JPH0561304A - 画像形成装置及び電位検出方法 - Google Patents
画像形成装置及び電位検出方法Info
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- JPH0561304A JPH0561304A JP3220771A JP22077191A JPH0561304A JP H0561304 A JPH0561304 A JP H0561304A JP 3220771 A JP3220771 A JP 3220771A JP 22077191 A JP22077191 A JP 22077191A JP H0561304 A JPH0561304 A JP H0561304A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 個々の電位センサの特性のばらつき,汚れ等
による特性の経時変化をなくす。センサ位置決めなどの
取扱いを容易にする。 【構成】 センサに対し感光体と等価な距離の導電体に
既知の基準電圧を印加してその電位を測定し、実際のセ
ンサ検出特性を求める。導電体を感光体と別な位置に設
ける場合はセンサの向きを切換える機構を設け、感光体
を支持するロ−ラに基準電圧を印加する場合には、感光
体の接地を解除するリレ−を設ける。電源オン直後と所
定枚数コピ−毎に検出特性を校正する。補正量が大きく
なった時にはセンサの清掃を促すメッセ−ジを表示す
る。
による特性の経時変化をなくす。センサ位置決めなどの
取扱いを容易にする。 【構成】 センサに対し感光体と等価な距離の導電体に
既知の基準電圧を印加してその電位を測定し、実際のセ
ンサ検出特性を求める。導電体を感光体と別な位置に設
ける場合はセンサの向きを切換える機構を設け、感光体
を支持するロ−ラに基準電圧を印加する場合には、感光
体の接地を解除するリレ−を設ける。電源オン直後と所
定枚数コピ−毎に検出特性を校正する。補正量が大きく
なった時にはセンサの清掃を促すメッセ−ジを表示す
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は画像形成装置に関し、特
に感光体電位の検出に関する。
に感光体電位の検出に関する。
【0002】
【従来の技術】複写機などの画像形成装置においては、
一般に、感光体表面を均一に高電位に帯電させ、該表面
に原稿からの反射光を照射して原稿像に対応する電位分
布、即ち静電潜像を形成し、該静電潜像に電位に応じて
トナ−を付着させ、可視トナ−像を形成する。従ってこ
の種の作像プロセスにおいては、感光体の帯電電位を正
確に知ることが高品質のコピ−画像を得るために非常に
重要である。
一般に、感光体表面を均一に高電位に帯電させ、該表面
に原稿からの反射光を照射して原稿像に対応する電位分
布、即ち静電潜像を形成し、該静電潜像に電位に応じて
トナ−を付着させ、可視トナ−像を形成する。従ってこ
の種の作像プロセスにおいては、感光体の帯電電位を正
確に知ることが高品質のコピ−画像を得るために非常に
重要である。
【0003】感光体の帯電電位を検出できる電位センサ
が従来より知られているが、この電位センサは従来は高
価でありセンサとその制御装置も大型であり、また検出
対象との距離に対し測定結果の依存度が高く扱いにくい
ため、これまでの複写機にはあまり搭載されることはな
かった。
が従来より知られているが、この電位センサは従来は高
価でありセンサとその制御装置も大型であり、また検出
対象との距離に対し測定結果の依存度が高く扱いにくい
ため、これまでの複写機にはあまり搭載されることはな
かった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】最近になって安価な電
位センサが入手できるようになったので、それを複写機
に利用して、実際の感光体の帯電電位を検出し作像プロ
セス制御を行なうことが望まれている。しかしながら個
々のセンサの検出特性のばらつきが大きく、また、電位
センサの検出特性の距離に対する依存度が高いので、特
別な治具を利用して電位センサの取付位置と感光体表面
との距離を正確に合わせないと、電位センサの検出特性
が期待した特性からずれ、装置間で検出特性にばらつき
が生じる。また、電位センサは感光体の表面から数mm
程度の距離の位置に配置する必要があるので、その近傍
で飛散したトナ−などによって電位センサの検出面が汚
れると、それによって該センサの検出感度が通常より低
下する傾向があり、経時変化によって検出誤差が生じ
る。
位センサが入手できるようになったので、それを複写機
に利用して、実際の感光体の帯電電位を検出し作像プロ
セス制御を行なうことが望まれている。しかしながら個
々のセンサの検出特性のばらつきが大きく、また、電位
センサの検出特性の距離に対する依存度が高いので、特
別な治具を利用して電位センサの取付位置と感光体表面
との距離を正確に合わせないと、電位センサの検出特性
が期待した特性からずれ、装置間で検出特性にばらつき
が生じる。また、電位センサは感光体の表面から数mm
程度の距離の位置に配置する必要があるので、その近傍
で飛散したトナ−などによって電位センサの検出面が汚
れると、それによって該センサの検出感度が通常より低
下する傾向があり、経時変化によって検出誤差が生じ
る。
【0005】従って本発明は、個々の電位センサの検出
特性のばらつきに基づく検出誤差を小さくすること,感
光体と電位センサとの間隔の違いによって生じる検出特
性のばらつきに基づく検出誤差を小さくすること,感光
体及び電位センサの精密な位置決めを不要にすること,
電位センサの検出面の汚れによる検出特性の経時変化を
小さくすることなどを課題とする。
特性のばらつきに基づく検出誤差を小さくすること,感
光体と電位センサとの間隔の違いによって生じる検出特
性のばらつきに基づく検出誤差を小さくすること,感光
体及び電位センサの精密な位置決めを不要にすること,
電位センサの検出面の汚れによる検出特性の経時変化を
小さくすることなどを課題とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本願の第1番の発明においては、均一な電位に帯電
した感光体の表面に画像に対応する光を照射して静電潜
像を形成し、該静電潜像を現像剤で可視化し、形成した
可視像を所定の記録媒体に転写する画像形成装置におい
て:前記感光体から所定距離の位置に配置された電位検
出手段;該電位検出手段から、それと前記感光体上の測
定対象位置との距離と実質上等しい距離の所定位置に、
予め定めた基準電位を発生する基準電位発生手段;前記
電位検出手段の検出面の向きを、前記感光体上の測定対
象位置と前記基準電位が現われる位置との両方に選択的
に向ける検出方向切換手段;及び前記電位検出手段の検
出面を前記基準電位が現われる位置に向けて該検出手段
で検出した電位に応じて、該電位検出手段の検出面を前
記感光体上の測定対象位置に向けて検出した電位を補正
する、電位補正手段;を設ける。
に、本願の第1番の発明においては、均一な電位に帯電
した感光体の表面に画像に対応する光を照射して静電潜
像を形成し、該静電潜像を現像剤で可視化し、形成した
可視像を所定の記録媒体に転写する画像形成装置におい
て:前記感光体から所定距離の位置に配置された電位検
出手段;該電位検出手段から、それと前記感光体上の測
定対象位置との距離と実質上等しい距離の所定位置に、
予め定めた基準電位を発生する基準電位発生手段;前記
