JPH0560584B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0560584B2 JPH0560584B2 JP15944485A JP15944485A JPH0560584B2 JP H0560584 B2 JPH0560584 B2 JP H0560584B2 JP 15944485 A JP15944485 A JP 15944485A JP 15944485 A JP15944485 A JP 15944485A JP H0560584 B2 JPH0560584 B2 JP H0560584B2
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- JP
- Japan
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- alignment
- glaze
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000002271 resection Methods 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F9/00—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
この発明は、例えばサーマルプリントヘツド等
のパターン被形成基板の位置合わせ方法に関す
る。
のパターン被形成基板の位置合わせ方法に関す
る。
(ロ) 従来の技術
サーマルプリントヘツドの製造過程において、
グレーズ層上に適性に電極パターンや発熱抵抗体
パターンを形成するのに、プリントヘツド基板を
マスクに位置合わせする必要がある。この位置合
わせは、従来、グレーズ層の直交方向に対して
は、マスクに設けたアライメントキーとグレーズ
層のピツチとで行い、グレーズ層の延長方向に対
しては、ピンアライメント装置に固設された複数
本のピンに基板の端辺を当接させて行つていた。
しかしながら、基板寸法精度誤差のため、延長方
向のアライメント精度を向上させるには、一定の
限界があつた。
グレーズ層上に適性に電極パターンや発熱抵抗体
パターンを形成するのに、プリントヘツド基板を
マスクに位置合わせする必要がある。この位置合
わせは、従来、グレーズ層の直交方向に対して
は、マスクに設けたアライメントキーとグレーズ
層のピツチとで行い、グレーズ層の延長方向に対
しては、ピンアライメント装置に固設された複数
本のピンに基板の端辺を当接させて行つていた。
しかしながら、基板寸法精度誤差のため、延長方
向のアライメント精度を向上させるには、一定の
限界があつた。
そこで、この問題を解決し、さらにアライメン
ト精度を向上させるために、この出願の出願人
は、基板の対向する2辺の端部近傍に円形のアラ
イメント用グレーズをグレーズ層と同時に形成
し、この後、前記アライメント用グレーズに対応
して設けられた同心円のアライメントキーを備え
たマスクでもつて前記基板との位置合わせを行う
方法を開発し、すでに出願した。
ト精度を向上させるために、この出願の出願人
は、基板の対向する2辺の端部近傍に円形のアラ
イメント用グレーズをグレーズ層と同時に形成
し、この後、前記アライメント用グレーズに対応
して設けられた同心円のアライメントキーを備え
たマスクでもつて前記基板との位置合わせを行う
方法を開発し、すでに出願した。
(ハ) 発明が解決しようとする問題点
グレーズ層はガラス層であるため、基板に形成
される円形のアライメント用グレーズ層は、その
形状や中心がわかりにくい。その上、上記先願に
係るアライメントキー15は、形状が第2図aに
示すように、同心円に形成されたものであるた
め、第2図bに示すように、グレーズ層13のパ
ターンがほぼアライメントキー15の同心円と等
しい場合、これを重ねると、第2図cに示すよう
に、グレーズ層13のパターンがアライメントキ
ー15の同心円に隠れてしまい、非常に見にく
く、位置合わせに時間がかかるという問題があつ
た。
される円形のアライメント用グレーズ層は、その
形状や中心がわかりにくい。その上、上記先願に
係るアライメントキー15は、形状が第2図aに
示すように、同心円に形成されたものであるた
め、第2図bに示すように、グレーズ層13のパ
ターンがほぼアライメントキー15の同心円と等
しい場合、これを重ねると、第2図cに示すよう
に、グレーズ層13のパターンがアライメントキ
ー15の同心円に隠れてしまい、非常に見にく
く、位置合わせに時間がかかるという問題があつ
た。
この発明は、上記に鑑み、位置合わせが速く、
正確になし得るパターン被形成基板の位置合わせ
