JPH0555933B2 - - Google Patents
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- JPH0555933B2 JPH0555933B2 JP60074622A JP7462285A JPH0555933B2 JP H0555933 B2 JPH0555933 B2 JP H0555933B2 JP 60074622 A JP60074622 A JP 60074622A JP 7462285 A JP7462285 A JP 7462285A JP H0555933 B2 JPH0555933 B2 JP H0555933B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- amplifier
- output signal
- signal
- gain
- photodetector
- Prior art date
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光ビームで情報記録媒体(以下デイ
スクと称す)に記録、再生、或いは、再生する装
置における焦点位置制御ループやトラツキング制
御ループのサーボケイン制御装置に関するもので
ある。
スクと称す)に記録、再生、或いは、再生する装
置における焦点位置制御ループやトラツキング制
御ループのサーボケイン制御装置に関するもので
ある。
従来の技術
第3図に従来のビデオデイスクプレーヤーや記
録可能光デイスクフアイル装置に用いられている
サーボゲイン制御装置を含めた焦点位置制御ルー
プの一例を示す。
録可能光デイスクフアイル装置に用いられている
サーボゲイン制御装置を含めた焦点位置制御ルー
プの一例を示す。
光検出器1,2は対物レンズの焦点位置と所望
の合焦点位置とのずれ量を検出するためのもので
あり、通常はPINフオトダイオード等が用いられ
ている。デイスク面からの反射光は光検出器1,
2により電流に変換され、さらにプリアンプ3,
4で電流−電圧変換される。電圧に変換された
各々の信号は差動アンプ5により差動信号となさ
れる。この差動信号が合焦点からのずれを示す。
の合焦点位置とのずれ量を検出するためのもので
あり、通常はPINフオトダイオード等が用いられ
ている。デイスク面からの反射光は光検出器1,
2により電流に変換され、さらにプリアンプ3,
4で電流−電圧変換される。電圧に変換された
各々の信号は差動アンプ5により差動信号となさ
れる。この差動信号が合焦点からのずれを示す。
一方、電圧に変換された各々の信号は加算アン
プ6により和信号となされる。この和信号は光検
出器1,2に照射される全光量を示すものであ
り、割算器7の分母信号として入力される。割算
器7の分子信号としては差動信号が入力され、和
信号により正規化される。例えば、デイスクの反
射率が高くなつた場合には分母が大きくなり差動
信号は小さくなる。一方、デイスクの反射率が低
くなつた場合には分母が小さくなり差動信号は大
きくなる。このように割算器7により、デイスク
の反射率の変動や、記録と再生での検出パワーの
大きな変化によつて生ずる合焦点からのずれ量の
検出感度を略一定にしている。
プ6により和信号となされる。この和信号は光検
出器1,2に照射される全光量を示すものであ
り、割算器7の分母信号として入力される。割算
器7の分子信号としては差動信号が入力され、和
信号により正規化される。例えば、デイスクの反
射率が高くなつた場合には分母が大きくなり差動
信号は小さくなる。一方、デイスクの反射率が低
くなつた場合には分母が小さくなり差動信号は大
きくなる。このように割算器7により、デイスク
の反射率の変動や、記録と再生での検出パワーの
大きな変化によつて生ずる合焦点からのずれ量の
検出感度を略一定にしている。
割算器7の出力信号は制御ループの安定性を向
上させるために位相補償回路8により位相進み補
償される。進み補償された信号はスイツチ11を
通り、駆動アンプ12により電流に変換され、対
物レンズを駆動するコイル13に印加される。こ
のように対物レンズは合焦点からのずれ量に応じ
て駆動され、デイスク反射面の面振れに対して常
に合焦点位置が反射面になるように制御される。
尚、本制御ループを引込ませるために、引込み開
始指令信号14により引込み起動回路10で引込
み起動信号を発生させ、スイツチ11を通して駆
