JPH0561590B2 - - Google Patents
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- JPH0561590B2 JPH0561590B2 JP62294154A JP29415487A JPH0561590B2 JP H0561590 B2 JPH0561590 B2 JP H0561590B2 JP 62294154 A JP62294154 A JP 62294154A JP 29415487 A JP29415487 A JP 29415487A JP H0561590 B2 JPH0561590 B2 JP H0561590B2
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は超音波探傷器において、表示部に表示
された反射波のうちの特定のものにマークを付与
する超音波探傷器のマーク表示装置に関する。
された反射波のうちの特定のものにマークを付与
する超音波探傷器のマーク表示装置に関する。
超音波探傷器は、物体内部の傷の存在の有無を
当該物体を破壊することなく検査する装置として
良く知られている。この超音波探傷器を図により
説明する。
当該物体を破壊することなく検査する装置として
良く知られている。この超音波探傷器を図により
説明する。
第18図は従来の超音波探傷器のブロツク図で
ある。図で、1は被検査物体、1fは被検査物体
1内に存在する欠陥を示す。2は被検査物体1内
に超音波を放射するとともに、反射してきた超音
波に比例した電気信号を出力する超音波探触子で
ある。3は超音波探傷器であり、超音波探触子2
に対して超音波発生パルスを出力し、かつ、超音
波探触子2からの信号を受信し、この信号の波形
を表示する。
ある。図で、1は被検査物体、1fは被検査物体
1内に存在する欠陥を示す。2は被検査物体1内
に超音波を放射するとともに、反射してきた超音
波に比例した電気信号を出力する超音波探触子で
ある。3は超音波探傷器であり、超音波探触子2
に対して超音波発生パルスを出力し、かつ、超音
波探触子2からの信号を受信し、この信号の波形
を表示する。
超音波探傷器3は次の各要素で構成されてい
る。即ち、4は超音波探傷器3の動作に時間的規
制を与える信号電圧を発生する同期回路、5は同
期回路4の信号により超音波探触子2に超音波発
生のためのパルスを出力する送信部である。6′
は超音波探触子2からの信号を受信する受信部で
あり、抵抗器で構成される分圧器の組合せより成
る減衰回路6a、および増幅回路6b′で構成され
る。7は増幅回路6b′からの信号を整流する検波
回路、8は垂直軸増幅回路である。
る。即ち、4は超音波探傷器3の動作に時間的規
制を与える信号電圧を発生する同期回路、5は同
期回路4の信号により超音波探触子2に超音波発
生のためのパルスを出力する送信部である。6′
は超音波探触子2からの信号を受信する受信部で
あり、抵抗器で構成される分圧器の組合せより成
る減衰回路6a、および増幅回路6b′で構成され
る。7は増幅回路6b′からの信号を整流する検波
回路、8は垂直軸増幅回路である。
9は同期回路4からの同期信号により三角波を
発生する掃引回路、10は掃引回路9の三角波信
号を増幅する増幅回路である。11は超音波探触
子2からの信号波形を表示する表示部であり、横
軸は増幅回路10から出力される三角波で定まる
時間軸とされ、縦軸は垂直軸増幅回路8から出力
される信号の大きさとされる。表示部11として
は陰極線管が用いられ、その表面にはスケールが
表示されている。12は被検査物体1において、
その表面からの検査すべき範囲(測定範囲)を設
定する測定範囲設定部である。13は掃引開始信
号に遅れ時間をもたせて表示部11に表示される
波形の位置を平行移動させる遅延時間設定部であ
る。
発生する掃引回路、10は掃引回路9の三角波信
号を増幅する増幅回路である。11は超音波探触
子2からの信号波形を表示する表示部であり、横
軸は増幅回路10から出力される三角波で定まる
時間軸とされ、縦軸は垂直軸増幅回路8から出力
される信号の大きさとされる。表示部11として
は陰極線管が用いられ、その表面にはスケールが
表示されている。12は被検査物体1において、
その表面からの検査すべき範囲(測定範囲)を設
定する測定範囲設定部である。13は掃引開始信
号に遅れ時間をもたせて表示部11に表示される
波形の位置を平行移動させる遅延時間設定部であ
る。
次に、上記従来の超音波探傷器の動作の概略を
説明する。同期回路4からの信号電圧により送信
部5からパルスが出力されると、超音波探触子2
はこのパルスにより励起されて被検査物体1に対
して超音波を放射する。放射された超音波の一部
は被検査物体1の表面から直ちに超音波探触子2
に戻り、他は被検査物体1内を伝播し、被検査物
体1の底部に達し、ここで反射されて超音波探触
子2に戻る。一方、被検査物体1に欠陥1fが存
在すると、超音波は当該欠陥1fにおいても反射
されて超音波探触子2に戻る。これら超音波探触
子2に戻つた超音波は超音波探触子2をその大き
さに比例して励起し、超音波探触子2からはこれ
に応じた電気信号が出力される。
説明する。同期回路4からの信号電圧により送信
部5からパルスが出力されると、超音波探触子2
はこのパルスにより励起されて被検査物体1に対
して超音波を放射する。放射された超音波の一部
は被検査物体1の表面から直ちに超音波探触子2
に戻り、他は被検査物体1内を伝播し、被検査物
体1の底部に達し、ここで反射されて超音波探触
子2に戻る。一方、被検査物体1に欠陥1fが存
在すると、超音波は当該欠陥1fにおいても反射
されて超音波探触子2に戻る。これら超音波探触
子2に戻つた超音波は超音波探触子2をその大き
さに比例して励起し、超音波探触子2からはこれ
に応じた電気信号が出力される。
この信号は減衰回路6aに入力され、処理に適
した大きさに調節され、増幅回路6b′を経て検波
回路7に入力される。検波回路7は表示部11の
表示を片振り指示とするため、入力信号を整流す
る。この際、当該信号に混入している雑音成分も
除去される。検波回路7の出力信号は垂直軸増幅
回路8を経て表示部11に入力され、その大きさ
が表示部11の縦軸に表される。一方、掃引回路
9は同期回路4の同期信号により三角波電圧を発
生し、この電圧は増幅回路10を経て表示部11
(陰極線管)の偏向電極に印加され、電子ビーム
を掃引する。この掃引と前記垂直軸増幅回路8か
らの入力信号により、表示部11には超音波探触
子2に戻つた反射波の波形が表示される。
した大きさに調節され、増幅回路6b′を経て検波
回路7に入力される。検波回路7は表示部11の
表示を片振り指示とするため、入力信号を整流す
る。この際、当該信号に混入している雑音成分も
除去される。検波回路7の出力信号は垂直軸増幅
回路8を経て表示部11に入力され、その大きさ
が表示部11の縦軸に表される。一方、掃引回路
9は同期回路4の同期信号により三角波電圧を発
生し、この電圧は増幅回路10を経て表示部11
(陰極線管)の偏向電極に印加され、電子ビーム
を掃引する。この掃引と前記垂直軸増幅回路8か
らの入力信号により、表示部11には超音波探触
子2に戻つた反射波の波形が表示される。
このような超音波探傷器3を用いた探傷におい
て、表示部11に表示される反射波の波形は、被
検査物体1と超音波探触子2との接触状態の如何
によつて変化する。これを避けるため、通常、水
浸法が採用されている。第19図は当該水浸法を
説明する断面図である。図で、1は被検査物体、
1fは欠陥、2は超音波探触子であり、これらは
第18図に示すものと同じである。15は水槽、
16は水槽15内の水を示す。被検査物体1は水
槽15に沈められ、超音波探触子2は被検査物体
1と水16を介して対向せしめられる。超音波探
触子2からの超音波は水16を経て被検査物体1
に射入し、被検査物体1の各部からの反射波は水
16を経て超音波探触子2に入力されるので、表
示部11には安定した波形が表示されることにな
る。
て、表示部11に表示される反射波の波形は、被
検査物体1と超音波探触子2との接触状態の如何
によつて変化する。これを避けるため、通常、水
浸法が採用されている。第19図は当該水浸法を
説明する断面図である。図で、1は被検査物体、
1fは欠陥、2は超音波探触子であり、これらは
第18図に示すものと同じである。15は水槽、
16は水槽15内の水を示す。被検査物体1は水
槽15に沈められ、超音波探触子2は被検査物体
1と水16を介して対向せしめられる。超音波探
触子2からの超音波は水16を経て被検査物体1
に射入し、被検査物体1の各部からの反射波は水
16を経て超音波探触子2に入力されるので、表
示部11には安定した波形が表示されることにな
る。
第20図は表示された反射波の波形図である。
図で、横軸は時間、縦軸は反射波の大きさを示
す。Tは超音波探触子2から超音波が送信された
ときに直ちに反射される送信反射波、Sは被検査
物体1の表面からの反射波、Fは欠陥1fからの
反射波、Bは被検査物体1の底面からの反射波、