方法を提供することを目的としている。
正確になし得るパターン被形成基板の位置合わせ
方法を提供することを目的としている。
(ニ) 問題点を解決するための手段及び作用
この発明のパターン被形成基板の位置合わせ方
法は、パターン被形成基板の対向する2辺の端部
近傍に円形の位置合わせマーク(アライメント用
グレーズ層)を形成しておく一方、マスクに前記
位置合わせマークに対応するアライメントキーを
設けておき、このアライメントキーに前記位置合
わせマークを合致させることにより位置合わせを
行うものにおいて、前記アライメントキーの形状
を、円の一部を切除した切除部と部分円部とから
なる部分同心円とし、切除部から目視される前記
位置合わせマークと部分円部とにより位置合わせ
を行うようにしている。
法は、パターン被形成基板の対向する2辺の端部
近傍に円形の位置合わせマーク(アライメント用
グレーズ層)を形成しておく一方、マスクに前記
位置合わせマークに対応するアライメントキーを
設けておき、このアライメントキーに前記位置合
わせマークを合致させることにより位置合わせを
行うものにおいて、前記アライメントキーの形状
を、円の一部を切除した切除部と部分円部とから
なる部分同心円とし、切除部から目視される前記
位置合わせマークと部分円部とにより位置合わせ
を行うようにしている。
(ホ) 実施例
以下、実施例により、この発明をさらに詳細に
説明する。
説明する。
第3図は、基板にグレーズ層とアライメント用
のグレーズを形成した状態を示す説明図、第4図
は、マスクに形成されたアライメントキーを示す
説明図である。
のグレーズを形成した状態を示す説明図、第4図
は、マスクに形成されたアライメントキーを示す
説明図である。
第3図において、セラミツク等からなる基板1
にスクリーン印刷によつて塗布・焼成されたグレ
ーズ層2が形成され、このグレーズ層2の形成と
同時に、円形のアライメント用グレーズ3が形成
されている。このアライメント用グレーズ3は、
グレーズ層2の延長方向に相当する対向した2辺
の端部近傍に形成されている。
にスクリーン印刷によつて塗布・焼成されたグレ
ーズ層2が形成され、このグレーズ層2の形成と
同時に、円形のアライメント用グレーズ3が形成
されている。このアライメント用グレーズ3は、
グレーズ層2の延長方向に相当する対向した2辺
の端部近傍に形成されている。
第4図において、ホトマスク4は超透明度なガ
ラスより成り、前記アライメント用グレーズ3の
位置に対応して、ホトマスク4の2辺の端部にア
ライメントキー5を形成している。なお、図示し
ていないが、ホトマスク4には基板1に所望のパ
ターンを形成するためのマスクパターンを備えて
いる。
ラスより成り、前記アライメント用グレーズ3の
位置に対応して、ホトマスク4の2辺の端部にア
ライメントキー5を形成している。なお、図示し
ていないが、ホトマスク4には基板1に所望のパ
ターンを形成するためのマスクパターンを備えて
いる。
この実施例では、アライメントキー5の形状に
最も特徴を有する。つまり、アライメントキー5
は、第1図aに示すように、同心円を45°ずつ分
解して、交互の部分円部5aと切除部5bとから
構成されている。
最も特徴を有する。つまり、アライメントキー5
は、第1図aに示すように、同心円を45°ずつ分
解して、交互の部分円部5aと切除部5bとから
構成されている。
又、この実施例では、4つの部分同心円が設け
られている。これはアライメント用グレーズ3の
大小に対応できるように予め多めに設けたのであ
る。そして、各部分同心円の中心は、アライメン
ト用グレーズ3の大小にかかわらず基板1とホト
マスク4の正確な位置合せを行うために、アライ
メントキー5の中心に合致している。
られている。これはアライメント用グレーズ3の
大小に対応できるように予め多めに設けたのであ
る。そして、各部分同心円の中心は、アライメン
ト用グレーズ3の大小にかかわらず基板1とホト
マスク4の正確な位置合せを行うために、アライ
メントキー5の中心に合致している。
次に、上記基板1とホトマスク4の位置合わせ
方法について説明する。
方法について説明する。
先ず、グレーズ層2及びアライメント用グレー
ズ3が形成された基板1をピンアライメント装置
にセツトする。次に、ホトマスク4を基板1に関
連してセツトする。
ズ3が形成された基板1をピンアライメント装置
にセツトする。次に、ホトマスク4を基板1に関
連してセツトする。
続いて、ピンアライメント装置により基板1を
移動し、アライメント用グレーズ3とアライメン
トキー5を照合一致させて、位置合わせを行う。
この場合、アライメント用グレーズ3が円形であ
るために、基板1の対向する2辺にそれぞれ1個
ずつ設けられるアライメント用グレーズ3によつ