動アンプ12で電流増幅して、対物レンズ駆動コ
イル13を駆動せしめる。引込み検出回路9によ
り対物レンズの焦点位置が制御ループの動作点近
傍に入つたことを検出とするとスイツチ11を切
換え、閉ループが構成される。
上させるために位相補償回路8により位相進み補
償される。進み補償された信号はスイツチ11を
通り、駆動アンプ12により電流に変換され、対
物レンズを駆動するコイル13に印加される。こ
のように対物レンズは合焦点からのずれ量に応じ
て駆動され、デイスク反射面の面振れに対して常
に合焦点位置が反射面になるように制御される。
尚、本制御ループを引込ませるために、引込み開
始指令信号14により引込み起動回路10で引込
み起動信号を発生させ、スイツチ11を通して駆
動アンプ12で電流増幅して、対物レンズ駆動コ
イル13を駆動せしめる。引込み検出回路9によ
り対物レンズの焦点位置が制御ループの動作点近
傍に入つたことを検出とするとスイツチ11を切
換え、閉ループが構成される。
第4図は前記制御ループの開ループ周波数特性
を示したものであり、はゲイン特性を、は位
相特性を表わしている。一般的には実線に示すよ
うな一次共振点foを有する二次系の特性を示す。
また、リニアモーターのようなアクチユエータの
場合は一点鎖線に示すような特性を示す。
を示したものであり、はゲイン特性を、は位
相特性を表わしている。一般的には実線に示すよ
うな一次共振点foを有する二次系の特性を示す。
また、リニアモーターのようなアクチユエータの
場合は一点鎖線に示すような特性を示す。
例えば、平均的な反射率のデイスクを再生する
場合のゲイン交点をBとすると、この場合、位相
進み補償回路によりfcでの位相余有はθc〔deg〕と
なる。
場合のゲイン交点をBとすると、この場合、位相
進み補償回路によりfcでの位相余有はθc〔deg〕と
なる。
さて、前記の割算器によるサーボゲイン制御装
置がない場合において例えば、反射率が平均レベ
ルに対してかなり低いデイスクを再生しようとす
るとそのゲイン交点はA点となり、fC1での位相
余裕はQC1〔deg〕となる。また、反射率が平均レ
ベルに対してかなり高いデイスクを再生する場合
には、ゲイン交点はC点となり、fC2での位相余
裕はθC2〔deg〕となり、いずれも、位相余有がか
なり少なくなり、制御ループの安定性が損なわれ
ることが考えられる。
置がない場合において例えば、反射率が平均レベ
ルに対してかなり低いデイスクを再生しようとす
るとそのゲイン交点はA点となり、fC1での位相
余裕はQC1〔deg〕となる。また、反射率が平均レ
ベルに対してかなり高いデイスクを再生する場合
には、ゲイン交点はC点となり、fC2での位相余
裕はθC2〔deg〕となり、いずれも、位相余有がか
なり少なくなり、制御ループの安定性が損なわれ
ることが考えられる。
このように、サーボゲイン制御装置がない場合
には、ゲイン交点が大きく変動し、ループの安定
性の低下をまねくことになる。
には、ゲイン交点が大きく変動し、ループの安定
性の低下をまねくことになる。
このような状態を考えて、位相補償回路におけ
る位相進み量を十分に大きくすることは可能であ
るが、低周波数のゲインの低下や、二次共振点に
おけるゲイン余裕の低下となり、また、高周波数
成分を強調することになるため、消費電力の増加
やコイル駆動段の飽和という多くの問題点が発生
する。
る位相進み量を十分に大きくすることは可能であ
るが、低周波数のゲインの低下や、二次共振点に
おけるゲイン余裕の低下となり、また、高周波数
成分を強調することになるため、消費電力の増加
やコイル駆動段の飽和という多くの問題点が発生
する。
さて、これまで、再生状態におけるデイスク反
射面の変動に対して、サーボゲイン制御装置が必
要であることを述べてきたが、記録可能なデイス
クの場合、多くは反射率変化によつて情報の記録
再生を行つているため、再生時のみならず記録時
にもゲイン調整が必要とされる。
射面の変動に対して、サーボゲイン制御装置が必
要であることを述べてきたが、記録可能なデイス
クの場合、多くは反射率変化によつて情報の記録
再生を行つているため、再生時のみならず記録時
にもゲイン調整が必要とされる。
以上のように、デイスク反射面の反射率が大き
なフアクターとなる検出感度は、記録剤トラツク
の再生時と、未記録トラツクの再生時と、記録時
とで大きく異なる場合が多い。例えば、各々の状
