JPH0551661B2 - - Google Patents

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JPH0551661B2
JPH0551661B2 JP61039640A JP3964086A JPH0551661B2 JP H0551661 B2 JPH0551661 B2 JP H0551661B2 JP 61039640 A JP61039640 A JP 61039640A JP 3964086 A JP3964086 A JP 3964086A JP H0551661 B2 JPH0551661 B2 JP H0551661B2
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JP
Japan
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base material
hoop
tin film
substrate
ion beam
Prior art date
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JP61039640A
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JPS62199763A (ja
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Takahiro Myano
Keimei Kitamura
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 この発明は、耐蝕性に優れ、かつ、装飾性に優
れたTiN膜を表面に有するフープ状基材、こと
に鉄系の合金からなるフープ状基材の製造方法に
関する。
〔背景技術〕
フープ状基材の表面に耐蝕性および装飾性に優
れた皮膜を形成することが求められている。
TiNは、高硬度で耐蝕性に優れ、かつ、特有
の金色をしているため、このTiNの薄膜を基材
表面に形成して基材の硬度を上げたり、耐蝕性を
付与したり、金色の装飾を施したりすることが行
われている。
基材上にTiN薄膜(0.1〜10μm)を形成する方
法として、従来から、CVD法あるいはPVD法
(イオンプレーテイング、スパツタリング等)が
用いられている。
ところが、これらの方法には、つぎのような問
題があつた。すなわち、CVD法では基材温度を
一般に1000℃程度の高温に加熱する必要があり、
鉄系の合金板などを基材として用いた場合、基材
が熱処理効果によつて変形してしまうという問題
がある。他方、PVD法では、通常200〜400℃で
処理されるので、基材の変形といつた問題はない
が、HCD(ホロカソード)法、RF励起法、ARE
(活性化反応蒸着)法などの従来のイオンプレー
テイング法では、真空度が10-2〜10-4Torr程度
と低いため、雰囲気ガス分子との衝突により失わ
れるエネルギーが大きくて緻密な膜が得られにく
く、膜の耐蝕性、密着性に問題が生じる場合があ
る。さらに、基材にバイアス電圧をかける必要が
あり、特に、フープ状基材表面にTiN膜を形成
するには生産性の点を考慮するとバツチ法ではな
く連続法により行うことが求められるが、連続処
理を行う場合に設備が複雑化する問題もある。ス
パツタリング法では、比較的緻密な膜が得られる
のであるが、生成速度が遅く、膜の色が黒ずみや
すい。色調調整にやはりバイアス電圧をかけねば
ならなかつた。
他方、イオン注入法により基材を改質する方法
も提案されている。たとえば、特公昭54−28379
号公報や特開昭58−181864号公報では、刃または
パンチといつた被処理物に高エネルギーイオンビ
ームを照射し、イオンを被処理物中に打ち込んで
処理する方法が記載されている。しかし、イオン
注入法は、加速エネルギーが数十KeV〜数百
KeV程度と高く、照射物が表面上にはほとんど
堆積せず、ある程度の深さの位置に注入物の量的
ピークがある。このため、イオン注入法による生
成物は、耐蝕性や装飾性に乏しい。しかも、イオ
ンビーム電流は小さいもの(最大でも1mA程
度)であり、フープ状基材を対象とする場合には
処理に時間がかかるという問題もある。また、イ
オン注入では、基板温度の上昇が大きいため、冷
却装置が必要となり、装置が複雑になる。
〔発明の目的〕
この発明は、このような事情に鑑みて、フープ
状基材上に耐蝕性、耐摩耗性、密着性および装飾
性に優れた、均一なTiN膜を迅速、安価に形成
できるような生産性の向上した製造方法を提供す
ることを目的としている。
〔発明の開示〕
この発明者らは、このような目的を達成するた
めに、鋭意検討した結果、イオンビーム法を用い
真空中でTiを蒸発させるとともに、連続的に送
り出しているフープ状基材表面に比較的緩い加速
電圧で窒素イオンビームを照射すると、基材表面
に耐蝕性、耐摩耗性、密着性および装飾性に優れ
たTiNを効率よく得ることができるということ
を見出し、この発明を完成するに至つた。
したがつて、この発明は、真空中にフープ状基
材を連続的に送り出すように配置して、Tiを蒸
発させると同時に、前記基材表面に加速電圧0.3
〜2.0KeVで窒素イオンビームを照射し、前記基
材表面にTiNを膜を形成する、TiN膜を有する
フープ状基材の製造方法を要旨とする。この場
合、窒素イオンビームの加速電圧を0.3〜2.0KeV
にまで高めることは、たとえば、真空度を10-5
10-6Torr程度に高めることで簡単に達成できる。
以下に、この発明を、その1実施例をあらわす
図面を参照しつつ詳しく説明する。
第1図は、この発明にかかる製造方法を実施す
るのに用いられるTiN膜形成装置の1例をあら
わす。図にみるように、このTiN膜形成装置は、
真空槽(真空チヤンバー)1内にフープ状基材
(またはフープ状基板)2が配置されるようにな
つている。このフープ状基材2は、送り出しプー
リ11と巻き取りプーリ12の間の、膜形成が行
われる空間部分で、たわみが生じないように配置