電位検出手段の検出面の向きを、前記感光体上の測定対
象位置と前記基準電位が現われる位置との両方に選択的
に向ける検出方向切換手段;及び前記電位検出手段の検
出面を前記基準電位が現われる位置に向けて該検出手段
で検出した電位に応じて、該電位検出手段の検出面を前
記感光体上の測定対象位置に向けて検出した電位を補正
する、電位補正手段;を設ける。
【0007】また第2番の発明においては、均一な電位
に帯電した感光体の表面に画像に対応する光を照射して
静電潜像を形成し、該静電潜像を現像剤で可視化し、形
成した可視像を所定の記録媒体に転写する画像形成装置
において:前記感光体から所定距離の位置に配置された
電位検出手段;前記感光体を支持する軸の近傍位置に、
予め定めた基準電位を印加する基準電位発生手段;前記
感光体上の電荷を逃がす接地手段;該接地手段の電気接
続状態を接地状態と非接地状態に切換える接地状態切換
手段;及び該接地状態切換手段により前記接地手段を非
接地状態にして前記基準電位発生手段により前記感光体
の近傍に基準電位を印加した状態で前記電位検出手段が
検出した電位に応じて、前記接地状態切換手段により前
記接地手段を接地状態にして前記電位検出手段により検
出した感光体電位を補正する、電位補正手段;を設け
る。
に帯電した感光体の表面に画像に対応する光を照射して
静電潜像を形成し、該静電潜像を現像剤で可視化し、形
成した可視像を所定の記録媒体に転写する画像形成装置
において:前記感光体から所定距離の位置に配置された
電位検出手段;前記感光体を支持する軸の近傍位置に、
予め定めた基準電位を印加する基準電位発生手段;前記
感光体上の電荷を逃がす接地手段;該接地手段の電気接
続状態を接地状態と非接地状態に切換える接地状態切換
手段;及び該接地状態切換手段により前記接地手段を非
接地状態にして前記基準電位発生手段により前記感光体
の近傍に基準電位を印加した状態で前記電位検出手段が
検出した電位に応じて、前記接地状態切換手段により前
記接地手段を接地状態にして前記電位検出手段により検
出した感光体電位を補正する、電位補正手段;を設け
る。
【0008】また第3番の発明においては、均一な電位
に帯電した感光体の表面に画像に対応する光を照射して
静電潜像を形成し、該静電潜像を現像剤で可視化し、形
成した可視像を所定の記録媒体に転写する画像形成装置
における感光体の電位検出方法において:電位センサに
より所定位置に現われる基準電位を読取り、次に電位セ
ンサにより感光体の電位を読取り、読取った感光体の電
位を前記読取った基準電位の値に応じて自動的に補正す
る。
に帯電した感光体の表面に画像に対応する光を照射して
静電潜像を形成し、該静電潜像を現像剤で可視化し、形
成した可視像を所定の記録媒体に転写する画像形成装置
における感光体の電位検出方法において:電位センサに
より所定位置に現われる基準電位を読取り、次に電位セ
ンサにより感光体の電位を読取り、読取った感光体の電
位を前記読取った基準電位の値に応じて自動的に補正す
る。
【0009】更に第4番の発明においては、均一な電位
に帯電した感光体の表面に画像に対応する光を照射して
静電潜像を形成し、該静電潜像を現像剤で可視化し、形
成した可視像を所定の記録媒体に転写する画像形成装置
における感光体の電位検出方法において:装置の電源投
入直後および所定回数の画像形成実施毎に、電位センサ
により所定位置に現われる基準電位を読取り、各々の画
像形成時に、電位センサにより感光体の電位を読取り、
読取った感光体の電位を前記読取った基準電位の値に応
じて自動的に補正する。
に帯電した感光体の表面に画像に対応する光を照射して
静電潜像を形成し、該静電潜像を現像剤で可視化し、形
成した可視像を所定の記録媒体に転写する画像形成装置
における感光体の電位検出方法において:装置の電源投
入直後および所定回数の画像形成実施毎に、電位センサ
により所定位置に現われる基準電位を読取り、各々の画
像形成時に、電位センサにより感光体の電位を読取り、
読取った感光体の電位を前記読取った基準電位の値に応
じて自動的に補正する。
【0010】また第5番の発明においては、均一な電位
に帯電した感光体の表面に画像に対応する光を照射して
静電潜像を形成し、該静電潜像を現像剤で可視化し、形
成した可視像を所定の記録媒体に転写する画像形成装置
における感光体の電位検出方法において:電位センサに
より所定位置に現われる基準電位を読取り、読取った基
準電位と予め定めた特性値との違いによって求められる
補正量が所定値以上の時には所定の異常信号を出力し、
前記補正量が所定値未満の時には、次に電位センサによ
り感光体の電位を読取り、読取った感光体の電位を前記
読取った基準電位の値に応じて自動的に補正する。
に帯電した感光体の表面に画像に対応する光を照射して
静電潜像を形成し、該静電潜像を現像剤で可視化し、形
成した可視像を所定の記録媒体に転写する画像形成装置
における感光体の電位検出方法において:電位センサに
より所定位置に現われる基準電位を読取り、読取った基
準電位と予め定めた特性値との違いによって求められる
補正量が所定値以上の時には所定の異常信号を出力し、
前記補正量が所定値未満の時には、次に電位センサによ
り感光体の電位を読取り、読取った感光体の電位を前記
読取った基準電位の値に応じて自動的に補正する。
【0011】
【作用】感光体の近傍で予め電位が定められた一定の基
準電位を発生し、その電位を電位センサで検出すれば、
この時検出された基準電位の値は、該電位センサの検出
特性に依存するものとなる。従って例えば、検出した基
準電位と予め定めた標準的な検出特性の値との差分に基
づいて補正値を生成し、感光体の電位を検出する時には
該補正値を検出値に加算するように処理すれば、個々の
電位センサの検出特性のばらつきを補償することができ
る。本発明においては、基本的にはこのようにして電位
センサの校正を実施してから感光体の電位を測定してい
る。
準電位を発生し、その電位を電位センサで検出すれば、
この時検出された基準電位の値は、該電位センサの検出
特性に依存するものとなる。従って例えば、検出した基
準電位と予め定めた標準的な検出特性の値との差分に基
づいて補正値を生成し、感光体の電位を検出する時には
該補正値を検出値に加算するように処理すれば、個々の
電位センサの検出特性のばらつきを補償することができ
る。本発明においては、基本的にはこのようにして電位
センサの校正を実施してから感光体の電位を測定してい
る。
【0012】第1番の発明においては、検出対象の感光
体表面から少しずれた位置に基準電位を発生する電極等
を配置し、電位検出手段(上記電位センサに相当)の検
出面の向きを変えることによって、基準電位と感光体表
面電位の双方の検出を可能にしている。
体表面から少しずれた位置に基準電位を発生する電極等
を配置し、電位検出手段(上記電位センサに相当)の検
出面の向きを変えることによって、基準電位と感光体表
面電位の双方の検出を可能にしている。
【0013】第2番の発明においては、感光体を支持す
る軸の近傍の部材に基準電位が生じるように電圧が印加
される。コロナ放電によって電流が流れるように感光体
の基部(又は中心部)は通常は接地されるので、その接
地状態では軸近傍の部材に電圧を印加しても所定の基準
電位を電位検出手段で検出することはできない。そこで
この発明では、接地状態切換手段を設けて、通常の作像
プロセス時は感光体を接地状態にするが、基準電位を発
生する時には、接地手段を非接地状態に切換えるように
している。この発明では、電位検出手段で検出される基