Bsは水槽15の底面からの反射波である。なお、
被検査物体1内における超音波の音速は一定であ
るので、横軸(時間軸)は距離を表すことにな
り、この波形図から欠陥1fの位置が判明する。
図で、横軸は時間、縦軸は反射波の大きさを示
す。Tは超音波探触子2から超音波が送信された
ときに直ちに反射される送信反射波、Sは被検査
物体1の表面からの反射波、Fは欠陥1fからの
反射波、Bは被検査物体1の底面からの反射波、
Bsは水槽15の底面からの反射波である。なお、
被検査物体1内における超音波の音速は一定であ
るので、横軸(時間軸)は距離を表すことにな
り、この波形図から欠陥1fの位置が判明する。
ところで、一般に、被検査物体1を探傷する場
合、必ずしもその表面から底面まで全体を検査す
る必要はなく、被検査物体1内のある深さ範囲
(測定範囲)を表示部11に表示し、この範囲を
検査すればよい場合が多い。この場合には、測定
範囲設定部12の粗調用つまみおよび微調用つま
みを操作して波形の拡張、縮小を行い、又、遅延
時間設定部13のつまみを操作して波形の移動を
行うことにより第20図に示す波形図のうちの所
望の測定範囲を表示部11に表示する。これによ
り検査者は注意して検査すべき領域を明確かつ容
易に観察することができ、検査に要する時間や労
力を軽減することができ、より正確な検査を実施
することができる。
合、必ずしもその表面から底面まで全体を検査す
る必要はなく、被検査物体1内のある深さ範囲
(測定範囲)を表示部11に表示し、この範囲を
検査すればよい場合が多い。この場合には、測定
範囲設定部12の粗調用つまみおよび微調用つま
みを操作して波形の拡張、縮小を行い、又、遅延
時間設定部13のつまみを操作して波形の移動を
行うことにより第20図に示す波形図のうちの所
望の測定範囲を表示部11に表示する。これによ
り検査者は注意して検査すべき領域を明確かつ容
易に観察することができ、検査に要する時間や労
力を軽減することができ、より正確な検査を実施
することができる。
ところで、上記超音波探傷器においては、前述
のように測定範囲設定部12および遅延時間設定
部13を操作することにより表示部11に所定の
測定範囲を表示するが、その測定範囲が表面の近
傍、又は底面の近傍である場合、表示部11に常
時反射波S又は反射波Bを表示して欠陥1fの位
置を正確に認識する手段が用いられる。しかしな
がら、観測が一時中断された後再開されたり、観
測中途で観測者が交替するような場合、表示部1
1に表示されている反射波が反射波Sであるのか
反射波Bであるのか、判断できなくなり混乱を生
じる場合がある。このような混乱は、例えば欠陥
1fが複数あり、それらの位置をより正確に観測
するため表示範囲を狭くして表示部11から反射
波S又は反射波Bが外れた場合、波形を移動させ
て再び反射波S又は反射波Bを表示したときにも
生じ、この場合には観測者は被検査物体1のどの
部分を観測しているのか判らなくなる。
のように測定範囲設定部12および遅延時間設定
部13を操作することにより表示部11に所定の
測定範囲を表示するが、その測定範囲が表面の近
傍、又は底面の近傍である場合、表示部11に常
時反射波S又は反射波Bを表示して欠陥1fの位
置を正確に認識する手段が用いられる。しかしな
がら、観測が一時中断された後再開されたり、観
測中途で観測者が交替するような場合、表示部1
1に表示されている反射波が反射波Sであるのか
反射波Bであるのか、判断できなくなり混乱を生
じる場合がある。このような混乱は、例えば欠陥
1fが複数あり、それらの位置をより正確に観測
するため表示範囲を狭くして表示部11から反射
波S又は反射波Bが外れた場合、波形を移動させ
て再び反射波S又は反射波Bを表示したときにも
生じ、この場合には観測者は被検査物体1のどの
部分を観測しているのか判らなくなる。
さらに、誤つてゲインを小さくしてしまい、こ
のため、反射波が表示されるべき位置に表示され
なくなつたような場合、観測者は超音波探傷器に
故障が発生したものと誤認し故障個所を探傷する
ための手間と時間を浪費することになる。
のため、反射波が表示されるべき位置に表示され
なくなつたような場合、観測者は超音波探傷器に
故障が発生したものと誤認し故障個所を探傷する
ための手間と時間を浪費することになる。
さらに又、探傷が上記水浸法によらず、探触子
2を直接被検査物体1に接触して行なわれた場
合、探傷子2の接触が不良であつたり、その接触
面が粗い場合、反射波が得られなくなる場合があ
り、この場合、観測者は接触が良好でないのか、
ゲインが不足しているのか、又は誤つた個所を探
傷しているのか、あるいは超音波探傷器が故障し
ているのか判断できなくなる。
2を直接被検査物体1に接触して行なわれた場
合、探傷子2の接触が不良であつたり、その接触
面が粗い場合、反射波が得られなくなる場合があ
り、この場合、観測者は接触が良好でないのか、
ゲインが不足しているのか、又は誤つた個所を探
傷しているのか、あるいは超音波探傷器が故障し
ているのか判断できなくなる。
以上のような欠点は、すべて反射波S,Bを確
認できないことに起因するものであり、これを確
認できれば解消されるものと考えられる。
認できないことに起因するものであり、これを確
認できれば解消されるものと考えられる。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもの
であり、その目的は、上記従来技術の問題点を解
決し、所定の反射波を確実に認識することができ
る超音波探傷器を提供するにある。
であり、その目的は、上記従来技術の問題点を解
決し、所定の反射波を確実に認識することができ
る超音波探傷器を提供するにある。
上記の目的を達成するため、本発明は、反射波
S,B等に所望の符号を付与するものであり、そ
のために、受信部で得られた信号をデイジタル的
に処理する構成とされる。即ち、本発明は、超音
波探触子に対して所定のパルスを出力する送信部
と、前記超音波探触子からの信号を受信する受信
部と、この受信部で受信された信号に基づいて当
該信号の波形を表示する表示部とを備えた超音波
探傷器において、前記受信部で受信された入力信
号を所定のサンプリング周期で順次アドレスに記
憶する波形メモリと、前記表示部に表示するデー
タを記憶する表示メモリと、前記表示部に表示す
べき測定範囲に応じて前記波形メモリのアドレス
を選択する選択手段と、この選択手段により選択
されたアドレスのデータを対応する前記表示メモ
リのアドレスに移送するデータ移送手段と、前記
表示メモリのデータを前記表示部に表示する波形
表示手段と、表示された反射波のうち所定の反射
波を選択する反射波選択手段と、選択された反射
波の距離を演算する演算手段と、演算された距離
に対応する前記表示メモリのアドレスを決定する
アドレス決定手段と、決定されたアドレスに対応
する前記表示部の位置に所定のマークを表示する
マーク表示手段とを設けたことを特徴とする。
S,B等に所望の符号を付与するものであり、そ
のために、受信部で得られた信号をデイジタル的
に処理する構成とされる。即ち、本発明は、超音
波探触子に対して所定のパルスを出力する送信部
と、前記超音波探触子からの信号を受信する受信
部と、この受信部で受信された信号に基づいて当
該信号の波形を表示する表示部とを備えた超音波
探傷器において、前記受信部で受信された入力信
号を所定のサンプリング周期で順次アドレスに記
憶する波形メモリと、前記表示部に表示するデー
タを記憶する表示メモリと、前記表示部に表示す
べき測定範囲に応じて前記波形メモリのアドレス
を選択する選択手段と、この選択手段により選択
されたアドレスのデータを対応する前記表示メモ
リのアドレスに移送するデータ移送手段と、前記
表示メモリのデータを前記表示部に表示する波形
表示手段と、表示された反射波のうち所定の反射
波を選択する反射波選択手段と、選択された反射
波の距離を演算する演算手段と、演算された距離
に対応する前記表示メモリのアドレスを決定する
アドレス決定手段と、決定されたアドレスに対応
する前記表示部の位置に所定のマークを表示する
マーク表示手段とを設けたことを特徴とする。
受信部で受信された信号はデイジタル信号とし
て波形メモリに記憶される。そして、測定範囲に
応じて波形メモリに記憶されたデータのうちの所
定のデータが表示メモリに移され、表示メモリの
データが波形表示手段により表示部に表示され
る。次いで、表示された反射波のうちの所定のも
のを選択し、その反射波のピーク値の距離を演算
する。そして、この距離に基づいて表示メモリの
当該距離に該当するアドレスを求め、このアドレ
スに対応する表示部の表示面に所定のマークを表
示する。
て波形メモリに記憶される。そして、測定範囲に
応じて波形メモリに記憶されたデータのうちの所
定のデータが表示メモリに移され、表示メモリの
データが波形表示手段により表示部に表示され
る。次いで、表示された反射波のうちの所定のも
のを選択し、その反射波のピーク値の距離を演算
する。そして、この距離に基づいて表示メモリの
当該距離に該当するアドレスを求め、このアドレ
スに対応する表示部の表示面に所定のマークを表