された状態で、矢印方向へ一定速度で巻き取れる
ようになつている。基材2の対面する位置には、
電子ビーム蒸発源3が設けられている。この蒸発
源3には、金属チタン4が載せられ電子ビームに
よる加熱によつて蒸発させられるようになつてい
る。真空槽1壁面には、基材2に銃口を向けて2
つのイオン銃5,6が設けられている。一方のイ
オン銃5は、Ar+イオンビームを基材2に照射し
てボンバード処理を行うようになつており、基材
2の進行方向(図中、矢印方向)に対して比較的
後方の基材2表面に照準が合わせられている。鉄
系の合金基板は表層が不動態としての酸化物層と
なつている。表面には有機系物質も付着している
こともある。これらの物質は成膜後のTiN膜に
対して密着清不良と言う問題を生じさせる。そこ
で、このような物質をエツチング除去するため
に、上記のAr+イオンビームの照射が行われる。
もう一方のイオン銃6は、一般に、窒素ガスを
N2 +イオンビームとして基材2に照射するように
なつており、前述のイオン銃5より基材2の進行
方向に対して前方の基材2表面に照準が合わせら
れている。さらに、真空槽1内には、水晶振動子
7(レートセンサ)が前述のAr+イオンビームお
よびN2 +イオンビームが当たらない位置に設けら
れている。この水晶振動子7は、レートコントロ
ーラ(IC−6000)8との組み合わせによつて金
属チタンの蒸発量を制御するためのものである。
図示していないが、このTiN膜形成装置には、
真空槽1内に真空にするための排気手段が設けら
れているのは、言うまでもない。
つぎに、この発明にかかる製造方法を上記形成
装置を用いた場合を例にとつて詳しく説明する。
それは、以下のようである。
真空槽1内の所定位置にフープ状基材2をセ
ツトするとともに、電子ビーム蒸発源3上に金
属チタン4を載せる。
真空槽1内を排気手段で排気して1×10-5
Torrにする。
基材2を一定速度で矢印方向に徐々に巻き取
る。これと同時に、Ar+イオンビームおよび
N2 +イオンビームを加速電圧0.3〜2.0KeVで基
材2表面へそれぞれのイオン銃5,6から照射
する。
この結果、蒸発した金属チタンは、たとえば、
以下のような式、 2Ti+N2.++e-→2TiN であらわされるように、TiNに変化する、そし
て、イオンビームエネルギーによつて密着性、緻
密性、耐摩耗性に優れるTiN膜が基材2表面に
連続的に形成される。TiN膜形成時の基材の温
度は、200℃以下である。膜は、蒸発源と基材間
の距離、蒸発のパワー、イオンビームのパワーを
適切な値に設定することにより、1〜30Å/sの
速度で成長させることができる。イオンビームの
パワーをあまり強くすると基材内に食い込んでし
まうので好ましくない。
つぎに、実施例を詳しく説明する。
(実施例) 電子ビームパワー6KV×200mAの電子ビーム
蒸発源を基材からの距離340mmに配置するととも
に、イオンビーム源としての0.5KeV×40mAの
イオン銃を基材からの距離450mmに配置した第1
図の装置を用い、基材としてのマルテンサイト系
ステンレス材表面にTiN膜を形成した。なお、
基材の温度は最高で80℃であつた。
このようにして得たTiN膜形成基板と、従来
の形成法で得たTiN膜形成基板とを、それぞれ
40℃、3%NaCl水溶液に浸漬して放置したとこ
ろ、実施例で得たTiN膜形成基板は、3日後で
も異常が検出されなかつた。これに対し、従来の
形成法(真空度10-3Torr程度のイオンプレーテ
イング法)で得たTiN膜形成基板は、1日で錆
の発生が検出された。実施例で得たTiN膜形成
基板は、テープテストの結果でも密着性に異常が
なかつた。さらに、ビツカース硬度は、2000〜
2500の高硬度であつた。金色の色度調整も容易で
あつた。
この発明にかかる製造方法は、上記実施例に限
定されない。たとえば、基材もフープ状であれば
板状に限らない。ボンバード処理にもちいられる
ガスは、Arなどの希ガス類に限らずN2などでも
構わない。
〔発明の効果〕
この発明のTiN膜を有するフープ状基材の製
造方法は、以上のように、鉄系の合金からなるフ
ープ状基材を真空中に連続的に送り出すように配
置して、Tiを蒸発させると同時に、前記基材表
面に加速電圧0.3〜2.0KeVで窒素イオンビームを
照射し、前記基材表面にTiNを膜を形成するよ
うになつているので、従来より、高真空側で処理
でき、N2ガス量が少なくすみ、かつ、基材にバ
イアス電圧をかける必要がなく、連続処理である
のに装置が複雑にならない。したがつて、フープ
状基材上に耐蝕性、密着性および装飾性に優れた
TiN膜を効率よく、かつ、安価で得ることがで
きる。
特に、この発明では、イオンのエネルギーが小
さく、成膜スピードが速いことから、基材の温度
上昇が小さく、冷却装置を要しないので、装置が
簡単で製造コストも安価になる。しかも、このよ
うに温度上昇が少ないとともに、巻き取りプーリ
などで基材を巻き取るので、基材にたわみが生じ
ず、その結果、均一な膜の形成が可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明にかかる、TiN膜を有する
フープ状基材の製造方法を実施するのに用いられ
るTiN膜形成装置の1実施例を説明する概略説
明図である。 1……真空槽、2……フープ状基材、3……電
子ビーム蒸発源、4……金属チタン、5,6……
イオン銃。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 鉄系の合金からなるフープ状基材を真空中に
    連続的に送り出し、巻き取るように配置して、
    Tiを蒸発させると同時に、前記基材表面に加速
    電圧0.3〜2.0KeVで窒素イオンビームを照射し、
    前記基材表面にTiN膜を形成する、TiN膜を有
    するフープ状基材の製造方法。
JP3964086A 1986-02-25 1986-02-25 TiN膜の形成法 Granted JPS62199763A (ja)

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