て、グレーズ層2の延長方向及び直交方向の位置
合わせがなされる。
移動し、アライメント用グレーズ3とアライメン
トキー5を照合一致させて、位置合わせを行う。
この場合、アライメント用グレーズ3が円形であ
るために、基板1の対向する2辺にそれぞれ1個
ずつ設けられるアライメント用グレーズ3によつ
て、グレーズ層2の延長方向及び直交方向の位置
合わせがなされる。
また、アライメントキー5が部分円部5aと切
除部5bとから構成されているので、第1図bに
示すように、円形のアライメント用グレーズ3の
大きさがアライメントキー5の大きさと略同じで
も、第1図cに示すように、両者を重合わせた場
合、切除部5bを通してアライメント用グレーズ
3を目視することが出来、この目視されるアライ
メント用グレーズ3とアライメントキー5の部分
円部5aとを合致させることにより、位置合わせ
を正確に行うことができる。
除部5bとから構成されているので、第1図bに
示すように、円形のアライメント用グレーズ3の
大きさがアライメントキー5の大きさと略同じで
も、第1図cに示すように、両者を重合わせた場
合、切除部5bを通してアライメント用グレーズ
3を目視することが出来、この目視されるアライ
メント用グレーズ3とアライメントキー5の部分
円部5aとを合致させることにより、位置合わせ
を正確に行うことができる。
基板1とホトマスク4の位置合わせを行つた後
は、通常のとおりホトマスク4に紫外線光等を照
射し、ホトマスク4のマスクパターンを基板1に
形成する。即ち、例えばグレーズ層2上に電極パ
ターンを形成する場合、グレーズ層2を含む基板
1の全面には予め電極材膜とホトレジストが順に
形成されている。そして、電極パターンを持つホ
トマスク4を通して、ホトレジストを露光・現像
し、ホトマスク4のパターンと同じパターンをホ
トレジストに形成し、更にエツチング等により電
極材膜を所定のパターンに化学的に加工する。
は、通常のとおりホトマスク4に紫外線光等を照
射し、ホトマスク4のマスクパターンを基板1に
形成する。即ち、例えばグレーズ層2上に電極パ
ターンを形成する場合、グレーズ層2を含む基板
1の全面には予め電極材膜とホトレジストが順に
形成されている。そして、電極パターンを持つホ
トマスク4を通して、ホトレジストを露光・現像
し、ホトマスク4のパターンと同じパターンをホ
トレジストに形成し、更にエツチング等により電
極材膜を所定のパターンに化学的に加工する。
なお、上記実施例において、アライメントキー
の切除部5bを45°きざみで設けているが、この
切除部5bとする角度及び部分同心円部5aとの
比率は、適宜の値に選定して使用すればよい。
の切除部5bを45°きざみで設けているが、この
切除部5bとする角度及び部分同心円部5aとの
比率は、適宜の値に選定して使用すればよい。
また、上記実施例は、サーマルプリントヘツド
を例に上げて説明したが、この発明は、他のパタ
ーン被形成基板にパターン形成する際の位置合わ
せにも広く適用できる。
を例に上げて説明したが、この発明は、他のパタ
ーン被形成基板にパターン形成する際の位置合わ
せにも広く適用できる。
(ヘ) 発明の効果
この発明によれば、アライメントキーの形状を
円の一部を切除した切除部と、部分円部とから成
る部分同心円とし、切除部から目視される円形の
位置合わせマークと部分円部とにより位置合わせ
を行うものであるから、アライメントキーと位置
合わせマークが完全に重なる場合でも、切除部よ
り位置合わせマークを目視して、正確に位置合わ
せを行うことが出来、かつ位置合わせ時間を大幅
に短縮できる。
円の一部を切除した切除部と、部分円部とから成
る部分同心円とし、切除部から目視される円形の
位置合わせマークと部分円部とにより位置合わせ
を行うものであるから、アライメントキーと位置
合わせマークが完全に重なる場合でも、切除部よ
り位置合わせマークを目視して、正確に位置合わ
せを行うことが出来、かつ位置合わせ時間を大幅
に短縮できる。
第1図は、この発明の位置合わせを説明するた
めの図であり、第1図aはアライメントキーを、
第1図bはアライメント用グレーズのパターン
を、第1図cはアライメントキーとアライメント
用グレーズを重合わせた状態をそれぞれ示す図、
第2図は、従来の位置合わせを説明するための図
であり、第2図aはアライメントキーを、第2図
bはアライメント用グレーズのパターンを、第2
図cはアライメントキーとアライメント用グレー
ズを重合わせた状態を示す図、第3図は、基板に
グレーズ層とアライメント用のグレーズを形成し
た状態を示す説明図、第4図は、マスクに形成さ
れたアライメントキーを示す説明図である。 1:基板、2:グレーズ層、3:アライメント