示する。
以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明す
る。
る。
第1図は本発明の実施例に係る超音波探傷器の
ブロツク図である。図で、第18図に示す部分と
同一部分には同一符号を付して説明を省略する。
なお、超音波探傷器においては、反射波を検波し
て表示する場合と、検波せずに表示する場合とが
あるが、いづれの場合でも本発明は適用可能であ
る。従つて、以下では、第18図での増幅器6
b′と検波回路7とを合わせたものを増幅回路6b
として受信部6を構成し検波を行なつた実施例を
示す。21は本実施例の超音波探傷器を示す。こ
の超音波探傷器21は次の各要素により構成され
ている。即ち、22は受信部6の出力信号をデイ
ジタル値に変換するA/D変換部、23はA/D
変換部22で変換された値を記憶する波形メモ
リ、24は波形メモリ23の各アドレスを順に指
定してゆくアドレスカウンタである。25はタイ
ミング回路であり、送信部5、A/D変換部22
およびアドレスカウンタ24へそれぞれ起動信号
を与える。このタイミング回路25の発振には水
晶発振子が用いられる。
ブロツク図である。図で、第18図に示す部分と
同一部分には同一符号を付して説明を省略する。
なお、超音波探傷器においては、反射波を検波し
て表示する場合と、検波せずに表示する場合とが
あるが、いづれの場合でも本発明は適用可能であ
る。従つて、以下では、第18図での増幅器6
b′と検波回路7とを合わせたものを増幅回路6b
として受信部6を構成し検波を行なつた実施例を
示す。21は本実施例の超音波探傷器を示す。こ
の超音波探傷器21は次の各要素により構成され
ている。即ち、22は受信部6の出力信号をデイ
ジタル値に変換するA/D変換部、23はA/D
変換部22で変換された値を記憶する波形メモ
リ、24は波形メモリ23の各アドレスを順に指
定してゆくアドレスカウンタである。25はタイ
ミング回路であり、送信部5、A/D変換部22
およびアドレスカウンタ24へそれぞれ起動信号
を与える。このタイミング回路25の発振には水
晶発振子が用いられる。
26は所要の演算、制御を行うCPU(中央処理
装置)、27は演算のためのパラメータやデータ
等を一時記憶するRAM(ランダム・アスセス・
メモリ)、28はCPU26の処理手順を記憶する
ROM(リード・オンリ・メモリ)である。30
は被検査物体1内を超音波が伝播する速度(音
速)その他の値を入力するキーボード入力部であ
る。31は液晶表示部、32はCPU26の演算、
制御の結果得られたデータに基づいて液晶表示部
31の表示を制御する表示部コントローラであ
る。32mは表示部コントローラ32に設けられ
た表示メモリであり、この表示メモリ32mには
液晶表示部31に表示するデータが格納される。
表示メモリ32mのアドレスの数は、液晶表示部
31における横方向に配列された液晶ドツトの数
と同数である。33はマーク設定部であり、反射
波にマークを付するために用いられる。このマー
ク設定部は第2図を用いてさらに後述する。34
は表示部31にカーソルを表示する場合、当該カ
ーソルの始点位置を定めるカーソル始点設定部、
35は当該カーソルの幅を指示するカーソル幅設
定部である。36は表示部31に波形を表示する
場合の表示始点を設定する表示始点設定部、37
は測定範囲を定める測定範囲設定部である。38
は文字を選択して設定する文字設定部である。
装置)、27は演算のためのパラメータやデータ
等を一時記憶するRAM(ランダム・アスセス・
メモリ)、28はCPU26の処理手順を記憶する
ROM(リード・オンリ・メモリ)である。30
は被検査物体1内を超音波が伝播する速度(音
速)その他の値を入力するキーボード入力部であ
る。31は液晶表示部、32はCPU26の演算、
制御の結果得られたデータに基づいて液晶表示部
31の表示を制御する表示部コントローラであ
る。32mは表示部コントローラ32に設けられ
た表示メモリであり、この表示メモリ32mには
液晶表示部31に表示するデータが格納される。
表示メモリ32mのアドレスの数は、液晶表示部
31における横方向に配列された液晶ドツトの数
と同数である。33はマーク設定部であり、反射
波にマークを付するために用いられる。このマー
ク設定部は第2図を用いてさらに後述する。34
は表示部31にカーソルを表示する場合、当該カ
ーソルの始点位置を定めるカーソル始点設定部、
35は当該カーソルの幅を指示するカーソル幅設
定部である。36は表示部31に波形を表示する
場合の表示始点を設定する表示始点設定部、37
は測定範囲を定める測定範囲設定部である。38
は文字を選択して設定する文字設定部である。
第2図は第1図に示すマーク設定部33におけ
るキースイツチの配置図である。本実施例におい
て、マーク設定部33のキースイツチは、0〜9
までの10個の数字キースイツチ33a、「マーク」
の表示があるマークキースイツチ33b、および
「セツト」の表示があるセツトキースイツチ33
cで構成されている。マークキースイツチ33b
はマークを設定する処理動作を起動する機能を有
し、又、セツトキースイツチ33cは入力終了の
信号を出力する機能を有する。
るキースイツチの配置図である。本実施例におい
て、マーク設定部33のキースイツチは、0〜9
までの10個の数字キースイツチ33a、「マーク」
の表示があるマークキースイツチ33b、および
「セツト」の表示があるセツトキースイツチ33
cで構成されている。マークキースイツチ33b
はマークを設定する処理動作を起動する機能を有
し、又、セツトキースイツチ33cは入力終了の
信号を出力する機能を有する。
次に、本実施例の動作を説明する。本実施例に
おいては、第1図およびその説明からも判るよう
に、受信部6で受信された超音波信号波形はデイ
ジタル的に処理されて波形メモリ23へ入力され
(波形メモリ入力手段)、入力された信号は測定始
点設定部36および測定範囲設定部37により所
望の範囲の信号が選択されて液晶表示部31に表
示され(測定範囲表示手段)、表示された信号波
形のうちの所定の反射波をカーソル始点設定部3
4、カーソル幅設定部35を操作してカーソルで
選択し(カーソル表示手段)、選択された反射波
にマーク設定部33および文字設定部38により
所望のマークを付与する(マーク付与手段)とい
う動作が実行される。以下、上記波形メモリ入力
手段、測定範囲表示手段、カーソル表示手段およ
びマーク付与手段について説明する。
おいては、第1図およびその説明からも判るよう
に、受信部6で受信された超音波信号波形はデイ
ジタル的に処理されて波形メモリ23へ入力され
(波形メモリ入力手段)、入力された信号は測定始
点設定部36および測定範囲設定部37により所
望の範囲の信号が選択されて液晶表示部31に表
示され(測定範囲表示手段)、表示された信号波
形のうちの所定の反射波をカーソル始点設定部3
4、カーソル幅設定部35を操作してカーソルで
選択し(カーソル表示手段)、選択された反射波
にマーク設定部33および文字設定部38により
所望のマークを付与する(マーク付与手段)とい
う動作が実行される。以下、上記波形メモリ入力
手段、測定範囲表示手段、カーソル表示手段およ
びマーク付与手段について説明する。
() 波形メモリ入力手段
まず最初に波形メモリ23へのデータの格納
動作を第3図に示す反射波の波形図、第4図に
示す波形メモリ23のブロツク図を参照しなが
ら説明する。タイミング回路25から送信部5
へトリガ信号が出力されると、送信部5は超音
波探触子2にパルスを出力し、超音波探触子2
から被検査物体1内に超音波が放射される。こ
の超音波の反射波は超音波探触子2により電気
信号に変換され、この信号は受信部6で受信さ
れる。受信部6は、受信した反射波信号を以後
の処理に適した値として出力する。この出力さ
れた反射波信号は、所定のサンプリング周期毎
にA/D変換部22においてデイジタル値に変
換され、この変換された値は順次波形メモリ2
3に記憶される。この記憶は、アドレスカウン
タ24が波形メモリ23のアドレスを順次指定
することによりなされる。反射波信号のサンプ
リング、波形メモリ23のアドレス指定はタイ
ミング回路25から出力される起動信号により
実行される。このような反射波信号のサンプリ
ングと、そのデイジタル値の波形メモリ23へ
の収容を第3図および第4図により説明する。
動作を第3図に示す反射波の波形図、第4図に
示す波形メモリ23のブロツク図を参照しなが
ら説明する。タイミング回路25から送信部5
へトリガ信号が出力されると、送信部5は超音
波探触子2にパルスを出力し、超音波探触子2
から被検査物体1内に超音波が放射される。こ
の超音波の反射波は超音波探触子2により電気
信号に変換され、この信号は受信部6で受信さ
れる。受信部6は、受信した反射波信号を以後
の処理に適した値として出力する。この出力さ
れた反射波信号は、所定のサンプリング周期毎
にA/D変換部22においてデイジタル値に変
換され、この変換された値は順次波形メモリ2
3に記憶される。この記憶は、アドレスカウン