態に於ける反射率のばらつきが非常に小さい場合
には、特開昭58−94138号公報で提案されている
ように単に各状態に応じてゲインを切換えれば良
い。しかしながら、各状態に於ける反射率のばら
つきが大きい場合には、前記手段ではばらつきを
吸収することができず、サーボゲイン制御装置が
必要となる。
なフアクターとなる検出感度は、記録剤トラツク
の再生時と、未記録トラツクの再生時と、記録時
とで大きく異なる場合が多い。例えば、各々の状
態に於ける反射率のばらつきが非常に小さい場合
には、特開昭58−94138号公報で提案されている
ように単に各状態に応じてゲインを切換えれば良
い。しかしながら、各状態に於ける反射率のばら
つきが大きい場合には、前記手段ではばらつきを
吸収することができず、サーボゲイン制御装置が
必要となる。
また、所望のトラツクを正確に追従せしめるた
めのトラツキング制御ループに於いても、同様に
サーボゲイン制御装置が有効である。
めのトラツキング制御ループに於いても、同様に
サーボゲイン制御装置が有効である。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、前記に示すような従来の構成で
は、次のような問題点がある。
は、次のような問題点がある。
第3図に示すように変動する検出感度、言い換
えれば、検出ゲインを略一定にするために、光検
出器の各出力の和信号の大小により増幅器のゲイ
ン制御を行つているが、本例に示すような構成で
は、閉ループで検出ゲインの制御を行つているわ
けではなく、開ループ制御になつている。従つ
て、温度変化等によつて発生する外乱に対して弱
く、外乱の影響を受けやすい構成になつている。
これは、本例に限らず、開ループ制御の方が閉ル
ープ制御にくらべ、外乱に対して弱いことは明ら
かである。また、割算器に用いる素子のばらつき
を考慮する必要があるという問題点もある。
えれば、検出ゲインを略一定にするために、光検
出器の各出力の和信号の大小により増幅器のゲイ
ン制御を行つているが、本例に示すような構成で
は、閉ループで検出ゲインの制御を行つているわ
けではなく、開ループ制御になつている。従つ
て、温度変化等によつて発生する外乱に対して弱
く、外乱の影響を受けやすい構成になつている。
これは、本例に限らず、開ループ制御の方が閉ル
ープ制御にくらべ、外乱に対して弱いことは明ら
かである。また、割算器に用いる素子のばらつき
を考慮する必要があるという問題点もある。
本発明は上記問題に鑑み、検出ゲインを略一定
にすることのできるサーボゲイン制御装置を提供
することを目的とするものである。
にすることのできるサーボゲイン制御装置を提供
することを目的とするものである。
問題点を解決するための手段
上記問題点を解決するために、本発明のサーボ
ゲイン制御装置では、光検出器からの2つの信号
を時分割して1つの信号とし、さらに略平均化を
行い、その略平均化された信号を基準レベルと比
較し、その差に応じて検出ゲインを閉ループで制
御するように構成している。
ゲイン制御装置では、光検出器からの2つの信号
を時分割して1つの信号とし、さらに略平均化を
行い、その略平均化された信号を基準レベルと比
較し、その差に応じて検出ゲインを閉ループで制
御するように構成している。
作 用
本発明は、上記の構成により、従来、開ループ
で制御されていた検出ゲインを閉レープで制御す
ることができるため、温度変化等によつて発生す
る外乱に対して安定に動作するようにできるもの
である。
で制御されていた検出ゲインを閉レープで制御す
ることができるため、温度変化等によつて発生す
る外乱に対して安定に動作するようにできるもの
である。
また、1つのゲイン制御装置で多入力信号をゲ
イン制御することができるため、回路の簡略化に
おいても効果が大なるものがある。
イン制御することができるため、回路の簡略化に
おいても効果が大なるものがある。
実施例
第1図に、本発明のサーボゲイン制御装置の一
実施例を示す。第1図において、第2図中と同一
の符号で示すブロツクは第2図中と同様の機能を
有するものである。
実施例を示す。第1図において、第2図中と同一
の符号で示すブロツクは第2図中と同様の機能を
有するものである。
以下、第1図をもとに本発明の実施例について
説明する。プリアンプ3,4の後段に設けられた
アナログスイツチ15は、制御帯域より十分に高
い周波数のスイツチ切換えクロツク信号20によ