用グレーズ、4:ホトマスク、5:アライメント
キー、5a:部分円部、5b:切除部。
めの図であり、第1図aはアライメントキーを、
第1図bはアライメント用グレーズのパターン
を、第1図cはアライメントキーとアライメント
用グレーズを重合わせた状態をそれぞれ示す図、
第2図は、従来の位置合わせを説明するための図
であり、第2図aはアライメントキーを、第2図
bはアライメント用グレーズのパターンを、第2
図cはアライメントキーとアライメント用グレー
ズを重合わせた状態を示す図、第3図は、基板に
グレーズ層とアライメント用のグレーズを形成し
た状態を示す説明図、第4図は、マスクに形成さ
れたアライメントキーを示す説明図である。 1:基板、2:グレーズ層、3:アライメント
用グレーズ、4:ホトマスク、5:アライメント
キー、5a:部分円部、5b:切除部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 パターン被形成基板の対向する2辺の端部近
傍に円形の位置合わせマークを形成しておく一
方、マスクに前記位置合わせマークに対応するア
ライメントキーを設けておき、このアライメント
キーに前記位置合わせマークを合致させることに
より位置合わせを行うパターン被形成基板の位置
合わせ方法において、 前記アライメントキーの形状を、円の一部を切
除した切除部と部分円部とからなる部分同心円と
し、切除部から目視される前記位置合わせマーク
と部分円部とにより位置合わせを行うことを特徴
とするパターン被形成基板の位置合わせ方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60159444A JPS6219856A (ja) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | パタ−ン被形成基板の位置合わせ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60159444A JPS6219856A (ja) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | パタ−ン被形成基板の位置合わせ方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6219856A JPS6219856A (ja) | 1987-01-28 |
| JPH0560584B2 true JPH0560584B2 (ja) | 1993-09-02 |
Family
ID=15693885
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60159444A Granted JPS6219856A (ja) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | パタ−ン被形成基板の位置合わせ方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6219856A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0246458A (ja) * | 1988-08-08 | 1990-02-15 | Nec Corp | マスク目合せパターン |
| JPH07106194B2 (ja) * | 1989-06-26 | 1995-11-15 | 鐘紡株式会社 | 皮膚特性チェック装置 |
| JP6149277B2 (ja) * | 2011-03-30 | 2017-06-21 | ボンドテック株式会社 | 電子部品実装方法、電子部品実装システムおよび基板 |
| CN106004096B (zh) * | 2016-05-13 | 2018-05-04 | 清华大学深圳研究生院 | 一种用于打印石英晶体传感器敏感层的喷墨打印托盘 |
| CN109358475A (zh) * | 2018-12-05 | 2019-02-19 | 全普光电科技(上海)有限公司 | 对准标记、掩膜版及其制备方法 |
| JP7496710B2 (ja) * | 2020-04-28 | 2024-06-07 | ローム株式会社 | サーマルプリントヘッドの製造方法 |
-
1985
- 1985-07-18 JP JP60159444A patent/JPS6219856A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6219856A (ja) | 1987-01-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |