JPH055933A - オートフオーカスカメラ及びその調整方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 測距装置の検査及び調整を簡単にする。 【構成】 ＣＰＵ２４は、測距処理過程で求めた各種の
データ，例えばオフセット値，ゲイン値，複数の測定デ
ータ，各測定データから求めた距離データ，レンズセッ
トに用いた距離データ等をＲＡＭ２６に書き込む。検査
モードを指定すると、マイクロコンピュータ１４は、Ｒ
ＡＭ２６から各種のデータを読み出し、表示用ＬＣＤ４
３に表示する。表示用ＬＥＤ４６は、各種のデータを光
信号として出力する。各測距光の誤差を補正する補正デ
ータがＲＯＭ２５に書き込まれている。算出された距離
データは、この補正データで補正される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、オートフォーカスカメ
ラ及びその調整方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】最近のオートフォーカスカメラは、マル
チビーム方式の測距装置が用いられる傾向にある。この
測距装置は、撮影シーンの横方向に沿って複数の測距光
を順次投光する投光部と、撮影シーンから反射されてき
た各反射光を受光し、その入射位置をそれぞれ検出する
受光部とから構成されている。この投光部としては、近
赤外光を放出する発光ダイオード（ＬＥＤ）を一列に並
べたものが用いられ、そして受光部としてはＰＳＤ（半
導体位置検出器）が用いられる。撮影シーン内に、複数
の主要被写体が存在する場合には、各測距光毎に距離デ
ータが算出され、これらの距離データの中から最適なも
のが選択され、この距離データをもとに撮影レンズのセ
ット位置が決められる。

【０００３】前記距離データの選択には、近距離選択，
中間距離選択等があり、例えば近距離選択では最も近い
被写体の距離データが最適なものとして選択される。し
たがって、このマルチビーム方式の測距装置では、主要
被写体が撮影シーンの中央に存在しない場合，並んで立
っている複数の人物を撮影する場合でも、フォーカスロ
ック等の面倒な操作を行うことなく、主要被写体にピン
ト合わせを行うことができるという利点がある。

【０００４】オートフォーカスカメラの組立工程では、
測距装置をカメラボディに組み込んだ後、測距装置が適
正に作動しているかどうかについて検査を行っている。
この検査では、例えば既知の距離にあるテスト物体が用
いられ、いずれのＬＥＤから放出された測距光でも、同
じ距離データが得られるように、各測距光ごとに撮影レ
ンズの移動位置を測定しながら投光部及び受光部の取付
け位置を調整している。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】このように、従来の検
査方法では、各測距光毎に撮影レンズのセット位置を測
定し、これらの測定結果に応じて投光部と受光部の位置
を調整することが必要であり、また調整の確認のために
再度測距しなくてはならず、作業能率が悪いとともに、
各測距光の測距精度にバラツキが出やすい等の問題があ
った。

【０００６】本発明は、以上のような従来技術に鑑みて
なされたもので、検査及び調整が簡単にできるようにし
たオートフォーカスカメラ及びその調整方法を提供する
ことを目的とするものである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１又は２に記載した発明では、テスト測距で
得られた測定データや、測距演算の過程で設定又は算出
された種々のデータを記憶手段に書き込んでおき、テス
ト測距後に記憶手段からデータを読み出して発光表示器
あるいは液晶表示器で表示するように構成したものであ
る。

【０００８】請求項３に記載した発明では、複数の測距
光のうちの１つを基準としたときに、テスト物体に対し
て基準測距光で測距して求めた基準距離データと他の測
距光で求めた各距離データとの差を補正データとして予
め書き込んだ記憶手段を設け、前記他の測距光で距離デ
ータを算出する際に、対応する補正データで補正するよ
うにしたものである。

【０００９】請求項４に記載した発明では、複数の測距
光のうちの１つを基準とし、この基準測距光でテスト物
体を測距して基準距離データを算出する第１工程と、他
の測距光を用いてテスト物体を測距して距離データをそ
れぞれ算出する第２工程と、各距離データと基準距離デ
ータとの差に対応した補正データを記憶手段にそれぞれ
書き込む第３工程とからなり、投光部又は受光部とを機
械的に調整することなく、ソフト的に調整するようにし
たものである。

【００１０】

【実施例】マルチビーム方式の測距装置の構成を概略的
に示した図２において、投光部２は光源部３と投光レン
ズ４とから構成され、投光レンズ４の光軸４ａは撮影レ
ンズ５の光軸５ａとほぼ平行となっている。光源部３
は、それぞれ近赤外光を発する３個のＬＥＤ（発光ダイ
オード）３ａ，３ｂ，３ｃからなる。これらのＬＥＤ３
ａ〜３ｃは水平に配列され、中央のＬＥＤ３ａは光軸４
ａ上に、またＬＥＤ３ｂ，３ｃはその左右にそれぞれ位
置しており、撮影シーン内の３個所に向けて各々スポッ
ト状の測距光を投光する。

【００１１】受光部７は、受光レンズ８と、矩形状をし
たＰＳＤ９とから構成され、受光レンズ８の光軸８ａは
撮影レンズ５の光軸５ａとほぼ平行になっている。ＰＳ
Ｄ９は、その受光面に近赤外光だけを透過するフイルタ
１０（図１参照）が貼ってあり、これを透過した入射光
の光量及び入射位置に応じた信号を出力端子９ａ，９ｂ
から出力する。被写体からの反射光は、被写体距離が短
いほど出力端子９ｂ側に寄った位置に入射する。また、
被写体距離が短いほど、反射光の強度が大きくなり、出
力端子９ａ，９ｂからの信号の絶対値も大きくなるが、
これらの信号の和と差の比をとることによって、反射光
の強度に依存せずにその入射位置にのみ対応した信号を
得ることができる。

【００１２】ＬＥＤ３ａ〜３ｃは、オートフォーカスＩ
Ｃ１２からの信号により、ＬＥＤドライバ１１を介して
発光制御される。オートフォーカスＩＣ１２は、マイク
ロコンピュータ１４からのコマンドにしたがって予め決
められた測距シーケンスを実行する。また、オートフォ
ーカスＩＣ１２は、ＰＳＤ９の出力端子９ａ，９ｂから
のそれぞれの信号を増幅したり、サンプルホールド処理
してマイクロコンピュータ１４に送る。

【００１３】前記マイクロコンピュータ１４としては汎
用型が用いられ、ＰＳＤ９の出力端子９ａ，９ｂからそ
れぞれ出力された第１，第２チャンネルの信号をもとに
演算を行い、ＬＥＤ３ａ〜３ｃ毎に距離データを算出す
る。マイクロコンピュータ１４は、３個の距離データの
中から最適なものを選択し、この距離データに応じた個
数の駆動パルスをレンズ駆動制御回路１５に送る。この
レンズ駆動制御回路１５は、ステッピングモータ１５ａ
を駆動して、距離データに応じたレンズ位置に撮影レン
ズ５をセットする。