準電位の値が、電位検出手段の検出特性及び該手段と感
光体との距離に応じて変化するので、検出した基準電位
に基づいて校正を実施すれば、個々の電位検出手段の特
性のばらつきだけでなく、該手段の設置位置、つまり該
手段と感光体との距離の違いに基づく検出特性の標準特
性からのずれをも補償することができ、電位検出手段の
位置決めが簡単になる。
る軸の近傍の部材に基準電位が生じるように電圧が印加
される。コロナ放電によって電流が流れるように感光体
の基部(又は中心部)は通常は接地されるので、その接
地状態では軸近傍の部材に電圧を印加しても所定の基準
電位を電位検出手段で検出することはできない。そこで
この発明では、接地状態切換手段を設けて、通常の作像
プロセス時は感光体を接地状態にするが、基準電位を発
生する時には、接地手段を非接地状態に切換えるように
している。この発明では、電位検出手段で検出される基
準電位の値が、電位検出手段の検出特性及び該手段と感
光体との距離に応じて変化するので、検出した基準電位
に基づいて校正を実施すれば、個々の電位検出手段の特
性のばらつきだけでなく、該手段の設置位置、つまり該
手段と感光体との距離の違いに基づく検出特性の標準特
性からのずれをも補償することができ、電位検出手段の
位置決めが簡単になる。
【0014】第3番の発明においては、基準電位を電位
センサで読取った結果を利用して、該電位センサが感光
体電位を読取る時の検出特性を補正し、正しい感光体電
位を検出することができる。
センサで読取った結果を利用して、該電位センサが感光
体電位を読取る時の検出特性を補正し、正しい感光体電
位を検出することができる。
【0015】第4番の発明においては、電位センサによ
る基準電位の読取りを、装置の電源投入直後および所定
回数の画像形成実施毎に繰り返し実施するので、その度
に検出特性を校正することになり、検出面の汚れや温度
変化等によって生じる電位センサの検出特性の経時変化
を小さくしうる。
る基準電位の読取りを、装置の電源投入直後および所定
回数の画像形成実施毎に繰り返し実施するので、その度
に検出特性を校正することになり、検出面の汚れや温度
変化等によって生じる電位センサの検出特性の経時変化
を小さくしうる。
【0016】第5番の発明においては、経時変化等によ
る電位センサの検出特性の所要補正量ががある程度大き
くなった場合に、異常信号を出力するので、この信号に
よって、例えば電位センサの検出面の清掃をオペレ−タ
に促すようなメッセ−ジを出力することができる。
る電位センサの検出特性の所要補正量ががある程度大き
くなった場合に、異常信号を出力するので、この信号に
よって、例えば電位センサの検出面の清掃をオペレ−タ
に促すようなメッセ−ジを出力することができる。
【0017】
【実施例】図1に、本発明を実施する一形式の複写機の
機構部の構成を示す。図1を参照して説明する。原稿
は、複写機の最上部に配置された自動原稿給紙装置(A
DF)1の内部に設けられたトレイ1a上に重ねて配置
され、1枚ずつ自動的に給紙されて原稿読取位置のコン
タクトガラス31上に自動的に位置決めされる。コンタ
クトガラス31の下方に露光ランプ2が配置されてい
る。露光ランプ2から出た光は、第1ミラ−3で反射さ
れ、コンタクトガラス31上に配置される原稿の全面を
同時に露光する。原稿各部からの反射光は、第2ミラ−
32,レンズ33及び第3ミラ−34を介して、OPC
ベルト感光体5の表面に入射し、原稿像に対応する光像
を該感光体5上に形成する。
機構部の構成を示す。図1を参照して説明する。原稿
は、複写機の最上部に配置された自動原稿給紙装置(A
DF)1の内部に設けられたトレイ1a上に重ねて配置
され、1枚ずつ自動的に給紙されて原稿読取位置のコン
タクトガラス31上に自動的に位置決めされる。コンタ
クトガラス31の下方に露光ランプ2が配置されてい
る。露光ランプ2から出た光は、第1ミラ−3で反射さ
れ、コンタクトガラス31上に配置される原稿の全面を
同時に露光する。原稿各部からの反射光は、第2ミラ−
32,レンズ33及び第3ミラ−34を介して、OPC
ベルト感光体5の表面に入射し、原稿像に対応する光像
を該感光体5上に形成する。
【0018】一方、OPCベルト感光体5は、クリ−ニ
ング前除電器9によって除電され、クリ−ニングユニッ
ト4によってクリ−ニングされた後、帯電器8のコロナ
放電によってその表面が一様に高電位に帯電する。帯電
したOPCベルト感光体5の表面に光が照射されると、
その表面電位は照射された光の強度に応じて変化するの
で、原稿からの光像が照射されると、その像に対応する
電位分布、即ち静電潜像が感光体5の表面に形成され
る。この静電潜像は、現像器7を通る時に、その電位分
布に応じてトナ−を吸着し、可視化される。可視化され
た静電潜像つまりトナ−像は、OPCベルト感光体5上
での画像形成プロセスに合わせた所定のタイミングで複
数の給紙トレイ(10,14,15)のいずれかから給
紙され該感光体5上に重なるように送り込まれる転写紙
に、転写ユニット13を通る時に転写される。トナ−像
を転写された転写紙は、OPCベルト感光体5から分離
された後、定着器12によってトナ−像を定着し、所定
の排紙経路に沿って搬送される。トナ−像の転写が終了
したOPCベルト感光体5は、再びクリ−ニング前除電
器9によって除電され、クリ−ニングユニット4によっ
てクリ−ニングされ、次回の画像形成に備える。
ング前除電器9によって除電され、クリ−ニングユニッ
ト4によってクリ−ニングされた後、帯電器8のコロナ
放電によってその表面が一様に高電位に帯電する。帯電
したOPCベルト感光体5の表面に光が照射されると、
その表面電位は照射された光の強度に応じて変化するの
で、原稿からの光像が照射されると、その像に対応する
電位分布、即ち静電潜像が感光体5の表面に形成され
る。この静電潜像は、現像器7を通る時に、その電位分
布に応じてトナ−を吸着し、可視化される。可視化され
た静電潜像つまりトナ−像は、OPCベルト感光体5上
での画像形成プロセスに合わせた所定のタイミングで複
数の給紙トレイ(10,14,15)のいずれかから給
紙され該感光体5上に重なるように送り込まれる転写紙
に、転写ユニット13を通る時に転写される。トナ−像
を転写された転写紙は、OPCベルト感光体5から分離
された後、定着器12によってトナ−像を定着し、所定
の排紙経路に沿って搬送される。トナ−像の転写が終了
したOPCベルト感光体5は、再びクリ−ニング前除電
器9によって除電され、クリ−ニングユニット4によっ
てクリ−ニングされ、次回の画像形成に備える。
【0019】ところで一般に複写機においては、長期間
使用することで画像形成部の諸特性に変化が生じる。こ
の変化は感光体,現像剤等への繰り返しストレス,トナ
−,紙粉等による部品の汚れ,温湿度等の環境変動など
により発生する。具体的には、感光体の繰り返しストレ
ス及び温湿度の影響によって、感光体の帯電電位,感光
体の感度及び感光体の残留電位が変化し、また帯電器の
汚れ及び温湿度に応じて感光体の帯電電位が変化し、ク
リ−ニング部における汚れ及び温湿度に応じてクリ−ニ
ング前除電器通過直後の感光体表面電位が変化する。こ
れらの変化はいずれも画像形成に影響を及ぼし、画像濃
度の変化,コピ−紙の地肌汚れ等をひき起こす。
使用することで画像形成部の諸特性に変化が生じる。こ
の変化は感光体,現像剤等への繰り返しストレス,トナ
−,紙粉等による部品の汚れ,温湿度等の環境変動など
により発生する。具体的には、感光体の繰り返しストレ