タ24が波形メモリ23のアドレスを順次指定
することによりなされる。反射波信号のサンプ
リング、波形メモリ23のアドレス指定はタイ
ミング回路25から出力される起動信号により
実行される。このような反射波信号のサンプリ
ングと、そのデイジタル値の波形メモリ23へ
の収容を第3図および第4図により説明する。
第3図は反射波信号の波形図である。図で、
横軸には時間が、縦軸には反射波信号の大きさ
(電圧)がとつてある。T,Fは第20図に示
すものと同じ反射波を示す。なお、第3図では
横軸のみが極端に拡大して描かれている。次
に、第4図は波形メモリ23のブロツク図であ
る。縦列に並べて示された各ブロツクは波形メ
モリ23におけるデータの収容部を意味し、各
収容部に記載されたD(0),D(1),……D(o-1),
D(o),D(o+1)……はA/D変換部22でデイジ
タル値に変換された反射波信号のデータであ
る。これらデータを一般形としてD(i)で表わす。
又、各収容部の左側に記載された符号AM(0),
AM(1),……AM(o-1),AM(o),AM(o+1)……は対応
する収容部のアドレスを示す。これらアドレス
を一般形としてAM(i)で表わす。
横軸には時間が、縦軸には反射波信号の大きさ
(電圧)がとつてある。T,Fは第20図に示
すものと同じ反射波を示す。なお、第3図では
横軸のみが極端に拡大して描かれている。次
に、第4図は波形メモリ23のブロツク図であ
る。縦列に並べて示された各ブロツクは波形メ
モリ23におけるデータの収容部を意味し、各
収容部に記載されたD(0),D(1),……D(o-1),
D(o),D(o+1)……はA/D変換部22でデイジ
タル値に変換された反射波信号のデータであ
る。これらデータを一般形としてD(i)で表わす。
又、各収容部の左側に記載された符号AM(0),
AM(1),……AM(o-1),AM(o),AM(o+1)……は対応
する収容部のアドレスを示す。これらアドレス
を一般形としてAM(i)で表わす。
今、第3図に示す時刻t0において、タイミン
グ回路25からA/D変換部22およびアドレ
スカウンタ24に起動信号が出力されると、
A/D変換部22ではそのときの反射波Tの電
圧をA/D変換してデータD(0)を得る。又、ア
ドレスカウンタ24は波形メモリ23のアドレ
スAM(0)を指定する。この結果、データD(0)は波
形メモリ23のアドレスAM(0)に収容される。
次いで、時間τs経過後の時刻t1において、タイ
ミング回路25から再びA/D変換部22およ
びアドレスカウンタ24に起動信号が出力され
ると、同じくそのときの反射波Tの電圧がA/
D変換部22で変換されてD(1)が得られ、アド
レスカウンタ24は次のアドレスAM(1)を指定
するので、波形メモリ23のアドレスAM(1)に
データD(1)が収容される。この場合、時間τsが
サンプリング時間(例えば50ns)となる。以
下、同様にして反射波T,S,F,Bs……の
データが波形メモリ23に記憶されることにな
る。
グ回路25からA/D変換部22およびアドレ
スカウンタ24に起動信号が出力されると、
A/D変換部22ではそのときの反射波Tの電
圧をA/D変換してデータD(0)を得る。又、ア
ドレスカウンタ24は波形メモリ23のアドレ
スAM(0)を指定する。この結果、データD(0)は波
形メモリ23のアドレスAM(0)に収容される。
次いで、時間τs経過後の時刻t1において、タイ
ミング回路25から再びA/D変換部22およ
びアドレスカウンタ24に起動信号が出力され
ると、同じくそのときの反射波Tの電圧がA/
D変換部22で変換されてD(1)が得られ、アド
レスカウンタ24は次のアドレスAM(1)を指定
するので、波形メモリ23のアドレスAM(1)に
データD(1)が収容される。この場合、時間τsが
サンプリング時間(例えば50ns)となる。以
下、同様にして反射波T,S,F,Bs……の
データが波形メモリ23に記憶されることにな
る。
() 測定範囲表示手段
上記のようにして波形メモリ23に記憶され
た波形のデータは、それらのすべてが表示に用
いられるのではなく、所望の測定範囲のデータ
のみが表示に用いられる。即ち、当該データの
うちの所要のデータが選択されて表示部コント
ローラ32の表示メモリ32mに入力され、こ
れら入力されたデータに基づいて表示が行なわ
れることになる。
た波形のデータは、それらのすべてが表示に用
いられるのではなく、所望の測定範囲のデータ
のみが表示に用いられる。即ち、当該データの
うちの所要のデータが選択されて表示部コント
ローラ32の表示メモリ32mに入力され、こ
れら入力されたデータに基づいて表示が行なわ
れることになる。
ここで、まず波形メモリ23、液晶表示部3
1、コントローラ32、表示メモリ32mの関
係の概略について説明する。液晶表示部31は
横方向において、ある数の液晶ドツトが配列さ
れており、又、表示部コントローラ32には前
述のように当該配列の数と同数のアドレスを有
する表示メモリ32mが設けられている。今、
仮に液晶ドツトの配列の数を200とすると、表
示メモリ32mのアドレス{これをAL(j)で表
す}の数は、アドレスAL(0)からアドレスAL(199)
までの200となる。又、波形メモリ23のアド
レスAM(i)のうち、反射波T,S,F,B,Bs
までが格納されているアドレスの数を例えば
1000とする。一方、表示メモリの数は200であ
るので、全ての領域を表示するためには、表示
するデータを間引く必要がある。そこで、上記
1000のアドレス{アドレスAM(0)〜AM(999)}の
うち5番目毎のアドレス{アドレスAM(0),
AM(5),AM(10)……AM(990)}を表示メモリ32m
のアドレスAL(j)に対応させ、そのデータを表示
メモリ32mの当該アドレスに転送し、表示部
コントローラ32によりこれらのデータを液晶
表示部31に表示すれば各反射波T〜Bsを表
示することができる。
1、コントローラ32、表示メモリ32mの関
係の概略について説明する。液晶表示部31は
横方向において、ある数の液晶ドツトが配列さ
れており、又、表示部コントローラ32には前
述のように当該配列の数と同数のアドレスを有
する表示メモリ32mが設けられている。今、
仮に液晶ドツトの配列の数を200とすると、表
示メモリ32mのアドレス{これをAL(j)で表
す}の数は、アドレスAL(0)からアドレスAL(199)
までの200となる。又、波形メモリ23のアド
レスAM(i)のうち、反射波T,S,F,B,Bs
までが格納されているアドレスの数を例えば
1000とする。一方、表示メモリの数は200であ
るので、全ての領域を表示するためには、表示
するデータを間引く必要がある。そこで、上記
1000のアドレス{アドレスAM(0)〜AM(999)}の
うち5番目毎のアドレス{アドレスAM(0),
AM(5),AM(10)……AM(990)}を表示メモリ32m
のアドレスAL(j)に対応させ、そのデータを表示
メモリ32mの当該アドレスに転送し、表示部
コントローラ32によりこれらのデータを液晶
表示部31に表示すれば各反射波T〜Bsを表
示することができる。
さて、以上の関係を基にして、次に所望の測
定範囲の波形表示の動作を第5図に示す波形図
および第6図に示すフローチヤートを参照しな
がら説明する。第5図で、T,S,F,B,
Bsは第20図に示すものと同じ反射波の波形
である。一点鎖線で囲まれている部分31Aは
液晶表示部31に表示されるべき所望の測定範
囲である。又、測定範囲31Aは液晶表示部3
1のうち波形表示をする領域である。さらに、
CS,CEはそれぞれ液晶表示部31に表示され
る前カーソルおよび後カーソルである。31B
はこれら前カーソルCSと後カーソルCEとで挟
まれる領域を示し、測定範囲31A内において
選択される。X1,X2,X3は後述する距離lS,
lR,lEとを画面上に表示する位置を示す。これ
ら前カーソルCSおよび後カーソルCEについて
は後述する()カーソル表示手段の項におい
て説明する。第5図に示される状態は、両カー
ソルCS,CEに挟まれた領域31Bをはさんで
その両側近辺の部分の測定範囲lRの領域が液晶
表示部31に表示されている状態を模式的に示
したものである。ここで、図示されている寸法
(距離)について述べる。
定範囲の波形表示の動作を第5図に示す波形図
および第6図に示すフローチヤートを参照しな
がら説明する。第5図で、T,S,F,B,
Bsは第20図に示すものと同じ反射波の波形
である。一点鎖線で囲まれている部分31Aは
液晶表示部31に表示されるべき所望の測定範
囲である。又、測定範囲31Aは液晶表示部3
1のうち波形表示をする領域である。さらに、
CS,CEはそれぞれ液晶表示部31に表示され
る前カーソルおよび後カーソルである。31B
はこれら前カーソルCSと後カーソルCEとで挟
まれる領域を示し、測定範囲31A内において
選択される。X1,X2,X3は後述する距離lS,
lR,lEとを画面上に表示する位置を示す。これ
ら前カーソルCSおよび後カーソルCEについて
は後述する()カーソル表示手段の項におい