【００１４】図１に示すように、マイクロコンピュータ
１４は、露出制御ＩＣ１６，フイルム移送制御ＩＣ１
７，ストロボ制御ＩＣ１８，外部データ入力部３０，表
示制御ＩＣ３１を制御する。露出制御ＩＣ１６は、フイ
ルム感度と測光素子１６ａで検出した被写体輝度とか
ら、適正露光となる露出時間及び絞り値を算出し、ステ
ッピングモータ１６ｂを駆動してプログラムシャッタ２
０の作動を制御する。外部データ入力部３０は、図３に
示すように、シャッタボタン１９，セルフタイマーボタ
ン４０，デイライトシンクロボタン４１，露光補正ボタ
ン４２等で構成されている。表示制御ＩＣ３１には、液
晶表示器４３と、表示用ＬＥＤ４６，４７とが接続され
ている。この液晶表示器４３は、撮影枚数や撮影モード
を数字，文字，記号で表示する。表示用ＬＥＤ４６は測
距完了の表示を行い、表示用ＬＥＤ４７は撮影シーンが
低輝度のためにストロボ撮影に切り換えられたときに点
灯する。なお、図３において、符号４５はファインダで
あり、符号４８はカメラボディである。

【００１５】前記マイクロコンピュータ１４は、ＣＰＵ
２４，ＲＯＭ２５，ＲＡＭ２６，バスライン２７，シリ
アルＩ／Ｏポート２８，Ａ／Ｄコンバータ２９からな
る。ＣＰＵ２４は周知のように各種レジスタ及び論理演
算回路を内蔵しており、ＲＯＭ２５に書き込まれたシー
ケンスプログラムにしたがって撮影シーケンスを実行す
る。ＲＡＭ２６は、撮影シーケンスを実行する過程で、
前述したオートフォーカスＩＣ１２，露出制御ＩＣ１
６，フイルム移送制御ＩＣ１７，ストロボ制御ＩＣ１８
から得られるデータの他、シーケンスプログラムの実行
過程で出力されてくるアドレスデータやフラグデータ等
を一時的に格納する。バスライン２７は、アドレスバ
ス，データバスからなり、ＣＰＵ２４とＲＯＭ２５，Ｃ
ＰＵ２４とＲＡＭ２６との間で各種のデータを転送す
る。

【００１６】シリアルＩ／Ｏポート２８は、並／直変換
回路を内蔵し、ＣＰＵ２４からパラレルデータとして出
力されてくるコマンドデータをシリアルデータに変換し
て各ＩＣに出力する。また、各ＩＣから出力されてくる
アナログデータは、Ａ／Ｄコンバータ２９によってデジ
タル化され、所定ビット数のパラレルデータとしてシリ
アルＩ／Ｏポート２８に供給された後、バスライン２７
へ送り出される。

【００１７】露出完了後にマイクロコンピュータ１４か
らフイルム移送制御ＩＣ１７にコマンドが送られると、
モータ１７ａを介してフイルム移送機構２１が駆動さ
れ、フイルムの移送が開始される。そして、その移送量
が１コマ分（８パーフォレーション）になったときにフ
イルム移送制御ＩＣ１７に停止コマンドが出力され、フ
イルム移送が停止する。また、ストロボ制御ＩＣ１８
は、露出制御ＩＣ１６で算出された露光時間が長くなり
過ぎるときにストロボ装置２２を作動させ、プログラム
シャッタ２０の開閉に同期して閃光放電管２３を発光さ
せる。なお、ストロボ制御ＩＣ１８はカメラの電源スイ
ッチ（図示せず）が投入されている状態では、ストロボ
装置２２内のメインコンデンサ（図示せず）の充電レベ
ルを監視しており、それが所定レベル以下になると自動
的に充電を行わせる。

【００１８】通常の使用状態においては、セルフタイマ
ーモードボタン４０，デイライトシンクロボタン４１，
露光補正ボタン４２のいずれかが押されて所望の撮影モ
ードが選択される。また、シャッタボタン１９を半押し
して測距処理が行われた後、そのままの状態でセルフタ
イマーモードボタン４０を操作すると、外部データ入力
部３０からＣＰＵ２４に隠しコマンドが入力される。こ
の隠しコマンドがＣＰＵ２４に入力されると、ＲＡＭ２
６内に記憶されているデータが逐次表示される検査モー
ドとなる。

【００１９】図４において、オートフォーカスＩＣ１２
はワンチップのＩＣで構成され、ロジック回路３２と、
ゲインコントローラ３３と、ＰＳＤ９の出力端子９ａ，
９ｂから出力される第１，第２チャンネルの電流を電圧
に変換するプリアンプ３４ａ，３４ｂと、ゲインコント
ロールアンプ３５ａ，３５ｂと、サンプルホールド回路
３６ａ，３６ｂと、バッファアンプ３７ａ，３７ｂ等を
有する。

【００２０】ゲインコントロールアンプ３５ａ，３５ｂ
は、被写体が遠距離の場合に、ＰＳＤ９に入射している
反射光の光量が低下し、出力端子９ａ，９ｂからの電流
の絶対値が小さくなることを考慮して設けられたもの
で、後述するゲインコントロール処理によって最適なゲ
インが与えられる。サンプルホールド回路３６ａ，３６
ｂは、ロジック回路３２からのサンプリングパルスを受
けてゲインコントロールアンプ３５ａ，３５ｂで増幅さ
れた信号をサンプルホールドし、これらの信号をバッフ
ァアンプ３７ａ，３７ｂを介してマイクロコンピュータ
１４のＡ／Ｄコンバータ２９に送る。なお、前記ロジッ
ク回路３２は基本的にシリアルイン−パラレルアウトの
シフトレジスタからなり、ゲインコントローラ３３はそ
のシフトレジスタの所定ビット位置に設定されたゲイン
コントロールデータを読み出し、これに基づいてゲイン
コントロールアンプ３５ａ，３５ｂに、共通な最適ゲイ
ンを設定する。

【００２１】シリアルＩ／Ｏポート２８は、前述したよ
うにＣＰＵ２４からのパラレルコマンドデータをシリア
ルデータパルス（ＡＦＳＤ）に変換してロジック回路３
２に供給するとともに、このシリアルデータをシフトレ
ジスタに転送するための転送パルス（ＡＦＳＣＫ），シ
フトレジスタからのパラレルデータのラッチやＬＥＤ３
ａ〜３ｃの発光タイミング等を決定する制御パルス（Ａ
ＦＬＣＫ）を出力する。また、オートフォーカスＩＣ１
２から出力されるアナログ信号は、Ａ／Ｄコンバータ２
９によってその信号電圧レベルに対応した７ビットのデ
ジタル信号（十進数で０〜１２７を表す）に変換され
る。

【００２２】図５は、ロジック回路３２に用いられてい
るシフトレジスタ３８を概念的に示している。「Ｄ０〜
Ｄ４」の５ビットには、ゲインコントロールデータ（Ｇ
ＡＩＮ）が、「Ｄ５〜Ｄ６」の２ビットにはＬＥＤ発光
データ（ＬＥＤ）が、また「Ｄ７」のビットにはＬＥＤ
の発光／リセットの切換えデータ（ＳＥＴ）が割り当て
られている。５ビットのゲインコントロールデータは、
「０」レベルから「３１」レベルまでのゲインレベルを
表すことができる。また、２ビットのＬＥＤ発光データ
は、十進数で「０」，「１」，「２」，「３」の４状態
を表すことができ、「０」のときにはＬＥＤ３ａ〜３ｃ
の全てが消灯し、「１」のときにはＬＥＤ３ａのみが発
光し、「２」，「３」のときにはＬＥＤ３ｂ，ＬＥＤ３
ｃがそれぞれ発光する。