ス及び温湿度の影響によって、感光体の帯電電位,感光
体の感度及び感光体の残留電位が変化し、また帯電器の
汚れ及び温湿度に応じて感光体の帯電電位が変化し、ク
リ−ニング部における汚れ及び温湿度に応じてクリ−ニ
ング前除電器通過直後の感光体表面電位が変化する。こ
れらの変化はいずれも画像形成に影響を及ぼし、画像濃
度の変化,コピ−紙の地肌汚れ等をひき起こす。
【0020】そこでこの実施例においては、OPCベル
ト感光体5の近傍に配置した電位センサ6を用いて、該
感光体5上の電位を様々な状況でそれぞれ測定し、その
測定結果に応じたフィ−ドバック制御を実施し、上記変
化を補償して形成する画像濃度が一定になるように制御
している。
ト感光体5の近傍に配置した電位センサ6を用いて、該
感光体5上の電位を様々な状況でそれぞれ測定し、その
測定結果に応じたフィ−ドバック制御を実施し、上記変
化を補償して形成する画像濃度が一定になるように制御
している。
【0021】しかし、電位センサ6自体が個々のセンサ
でその検出特性にばらつきを有しており、しかも経時変
化によって検出面に汚れが生じると検出特性が変化する
ので、電位センサ6の検出特性を時々校正しなければ精
密な補償制御は実現しない。電位センサ6の校正を可能
にするために、この実施例では図2に示すように電位セ
ンサ6の近傍に電極板(銅板)21を配置し、これに基
準電圧Vrを印加できるようにしてある。また電位セン
サ6は、その検出面をOPCベルト感光体5に対向する
向き(図中の実線)と電極板21に対向する向き(図の
二点鎖線)に方向を変えうるように、その支持軸6bに
電気モ−タ22を結合してある。電位センサ6の検出特
性はそれと検出対象との距離に応じて変化するので、距
離の影響をなくするために、検出面6aのOPCベルト
感光体5までの距離Lと電極板21までの距離Lを同一
にしてある。
でその検出特性にばらつきを有しており、しかも経時変
化によって検出面に汚れが生じると検出特性が変化する
ので、電位センサ6の検出特性を時々校正しなければ精
密な補償制御は実現しない。電位センサ6の校正を可能
にするために、この実施例では図2に示すように電位セ
ンサ6の近傍に電極板(銅板)21を配置し、これに基
準電圧Vrを印加できるようにしてある。また電位セン
サ6は、その検出面をOPCベルト感光体5に対向する
向き(図中の実線)と電極板21に対向する向き(図の
二点鎖線)に方向を変えうるように、その支持軸6bに
電気モ−タ22を結合してある。電位センサ6の検出特
性はそれと検出対象との距離に応じて変化するので、距
離の影響をなくするために、検出面6aのOPCベルト
感光体5までの距離Lと電極板21までの距離Lを同一
にしてある。
【0022】図3に図1の複写機の電装部の構成の概略
を示す。図3を参照して説明する。この複写機の全体の
制御は、マイクロコンピュ−タを内蔵した複写プロセス
制御ユニット100によって処理される。この複写プロ
セス制御ユニット100には、操作ボ−ド300,AD
F1,ソ−タ17,ヒ−タ制御ユニット45,ランプ制
御ユニット46,基準電圧発生器47,レンズ/ミラ−
モ−タ48,クラッチ及びソレノイド49,センサユニ
ット50,高圧電源ユニット200及びモ−タ制御ユニ
ット51が接続されている。ランプ制御ユニット46
は、複写プロセス制御ユニット100からの指示に従っ
て露光ランプ2を点灯/消灯するとともに、点灯した時
には明るさが一定になるように露光ランプ2に印加する
電圧を精密に制御する。基準電圧発生器47は、予め定
めた正確な基準電圧Vr(この例では50Vと100V
の2種類)を複写プロセス制御ユニット100からの指
示に従って生成し、その電圧Vrを電極板21に印加す
る。高圧電源ユニット200は、帯電器8,転写ユニッ
ト13及び現像器のロ−ラ7aと接続されており、それ
らの各々に印加する電圧又は電流を生成する。これらの
電圧及び電流は、電位センサ6で検出した各種電圧情報
に基づくフィ−ドバック制御によって、自動的に修正さ
れる。
を示す。図3を参照して説明する。この複写機の全体の
制御は、マイクロコンピュ−タを内蔵した複写プロセス
制御ユニット100によって処理される。この複写プロ
セス制御ユニット100には、操作ボ−ド300,AD
F1,ソ−タ17,ヒ−タ制御ユニット45,ランプ制
御ユニット46,基準電圧発生器47,レンズ/ミラ−
モ−タ48,クラッチ及びソレノイド49,センサユニ
ット50,高圧電源ユニット200及びモ−タ制御ユニ
ット51が接続されている。ランプ制御ユニット46
は、複写プロセス制御ユニット100からの指示に従っ
て露光ランプ2を点灯/消灯するとともに、点灯した時
には明るさが一定になるように露光ランプ2に印加する
電圧を精密に制御する。基準電圧発生器47は、予め定
めた正確な基準電圧Vr(この例では50Vと100V
の2種類)を複写プロセス制御ユニット100からの指
示に従って生成し、その電圧Vrを電極板21に印加す
る。高圧電源ユニット200は、帯電器8,転写ユニッ
ト13及び現像器のロ−ラ7aと接続されており、それ
らの各々に印加する電圧又は電流を生成する。これらの
電圧及び電流は、電位センサ6で検出した各種電圧情報
に基づくフィ−ドバック制御によって、自動的に修正さ
れる。
【0023】センサユニット50には、電位センサ6も
含まれている。電位センサ6が検出時に出力するアナロ
グ電圧は、複写プロセス制御ユニット100内のA/D
変換器(この例では8ビットの分解能を有する)によっ
てデジタル量に変換される。このA/D変換によって得
られる8ビット値は、図4のグラフに示すように検出し
た電圧と対応関係にあるが、電位センサ6の実際の検出
特性Sdは、基準特性Srに対しずれを生じる場合が多
い。このずれは、個々の電位センサの特性のばらつき及
び経時変化や環境変化によって生じる。
含まれている。電位センサ6が検出時に出力するアナロ
グ電圧は、複写プロセス制御ユニット100内のA/D
変換器(この例では8ビットの分解能を有する)によっ
てデジタル量に変換される。このA/D変換によって得
られる8ビット値は、図4のグラフに示すように検出し
た電圧と対応関係にあるが、電位センサ6の実際の検出
特性Sdは、基準特性Srに対しずれを生じる場合が多
い。このずれは、個々の電位センサの特性のばらつき及
び経時変化や環境変化によって生じる。
【0024】従って、電位センサ6によってOPCベル
ト感光体5上の電位を正確に測定するためには、例えば
実際の検出特性Sdに対応する変換テ−ブルを利用して
検出値を電圧に変換する必要がある。この変換テ−ブル
は、後述する電位センサの校正処理によって生成され
る。この実施例では、電位センサ6に対しOPCベルト
感光体5上の検出対象位置と等価な位置に、電極板21
が配置してあり、電極板21に既知の正確な基準電圧を
印加できるので、基準電圧が印加された電極板21の電
位を電位センサ6で検出した結果に基づいて、検出特性
を校正することができる。つまり、検出特性Sdが直線
的であると仮定すれば、電極板21に50Vの基準電圧
を印加した時に検出された8ビット値Vd1と電極板2
1に100Vの基準電圧を印加した時に検出された8ビ
ット値Vd2との2点の値とそれらの傾きから、実際の
特性Sdを計算により求めることができる。
ト感光体5上の電位を正確に測定するためには、例えば
実際の検出特性Sdに対応する変換テ−ブルを利用して
検出値を電圧に変換する必要がある。この変換テ−ブル
は、後述する電位センサの校正処理によって生成され