て説明する。第5図に示される状態は、両カー
ソルCS,CEに挟まれた領域31Bをはさんで
その両側近辺の部分の測定範囲lRの領域が液晶
表示部31に表示されている状態を模式的に示
したものである。ここで、図示されている寸法
(距離)について述べる。
lS:始点(本例では、表面からの反射波Sのピ
ーク位置)から測定範囲31A左端までの距
離 lR:測定範囲31Aの幅と対応する距離 lCS:測定範囲31Aの左端から前記前カーソ
ルCSまでの距離 lCE:測定範囲31Aの左端から後カーソルCE
までの距離 lW:前カーソルCSと後カーソルCEとの間の領域
31Bの幅(カーソル幅) ここで、距離lSの始点について説明する。この
始点(lS=0)は本実施例では波形メモリ23
にデータの格納を開始した時点(送信パルス出
力とデータ格納開始を同時に行なうものと想定
する。)からの経過時間と音速(既知)とから
計算により求める手法がとられる。なお、この
ような距離計算の始点は、本実施例のように反
射波Sの位置に限ることはなく、任意の位置に
設定することができる。その場合には、対応す
る波形メモリ23のアドレスを本実施例の表示
メモリ32mの先頭アドレスに対応させればよ
い。以下の説明では、波形メモリ23の先頭ア
ドレスに対応する位置が距離0とされている。
ーク位置)から測定範囲31A左端までの距
離 lR:測定範囲31Aの幅と対応する距離 lCS:測定範囲31Aの左端から前記前カーソ
ルCSまでの距離 lCE:測定範囲31Aの左端から後カーソルCE
までの距離 lW:前カーソルCSと後カーソルCEとの間の領域
31Bの幅(カーソル幅) ここで、距離lSの始点について説明する。この
始点(lS=0)は本実施例では波形メモリ23
にデータの格納を開始した時点(送信パルス出
力とデータ格納開始を同時に行なうものと想定
する。)からの経過時間と音速(既知)とから
計算により求める手法がとられる。なお、この
ような距離計算の始点は、本実施例のように反
射波Sの位置に限ることはなく、任意の位置に
設定することができる。その場合には、対応す
る波形メモリ23のアドレスを本実施例の表示
メモリ32mの先頭アドレスに対応させればよ
い。以下の説明では、波形メモリ23の先頭ア
ドレスに対応する位置が距離0とされている。
次いで、液晶表示部31に上記第5図に示す
ような波形表示を行う場合の動作を以下に説明
する。最初に、キーボード入力部30に被検査
物体1内を超音波が伝播する音速(この音速を
VSとする)を入力し、又、測定始点設定部3
6および測定範囲設定部37により、それぞれ
始点から測定領域左端までの距離lS、及び測定
範囲31Aの幅lRを入力する。又、前記表示メ
モリ32mのアドレスAL(j)の数は液晶表示部3
1に応じて定められた値であり、予め記憶され
ている。このアドレスAL(j)の数(前記原点設定
の説明では200個として例示されている)をKL
で表す。
ような波形表示を行う場合の動作を以下に説明
する。最初に、キーボード入力部30に被検査
物体1内を超音波が伝播する音速(この音速を
VSとする)を入力し、又、測定始点設定部3
6および測定範囲設定部37により、それぞれ
始点から測定領域左端までの距離lS、及び測定
範囲31Aの幅lRを入力する。又、前記表示メ
モリ32mのアドレスAL(j)の数は液晶表示部3
1に応じて定められた値であり、予め記憶され
ている。このアドレスAL(j)の数(前記原点設定
の説明では200個として例示されている)をKL
で表す。
上記測定始点設定部36および測定範囲設定
部37はそれぞれロータリスイツチで構成され
ており、一方向、例えば時計方向(正方向)の
単位角度の回動により定められた単位数値Δl
が現在値に加算され、逆方向(負方向)の単位
角度の回動により減算される。このような加
算、減算は各ロータリスイツチの操作量を
CPU26が読込むことにより行なわれ、これ
により測定始点設定部36に距離lSが、又、測
定範囲設定部37に距離lRがそれぞれ設定さ
れ、これらの値lS,lRにより始点から測定範囲
終点までの距離lE(lE=lS+lR)が決定される。
これらの数値lS,lR,lEは第5図に示す位置X1,
X2,X3にそれぞれ表示される。
部37はそれぞれロータリスイツチで構成され
ており、一方向、例えば時計方向(正方向)の
単位角度の回動により定められた単位数値Δl
が現在値に加算され、逆方向(負方向)の単位
角度の回動により減算される。このような加
算、減算は各ロータリスイツチの操作量を
CPU26が読込むことにより行なわれ、これ
により測定始点設定部36に距離lSが、又、測
定範囲設定部37に距離lRがそれぞれ設定さ
れ、これらの値lS,lRにより始点から測定範囲
終点までの距離lE(lE=lS+lR)が決定される。
これらの数値lS,lR,lEは第5図に示す位置X1,
X2,X3にそれぞれ表示される。
上記各数値vS,lS,lR,KLが定まると、CPU
26はROM28に記憶されている手順にした
がつてこれら数値を順次読込む(第6図に示す
手順P11)。
26はROM28に記憶されている手順にした
がつてこれら数値を順次読込む(第6図に示す
手順P11)。
次いで、液晶表示部31の測定範囲31Aの
範囲に波形を表示するには、波形メモリ23に
記憶されているデータをどのようにとり出せば
よいかが演算により求められる(手順P12)。以
下、この演算について説明する。
範囲に波形を表示するには、波形メモリ23に
記憶されているデータをどのようにとり出せば
よいかが演算により求められる(手順P12)。以
下、この演算について説明する。
波形メモリ23には、前述のように反射波T
以下の反射波のデータが記憶されている。しか
し、前述のようにこの中で必要とされるのはこ
れら測定範囲31A内のデータであり、これら
測定範囲31A内のデータを液晶表示部31に
表示すればよいことになる。そこで、上記演算
は、測定範囲31A内のデータを液晶表示部3
1に表示するには、波形メモリ23における測
定範囲内のデータを記憶するアドレスをどのよ
うに選択すればよいかを決定するための演算で
あるということになる。
以下の反射波のデータが記憶されている。しか
し、前述のようにこの中で必要とされるのはこ
れら測定範囲31A内のデータであり、これら
測定範囲31A内のデータを液晶表示部31に
表示すればよいことになる。そこで、上記演算
は、測定範囲31A内のデータを液晶表示部3
1に表示するには、波形メモリ23における測
定範囲内のデータを記憶するアドレスをどのよ
うに選択すればよいかを決定するための演算で
あるということになる。
例えば、被検査物体1の表面と底面との距離
即ち反射波Sと反射波Bとの距離をLSB、その
間のデータを格納する波形メモリ23のアドレ
スの数をΔK、反射波Sが受信されてから反射
波Bが受信されるまでの時間をtとすると次式
が成立する。
即ち反射波Sと反射波Bとの距離をLSB、その
間のデータを格納する波形メモリ23のアドレ
スの数をΔK、反射波Sが受信されてから反射
波Bが受信されるまでの時間をtとすると次式
が成立する。
2LSB=VS・t=VS・ΔK・τS ……(1)
ΔK=2LSB/VS・τS ……(2)
即ち、被検査物体1の距離LSBのデータを格
納する波形メモリ23のアドレスの数ΔKは上
記(2)式で表されることになる。したがつて、距
離lRの測定範囲31Aにおけるアドレスの数
ΔK′は ΔK′=2lR/VS・τS ……(3) となる。この(3)式で、2/VS・τS=βとする
と、 ΔK′=βlR ……(4) となる。
納する波形メモリ23のアドレスの数ΔKは上
記(2)式で表されることになる。したがつて、距
離lRの測定範囲31Aにおけるアドレスの数
ΔK′は ΔK′=2lR/VS・τS ……(3) となる。この(3)式で、2/VS・τS=βとする
と、 ΔK′=βlR ……(4) となる。
測定範囲31Aを液晶表示部31いつぱいに
表示するには、波形メモリ23における上記ア
ドレスの数ΔK′を構成する各アドレスから表示
メモリ23mのアドレスの数KLだけ選択して
表示メモリ23mのアドレスAL(j)に対応させて
やればよい。そこで、数ΔK′と数KLの比率α
をとると、 α=KL/ΔK′=VS・τS/2lRKL ……(5) となる。即ち、波形メモリ23のアドレスAM(i)
から1/α毎に選択して表示メモリ32mのア
ドレスAL(j)に対応させればよい。
表示するには、波形メモリ23における上記ア
ドレスの数ΔK′を構成する各アドレスから表示
メモリ23mのアドレスの数KLだけ選択して
表示メモリ23mのアドレスAL(j)に対応させて
やればよい。そこで、数ΔK′と数KLの比率α
をとると、 α=KL/ΔK′=VS・τS/2lRKL ……(5) となる。即ち、波形メモリ23のアドレスAM(i)
から1/α毎に選択して表示メモリ32mのア
ドレスAL(j)に対応させればよい。
一方、反射波Sのピーク点(始点)から距離
lSにある測定領域の左端の波形メモリ23のア
ドレスは、当該ピーク点のアドレスがAM(S)で