【００２３】基本的な測距シーケンスの手順を示す図６
において、オートフォーカスＩＣ１２のアンプ系のオフ
セット値を検出する処理，ＬＥＤ３ａ〜３ｃを１個ずつ
発光させながら、ゲインコントロールアンプ３５ａ，３
５ｂの出力信号に応じてそのゲインを決定する処理，こ
のゲインのもとで測定データを取り込み、各ＬＥＤ３ａ
〜３ｃ毎に距離データを算出する処理，複数の距離デー
タの中から最適なものを選択する処理が順次に実行され
る。

【００２４】次に、上記実施例の作用について図７ない
し図１４を参照して説明する。図７に示すように、カメ
ラの電源スイッチが投入されると、ＲＡＭ２６内の各デ
ータ格納エリアが初期状態にリセットされ、外部データ
入力部３０からのデータ読み込みが行われる。そして、
フイルムの装填完了，レンズバリアの開放等、撮影待機
状態になったことが確認されると、マイクロコンピュー
タ１４はＲＯＭ２５内に予め用意されているストロボチ
ェックコマンドをバスライン２７，シリアルＩ／Ｏポー
ト２８を介し、シリアルコマンドデータとしてストロボ
制御ＩＣ１８に供給する。ストロボ制御ＩＣ１８はこの
コマンドデータを読み込み、ストロボ装置２２のメイン
コンデンサの充電レベルを監視し、未充電であれば充電
処理を行い、充電が完了すると完了信号をＡ／Ｄコンバ
ータ２９，シリアルＩ／Ｏポート２８を介してＣＰＵ２
４に送る。このストロボ装置２２のメインコンデンサの
充電完了によってシャッタボタン１９のロックが解除さ
れ、押下することが可能となる。

【００２５】被写体の一部が、ファインダ内に表示され
た横長なターゲットマーク内に位置するようにカメラの
向きを調節してから、シャッタボタン１９を半押しす
る。この半押し信号が外部データ入力部３０からＣＰＵ
２４に与えられ、このＣＰＵ２４はオートフォーカスＩ
Ｃ１２に測距コマンドを出力する。オートフォーカスＩ
Ｃ１２は、投光部２を駆動してスポット状の近赤外光を
周期的に発生させ、これらを被写体に向けて投光する。
この被写体で反射された近赤外光を受光部７で検出する
ことにより、被写体距離が測定される。

【００２６】この距離測定後に、ＣＰＵ２４は露出制御
ＩＣ１６に測光コマンドデータを送り、被写体輝度の測
定を開始させる。このコマンドデータ中には外部データ
入力部３０からのフイルム感度情報も含まれ、複数ビッ
トのコマンドデータとなっているが、上述したオートフ
ォーカスＩＣ１２にコマンド転送を行ったときのよう
に、シリアルＩ／Ｏポート２８を通すことによって、シ
リアルコマンドデータとして露出制御ＩＣ１６に転送す
ることができる。

【００２７】露出制御ＩＣ１６は、測光素子１６ａで検
出された被写体輝度信号と、ＣＰＵ２４から転送されて
きたフイルム感度信号とに基づいて露光演算を行い、適
正露光が得られる露出時間を算出する。算出された露光
時間データはアナログ量であるが、Ａ／Ｄコンバータ２
９によってデジタル量に変換された後、シリアルポート
２８，バスライン２７を経てＣＰＵ２４に送られ、そし
てＲＡＭ２６に格納される。露出演算後、ＣＰＵ２４は
既にＲＡＭ２６に格納されている距離データに対応した
個数のクロックパルスをレンズ位置制御回路１５に送
る。これによりステッピングモータ１５ａが駆動され、
撮影レンズ５は距離データに応じたレンズ位置に繰り出
される。

【００２８】シャッタボタン１９を完全に押し込むと、
全押し信号が外部データ入力部３０からＣＰＵ２４に入
力され、露出演算処理で得られた露出時間によってプロ
グラムシャッタ２０が作動して撮影が行われる。ＲＡＭ
２６から読み出された露出時間データは、ＣＰＵ２４に
よってクロックパルスの個数に変換された後、シリアル
Ｉ／Ｏポート２８から露出時間データに応じた個数のシ
リアルなクロックパルスとして露出制御ＩＣ１６に供給
され、これによりステッピングモータ１６ｂがプログラ
ムシャッタ２０を算出された露出時間で作動させる。

【００２９】撮影が完了すると、ＣＰＵ２４はフイルム
移送制御ＩＣ１７にフイルム移送コマンドを送り、これ
によりモータ１７ａが駆動され、フイルム移送機構２１
が作動してフイルムの１コマ送りが行われる。このフイ
ルム送りの間には、フイルム移送制御ＩＣ１７からフィ
ードバックされる信号に基づいて、ＣＰＵ２４はパーフ
ォレーションの移動個数を監視しており、その個数が丁
度１コマ分（８個）に達したときにフイルム移送制御Ｉ
Ｃ１７に停止コマンドを送ってフイルム移送を停止させ
る。１コマ分のフイルム移送が完了すると、ＣＰＵ２４
はレンズ位置制御回路１５にリセット信号を送り、撮影
レンズ５を初期位置に戻して１回の撮影シーケンスが完
了する。

【００３０】なお、フイルム移送制御ＩＣ１７からは、
モータ１７ａに流れる電流の大きさを表すデータもＡ／
Ｄコンバータ２９を介してＣＰＵ２４に送られている。
したがって、フイルム移送ができなくなり、モータ１７
ａの負荷電流の値が一定値を越えたときには自動的にフ
イルムの巻戻し処理に移行させることができる。

【００３１】ところで、図７のフローチャートに示すよ
うに、シャッタボタン１９の半押しを維持した状態のま
まセルフタイマーモードボタン４０を押圧すると、カメ
ラの作動シーケンスは通常の撮影モードから脱して検査
モードに移行し、測距処理によって得られた各種のデー
タが外部表示される。この検査モードはデイライトシン
クロボタン４１の押圧によって解除される。なお、検査
モード中は、シャッタボタン１９が全押しされても無視
される。

【００３２】次に、測距シーケンスについて詳しく説明
する。測距シーケンスが開始されると、まず図８に示す
ように、オフセット値の検出処理が実行される。このオ
フセット値検出処理では、シフトレジスタ３８の「Ｄ０
〜Ｄ７」の各ビットに、「０１００００００」がセット
される。これにより、「ＧＡＩＮ＝８」，「ＬＥＤ＝
０」，「ＳＥＴ＝０」の各コマンドデータが設定され
る。このコマンドデータの設定は、図９のタイミングチ
ャートに示した時点Ｐ１、すなわち転送パルスＡＦＳＣ
Ｋが８個のパルスを送出した後、制御パルスＡＦＬＣＫ
がローレベルになったタイミングで行われる。なお、シ
リアルデータパルスの転送は、転送パルスＡＦＳＣＫの
立ち上がりによってシフトレジスタ３８に順次に転送さ
れる。さらに上記コマンドデータの転送後には、ＣＰＵ
２４内の所定レジスタに「ＣＯＵＮＴ＝８」がセットさ
れる。

