが、ビーム分割器によつて、光軸に
    沿つて測定セルを通り検出器に送られる測定ビー
    ムと分散により形成される光学平面内で光学軸に
    対し角度αで基準検出器に送られる基準ビームと
    に分割される分光測光法において、前記基準ビー
    ムが前記ビーム分割器によつて前記光学平面から
    はずれて角度βまで付加的に偏向されることを特
    徴とする分光測光法。 ２ 回折格子モノクロメータと、光学平面内にあ
    つて光学軸に対し角度α／２の傾斜で配置された
    ビーム分割器とを含む分光測光計において、前記
    ビーム分割器が前記光学平面に垂直な方向に特定
    の角度βで付加的に傾斜されていることを特徴と
    する分光測光計。 ３ 特許請求の範囲第２項に記載の分光測光計に
    おいて、αが90゜であり、βが45゜であることを特
    徴とする分光測光計。
JP61201862A 1985-08-30 1986-08-29 分光測光法および装置 Granted JPS6255528A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH375385 1985-08-30
CH3753/85-5 1985-08-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6255528A JPS6255528A (ja) 1987-03-11
JPH0547055B2 true JPH0547055B2 (ja) 1993-07-15

Family

ID=4262752

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61201862A Granted JPS6255528A (ja) 1985-08-30 1986-08-29 分光測光法および装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4718762A (ja)
EP (1) EP0217054B1 (ja)
JP (1) JPS6255528A (ja)
DE (1) DE3664536D1 (ja)

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Also Published As

Publication number Publication date
JPS6255528A (ja) 1987-03-11
EP0217054A1 (de) 1987-04-08
US4718762A (en) 1988-01-12
EP0217054B1 (de) 1989-07-19
DE3664536D1 (en) 1989-08-24

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