あること、および距離lS間にあるアドレスの数
が(4)式よりαlSであることから、AM(S+〓lS)である
ことが判る。したがつて、測定範囲31Aを表
示するためには、波形メモリ23のアドレス
AM(S+〓lS)から1/α毎にアドレスを選択すれば
よい(手順P13)。即ち、波形メモリ23のアド
レスAM(i)において、選択すべきアドレスの番号
iは次式で表される。
lSにある測定領域の左端の波形メモリ23のア
ドレスは、当該ピーク点のアドレスがAM(S)で
あること、および距離lS間にあるアドレスの数
が(4)式よりαlSであることから、AM(S+〓lS)である
ことが判る。したがつて、測定範囲31Aを表
示するためには、波形メモリ23のアドレス
AM(S+〓lS)から1/α毎にアドレスを選択すれば
よい(手順P13)。即ち、波形メモリ23のアド
レスAM(i)において、選択すべきアドレスの番号
iは次式で表される。
i=s+βls+j/α ……(6)
(6)式でjは表示メモリ32mのアドレスの番
号であり、KL=200の場合、j=0〜199であ
る。
号であり、KL=200の場合、j=0〜199であ
る。
(6)式の演算において、数j/αは整数でない
場合が生じるので、この場合には4捨5入等の
適宜の手法により数iは整数化される(手順
P14)。このようにして波形メモリ23のアドレ
スのうち上記手段により選択したアドレスを表
示メモリ32mの各アドレスに対応させ、前者
に記憶されているデータを後者に転送する(手
順P15)。そして、表示部コントローラ32によ
り表示メモリ32mの各アドレスのデータを表
示部11に表示する(手順P16)ことにより所
望の測定範囲31Aを表示させることができ
る。
場合が生じるので、この場合には4捨5入等の
適宜の手法により数iは整数化される(手順
P14)。このようにして波形メモリ23のアドレ
スのうち上記手段により選択したアドレスを表
示メモリ32mの各アドレスに対応させ、前者
に記憶されているデータを後者に転送する(手
順P15)。そして、表示部コントローラ32によ
り表示メモリ32mの各アドレスのデータを表
示部11に表示する(手順P16)ことにより所
望の測定範囲31Aを表示させることができ
る。
このように、測定始点設定部35および測定
範囲設定部37を操作することにより、反射波
形の任意の部分を拡大又は縮小して表示するこ
とが可能となる。
範囲設定部37を操作することにより、反射波
形の任意の部分を拡大又は縮小して表示するこ
とが可能となる。
() カーソル表示手段
次に、液晶表示部31にカーソルを表示させ
る動作を、さきの第5図に示した波形図および
第7図に示すフローチヤートを参照しながら説
明する。カーソル表示は前述したように被検査
物体1において、その測定範囲31A内におけ
る注意して観察すべき領域31Bを明確にする
ために用いられる表示である。今、第5図に示
すような形態の表示がなされる場合、上記領域
31Bは前カーソルCSの位置(lS+lCS)〜後カ
ーソルCEの位置(lS+lCE)である。以下、この
ようなカーソル表示を行う場合について述べ
る。
る動作を、さきの第5図に示した波形図および
第7図に示すフローチヤートを参照しながら説
明する。カーソル表示は前述したように被検査
物体1において、その測定範囲31A内におけ
る注意して観察すべき領域31Bを明確にする
ために用いられる表示である。今、第5図に示
すような形態の表示がなされる場合、上記領域
31Bは前カーソルCSの位置(lS+lCS)〜後カ
ーソルCEの位置(lS+lCE)である。以下、この
ようなカーソル表示を行う場合について述べ
る。
カーソル表示の実施はカーソル始点設定部3
4およびカーソル幅設定部35を操作して行わ
れる。これらカーソル始点設定部34、カーソ
ル幅設定部35はいずれも0点が定められたロ
ータリスイツチで構成され、その正方向の回動
により数値(距離)が連続的に加算され、負方
向の回動により連続的に減算される。
4およびカーソル幅設定部35を操作して行わ
れる。これらカーソル始点設定部34、カーソ
ル幅設定部35はいずれも0点が定められたロ
ータリスイツチで構成され、その正方向の回動
により数値(距離)が連続的に加算され、負方
向の回動により連続的に減算される。
ところで、カーソルも液晶表示部31に表示
されるのであるから、当然、波形を表示する場
合と同様に位置(lS+lCS)、(lS+lCE)を表示メ
モリ32mのアドレスAL(i)と対応させることが
必要である。以下、この対応について説明す
る。今、カーソルに始点設定部34で距離(lS
+lCS)が又、カーソル幅設定部35で距離lW
(lW=lCE−lCS)が指示されている場合、距離lS
は既知であるから、まず距離lCSが演算される
(第7図に示す手順P21)。次に値lCS,lW,lR,
KLが読込まれ(手順P22)、表示メモリ32m
における距離lCSに該当するアドレス、即ち前
カーソルCSのアドレスと、距離lCEに該当する
アドレス、即ち後カーソルCEのアドレスが演
算により求められる(手順P23)。これらのアド
レスは、表示メモリ32mにおけるアドレスの
総数KLに対する両カーソルのアドレスの比を、
距離lRに対する両カーソルの距離の比に等しく
することにより得られる。即ち、前カーソルCS
のアドレスをAL(CS)、後カーソルCEのアドレス
をAL(CE)とすると、これら各アドレスは、AL(CS)
*、AL(CE) *を用いて AL(CS) *=lCS/lR×KL ……(7) AL(CE) *=lCE/lR×KL =lCS+lW/lR×KL ……(8) で表される(7)、(8)式のAL(CS) *、AL(CE) *を整数化
し(手順P24)、これにより表示メモリ23mに
おける前カーソルCSのアドレスAL(CS)および後
カーソルCEのアドレスをAL(CE)が決定する。こ
れら各アドレスには、既に波形データが記憶さ
れているが、このデータはカーソルを意味する
破線表示のデータに変更される(手順P25)。次
いで、表示部コントローラ32を駆動して、ア
ドレスAL(CS),AL(CE)のデータを表示する(手順
P26)と、液晶表示部31に第5図に示すカー
ソルCS,CEが表示されることになる。
されるのであるから、当然、波形を表示する場
合と同様に位置(lS+lCS)、(lS+lCE)を表示メ
モリ32mのアドレスAL(i)と対応させることが
必要である。以下、この対応について説明す
る。今、カーソルに始点設定部34で距離(lS
+lCS)が又、カーソル幅設定部35で距離lW
(lW=lCE−lCS)が指示されている場合、距離lS
は既知であるから、まず距離lCSが演算される
(第7図に示す手順P21)。次に値lCS,lW,lR,
KLが読込まれ(手順P22)、表示メモリ32m
における距離lCSに該当するアドレス、即ち前
カーソルCSのアドレスと、距離lCEに該当する
アドレス、即ち後カーソルCEのアドレスが演
算により求められる(手順P23)。これらのアド
レスは、表示メモリ32mにおけるアドレスの
総数KLに対する両カーソルのアドレスの比を、
距離lRに対する両カーソルの距離の比に等しく
することにより得られる。即ち、前カーソルCS
のアドレスをAL(CS)、後カーソルCEのアドレス
をAL(CE)とすると、これら各アドレスは、AL(CS)
*、AL(CE) *を用いて AL(CS) *=lCS/lR×KL ……(7) AL(CE) *=lCE/lR×KL =lCS+lW/lR×KL ……(8) で表される(7)、(8)式のAL(CS) *、AL(CE) *を整数化
し(手順P24)、これにより表示メモリ23mに
おける前カーソルCSのアドレスAL(CS)および後
カーソルCEのアドレスをAL(CE)が決定する。こ
れら各アドレスには、既に波形データが記憶さ
れているが、このデータはカーソルを意味する
破線表示のデータに変更される(手順P25)。次
いで、表示部コントローラ32を駆動して、ア
ドレスAL(CS),AL(CE)のデータを表示する(手順
P26)と、液晶表示部31に第5図に示すカー
ソルCS,CEが表示されることになる。
以上、カーソル表示の動作を説明したが、本
来、カーソルは注意して観察したい領域を見易
くするものであり、一方、観察したい個所は同
一個所に限定されないのが一般的であるので、
通常の使用態様においてはカーソル表示はカー
ソル始点設定部34およびカーソル幅設定部3
5のロータリスイツチを連続的に回動させて移
動させることが多い。そこで、以下、このよう
なカーソル表示の移動について、第8図、第1
0図に示すフローチヤート、および第9図a〜
e、第11図a〜cに示す波形図を参照しなが
ら説明する。
来、カーソルは注意して観察したい領域を見易
くするものであり、一方、観察したい個所は同
一個所に限定されないのが一般的であるので、
通常の使用態様においてはカーソル表示はカー
ソル始点設定部34およびカーソル幅設定部3
5のロータリスイツチを連続的に回動させて移
動させることが多い。そこで、以下、このよう
なカーソル表示の移動について、第8図、第1