【００３３】シフトレジスタ３８にセットされたコマン
ドデータのうち、「ＧＡＩＮ＝８」のデータは、ゲイン
コントローラ３３を介してゲインコントロールアンプ３
５ａ，３５ｂに供給され、これらのゲインが初期値（最
低値）「８」に設定される。この実施例の測距装置で
は、増幅特性の直線性が保たれるように、「ＧＡＩＮ」
が「８」〜「３１」の範囲内で使用しているが、この範
囲はカメラの仕様，ＬＥＤの発光量等によって適宜決め
られるものである。

【００３４】前記シリアルデータの転送後、第１，第２
チャンネルからの出力信号をサンプルホールドし、これ
をＡ／Ｄ変換したデジタル信号ＡＦＤ１，ＡＦＤ２がマ
イクロコンピュータ１４に読み込まれる。この読込み処
理の手順は、図９のタイミングチャート及び図１０のフ
ローチャートに示すように、まず制御パルスＡＦＬＣＫ
が期間ΔＴ１の間ローレベルにされる。この制御パルス
ＡＦＬＣＫがローレベル中の時点Ｐ２において、コマン
ドデータで決められたいずれか１つのＬＥＤが発光す
る。そして、期間ΔＴ２後にＡＦＳＤがハイレベルにな
るタイミングで、サンプルホールド回路３６ａ，３６ｂ
がゲインコントロールアンプ３５ａ，３５ｂの出力をサ
ンプルホールドする。さらに期間ΔＴ３後のローレベル
になる時点Ｐ３でＬＥＤの発光が停止する。また、期間
ΔＴ４後にＡＦＳＤがハイレベルになったときに、サン
プルホールド処理が終了する。

【００３５】図９において、制御パルスＡＦＬＣＫが期
間ΔＴ１の間にローレベルになっているが、これはＬＥ
Ｄを点灯させるときのもので、「ＬＥＤ＝０」のコマン
ドで行われるオフセット値の検出処理では、ＡＦＬＣＫ
はハイレベルに保たれる。したがって、オフセット値の
検出処理では、ＬＥＤが消灯しており、またゲインコン
トロールアンプ３５ａ，３５ｂが「ＧＡＩＮ＝８」にセ
ットされている。この状態で、ゲインコントロールアン
プ３５ａ，３５ｂの出力信号がサンプルホールド回路３
６ａ，３６ｂにサンプルホールドされる。

【００３６】ＡＦＳＤがローレベルになった時点Ｐ３か
ら時間ΔＴ６が経過すると、サンプルホールド回路３６
ａ，３６ｂの出力信号は、バッファアンプ３７ａ，３７
ｂを介してＡ／Ｄコンバータ２９で７ビットのデジタル
信号に変換され、これらが第１，第２チャンネルの測定
データＡＦＤ１，ＡＦＤ２としてＣＰＵ２４に順次取り
込まれ、そしてＲＡＭ２６内の所定アドレスに格納され
る。

【００３７】他方、ゲイン決定処理及び測距処理では、
ＡＦＬＣＫがローレベルに維持されている期間ΔＴ１の
間で、指定されたＬＥＤが１回点灯され、この点灯中に
ゲインコントロールアンプ３５ａ，３５ｂの出力信号
が、サンプルホールド回路３６ａ，３６ｂにサンプルホ
ールドされる。そして、ＬＥＤの点灯又は消灯にかかわ
らず、ＡＦＬＣＫのハイレベル期間ΔＴ５が経過した時
点で、１個の測定データの取込みサイクルが終了する。

【００３８】オフセット値の検出処理では、測定データ
の取込みが８回行われ、測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２
がそれぞれ８個ずつ得られる。これらの８個の測定デー
タはチャンネルごとに平均され、これらの平均値がオフ
セット値ＯＦ１，ＯＦ２として決定される。前述したよ
うに、オフセット値検出処理ではＬＥＤ３ａ〜３ｃが消
灯しているから、オフセット値ＯＦ１，ＯＦ２は、ＰＳ
Ｄ９に入射する撮影シーンからのノイズ光，信号処理系
のノイズ等に起因している。

【００３９】オフセット値検出処理の後は、ゲイン決定
処理及び測距処理が行われる。これらの処理はＬＥＤ３
ａ〜３ｃについて個別に実行される。ゲイン決定処理は
図１１のフローチャートにしたがって行われる。ゲイン
決定処理が開始されるときには、ＲＡＭ２６に設定され
た「ＧＦＬＡＧ」，「ＯＶＦＬＡＧ」，「ＧＣＯＵＮ
Ｔ」が初期値「０」にセットされる。しかる後にシリア
ルポート２８からロジック回路３２に新たなコマンドを
表すシリアルデータが転送され、ＡＦＬＣＫがローレベ
ルになった時点Ｐ１で、シフトレジスタ３８の各ビット
には「０１００００１１」の２進データがセットされ
る。これにより、「ＧＡＩＮ＝８」，「ＬＥＤ＝１」，
「ＳＥＴ＝１」のコマンドが設定され、ＬＥＤ３ａのみ
が発光可能状態になる。このコマンド設定後に、期間
「ΔＴ２＋ΔＴ３」の間にＬＥＤ３ａを１回点灯させ、
この点灯中にサンプリング処理が行われる。その後、測
定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２の読込み処理が行われる。
なお、ＬＥＤ３ａ〜３ｃの点灯周期は、例えば１ｍｓで
ある。

【００４０】図２に示すように、ＬＥＤ３ａからの測距
光が主要被写体Ｓ１に照射されると、その反射光は受光
レンズ８を通ってＰＳＤ９に入射する。このときにＰＳ
Ｄ９の両端子９ａ，９ｂから出力される信号は、ＰＳＤ
９に入射した光の強度及び入射位置の情報を含んでい
る。これらの信号は、Ａ／Ｄコンバータ２４で各々デジ
タル変換された後、測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２とし
て取り込まれる。

【００４１】次に、ＣＰＵ２４は、測定データＡＦＤ
１，ＡＦＤ２のいずれかが十進数で「１２７」に達して
いるか否かを判断する。ＡＦＤ１，ＡＦＤ２の値が「１
２７」に達している場合には、そのいずれかが飽和状態
（オーバーフロー）であると判定される。この測定デー
タは極めて信頼性が薄いので、「ＧＡＩＮ＝８」である
ことを確認した上で、「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ←１２７」
（「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」については後述する）の処理
を行い、ＬＥＤ３ａによる測距を終了する。この状態
は、画面中央の被写体がかなり接近した位置にあり、
「ＧＡＩＮ＝８」でも反射光が強過ぎる場合である。

【００４２】測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２が飽和状態
でない場合には、各々の測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２
から、図１２に示した加算測定データＡＦＡＤＤ，減算
測定データＡＦＤＩＦの算出処理が行われる。この処理
では、ノイズ成分除去のために測定データＡＦＤ１，Ａ
ＦＤ２に対してオフセット値ＯＦ１，ＯＦ２の減算が行
われる。そして、算出された加算測定データＡＦＡＤＤ
について、その値が「１３６」以上であるか否かが判断
される。この値が「１３６」以上であるときには、測定
データＡＦＤ１，ＡＦＤ２の各々の絶対値が以後の測距
演算を実行するのに適切な範囲にあると判定され、ゲイ
ンコントロールアンプ３５ａ，３５ｂのゲインはそのと
きの「ＧＡＩＮ」の値として決定され、このゲインのま
まで図１３に示すＬＥＤ３ａによる測距処理が実行され
ることになる。

【００４３】一方、加算測定データＡＦＡＤＤの値が
「１３６」未満であるときには、そのときの「ＧＡＩ
Ｎ」の値が不適切であったことを表す「ＧＦＬＡＧ」が
「１」になっていないことを確認した上で、測定データ
ＡＦＤ１，ＡＦＤ２の絶対値を大きくするために、ゲイ
ンの変更が行われる。この変更後の「ＧＡＩＮ」は、も
との「ＧＡＩＮ」の値に補正値「Ｎ」を加算したもので
あり、この新しい「ＧＡＩＮ」はＲＡＭ２６に書き込ま
れる。この補正値「Ｎ」の値は、加算測定データＡＦＡ
ＤＤの大きさに応じて次の表のように設定されている。

【００４４】

【表１】

【００４５】「ＧＡＩＮ」の変更は、新しいゲインを含
むコマンドデータをシフトレジスタ３８にセットするこ
とで行われるが、この際に「Ｄ０」〜「Ｄ４」のビット
だけが変化し、他のビットのデータは変更されない。そ
して、ゲインコントローラ３３は、この新たな「ＧＡＩ
Ｎ」の値にしたがってゲインコントロールアンプ３５
ａ，３５ｂのゲインを調節し、引続き同様の処理を繰り
返す。この繰り返し処理時において、「ＧＡＩＮ＞８」
で飽和状態になることがあるが、この場合には「ＧＦＬ
ＡＧ」を「１」にセットしてから、「ＧＡＩＮ」の値を
「１」だけ低く設定される。

【００４６】「ＧＡＩＮ」が最大値「３１」に達しても
適切な絶対値をもった加算測定データＡＦＡＤＤが得ら
れないときには、被写体からの反射光が極めて微弱、あ
るいはＰＳＤ９に戻ってきていない状態である。この場
合には被写体距離が無限遠であるから、後述する測距を
行ってもあまり意味がない。したがって、この場合には
測距処理を行うことなく「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ←０」の
処理が行われる。

【００４７】また、このゲイン決定処理によるゲインの
設定し直し回数ＲＮは、ゲインの初期値ＩＧ，ゲインの
最大値ＧＭ，最大補正値「ＮＭ」とから求まる。 ＲＮ＝（ＧＭ−ＩＧ）÷ＮＭ この実施例では、ＧＭ＝３１，ＩＧ＝８，ＮＭ＝８であ
るから、ＲＮ＝２．９≒３となる。したがって、ゲイン
の設定し直し回数ＲＮは３回に制限され、「ＧＣＯＵＮ
Ｔ＝３」に達した場合にはその時点でゲインの変更が終
了する。この制限により、例え被写体からの反射光の強
度が変化して測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２の値が変動
したとしても、ゲイン決定処理に時間を要することがな
くなり、迅速にゲインを決めることができる。しかも、
ゲイン調節の繰返し回数の上限を決めているから、ＡＦ
ＡＤＤの値が極めて小さいような場合でも、ゲインの値
を最大値「３１」まで調節することが可能となる。

【００４８】上述の処理によって「ＧＡＩＮ」の値が決
定されると、その値はＲＡＭ２６に書き込まれ、ゲイン
コントロールアンプ３５ａ，３５ｂのゲインをそのまま
にして、引続きＬＥＤ３ａによる測距処理が実行され
る。図１３及び図１４はこの測距処理手順を表してい
る。この測距処理は、初期データをＲＡＭ２６にセット
してから、ＬＥＤ３ａを１８回点灯させ、その都度、Ａ
ＦＤ１，ＡＦＤ２を読み込む。そして、毎回のＡＦＤ
１，ＡＦＤ２の読み込み時には、そのいずれかが飽和状
態になっているか、もしくはその値が「１５」未満で測
定データの絶対値として不充分なものであるかが判定さ
れ、該当するときには不適切測距であることを表す「Ｏ
ＶＣＯＵＮＴ」を「１」ずつカウントアップしてゆく。
なお、この「ＯＶＣＯＵＮＴ」となった測定データは、
測距演算に用いられないので、再度投光をやり直して測
定データを取り込む。

【００４９】「ＯＶＣＯＵＮＴ」が「４」に達したとき
には、ゲイン決定処理で決めたゲインの値が不適切であ
るものと判定し、「ＯＶＦＬＡＧ」を「１」にセットし
た上で「ＧＡＩＮ」を「１」だけ低く再設定して最初か
ら測距処理をやり直す。また、測距処理が何度も繰り返
されることを防止するために、一旦「ＯＶＦＬＡＧ」が
「１」にセットされた後に、再び「ＯＶＣＯＵＮＴ」が
「４」に達したときには、そのときの「ＧＡＩＮ」の値
に対応して「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」の値を「Ｍ」として
決定する。この決定時には、表２のテーブルが参照され
る。

【００５０】

【表２】

【００５１】１８個の測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２の
取り込みを行う過程で、その中の最小値と最大値とを識
別した上で、ＡＦＤ１，ＡＤＦ２は各々「ＳＵＭ１」，
「ＳＵＭ２」として合計されてゆく。そして、平均値の
信頼性を高めるために、これらの合計値「ＳＵＭ１」，
「ＳＵＭ２」から、ＡＦＤ１，ＡＦＤ２の各々の最大
値，最小値を減算した後、平均値の算出が行われる。な
お、測距精度は低下するが、最大値，最小値等を除かず
に平均値を算出してもよく、この場合には除数が「１
８」となる。

【００５２】こうしてチャンネルごとに得られた平均値
は、図１２の処理にしたがって、オフセット値の補正の
後、加算測定データＡＦＡＤＤ，減算測定データＡＦＤ
ＩＦに変換される。そして、これらの比の値に「１２
７」を乗じて「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」を算出し、ＬＥＤ
３ａを用いた測距処理が終了する。なお、測距処理の過
程で得られた「ＳＵＭ１」，「ＳＵＭ２」，「ＡＦＡＤ
Ｄ」，「ＡＦＤＩＦ」，「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」の各値
は、ＲＡＭ２６に書き込まれる。

【００５３】引続き、ＬＥＤ３ｂを点灯させながら、ゲ
イン決定処理−距離測定処理を行い、最後にＬＥＤ３ｃ
に対するゲイン決定処理−距離測定処理を行う。そし
て、各々「ＡＦＲＥＳＵＬＴｂ」，「ＡＦＲＥＳＵＬＴ
ｃ」の値が求められ、ＬＥＤ３ｂ，ＬＥＤ３ｃごとに得
られた「ＡＦＡＤＤ」，「ＡＦＤＩＦ」等のデータとと
もにＲＡＭ２６に書き込まれる。なお、平均値や距離デ
ータの算出では、割り算が行われるが、この結果に対し
ては、切り捨て，切り上げ，四捨五入等によって整数化
される。

【００５４】これらの「ＡＦＲＥＳＵＬＴ」の値は、Ｌ
ＥＤ３ａ〜３ｃに対応して３個あり、図２に示した撮影
シーンでは、「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」が主要被写体Ｓ１
までの距離、「ＡＦＲＥＳＵＬＴｂ」が背景被写体Ｓ２
までの距離に対応した値を示し、さらに「ＡＦＲＥＳＵ
ＬＴｃ」はパルス光が反射されてきていないことから
「０」（図１１参照）となっている。このような場合
に、マイクロコンピュータ１４は、ＲＯＭ２５に格納し
てあるプログラムに従い、「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」，
「ＡＦＲＥＳＵＬＴｂ」，「ＡＦＲＥＳＵＬＴｃ」の中
で、最も近距離の距離データを選択して測距シーケンス
が完了する。

【００５５】なお、測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２が飽
和状態のときには、「ＡＦＲＥＳＵＬＴ」の値が「１２
７」となり、これが最も近い被写体距離に対応すること
になるが、この特異値は最適な距離データを決定すると
きには無視される。こうして最適な距離データが決定さ
れた後は、レンズ位置制御回路１５を介してステッピン
グモータ１５ａが駆動され、撮影レンズ５は最適距離デ
ータに対応したレンズ位置にセットされる。

【００５６】次に検査モードについて説明する。検査モ
ードへの移行は、シャッタボタン１９を半押しした状態
のままセルフタイマーモードボタン４０を押すという特
殊操作によって行われる。この検査モードでは、それま
でに行われた測距処理の過程で得られた種々のデータ
が、セルフタイマーモードボタン４０を押す毎に、所定
の順番で出力される。すなわち、オフセット値，ＬＥＤ
３ａ，３ｂ，３ｃごとに決められたゲインコントロール
アンプ３５ａ，３５ｂのゲイン値等の他、加算測定デー
タ，減算測定データ，「ＡＦＲＥＳＵＬＴ」，レンズセ
ットに用いられる最適測距データ等が順次にＲＡＭ２６
から読み出され、液晶表示器４３及び表示用ＬＥＤ４６
で表示される。なお、測距処理に係わるデータの他に、
測光データや露光演算により得られたデータについても
外部表示してもよい。

【００５７】液晶表示器４３での表示は、各種データを
数字で表示するが、表示用ＬＥＤ４６は点滅発光による
光信号で複数のデータを順次表示する。図１５はその点
滅表示の一例を示したもので、４ビットを１単位（十進
数の１個の数字）としており、複数単位で１個のデータ
を表示する。すなわち、図１５において、短い点灯時間
Δｔ１（１００μｓｅｃ以下）により２進コードの
「０」を、長い点灯時間Δｔ２（２００μｓｅｃ以上）
により「１」を表している。各ビットは、消灯時間Δｔ
３（１００μｓｅｃ）を保って発光表示される。そし
て、１ｍｓｅｃの消灯時間Δｔ４によりデータ単位の区
切が表される。これにより、液晶表示器４３でデータを
目視確認する代わりに、この点滅を測定装置のフォトセ
ンサで受光することによって、コンピュータ処理により
データ解析を自動化することも可能になる。この場合に
は、複数個のデータを所定の順番で自動的に読み出し、
表示用ＬＥＤ４６で光信号として出力するのがよい。

【００５８】上述した検査モードを用意しておくことに
よって、カメラ製造後の最終検査工程で、距離が既知の
テスト物体を対象にして測距装置の作動確認をする際
に、実際に測距を行った上で得られた各種のデータを簡
単に知ることができる。したがって、例えば撮影レンズ
の繰出し量を測定したりせずに、信頼性の高い検査を行
うことが可能になる。また、各々のＬＥＤ３ａ，３ｂ，
３ｃによる測距結果を表す「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」，
「ＡＦＲＥＳＵＬＴｂ」，「ＡＦＲＥＳＵＬＴｃ」の各
データを比較することによって、ＰＳＤ９の取付け位
置、特にマルチビーム方式の測距装置で誤測距の原因に
なりやすいＰＳＤ９の傾き（光軸８ａを中心とする回
転）についても正確に調整することができる。

【００５９】前記実施例は、測距に関連したデータを読
み出して測距装置が正しく作動しているかどうかを検査
し、もし誤測距が発生している場合には、読み出したデ
ータを基にして投光部や受光部の位置を調整するもので
ある。マルチビーム方式では、全ての測距光とも適正な
測距データが得られるように調節することが必要である
ため、その調節が極めて面倒である。このような複雑な
調整を行う代わりに、１個の測距光を基準とし、この基
準測距光に対しては適正な測距が行われるように調整
し、残りの測距光に対しては予め補正データを用意して
おき、これで各測距光の距離データをそれぞれ補正する
ことで、面倒な調整を省略することができる。図１６な
いし図２１は、この実施例を示すものであり、前記実施
例と同じ部材には同じ符号を付してある。勿論、基準測
距光に対しても、正しい距離データと実測した距離デー
タとの差を補正データとして用意すれば、その調整も不
要となる。勿論、誤測距の原因を解明するために、前記
実施例と同様に、測距演算に関連したデータをＲＡＭに
書き込み、検査モードでこれらのデータを出力してもよ
い。

【００６０】図１６において、カメラボディ４８の側面
にカバー５０が設けられており、測距装置の検査時に開
くと、接続端子５１が露呈する。この接続端子５１に
は、補正データ入力装置５２のプラグ５３が接続され
る。この補正データ入力装置５２には、ダイヤル５４が
設けられており、対照表５５を参照しながら操作するこ
とで、補正データを入力することができる。

【００６１】図１７に示すように、補正データ入力装置
５２は、ダイヤル５４に連動したポテンショメータ５
８，Ａ／Ｄコンバータ５９，液晶表示器５６を内蔵して
いる。Ａ／Ｄコンバータ５９はポテンショメータ５８の
抵抗値変化に伴う電圧値をデジタル値に変換し、これを
補正データとして液晶表示器５６に送る。また、補正デ
ータの書込み処理を行うことによって、Ａ／Ｄコンバー
タ２９を介して補正データがマイクロコンピュータ１４
に取り込まれ、消去可能なＲＯＭ２５に書き込まれる。

【００６２】前記Ｒ０Ｍ２５には、図１８に示すような
補正データ対照テーブル２５ａが格納されている。この
補正データ対照テーブル２５ａは、同じ被写体に対して
は、３個のＬＥＤ３ａ，３ｂ，３ｃの各々から得られた
距離データが同じになるように補正するために用いられ
る。すなわち、この補正データ対照テーブル２５ａは、
撮影シーンの中央を測距するためのＬＥＤ３ａによる距
離データを基準として、左右のＬＥＤ３ｂ，３ｃの測距
データの各々のズレ量と「Ａ／Ｄビット値」との関係を
示すものである。そして、カメラ製造時でのテスト結果
に応じて、補正データ入力装置５２によって１つの補正
データを指定する。なお、対照表５５には、補正データ
対照テーブル２５ａと同じ内容が印刷されている。

【００６３】ところで上述したように、ＬＥＤ３ｂ，３
ｃの点灯により得られた距離データ「ＡＦＲＥＳＵＬＴ
ｂ or ｃ」に対しては、ＬＥＤ３ａの点灯時に得られた
距離データ「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」と異なり、補正デー
タ対照テーブル２５ａで決められた補正量「Ｙ」により
補正されるが、この補正は次の理由による。例えば壁面
のように、被写体距離が同じ場合には、ＬＥＤ３ａの点
灯による測距光が被写体で反射され、第１９図において
ＰＳＤ９の位置ＳＰ１に入射した場合には、ＬＥＤ３
ｂ，３ｃを点灯させたときにも、三角測距の基線の方向
（垂直方向）に関しては、実線で示したように、本来的
には位置ＳＰ１と同じ高さ位置ＳＰ２，ＳＰ３に入射す
るはずである。

【００６４】しかしながら、ＬＥＤ３ｂ，３ｃあるいは
ＰＳＤ９の取付け位置精度が不充分であったり、投・受
光レンズ４，８が偏心したりしていると、ＬＥＤ３ｂ，
３ｃを点灯させたときの反射光が、図中に破線で示した
ように、本来の入射位置ＳＰ２，ＳＰ３から上にｙ１，
下にｙ２だけずれたＳＰ２’，ＳＰ３’の位置に入射す
ることになる。このような場合、入射位置ＳＰ１による
測距演算によって「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ＝８５」になっ
たとしても、入射位置ＳＰ２’，ＳＰ３’では例えば
「ＡＦＲＥＳＵＬＴｂ＝８１」，「ＡＦＲＥＳＵＬＴｃ
＝８８」となり、本来合致すべき距離データが異なって
しまう。

【００６５】複数の距離データ相互間の誤差を、ＬＥＤ
３ａ，３ｂ，３ｃやＰＳＤ９の取付け位置の機械的な調
節で解消しようとすると、極めて微妙な調節作業が必要
になるが、このような機械的調節作業を不要化するため
に補正データ対照テーブル２５ａの１つを用いて距離デ
ータを補正する。この補正データを指定する場合には、
図１６に示すように、カバー５０を開いて接続端子５１
に補正データ入力装置５２のプラグ５３を接続する。図
２０に示すように、デイライトシンクロボタン４１と露
光補正ボタン４２とを同時に押して、隠しコマンドを入
力すると、フォーカス補正モードプログラムが実行され
る。このフォーカス補正モードプログラムが実行される
と、前述したと同様にテスト物体に対して測距が行わ
れ、ＬＥＤ３ａ，３ｂ，３ｃごとに３つの距離データが
得られた後、各々の距離データ「ＡＦＲＥＳＵＬＴ
ａ」，「ＡＦＲＥＳＵＬＴｂ」，「ＡＦＲＥＳＵＬＴ
ｃ」の値が、カメラボディ４８に組み込まれているＬＣ
Ｄ４３に表示され、入力待ちの状態になる。

【００６６】ＬＣＤ４３に表示された各々の距離データ
の値を参照し、距離データ「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」に対
する他の距離データ「ＡＦＲＥＳＵＬＴｂ」，「ＡＦＲ
ＥＳＵＬＴｃ」の差を読み取る。そして、上述したよう
に「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ＝８５」，「ＡＦＲＥＳＵＬＴ
ｂ＝８１」，「ＡＦＲＥＳＵＬＴｃ＝８８」であった場
合には、遠距離側へのずれを負、近距離側へのずれを正
とすると、そのズレ量は「−４」，「３」となるから、
別途用意してある対照表５５で確認して「−４，３」の
補正データの組合せに対応した「Ａ／Ｄビット値」とし
て「１９２〜１８６」を求める。

【００６７】次に、補正データ入力装置５２の補正ダイ
ヤル５４を操作する。これにより、図１７に示したポテ
ンショメータ５８の抵抗値が変化し、その端子電圧も変
化する。ポテンショメータ５８の端子電圧値は、Ａ／Ｄ
コンバータ５９によりデジタル値に変換され、その値が
液晶表示器５６に数字で表示される。この液晶表示器５
６に表示されたデジタル値が前記「１９２〜１８６」の
範囲に収まるように補正ダイヤル５４を調節する。

【００６８】こうして「Ａ／Ｄビット値」を設定した
後、セルフタイマーボタン４０を押すと、マイクロコン
ピュータ１４は「Ａ／Ｄビット値」の読み込み処理を実
行し、ポテンショメータ５８の端子電圧はカメラ側のＡ
／Ｄコンバータ２９でデジタル変換され、例えば「Ａ／
Ｄビット値」として「１９０」の値がＲＯＭ２５の所定
アドレス位置に書き込まれ、補正データ入力処理が完了
する。

【００６９】補正データ入力処理を行った後には、前述
したように測距を行って得た距離データ「ＡＦＲＥＳＵ
ＬＴｂ」，「ＡＦＲＥＳＵＬＴｃ」に対しては、図１４
に対応した図２１に示すように、補正データ対照テーブ
ル２５ａを参照した補正が行われる。したがって、各測
定データからの演算のみによって得られた距離データ
「ＡＦＲＥＳＵＬＴｂ」，「ＡＦＲＥＳＵＬＴｃ」がそ
れぞれ「８１」，「８８」であったとしても、「ＡＦＲ
ＥＳＵＬＴｂ←ＡＦＲＥＳＵＬＴｂ−Ｙ」、「ＡＦＲＥ
ＳＵＬＴｃ←ＡＦＲＥＳＵＬＴｃ−Ｙ」の補正処理が行
われるから、それぞれ「８５」，「８５」の距離データ
が得られることになり、ＬＥＤ３ａ，３ｂ，３ｃの各々
の間で距離データが異なることはない。

【００７０】このように、ＲＯＭ２５に補正データ対照
テーブル２５ａを内蔵させるとともに、測距演算時に利
用される補正量Ｙの値を補正データ対照テーブル２５ａ
から読み出すためのアドレスとして、「Ａ／Ｄビット
値」をＲＯＭ２５に書き込んでおくことによって、ＬＥ
Ｄ３ａ，３ｂ，３ｃの各々を用いて得られた距離データ
相互間での誤差を解消することが可能となる。しかも、
このために特にＬＥＤ３ａ，３ｂ，３ｃやＰＳＤ９の位
置を機械的に調節せずに済み、能率良く作業を行うこと
ができる。なお、補正データ対照テーブル２５ａにおい
て「Ａ／Ｄビット値」に幅を持たせているのは、補正ダ
イヤル５４による調節をあまり鋭敏にし過ぎないためで
ある。また、補正量Ｙがとびとびの値にしているが、も
ちろんその値をさらに細かく段階的に決めておくことも
可能である。