り、2つの入力信号を時分割で切換える。時分割
で1つの信号に合成したプリアンプの出力信号は
割算器7の分子信号として入力する。割算器7の
分母信号には、次のような信号を入力する。すな
わち、割算器7の出力を制御帯域より十分に低い
周波数のカツトオフをもつローパスフイルタ17
に通過せしめる。前記2分割された信号をローパ
スフイルタ17に通過せしめるということは前記
2つの信号の略平均化を行うことに相当する。略
平均化した信号は基準レベルと比較し、その差に
応じた信号を、前記割算器7の分母に入力する。
説明する。プリアンプ3,4の後段に設けられた
アナログスイツチ15は、制御帯域より十分に高
い周波数のスイツチ切換えクロツク信号20によ
り、2つの入力信号を時分割で切換える。時分割
で1つの信号に合成したプリアンプの出力信号は
割算器7の分子信号として入力する。割算器7の
分母信号には、次のような信号を入力する。すな
わち、割算器7の出力を制御帯域より十分に低い
周波数のカツトオフをもつローパスフイルタ17
に通過せしめる。前記2分割された信号をローパ
スフイルタ17に通過せしめるということは前記
2つの信号の略平均化を行うことに相当する。略
平均化した信号は基準レベルと比較し、その差に
応じた信号を、前記割算器7の分母に入力する。
例えば、略平均化された信号が基準レベルより
も大なる場合には、割算器7の分母は大きくな
り、割算器7は出力を小さくするように働く。一
方、略平均化された信号が基準レベルよりも小な
る場合には、割算器7の分母は小さくなり、割算
器7は出力を大きくするように働く。このよう
に、従来のサーボゲイン制御装置に比して、閉ル
ープで検出ゲインが制御されることがわる。
も大なる場合には、割算器7の分母は大きくな
り、割算器7は出力を小さくするように働く。一
方、略平均化された信号が基準レベルよりも小な
る場合には、割算器7の分母は小さくなり、割算
器7は出力を大きくするように働く。このよう
に、従来のサーボゲイン制御装置に比して、閉ル
ープで検出ゲインが制御されることがわる。
割算器7の出力信号はゲイン1倍の反転増幅器
18で反転する。反転した信号と前記割算器7の
出力信号は、アナログスイツチ16でスイツチ切
換えクロツク信号20により時分割に切換え、一
つの信号とする。時分割に切換えた信号は、積分
器若しくは高次のローパスフイルタに入力し、焦
点位置誤差信号とする。即ち、従来、差動増幅器
により得ていた焦点位置誤差信号を差動増幅器を
用いずにアナログスイツチ16と反転増幅器18
とローパスフイルタ19により得るようにしてい
る。
18で反転する。反転した信号と前記割算器7の
出力信号は、アナログスイツチ16でスイツチ切
換えクロツク信号20により時分割に切換え、一
つの信号とする。時分割に切換えた信号は、積分
器若しくは高次のローパスフイルタに入力し、焦
点位置誤差信号とする。即ち、従来、差動増幅器
により得ていた焦点位置誤差信号を差動増幅器を
用いずにアナログスイツチ16と反転増幅器18
とローパスフイルタ19により得るようにしてい
る。
このように、本構成の特徴は、閉ループによる
ゲイン制御のみならず、差動増幅器用いずに焦点
位置誤差信号を得るところにある。本装置によれ
ば、差動増幅器で発生していたオフセツトを低減
することができる。即ち、従来の差動増幅器での
増幅率に相当する倍率を割算器7で行うようにす
ると、オフセツトが発生するのは反転増幅器18
のみである。この反転増幅器18はゲインが1倍
であるため、反転増幅器18のオフセツトは従来
の何倍かの増幅器をもつ差動増幅器のオフセツト
よりも少なくすることができる。
ゲイン制御のみならず、差動増幅器用いずに焦点
位置誤差信号を得るところにある。本装置によれ
ば、差動増幅器で発生していたオフセツトを低減
することができる。即ち、従来の差動増幅器での
増幅率に相当する倍率を割算器7で行うようにす
ると、オフセツトが発生するのは反転増幅器18
のみである。この反転増幅器18はゲインが1倍
であるため、反転増幅器18のオフセツトは従来
の何倍かの増幅器をもつ差動増幅器のオフセツト
よりも少なくすることができる。
位相補償回路以降の構成は従来と全く同様であ
る。
る。
さて、第1図に示す装置では、ゲイン制御のた
めに割算器7を用いたが、ゲインが可変できるも
のであれば任意のもので良い。
めに割算器7を用いたが、ゲインが可変できるも
のであれば任意のもので良い。
また、本構成例は焦点位置制御ループ内に適用
したものであるが、トラツキング制御ループ内に
も適用できることはいうまでもない。
したものであるが、トラツキング制御ループ内に
も適用できることはいうまでもない。
第2図に、トラツキング制御ループ内に適用し
た場合のブロツク図を示す。第1図に比して、第
2図のものでは引込み起動及び検出回路の代りに
ジヤンピングパルス発生回路を備えている。その
他の構成は全くかわるところはない。
た場合のブロツク図を示す。第1図に比して、第
2図のものでは引込み起動及び検出回路の代りに
ジヤンピングパルス発生回路を備えている。その
他の構成は全くかわるところはない。
以上のように、光検出器からの検出信号をサン
プリングし、それらの信号の略平均値で閉ループ
により検出ゲインの制御を行うようにしたため、
温度等によつて発生する外乱に対して強くなり、
また、割算器に用いる素子のバラツキを考慮する
必要もなくなり、安定な制御を得ることができ
る。
プリングし、それらの信号の略平均値で閉ループ
により検出ゲインの制御を行うようにしたため、
温度等によつて発生する外乱に対して強くなり、
また、割算器に用いる素子のバラツキを考慮する
必要もなくなり、安定な制御を得ることができ
る。
尚、第1図、第2図では簡単なブロツク図を示
したが、本実施例以外の構成でも前記の目的を達
成せしめるように変形しても良いことはいうまで
もない。
したが、本実施例以外の構成でも前記の目的を達
成せしめるように変形しても良いことはいうまで
もない。
また、本発明は焦点位置制御、トラツキング制
御に限らず、2分割以上の光検出器を用いて、ビ
ームの位置制御を行う光ビーム位置制御系にも有
効である。
御に限らず、2分割以上の光検出器を用いて、ビ
ームの位置制御を行う光ビーム位置制御系にも有
効である。
発明の効果
以上のように、本発明によれば、検出ゲインの
変動を閉ループで抑圧することができるため、外
乱に対して強くなり、安定な制御ができることと
なつて、実用上効果が大なるものである。
変動を閉ループで抑圧することができるため、外
乱に対して強くなり、安定な制御ができることと
なつて、実用上効果が大なるものである。
また、差動増幅器を用いないため大きなオフセ
ツトは発生しないという効果もある。
ツトは発生しないという効果もある。
さらに、簡単な回路で達成することができるた
め、大きなコストアツプにはならず、ビデオデイ
スクや光デイスクフアイル装置に広く利用できる
ものである。
め、大きなコストアツプにはならず、ビデオデイ
スクや光デイスクフアイル装置に広く利用できる
ものである。
第1図は本発明を焦点位置制御ループに用いた
一実施例のサーボゲイン制御装置のブロツク図、
第2図は本発明をトラツキング制御ループに用い
た一実施例のサーボゲイン制御装置のブロツク
図、第3図は従来例のサーボゲイン制御装置を示
すブロツク図、第4図はその焦点位置制御ループ
の開ループ特性の一例を示す特性図である。 1,2……光検出器、3,4……プリアンプ、
7……割算器、8……位相補償回路、9……引込
み検出回路、10……引込み起動回路、11……
スイツチ、12……駆動アンプ、13……レンズ
駆動コイル、15,16……スイツチ、17,1
9……ローパスフイルタ、18……反転アンプ、
20……スイツチ切換クロツク信号。
一実施例のサーボゲイン制御装置のブロツク図、
第2図は本発明をトラツキング制御ループに用い
た一実施例のサーボゲイン制御装置のブロツク
図、第3図は従来例のサーボゲイン制御装置を示
すブロツク図、第4図はその焦点位置制御ループ
の開ループ特性の一例を示す特性図である。 1,2……光検出器、3,4……プリアンプ、
7……割算器、8……位相補償回路、9……引込
み検出回路、10……引込み起動回路、11……
スイツチ、12……駆動アンプ、13……レンズ
駆動コイル、15,16……スイツチ、17,1
9……ローパスフイルタ、18……反転アンプ、
20……スイツチ切換クロツク信号。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 光ビーム光源と、前記光源からの光ビーム光
束を所望の反射面に導く光学的手段と、前記光束
を前記反射面に合焦点せしめるための対物レンズ
と、前記対物レンズを光軸方向に駆動せしめる駆
動手段と、前記対物レンズの合焦点位置からのず
れ量を検出するための第1の少なくとも2分割さ