る。この実施例では、電位センサ6に対しOPCベルト
感光体5上の検出対象位置と等価な位置に、電極板21
が配置してあり、電極板21に既知の正確な基準電圧を
印加できるので、基準電圧が印加された電極板21の電
位を電位センサ6で検出した結果に基づいて、検出特性
を校正することができる。つまり、検出特性Sdが直線
的であると仮定すれば、電極板21に50Vの基準電圧
を印加した時に検出された8ビット値Vd1と電極板2
1に100Vの基準電圧を印加した時に検出された8ビ
ット値Vd2との2点の値とそれらの傾きから、実際の
特性Sdを計算により求めることができる。
【0025】図3に示す複写プロセス制御ユニット10
0の処理の概略を図5に示す。図5を参照して説明す
る。電源がオンすると、まず制御ユニット100自身の
初期化(RAMクリア,各種モ−ド設定,出力ポ−トの
状態設定等)を実行し、次に複写機を動作可能にするた
めの各種初期設定(複写モ−ド設定,タイマ設定等々)
を実行する。次に、電位センサ校正処理を実行する。こ
の処理については後で詳細に説明する。続いて、待機モ
−ド処理を実行する。待機モ−ド処理では、各種センサ
が出力する信号の読取り及び操作ボ−ドのキ−スイッチ
の状態読取りを実行し、各種出力機器のオン/オフ制御
を実行し、異常チェックを実行し、読取った信号の判別
処理を実行し、更にタイマ処理及び表示処理を実行す
る。コピ−可能な状態になるまで、待機モ−ド処理が繰
り返し実行され、複写機は待機状態を継続する。コピ−
動作可能な状態になった後で、操作ボ−ド上のプリント
キ−が押下されると、複写前モ−ド処理に進む。複写前
モ−ド処理では、複写プロセスを開始する前の準備を行
ない、例えば感光体表面のクリ−ニングを実行する。ま
た、テンキ−によって複写枚数が入力されている時に
は、その値NKを枚数レジスタNset にストアする。
0の処理の概略を図5に示す。図5を参照して説明す
る。電源がオンすると、まず制御ユニット100自身の
初期化(RAMクリア,各種モ−ド設定,出力ポ−トの
状態設定等)を実行し、次に複写機を動作可能にするた
めの各種初期設定(複写モ−ド設定,タイマ設定等々)
を実行する。次に、電位センサ校正処理を実行する。こ
の処理については後で詳細に説明する。続いて、待機モ
−ド処理を実行する。待機モ−ド処理では、各種センサ
が出力する信号の読取り及び操作ボ−ドのキ−スイッチ
の状態読取りを実行し、各種出力機器のオン/オフ制御
を実行し、異常チェックを実行し、読取った信号の判別
処理を実行し、更にタイマ処理及び表示処理を実行す
る。コピ−可能な状態になるまで、待機モ−ド処理が繰
り返し実行され、複写機は待機状態を継続する。コピ−
動作可能な状態になった後で、操作ボ−ド上のプリント
キ−が押下されると、複写前モ−ド処理に進む。複写前
モ−ド処理では、複写プロセスを開始する前の準備を行
ない、例えば感光体表面のクリ−ニングを実行する。ま
た、テンキ−によって複写枚数が入力されている時に
は、その値NKを枚数レジスタNset にストアする。
【0026】複写前モ−ド処理が終了すると、次の複写
モ−ド処理に進み、実際にコピ−プロセスを実行する。
紙搬送処理,トナ−補給処理,異常チェック処理等々も
同時に実行される。コピ−プロセスでは、前述のように
感光体上を均一の高電位に帯電した後、その表面に原稿
からの反射光を照射して感光体表面に静電潜像を形成
し、該静電潜像を現像ユニット5においてトナ−で可視
化し、トナ−像を転写紙に転写し、転写紙を感光体から
分離して搬送し、定着器12でトナ−像を転写紙に定着
させ転写紙を排紙する。1回のコピ−サイクルが終了す
るまで、複写モ−ド処理を繰り返し実行する。1回のコ
ピ−サイクルが終了すると、コピ−枚数カウンタCcopy
を+1し、該カウンタの内容を枚数レジスタNset の内
容と比較する。両者の値が一致しなければ、複写モ−ド
処理を再び繰り返し、複数回のコピ−サイクルを実質上
連続的に実行する。枚数レジスタNset に設定された枚
数分のコピ−サイクルが完了すると、コピ−総枚数カウ
ンタCtコピ−枚数カウンタCcopyの値を加算した後、
コピ−枚数カウンタCcopyをクリアし、複写後モ−ド処
理に進む。複写後モ−ド処理では、紙搬送処理,異常チ
ェック,コピ−後処理などを実行する。全ての排紙が完
了するまで、複写後モ−ド処理を繰り返し実行する。次
に、コピ−総枚数カウンタCtの値を予め定めた枚数N
tと比較する。この枚数Ntは、電位センサ6の検出特
性に経時変化が現われる時期に対応するコピ−枚数に対
応付けて、例えば100枚に定める。コピ−総枚数カウ
ンタCtの値がNt以上であると、電位センサ校正処理
を実行する。
モ−ド処理に進み、実際にコピ−プロセスを実行する。
紙搬送処理,トナ−補給処理,異常チェック処理等々も
同時に実行される。コピ−プロセスでは、前述のように
感光体上を均一の高電位に帯電した後、その表面に原稿
からの反射光を照射して感光体表面に静電潜像を形成
し、該静電潜像を現像ユニット5においてトナ−で可視
化し、トナ−像を転写紙に転写し、転写紙を感光体から
分離して搬送し、定着器12でトナ−像を転写紙に定着
させ転写紙を排紙する。1回のコピ−サイクルが終了す
るまで、複写モ−ド処理を繰り返し実行する。1回のコ
ピ−サイクルが終了すると、コピ−枚数カウンタCcopy
を+1し、該カウンタの内容を枚数レジスタNset の内
容と比較する。両者の値が一致しなければ、複写モ−ド
処理を再び繰り返し、複数回のコピ−サイクルを実質上
連続的に実行する。枚数レジスタNset に設定された枚
数分のコピ−サイクルが完了すると、コピ−総枚数カウ
ンタCtコピ−枚数カウンタCcopyの値を加算した後、
コピ−枚数カウンタCcopyをクリアし、複写後モ−ド処
理に進む。複写後モ−ド処理では、紙搬送処理,異常チ
ェック,コピ−後処理などを実行する。全ての排紙が完
了するまで、複写後モ−ド処理を繰り返し実行する。次
に、コピ−総枚数カウンタCtの値を予め定めた枚数N
tと比較する。この枚数Ntは、電位センサ6の検出特
性に経時変化が現われる時期に対応するコピ−枚数に対
応付けて、例えば100枚に定める。コピ−総枚数カウ
ンタCtの値がNt以上であると、電位センサ校正処理
を実行する。
【0027】電位センサ校正処理(図5のステップS
1,S2)の具体的な内容を図6に示す。まずステップ
10では、校正のために電気モ−タ22を駆動して電位
センサ6をその検出面が電極板21に向くように制御す
る。次のステップ11では、基準電圧発生器47を制御
して、50Vの電圧を電極板21に印加する。続くステ
ップ12では、電位センサ6が出力する電気信号Vdを
入力し、A/D変換によって得られたデジタル量を第1
測定値Vd1として記憶する。次のステップ13では、
基準電圧発生器47を制御して出力電圧を100Vに切
り換え、100Vを電極板21に印加する。そして次の
ステップ14では、電位センサ6が出力する電気信号V
dを入力し、A/D変換によって得られたデジタル量を
第2測定値Vd2として記憶する。次のステップ15で
は、電気モ−タ22を再び駆動して、電位センサ6の向
きをその検出面がOPCベルト感光体5の所定位置に向
くように切換える。
1,S2)の具体的な内容を図6に示す。まずステップ
10では、校正のために電気モ−タ22を駆動して電位
センサ6をその検出面が電極板21に向くように制御す
る。次のステップ11では、基準電圧発生器47を制御
して、50Vの電圧を電極板21に印加する。続くステ
