JPH055442Y2 -

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【考案の詳細な説明】 (a) 考案の技術分野この考案は、三次元測定機などに使用され、被
測定物に接触することにより信号を出すタツチプ
ローブに関するものである。

(b) 従来技術と問題点まず、従来技術によるタツチプローブの構成図
を第２図に示す。

第２図の１Ａは接触子、１Ｂは基部、１Ｃは電
極棒、１Ｄは接点、１Ｅはリード線、１Ｆはバ
ネ、１Ｇはベース、３は制御器である。

第２図の１Ａ〜１Ｇでタツチプローブ１を構成
する。

円柱状の基部１Ｂは、接触子１Ａを保持すると
ともに、外周に電極棒１Ｃを固定している。

接点１ＤはＶ字状で、各電極棒１Ｃに対応する
ように配置されている。

電極棒１Ｃはバネ１Ｆで、接点１Ｄ方向の力を
受け、接点１Ｄに接触する。

接点１Ｄは、それぞれリード線１Ｅで直列に接
続されている。

制御器３はリード線１Ｅに電流を供給し、電流
が流れていれば各接点１Ｄが各電極棒１Ｃに接触
していると判定する。

次に、使用状態説明図を第３図に示す。

第３図の１はタツチプローブ、１Ａは接触子、
３は制御器、４は被測定物である。

第３図の実線の部分は座標Ａにタツチプローブ
を移動している状態を示し、２点鎖線の部分は座
標Ａにタツチプローブ１を接触させている状態を
示す。

タツチプローブ１の接触子１Ａが被測定物４に
接触すると、電極棒１Ｃが接点１Ｄから離れる。

接触子１Ａが被測定物４から離れると、第２図
に示すようにタツチプローブ１はバネ１Ｆによ
り、電極棒１Ｃと接点１Ｄが再び接触する。

しかし、電極棒１Ｃと接点１Ｄの接触部分は、
汚れなどの原因で、接触しない場合がある。

このような場合、従来は接触子１Ａを動かして
電極棒１Ｃと接点１Ｄを接触させていたが、タツ
チプローブを組み込んだ自動運転装置で、接点の
接触不良が起こると、すぐに復旧させることがで
きないという問題がある。

(c) 考案の目的この考案は、タツチプローブに振動子を取り付
け、接点と電極棒の間が接触不良になつた場合、
振動子を振動させて接点の接触不良を復旧させる
タツチプローブの提供を目的とする。

(d) 考案の実施例次に、この考案による実施例の構成図を第１図
に示す。

第１図の２は振動子、その他は第３図と同じも
のである。

タツチプローブ１には、振動子２を取り付け
る。

振動子２は、第２図のベース１Ｇに取り付けた
り、第１図のタツチプローブ１の外側に取り付け
たりして、タツチプローブ１に振動を伝えるよう
にする。

振動子２には、東北金属工業株式会社製の圧電
セラミツクスＮ−６を使用することができる。

タツチプローブ１の電極棒１Ｃが接点１Ｄに接
触していないことを検出すると、制御器３は振動
子２を振動させる。

振動子２が振動すると、その振動がタツチプロ
ーブ１に伝わり、電極棒１Ｃと接点１Ｄが接触す
るようになる。

制御器３はタツチプローブ１に流れる電流を検
出すると、振動子２の振動を停止する。

(e) 考案の効果この考案によれば、タツチプローブの接点が接
触不良になると、タツチプローブに取り付けた振
動子を振動させるので、接点の接触不良を復旧さ
せることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案による実施例の構成図、第２
図は従来技術の構成図、第３図は使用状態説明図
である。１……タツチプローブ、１Ａ……接触子、１Ｂ
……基部、１Ｃ……電極棒、１Ｄ……接点、１Ｅ
……リード線、１Ｆ……バネ、１Ｇ……ベース、
２……振動子、３……制御器、４……被測定物。

【実用新案登録請求の範囲】接触子１Ａの状態を複数の接点１Ｄの接触状態
で表示するタツチプローブ１において、タツチプローブ１に振動子２を取り付け、タツチプローブ１の接点１Ｄが接触不良のとき
に振動子２を振動させることを特徴とする接点接
触不良の復旧機能をもつタツチプローブ。