0図に示すフローチヤート、および第9図a〜
e、第11図a〜cに示す波形図を参照しなが
ら説明する。
最初に前カーソルCSと後カーソルCEの幅
(lW)は変化せず、この幅を保持しながら両カ
ーソルCS,CEを左右に移動させる場合の動作
について説明する。この場合には、カーソル始
点設定部34のロータリスイツチが操作され
る。CPU26はこのロータリスイツチが操作
されたか否かを監視し(第8図の手順P31)、操
作されていない場合には、距離lS,lCS,lW,lCE
を現在のままの値とし(手順P32)、さきに第7
図に示すフローチヤートを用いて説明したカー
ソル表示処理を実行する(手順P33)。なお、第
8図および第10図に示すフローチヤートにお
いて、カーソル位置処理を実行する前の各距離
はダツシユを付して(lS′,lCS′,lW′,lCE′)表
し、前記処理を実行した後の各距離はダツシユ
を付さずに(lS,lCS,lW,lCE)表す。以下で
は、カーソル幅設定部35、測定範囲設定部3
7は操作されていないのでlW=lW′,lR=lR′で
ある。
(lW)は変化せず、この幅を保持しながら両カ
ーソルCS,CEを左右に移動させる場合の動作
について説明する。この場合には、カーソル始
点設定部34のロータリスイツチが操作され
る。CPU26はこのロータリスイツチが操作
されたか否かを監視し(第8図の手順P31)、操
作されていない場合には、距離lS,lCS,lW,lCE
を現在のままの値とし(手順P32)、さきに第7
図に示すフローチヤートを用いて説明したカー
ソル表示処理を実行する(手順P33)。なお、第
8図および第10図に示すフローチヤートにお
いて、カーソル位置処理を実行する前の各距離
はダツシユを付して(lS′,lCS′,lW′,lCE′)表
し、前記処理を実行した後の各距離はダツシユ
を付さずに(lS,lCS,lW,lCE)表す。以下で
は、カーソル幅設定部35、測定範囲設定部3
7は操作されていないのでlW=lW′,lR=lR′で
ある。
カーソル始点設定部34のロータリスイツチ
が操作されると、手順P31でこれが判断される。
次いで、当該ロータリスイツチが正方向に回動
されたか負方向に回動されたかが判断される
(手順P34)、ロータリスイツチが正方向に回動
された場合、即ち、カーソルCS,CEを第5図
で右方向に移動させる場合、ロータリスイツチ
の操作量が読込まれる(手順P35)。以下、いず
れの方向の操作量もカーソルCS,CEを距離Δl1
移動させる量として説明する。この距離Δl1は
現在の距離lCE′に加算(lCE′+Δl1)され、幅lR
と比較される(手順P36)。
が操作されると、手順P31でこれが判断される。
次いで、当該ロータリスイツチが正方向に回動
されたか負方向に回動されたかが判断される
(手順P34)、ロータリスイツチが正方向に回動
された場合、即ち、カーソルCS,CEを第5図
で右方向に移動させる場合、ロータリスイツチ
の操作量が読込まれる(手順P35)。以下、いず
れの方向の操作量もカーソルCS,CEを距離Δl1
移動させる量として説明する。この距離Δl1は
現在の距離lCE′に加算(lCE′+Δl1)され、幅lR
と比較される(手順P36)。
ここで、比較後の処理を第9図a〜cに示す
波形図により説明する。各図(第9図d,eも
含む。}は液晶表示部31の表示面を示し、第
5図に示す部分と同一部分には同一符合が付さ
れている。第9図はカーソルCS,CEが第5図
に示す位置と同じ位置にある状態を示し、これ
が現在位置とされ、以後の説明はこの位置から
のカーソルCS,CEの移動の説明となる。
波形図により説明する。各図(第9図d,eも
含む。}は液晶表示部31の表示面を示し、第
5図に示す部分と同一部分には同一符合が付さ
れている。第9図はカーソルCS,CEが第5図
に示す位置と同じ位置にある状態を示し、これ
が現在位置とされ、以後の説明はこの位置から
のカーソルCS,CEの移動の説明となる。
手順P36で{(lCE′+Δl)<lR}と判断された場
合は、カーソルCS,CEが第9図bに示す位置
となる場合であり、又{(lCE′+Δl1)=lR}と判
断された場合は、カーソルCS,CEが第9図c
に示す位置、即ち後カーソルCEが測定範囲3
1Aの右端と一致する位置となる場合である。
これらの場合、距離lS,lWはそのままであり、
又、距離lCSは距離(lCS′+Δl1)に変更され、距
離lCEは距離(lCE′+Δl1)に変更される(手順
P37)。これらの距離に基づいてカーソル表示処
理がなされ(手順P33)、カーソルCS,CEは右方
向へ移動して第9図b,cに示すようなカーソ
ル表示が現れる。
合は、カーソルCS,CEが第9図bに示す位置
となる場合であり、又{(lCE′+Δl1)=lR}と判
断された場合は、カーソルCS,CEが第9図c
に示す位置、即ち後カーソルCEが測定範囲3
1Aの右端と一致する位置となる場合である。
これらの場合、距離lS,lWはそのままであり、
又、距離lCSは距離(lCS′+Δl1)に変更され、距
離lCEは距離(lCE′+Δl1)に変更される(手順
P37)。これらの距離に基づいてカーソル表示処
理がなされ(手順P33)、カーソルCS,CEは右方
向へ移動して第9図b,cに示すようなカーソ
ル表示が現れる。
手順P36で{(lCE′+Δl1)>lR}と判断された
場合は、後カーソルCEが測定範囲31Aの右
端からさらに右方へ外れる場合である。この場
合には、後カーソルCEが第9図cに示すよう
に右端の位置で停止したままとなる。即ち、距
離lCEはlCE=lR′、距離lCSはlCS=(lR−(lCE′−lCS
′)
=lR−lWとされる(手順P38)。
場合は、後カーソルCEが測定範囲31Aの右
端からさらに右方へ外れる場合である。この場
合には、後カーソルCEが第9図cに示すよう
に右端の位置で停止したままとなる。即ち、距
離lCEはlCE=lR′、距離lCSはlCS=(lR−(lCE′−lCS
′)
=lR−lWとされる(手順P38)。
さて、手順P34ではロータリスイツチが負方
向に回動された場合、即ちカーソルCS,CEを
第5図で左方向に移動させる場合、ロータリス
イツチの操作量(距離Δl1)が読込まれ(手順
P39)、値(lCS′−Δl1)の正負が判断される(手
順P40)。ここで、値(lCS′−Δl1)が正であると
判断される場合は、カーソルCS,CEが第9図
dに示す位置となる場合であり、値(lCS′−
Δl1)が0であると判断される場合は、カーソ
ルCS,CEが第9図eに示す位置、即ち前カー
ソルCSが測定範囲の左端と一致する位置となる
場合である。これらの場合、距離lS,lWはその
ままであり、距離lCSは距離(lCS′−Δl1)に、距
離lCEは距離(lCE′fΔl1)に変更(手順P41)され
た後、手順P33の処理がなされ、カーソルCS,
CEは左方へ移動して第9図d,eに示すよう
なカーソル表示が現れる。
向に回動された場合、即ちカーソルCS,CEを
第5図で左方向に移動させる場合、ロータリス
イツチの操作量(距離Δl1)が読込まれ(手順
P39)、値(lCS′−Δl1)の正負が判断される(手
順P40)。ここで、値(lCS′−Δl1)が正であると
判断される場合は、カーソルCS,CEが第9図
dに示す位置となる場合であり、値(lCS′−
Δl1)が0であると判断される場合は、カーソ
ルCS,CEが第9図eに示す位置、即ち前カー
ソルCSが測定範囲の左端と一致する位置となる
場合である。これらの場合、距離lS,lWはその
ままであり、距離lCSは距離(lCS′−Δl1)に、距
離lCEは距離(lCE′fΔl1)に変更(手順P41)され
た後、手順P33の処理がなされ、カーソルCS,
CEは左方へ移動して第9図d,eに示すよう
なカーソル表示が現れる。
手順P40で{(lCS′−Δl)<0}と判断された
場合は、前カーソルCSが測定範囲31Aの左端
からさらに左方へ外れる場合である。この場合
には、距離lCSは0に、又、距離lCEはlCE=lCE′−
lCS′=lWに変更(手順P42)された後、手順P33
の処理がなされ、前カーソルCSが表示面の左端
と一致してカーソルは停止する。以上のような
処理により、カーソル幅を変えずにカーソル
CS,CEを移動することができる。
場合は、前カーソルCSが測定範囲31Aの左端
からさらに左方へ外れる場合である。この場合
には、距離lCSは0に、又、距離lCEはlCE=lCE′−
lCS′=lWに変更(手順P42)された後、手順P33
の処理がなされ、前カーソルCSが表示面の左端
と一致してカーソルは停止する。以上のような
処理により、カーソル幅を変えずにカーソル
CS,CEを移動することができる。
次に、前カーソルCSと後カーソルCEの幅
(測定範囲の幅)を変更する場合の動作につい
て説明する。この場合には、カーソル幅設定部
35のロータリスイツチが操作される。CPU
26はこのロータリスイツチが操作されたか否
かを監視し(第10図の手順P51)、操作されて
いない場合には、距離lCS,lW,lCEを現在の値の
ままとし(手順P52)、カーソル表示処理を行う