ップ12では、電位センサ6が出力する電気信号Vdを
入力し、A/D変換によって得られたデジタル量を第1
測定値Vd1として記憶する。次のステップ13では、
基準電圧発生器47を制御して出力電圧を100Vに切
り換え、100Vを電極板21に印加する。そして次の
ステップ14では、電位センサ6が出力する電気信号V
dを入力し、A/D変換によって得られたデジタル量を
第2測定値Vd2として記憶する。次のステップ15で
は、電気モ−タ22を再び駆動して、電位センサ6の向
きをその検出面がOPCベルト感光体5の所定位置に向
くように切換える。
【0028】ステップ16では、検出された2つの電圧
値Vd1及びVd2に基づいて、例えば図4に示す実際
の特性直線Sdに対応する変換テ−ブルを作成する。つ
まり、変換後の電圧の50Vに対応する入力値Vd1
と、変換後の電圧100Vに対応する入力値Vd2とが
分かるので、(Vd2−Vd1)/(100−50)を
計算することによって特性直線Sdの傾きを求め、この
傾きとVd1又はVd2とに基づいて、各入力値(0
0,01,02,03,・・・,FD,FE,FF)のそ
れぞれに対応する変換後の電圧を計算し、入力値と変換
後電圧との各々の対応関係が明確になる形で(例えば入
力値の小さい順に)、各々の計算結果を所定のメモリ領
域にテ−ブルの内容として書込む。
値Vd1及びVd2に基づいて、例えば図4に示す実際
の特性直線Sdに対応する変換テ−ブルを作成する。つ
まり、変換後の電圧の50Vに対応する入力値Vd1
と、変換後の電圧100Vに対応する入力値Vd2とが
分かるので、(Vd2−Vd1)/(100−50)を
計算することによって特性直線Sdの傾きを求め、この
傾きとVd1又はVd2とに基づいて、各入力値(0
0,01,02,03,・・・,FD,FE,FF)のそ
れぞれに対応する変換後の電圧を計算し、入力値と変換
後電圧との各々の対応関係が明確になる形で(例えば入
力値の小さい順に)、各々の計算結果を所定のメモリ領
域にテ−ブルの内容として書込む。
【0029】次のステップ17では、標準的な特性直線
Srと実際の特性直線Sdとの傾きの違いを補正量DV
として求める。直線Srの傾きは、予めメモリ上に固定
値として記憶されており、直線Sdの傾きは前述の計算
式より求められるので、それらの傾きの差分の絶対値を
計算し、その結果をDVにストアする。ここで得られる
補正量は、標準的な電位センサの特性と実際に使用して
いる電位センサ6との特性のばらつき、及び検出面の汚
れや環境変化などに基づく経時変化に対応している。従
って長時間使用していると、検出面の汚れ具合いが進行
し、補正量DVの値が大きくなる。そこで次のステップ
18では、補正量DVを予め定めたしきい値D1と比較
する。そして補正量DVがしきい値D1より大きい時に
は、ステップ19で操作ボ−ド300上の「電位センサ
を清掃して下さい」の表示を点灯し、補正量DVがしき
い値D1以内であれば、ステップ20で「電位センサを
清掃して下さい」の表示を消灯する。最後のステップ2
1では、コピ−総枚数カウンタCtをクリアする。
Srと実際の特性直線Sdとの傾きの違いを補正量DV
として求める。直線Srの傾きは、予めメモリ上に固定
値として記憶されており、直線Sdの傾きは前述の計算
式より求められるので、それらの傾きの差分の絶対値を
計算し、その結果をDVにストアする。ここで得られる
補正量は、標準的な電位センサの特性と実際に使用して
いる電位センサ6との特性のばらつき、及び検出面の汚
れや環境変化などに基づく経時変化に対応している。従
って長時間使用していると、検出面の汚れ具合いが進行
し、補正量DVの値が大きくなる。そこで次のステップ
18では、補正量DVを予め定めたしきい値D1と比較
する。そして補正量DVがしきい値D1より大きい時に
は、ステップ19で操作ボ−ド300上の「電位センサ
を清掃して下さい」の表示を点灯し、補正量DVがしき
い値D1以内であれば、ステップ20で「電位センサを
清掃して下さい」の表示を消灯する。最後のステップ2
1では、コピ−総枚数カウンタCtをクリアする。
【0030】次に、1つの変形実施例を説明する。この
実施例においては、電位センサ6Bは固定してあり、ま
た標準電圧を印加する位置が前記実施例とは異なってい
る。即ちこの実施例では、OPCベルト感光体5を支持
するロ−ラ23に前記電極板21の代わりに基準電圧を
印加するように構成を変更してある。ロ−ラ23は導電
性のゴムで構成してある。OPCベルト感光体5の厚み
は非常に小さいので、その厚み方向に関しては、OPC
ベルト感光体5の表面とロ−ラ23の表面とは略同一の
位置に存在するものとみなしうる。つまりこの実施例で
は、標準電位を印加する位置とOPCベルト感光体5の
位置に関し、電位センサ6Bとの距離を合わせるための
調整が不要であり、電位センサ6Bの位置も正確に合わ
せる必要がない。また電位センサ6Bの向きを変える駆
動手段も不要である。
実施例においては、電位センサ6Bは固定してあり、ま
た標準電圧を印加する位置が前記実施例とは異なってい
る。即ちこの実施例では、OPCベルト感光体5を支持
するロ−ラ23に前記電極板21の代わりに基準電圧を
印加するように構成を変更してある。ロ−ラ23は導電
性のゴムで構成してある。OPCベルト感光体5の厚み
は非常に小さいので、その厚み方向に関しては、OPC
ベルト感光体5の表面とロ−ラ23の表面とは略同一の
位置に存在するものとみなしうる。つまりこの実施例で
は、標準電位を印加する位置とOPCベルト感光体5の
位置に関し、電位センサ6Bとの距離を合わせるための
調整が不要であり、電位センサ6Bの位置も正確に合わ
せる必要がない。また電位センサ6Bの向きを変える駆
動手段も不要である。
【0031】しかしながら、OPCベルト感光体5は画
像形成プロセスのために通常は接地されるので、その接
地状態では、電位センサ6Bとロ−ラ23との間に接地
されたOPCベルト感光体5が配置され、電位センサ6
Bが接地電位を検出することになるので、ロ−ラ23に
印加した標準電位を検出することができない。そこでこ
の実施例では、図7及び図9に示すように、OPCベル
ト感光体5を接地するア−スブラシ54と接続した配線
を、リレ−53を介して接地し、リレ−53の制御によ
って非接地状態に切換えできるように構成してある。
像形成プロセスのために通常は接地されるので、その接
地状態では、電位センサ6Bとロ−ラ23との間に接地
されたOPCベルト感光体5が配置され、電位センサ6
Bが接地電位を検出することになるので、ロ−ラ23に
印加した標準電位を検出することができない。そこでこ
の実施例では、図7及び図9に示すように、OPCベル
ト感光体5を接地するア−スブラシ54と接続した配線
を、リレ−53を介して接地し、リレ−53の制御によ
って非接地状態に切換えできるように構成してある。
【0032】図8に示すように、OPCベルト感光体5
は、ポリエステル層P1,アルミニウム蒸着層P2,C
GL層P3及びCTL層P4の4層構成になっており、
帯電及び露光のプロセス時には、アルミニウム蒸着層P
2を接地して、この層に流れ出た電荷を逃がす必要があ
る。ア−スブラシ54は、導電性の繊維束をアルミニウ
ムの板金で挟み込んで構成してあり、ブラシ部分がアル
ミニウム蒸着層P2の表面に当接してある。
は、ポリエステル層P1,アルミニウム蒸着層P2,C
GL層P3及びCTL層P4の4層構成になっており、
帯電及び露光のプロセス時には、アルミニウム蒸着層P
2を接地して、この層に流れ出た電荷を逃がす必要があ