れた光検出器と、前記反射面からの反射光束を前
記第1の光検出器まで導く光学的手段と、前記第
1の光検出器からの2つの出力信号を増幅する第
1の増幅器と、前記第1の増幅器からの2つの出
力信号を所望のクロツク信号で切換えて一つの信
号とする第1のスイツチと、前記第1のスイツチ
の出力を所望のレベルに増幅する第2のゲイン可
変可能な増幅器と、前記第2の増幅器の出力信号
を通過せしめる所望のカツト・オフ周波数を持つ
ローパス・フイルタとを備え、前記ローパスフイ
ルタを通過せしめることにより前記第2の増幅器
の出力信号を略平均化し、前記略平均化された信
号を所望のレベルと比較し、前記基準レベルより
小なる場合に前記第2の増幅器のゲインを所望の
倍率に増大せしめ、基準レベルより大なる場合に
前記第2の増幅器のゲインを所望の倍率に減少せ
しめるように構成し、かつ、前記第2の増幅器の
出力信号を反転増幅する反転増幅器と、前記第2
の増幅器の出力信号と、反転増幅器の出力信号と
を前記第1のスイツチの切換えのために用いられ
るクロツク信号で切換えて一つの信号とする第2
のスイツチと、前記第2のスイツチの出力信号の
高域周波数成分を減衰せしめるローパスフイルタ
若しくは高次のローパスフイルタと、前記ローパ
スフイルタの出力信号に進み補償し前記駆動手段
の機械系の遅れを補償する位相補償回路と、前記
位相補償された信号を前記駆動手段に伝える駆動
アンプとを備えたこを特徴とするサーボゲイン制
御装置。 2 反射面の所望のトラツク上を光ビーム光束が
追従するように構成されたトラツキング駆動手段
と、その所望の位置からのずれ量を検出する第2
の少なくとも2分割された光検出器と、前記反射
面からの反射光束を前記第2の光検出器まで導く
光学的手段とを備え、前記第1の光検出器からの
出力信号を前記第2の光検出器からの出力信号と
し、前記駆動手段をトラツキング駆動手段とした
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のサ
ーボゲイン制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60074622A JPS61233431A (ja) | 1985-04-09 | 1985-04-09 | サ−ボゲイン制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60074622A JPS61233431A (ja) | 1985-04-09 | 1985-04-09 | サ−ボゲイン制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61233431A JPS61233431A (ja) | 1986-10-17 |
| JPH0555933B2 true JPH0555933B2 (ja) | 1993-08-18 |
Family
ID=13552465
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60074622A Granted JPS61233431A (ja) | 1985-04-09 | 1985-04-09 | サ−ボゲイン制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61233431A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2689442B2 (ja) * | 1987-09-22 | 1997-12-10 | 松下電器産業株式会社 | ループゲイン制御装置 |
| JPH03263620A (ja) * | 1990-03-13 | 1991-11-25 | Pioneer Electron Corp | ディスクプレーヤのサーボ装置 |
-
1985
- 1985-04-09 JP JP60074622A patent/JPS61233431A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61233431A (ja) | 1986-10-17 |
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Legal Events
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