【００７１】なお、補正データ対照テーブル２５ａを用
いる代わりに、距離データ「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」と、
距離データ「ＡＦＲＥＳＵＬＴｂ」，「ＡＦＲＥＳＵＬ
Ｔｃ」との差をフォーカス補正モードプログラムの実行
中にＲＯＭ２５の所定アドレス位置に書き込み、この値
を距離データ「ＡＦＲＥＳＵＬＴｂ」，「ＡＦＲＥＳＵ
ＬＴｃ」の算出過程で補正データとして利用すればよ
い。更には、この差の算出をＣＰＵ２４で自動的に行
い、得られた差を補正データとしてＲＯＭに自動的に書
き込んでもよい。

【００７２】３個のＬＥＤ３ａ，３ｂ，３ｃを用い、撮
影シーン内の３個所を順次に測距してゆく実施例につい
て説明したが、本発明はＬＥＤを１個あるいは２個、さ
らには４個以上用いて被写体に測距光を投光するものに
ついても同様に適用することができる。また、１個のＬ
ＥＤを使用する場合に、スポット光の代わりに細長なス
リット光を発生させたり、あるいはＬＥＤを揺動させ
て、１個の測距光で撮影シーンを走査してもよい。更
に、従来の測距装置と同様に、１回の投光で測距しても
よい。更にまた、カメラ姿勢に応じて投光部２の姿勢を
変換し、地面に対して常に平行な方向に沿って測距光を
投光してもよい。受光素子としてはＣＣＤイメージセン
サー等を使用することができ、また光源としては閃光放
電管，ランプ等を使用することができる。

【００７３】

【発明の効果】以上に述べたように、本発明のオートフ
ォーカスカメラによれば、撮影枚数や撮影モード表示等
のために予めカメラに組み込まれている発光表示器や液
晶表示器を利用し、オートフォーカス装置の作動により
記憶手段に書き込まれた各種のデータを外部表示するこ
とができるから、コスト負担をほとんど伴うことなく、
オートフォーカス装置の作動検査を製造途中でも簡単に
行うことができる利点がある。

【００７４】また、複数個の距離データのうちの基準と
なる距離データに対し、他の距離データが含んでいる誤
差分を予め記憶手段に書き込んでおき、他の距離データ
を算出する際に、記憶手段から各々対応する補正データ
を読み出し、この補正データによる補正を行って距離デ
ータを求めているから、投光手段や受光手段の取付け位
置を精密に合わせなくても済むようになり、組立工数を
大幅に節約することができる。

【００７５】また、前記補正データを書き込む際に、測
距装置を実際に作動させて各測距光による距離データを
比較した上で補正データを求めているから、通常の測距
演算シーケンスをそのまま利用することができ、複雑な
測定回路や解析装置が不要になり、その作業の簡略化，
効率化を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のオートフォーカスカメラの電気的構成
を示すブロック図である。

【図２】測距装置の概略構成図である。

【図３】オートフォーカスカメラの背面側斜視図であ
る。

【図４】オートフォーカスＩＣの構成を示すブロック図
である。

【図５】ロジック回路に用いられているシフトレジスタ
の概念図である。

【図６】測距シーケンスの概略を表すフローチャートで
ある。

【図７】撮影シーケンスを表すフローチャートである。

【図８】オフセット値検出の処理手順を示すフローチャ
ートである。

【図９】測定データの読込みタイミングを説明するタイ
ムチャートである。

【図１０】測定データの読込み手順を示すフローチャー
トである。

【図１１】ゲイン決定の処理手順を示すフローチャート
である。

【図１２】加算測距データ及び減算測距データの算出処
理手順を示すフローチャートである。

【図１３】測距処理手順の前半を示すフローチャートで
ある。

【図１４】測距処理手順の後半を示すフローチャートで
ある。

【図１５】検査モード時におけるＬＥＤの点滅表示の例
を示すタイムチャートである。

【図１６】オートフォーカスカメラに、補正データ入力
装置を接続する状態を示す斜視図である。

【図１７】オートフォーカスカメラに補正データ入力装
置を接続した状態を示すブロック図である。

【図１８】補正データ対照テーブルの概念図である。

【図１９】ＰＳＤ上における反射光の入射位置を示す説
明図である。

【図２０】補正データの入力処理手順を示すフローチャ
ートである。

【図２１】測距処理手順の後半を示すフローチャートで
ある。

【符号の説明】

２ 投光部 ３ａ〜３ｃ 測距用ＬＥＤ ７ 受光部 ９ ＰＳＤ １２ オートフォーカスＩＣ １４ マイクロコンピュータ １９ シャッタボタン ３５，３５ｂ ゲインコントロールアンプ ４０ セルフタイマーモードボタン ４１ デイライトシンクロボタン ４３ 液晶表示器 ４６，４７ 表示用ＬＥＤ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁵ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 7811−2Ｋ Ｇ０２Ｂ 7/11 Ｂ (72)発明者 後藤 繁謙 埼玉県大宮市植竹町１丁目324番地 富士 写真光機株式会社内 (72)発明者 斉藤 竜夫 埼玉県大宮市植竹町１丁目324番地 富士 写真光機株式会社内

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 【請求項１】 測距装置から得られる測定データに基づ
   いて測距演算を行うマイクロコンピュータと、撮影情報
   を表示する発光表示器を備えたオートフォーカスカメラ
   において、測距演算の過程で得られるデータを格納する
   記憶手段を設け、検査時に記憶手段からデータを読み出
   して、発光表示器の点滅により表示することを特徴とす
   るオートフォーカスカメラ。 【請求項２】 測距装置から得られる測定データに基づ
   いて測距演算を行うマイクロコンピュータと、種々の撮
   影情報を数字パターンで表示する液晶表示器を備えたオ
   ートフォーカスカメラにおいて、測距演算の過程で得ら
   れるデータを格納する記憶手段を設け、検査時に記憶手
   段からデータを読み出して、液晶表示器によりデジタル
   表示することを特徴とするオートフォーカスカメラ。 【請求項３】 撮影シーンの異なった個所に測距光を投
   光する投光部と、被写体から反射されてきた各々の測距
   光を受光する受光部と、この受光部から出力された各測
   定データを演算し、各測定データごとに距離データを算
   出してから、そのうちの１つを選択するマイクロコンピ
   ュータとを備えたオートフォーカスカメラにおいて、前
   記複数の測距光のうちの１つを基準としたときに、テス
   ト物体に対して基準測距光で測距して求めた基準距離デ
   ータと他の測距光で求めた各距離データとの差を補正デ
   ータとして予め書き込んだ記憶手段を設け、前記他の測
   距光で距離データを算出する際に、対応する補正データ
   で補正することを特徴とするオートフォーカスカメラ。 【請求項４】 撮影シーンの異なった個所に測距光を投
   光する投光部と、被写体から反射されてきた各々の測距
   光を受光する受光部と、この受光部から出力された各測
   定データを演算し、各測定データごとに距離データを算
   出してから、そのうちの１つを選択するマイクロコンピ
   ュータとを備えたオートフォーカスカメラにおいて、前
   記複数の測距光のうちの１つを基準とし、この基準測距
   光でテスト物体を測距して基準距離データを算出する第
   １工程と、他の測距光を用いてテスト物体を測距して距
   離データをそれぞれ算出する第２工程と、各距離データ
   と基準距離データとの差に対応した補正データを記憶手
   段にそれぞれ書き込む第３工程とからなることを特徴と
   する調整方法。