る。ア−スブラシ54は、導電性の繊維束をアルミニウ
ムの板金で挟み込んで構成してあり、ブラシ部分がアル
ミニウム蒸着層P2の表面に当接してある。
【0033】図9を参照すると、基準電圧発生器47か
ら出力される基準電圧Vrは、導電性の板ばね55,及
びベアリング(導電性)59を介して、ロ−ラ23中心
の金属軸23aに印加され、ロ−ラ23の表面に現われ
る。57はロ−ラ23の支持フレ−ム、56及び58は
絶縁物である。また図10に示すように、ア−スブラシ
54の接地/非接地を切換えるリレ−53は、ドライバ
52を介して、複写プロセス制御ユニット100と接続
されている。
ら出力される基準電圧Vrは、導電性の板ばね55,及
びベアリング(導電性)59を介して、ロ−ラ23中心
の金属軸23aに印加され、ロ−ラ23の表面に現われ
る。57はロ−ラ23の支持フレ−ム、56及び58は
絶縁物である。また図10に示すように、ア−スブラシ
54の接地/非接地を切換えるリレ−53は、ドライバ
52を介して、複写プロセス制御ユニット100と接続
されている。
【0034】この実施例における電位センサ校正処理の
内容を図11に示す。図11を参照して各ステップの内
容を説明する。最初のステップ30では、リレ−53の
接点を開き、OPCベルト感光体5の接地を解除する。
次のステップ31では、基準電圧発生器47を制御し
て、一定の電圧50Vを基準電圧としてロ−ラ23に印
加する。続くステップ32では、電位センサ6Bが出力
する電気信号Vdを入力し、A/D変換によって得られ
たデジタル量を第1測定値Vd1として記憶する。次の
ステップ33では、基準電圧発生器47を制御して出力
電圧を100Vに切り換え、100Vをロ−ラ23に印
加する。そして次のステップ34では、電位センサ6B
が出力する電気信号Vdを入力し、A/D変換によって
得られたデジタル量を第2測定値Vd2として記憶す
る。次のステップ35では、リレ−53の接点を閉じ、
OPCベルト感光体5のアルミニウム蒸着層P2を接地
状態にする。ステップ36以降の処理は、前記実施例の
図6のステップ16以降の対応するステップとそれぞれ
同様である。また、説明した以外の構成及び動作は、前
記実施例と同一である。
内容を図11に示す。図11を参照して各ステップの内
容を説明する。最初のステップ30では、リレ−53の
接点を開き、OPCベルト感光体5の接地を解除する。
次のステップ31では、基準電圧発生器47を制御し
て、一定の電圧50Vを基準電圧としてロ−ラ23に印
加する。続くステップ32では、電位センサ6Bが出力
する電気信号Vdを入力し、A/D変換によって得られ
たデジタル量を第1測定値Vd1として記憶する。次の
ステップ33では、基準電圧発生器47を制御して出力
電圧を100Vに切り換え、100Vをロ−ラ23に印
加する。そして次のステップ34では、電位センサ6B
が出力する電気信号Vdを入力し、A/D変換によって
得られたデジタル量を第2測定値Vd2として記憶す
る。次のステップ35では、リレ−53の接点を閉じ、
OPCベルト感光体5のアルミニウム蒸着層P2を接地
状態にする。ステップ36以降の処理は、前記実施例の
図6のステップ16以降の対応するステップとそれぞれ
同様である。また、説明した以外の構成及び動作は、前
記実施例と同一である。
【0035】
【発明の効果】以上のとおり本発明によれば、電位検出
手段(6)の各々が有する検出特性のばらつき、及び検
出面の汚れや環境変化などによって生じる検出特性の経
時変化に対して、それを自動的に補正し、感光体(5)
表面の電位を正確に検出することができる。これによっ
て検出される感光体電位に基づいてフィ−ドバック制御
を行なうことによって、安定した画像形成が実現する。
手段(6)の各々が有する検出特性のばらつき、及び検
出面の汚れや環境変化などによって生じる検出特性の経
時変化に対して、それを自動的に補正し、感光体(5)
表面の電位を正確に検出することができる。これによっ
て検出される感光体電位に基づいてフィ−ドバック制御
を行なうことによって、安定した画像形成が実現する。
【0036】また、第1番の発明においては電位検出手
段及び基準電圧を印加する電極の位置(21)を正確に
合わせる必要があるが、第2番の発明では正確な位置合
わせが不要であり取扱いが容易になる。更に第4番の発
明によれば、装置の電源投入直後および所定回数の画像
形成実施毎に電位検出手段の検出特性の校正を実施する
ので、常に校正された検出特性で正しい電位を検出で
き、経時変化の影響を避けることができる。また電位検
出手段の検出面が異常に汚れて検出特性が標準的な特性
から大幅にずれたような場合には、検出特性の校正を実
施しても検出誤差が増大する可能性があるが、第5番の
発明によれば、そのような時に異常信号が出力されるの
で、それによって例えば「電位センサを清掃して下さ
い」などの表示を出し、オペレ−タに異常状態を報知し
て原因をなくすように促すことができる。
段及び基準電圧を印加する電極の位置(21)を正確に
合わせる必要があるが、第2番の発明では正確な位置合
わせが不要であり取扱いが容易になる。更に第4番の発
明によれば、装置の電源投入直後および所定回数の画像
形成実施毎に電位検出手段の検出特性の校正を実施する
ので、常に校正された検出特性で正しい電位を検出で
き、経時変化の影響を避けることができる。また電位検
出手段の検出面が異常に汚れて検出特性が標準的な特性
から大幅にずれたような場合には、検出特性の校正を実
施しても検出誤差が増大する可能性があるが、第5番の
発明によれば、そのような時に異常信号が出力されるの
で、それによって例えば「電位センサを清掃して下さ
い」などの表示を出し、オペレ−タに異常状態を報知し
て原因をなくすように促すことができる。
【図1】 実施例の複写機の構成部を示す正面図であ
る。
る。
【図2】 図1の一部分の構成を示す部分拡大正面図で
ある。
ある。
【図3】 図1の複写機の電装部の構成を示すブロック
図である。
図である。
【図4】 入力デジタル値と変換後の電圧値を示すグラ
フである。
フである。
【図5】 図3の制御ユニットの処理を示すフロ−チャ
−トである。
−トである。
【図6】 図5中のステップS1,S2の処理の内容を
示すフロ−チャ−トである。
示すフロ−チャ−トである。
【図7】 変形実施例における感光体の近傍を示す斜視
図である。
図である。
【図8】 感光体の構成を示す斜視図である。
【図9】 変形実施例における感光体の近傍を示す平面
図である。
図である。
【図10】 変形実施例の電装部の構成を示すブロック
図である。
図である。
【図11】 変形実施例における電位センサ校正処理を
示すフロ−チャ−トである。
示すフロ−チャ−トである。
1:自動原稿給紙装置 2:露光ランプ 3:第
1ミラ− 4:クリ−ニングユニット 5:O
PCベルト感光体 6,6B:電位センサ(電位検出手段) 7:現
像器 8:帯電器 9:クリ−ニング前除電器 10:給紙トレイ 12:定着器 13:
転写ユニット 14:両面トレイ 15:大容量トレイ 16:
反転部 17:ソ−タ 21:電極板 22:電気モ−タ(検出方向切換手段) 23:
ロ−ラ 31:コンタクトガラス 32:第2ミラ− 33:
レンズ 34:第3ミラ− 47:基準電圧発生器(基準
電圧発生手段) 53:リレ−(接地状態切換手段) 54:ア−スブ
ラシ(接地手段) 55:板ばね 56,58:絶縁物 57:
支持フレ−ム 59:ベアリング 100:複写プロセス制御ユニット(電位補正手段)
1ミラ− 4:クリ−ニングユニット 5:O
PCベルト感光体 6,6B:電位センサ(電位検出手段) 7:現
像器 8:帯電器 9:クリ−ニング前除電器 10:給紙トレイ 12:定着器 13:
転写ユニット 14:両面トレイ 15:大容量トレイ 16:
反転部 17:ソ−タ 21:電極板 22:電気モ−タ(検出方向切換手段) 23:
ロ−ラ 31:コンタクトガラス 32:第2ミラ− 33:
レンズ 34:第3ミラ− 47:基準電圧発生器(基準
電圧発生手段) 53:リレ−(接地状態切換手段) 54:ア−スブ
ラシ(接地手段) 55:板ばね 56,58:絶縁物 57:
支持フレ−ム 59:ベアリング 100:複写プロセス制御ユニット(電位補正手段)
Claims (5)
- 【請求項1】 均一な電位に帯電した感光体の表面に画
像に対応する光を照射して静電潜像を形成し、該静電潜
像を現像剤で可視化し、形成した可視像を所定の記録媒
体に転写する画像形成装置において:前記感光体から所
定距離の位置に配置された電位検出手段;該電位検出手
段から、それと前記感光体上の測定対象位置との距離と
実質上等しい距離の所定位置に、予め定めた基準電位を
発生する基準電位発生手段;前記電位検出手段の検出面
の向きを、前記感光体上の測定対象位置と前記基準電位
が現われる位置との両方に選択的に向ける検出方向切換
手段;及び前記電位検出手段の検出面を前記基準電位が
現われる位置に向けて該検出手段で検出した電位に応じ
て、該電位検出手段の検出面を前記感光体上の測定対象
位置に向けて検出した電位を補正する、電位補正手段;
を設けたことを特徴とする画像形成装置。 - 【請求項2】 均一な電位に帯電した感光体の表面に画
像に対応する光を照射して静電潜像を形成し、該静電潜
像を現像剤で可視化し、形成した可視像を所定の記録媒
体に転写する画像形成装置において:前記感光体から所
定距離の位置に配置された電位検出手段;前記感光体を
支持する軸の近傍位置に、予め定めた基準電位を印加す
る基準電位発生手段;前記感光体上の電荷を逃がす接地
手段;該接地手段の電気接続状態を接地状態と非接地状
態に切換える接地状態切換手段;及び該接地状態切換手
段により前記接地手段を非接地状態にして前記基準電位
発生手段により前記感光体の近傍に基準電位を印加した
状態で前記電位検出手段が検出した電位に応じて、前記
接地状態切換手段により前記接地手段を接地状態にして
前記電位検出手段により検出した感光体電位を補正す
る、電位補正手段;を設けたことを特徴とする画像形成
装置。 - 【請求項3】 均一な電位に帯電した感光体の表面に画
像に対応する光を照射して静電潜像を形成し、該静電潜
像を現像剤で可視化し、形成した可視像を所定の記録媒
体に転写する画像形成装置における感光体の電位検出方
法において:電位センサにより所定位置に現われる基準
電位を読取り、次に電位センサにより感光体の電位を読
取り、読取った感光体の電位を前記読取った基準電位の
値に応じて自動的に補正する、ことを特徴とする電位検
出方法。 - 【請求項4】 均一な電位に帯電した感光体の表面に画
像に対応する光を照射して静電潜像を形成し、該静電潜
像を現像剤で可視化し、形成した可視像を所定の記録媒
体に転写する画像形成装置における感光体の電位検出方
法において:装置の電源投入直後および所定回数の画像
形成実施毎に、電位センサにより所定位置に現われる基
準電位を読取り、各々の画像形成時に、電位センサによ
り感光体の電位を読取り、読取った感光体の電位を前記
読取った基準電位の値に応じて自動的に補正する、こと
を特徴とする電位検出方法。 - 【請求項5】 均一な電位に帯電した感光体の表面に画
像に対応する光を照射して静電潜像を形成し、該静電潜
像を現像剤で可視化し、形成した可視像を所定の記録媒
体に転写する画像形成装置における感光体の電位検出方
法において:電位センサにより所定位置に現われる基準
電位を読取り、読取った基準電位と予め定めた特性値と
の違いによって求められる補正量が所定値以上の時には
所定の異常信号を出力し、前記補正量が所定値未満の時
には、次に電位センサにより感光体の電位を読取り、読
取った感光体の電位を前記読取った基準電位の値に応じ
て自動的に補正する、ことを特徴とする電位検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3220771A JPH0561304A (ja) | 1991-08-31 | 1991-08-31 | 画像形成装置及び電位検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3220771A JPH0561304A (ja) | 1991-08-31 | 1991-08-31 | 画像形成装置及び電位検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0561304A true JPH0561304A (ja) | 1993-03-12 |
Family
ID=16756307
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3220771A Pending JPH0561304A (ja) | 1991-08-31 | 1991-08-31 | 画像形成装置及び電位検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0561304A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002214936A (ja) * | 2001-01-12 | 2002-07-31 | Canon Inc | 画像形成装置 |
| KR100370192B1 (ko) * | 1999-05-31 | 2003-01-30 | 삼성전자 주식회사 | 전자사진방식 프린터의 감광벨트 전위 측정방법 및 장치 |
| JP2013241003A (ja) * | 2012-04-27 | 2013-12-05 | Canon Inc | 記録装置、検知方法およびプログラム |
| JP2020101586A (ja) * | 2018-12-19 | 2020-07-02 | 株式会社リコー | トナー残量検出装置、画像形成装置及びトナー残量検出方法 |
-
1991
- 1991-08-31 JP JP3220771A patent/JPH0561304A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100370192B1 (ko) * | 1999-05-31 | 2003-01-30 | 삼성전자 주식회사 | 전자사진방식 프린터의 감광벨트 전위 측정방법 및 장치 |
| JP2002214936A (ja) * | 2001-01-12 | 2002-07-31 | Canon Inc | 画像形成装置 |
| JP2013241003A (ja) * | 2012-04-27 | 2013-12-05 | Canon Inc | 記録装置、検知方法およびプログラム |
| JP2020101586A (ja) * | 2018-12-19 | 2020-07-02 | 株式会社リコー | トナー残量検出装置、画像形成装置及びトナー残量検出方法 |
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