(手順P53)。
(測定範囲の幅)を変更する場合の動作につい
て説明する。この場合には、カーソル幅設定部
35のロータリスイツチが操作される。CPU
26はこのロータリスイツチが操作されたか否
かを監視し(第10図の手順P51)、操作されて
いない場合には、距離lCS,lW,lCEを現在の値の
ままとし(手順P52)、カーソル表示処理を行う
(手順P53)。
カーソル幅設定部35のロータリスイツチが
操作されると、手順P51でこれが判断され、次
いでその操作方向が判断される(手順P54)。カ
ーソル幅を正方向に拡げるべくロータリスイツ
チが正方向に回動された場合、ロータリスイツ
チの操作量が読込まれる(手順P55)。以下、い
ずれの方向の操作量もカーソル幅を距離Δl2変
化させる量として説明する。次に、距離lCE′に
距離Δl2を加算した値と距離lRとが比較される
(手順P56)。この比較は、後カーソルCEを右方
向に移動させることによりカーソル幅を右方向
に拡げた場合、後カーソルCEが測定範囲31
Aの右端から外れるか否かを判断するためのも
のである。距離(lCE′+Δl2)が距離lR以下、即
ち後カーソルCEが測定範囲31Aの右端から
外れない場合には、距離lCEを距離(lCE′+Δl2)
にそれぞれ変更する(手順P57)。この場合が第
11図b,cの波形図に示されている。第11
図bの波形図は距離(lCE′+Δl2)が距離lR未満
の場合、第11図cの波形図は距離(lCE′+
Δl2)が距離lRと等しい場合の波形図である。
なお、第11図aは第9図aと同じ波形図であ
る。
操作されると、手順P51でこれが判断され、次
いでその操作方向が判断される(手順P54)。カ
ーソル幅を正方向に拡げるべくロータリスイツ
チが正方向に回動された場合、ロータリスイツ
チの操作量が読込まれる(手順P55)。以下、い
ずれの方向の操作量もカーソル幅を距離Δl2変
化させる量として説明する。次に、距離lCE′に
距離Δl2を加算した値と距離lRとが比較される
(手順P56)。この比較は、後カーソルCEを右方
向に移動させることによりカーソル幅を右方向
に拡げた場合、後カーソルCEが測定範囲31
Aの右端から外れるか否かを判断するためのも
のである。距離(lCE′+Δl2)が距離lR以下、即
ち後カーソルCEが測定範囲31Aの右端から
外れない場合には、距離lCEを距離(lCE′+Δl2)
にそれぞれ変更する(手順P57)。この場合が第
11図b,cの波形図に示されている。第11
図bの波形図は距離(lCE′+Δl2)が距離lR未満
の場合、第11図cの波形図は距離(lCE′+
Δl2)が距離lRと等しい場合の波形図である。
なお、第11図aは第9図aと同じ波形図であ
る。
手順P56において、後カーソルCEが測定範囲
31Aの右端から外れると判断された場合に
は、距離lCEをlCE=lRとし(手順P58)、カーソル
表示処理を行ない(手順P53)、さらにロータリ
スイツチを操作しても第11図cに示す状態で
カーソルを停止せしめる。
31Aの右端から外れると判断された場合に
は、距離lCEをlCE=lRとし(手順P58)、カーソル
表示処理を行ない(手順P53)、さらにロータリ
スイツチを操作しても第11図cに示す状態で
カーソルを停止せしめる。
一方、手順P54でロータリスイツチの操作方
向が負方向、即ちカーソル幅を縮小する方向で
あると判断された場合、その操作量が読込まれ
(手順P59)、次いで、距離lCE′から距離Δl2を減
算した値がlCSより大か否かが判断される(手
順P60)。この判断はロータリスイツチの操作量
(距離Δl2)が現在のカーソル幅lW′を越えるも
のであるか否かの判断である。手順P60で距離
Δl2がカーソル幅lW′以下であると判断された場
合、距離lCSはそのままとされ、距離lWは距離
(lW′−Δl2)、距離lCEは距離(lCE′−Δl2)に変更
され(手順P61)、カーソル表示処理がなされ
る。手順P61の処理は、後カーソルCEを距離Δl2
だけ左方へ移動させてカーソル幅を縮小する処
理である。
向が負方向、即ちカーソル幅を縮小する方向で
あると判断された場合、その操作量が読込まれ
(手順P59)、次いで、距離lCE′から距離Δl2を減
算した値がlCSより大か否かが判断される(手
順P60)。この判断はロータリスイツチの操作量
(距離Δl2)が現在のカーソル幅lW′を越えるも
のであるか否かの判断である。手順P60で距離
Δl2がカーソル幅lW′以下であると判断された場
合、距離lCSはそのままとされ、距離lWは距離
(lW′−Δl2)、距離lCEは距離(lCE′−Δl2)に変更
され(手順P61)、カーソル表示処理がなされ
る。手順P61の処理は、後カーソルCEを距離Δl2
だけ左方へ移動させてカーソル幅を縮小する処
理である。
手順P60で距離(lCE′−Δl2)が距離lCSより大
であると判断された場合には、距離lCS,lCEを
距離lCSとし、又、距離lWを0とし(手順P62)、
カーソル表示処理を行う。手順P62の処理は後
カーソルCEを前カーソルCSに重ねて1つのカ
ーソルだけの表示とする処理である。
であると判断された場合には、距離lCS,lCEを
距離lCSとし、又、距離lWを0とし(手順P62)、
カーソル表示処理を行う。手順P62の処理は後
カーソルCEを前カーソルCSに重ねて1つのカ
ーソルだけの表示とする処理である。
このように、カーソル始点設定部34および
カーソル幅設定部35のロータリスイツチを操
作することにより、カーソル位置を自由に移動
させることができ、測定範囲からさらに所望の
領域を自由に選択することができる。
カーソル幅設定部35のロータリスイツチを操
作することにより、カーソル位置を自由に移動
させることができ、測定範囲からさらに所望の
領域を自由に選択することができる。
() マーク付与手段
次に、任意の波形にたいしてマークを付する
マーク付与手段について説明する。本実施例で
は表面波Sに文字「A」を付与する例について
述べる。最初に測定始点設定部36および測定
範囲設定部37により前述の測定範囲表示手段
に述べた処理にしたがつて液晶表示部31に第
20図に示される反射波T〜BSが表示される。
この表示を行なつた後第2図に示すマーク設定
部33のマークキースイツチ33bを押すこと
によりマーク設定処理が実行される。マーク設
定処理を第12図、第15図、第16図に示す
フローチヤートおよび第13図、第14図に示
す表示部平面図を参照しながら説明する。
マーク付与手段について説明する。本実施例で
は表面波Sに文字「A」を付与する例について
述べる。最初に測定始点設定部36および測定
範囲設定部37により前述の測定範囲表示手段
に述べた処理にしたがつて液晶表示部31に第
20図に示される反射波T〜BSが表示される。
この表示を行なつた後第2図に示すマーク設定
部33のマークキースイツチ33bを押すこと
によりマーク設定処理が実行される。マーク設
定処理を第12図、第15図、第16図に示す
フローチヤートおよび第13図、第14図に示
す表示部平面図を参照しながら説明する。
マークキースイツチ33bを押すと、第13
図に示すようにまず表示面に「エコーヲセンタ
クシテクダサイ」というメツセージが表示され
る。このような表示手段は周知であるので説明
は省略する。同時に、前カーソルCSと後カーソ
ルCEが表示面に表示される。これらカーソル
の表示の初期状態はどのような状態であつても
よいが、例えば、前カーソルCSが表示面の左端
にあり、かつ、カーソルの幅lWが測定範囲lRの
適当な比率、例えば1/5程度であるとエコーの
選択操作が容易となる。次いで、表示面をみな
がらカーソル始点設定部34およびカーソル幅
設定部35を操作して前述のカーソル表示手段
における処理を実行し、第13図に示すように
前カーソルCSと後カーソルCEとで反射波Sを
挟むカーソル処理を行なう(第12図の手順
P71)。
図に示すようにまず表示面に「エコーヲセンタ
クシテクダサイ」というメツセージが表示され
る。このような表示手段は周知であるので説明
は省略する。同時に、前カーソルCSと後カーソ
ルCEが表示面に表示される。これらカーソル
の表示の初期状態はどのような状態であつても
よいが、例えば、前カーソルCSが表示面の左端
にあり、かつ、カーソルの幅lWが測定範囲lRの
適当な比率、例えば1/5程度であるとエコーの
選択操作が容易となる。次いで、表示面をみな
がらカーソル始点設定部34およびカーソル幅
設定部35を操作して前述のカーソル表示手段
における処理を実行し、第13図に示すように
前カーソルCSと後カーソルCEとで反射波Sを
挟むカーソル処理を行なう(第12図の手順
P71)。
次に、両カーソルCS,CEで挟まれた領域に
おける波形のピーク値のうちの最大のものが選
択されとり出される(手順P72)。この選択は次
のようになされる。即ち、距離lCS,lCEに距離lS
を加算した値(lCS+lS)、(lCE+lS)を値LS,LE
とすると、これらを波形メモリ23のアドレス
AM(LS),AM(LE)に対応させることができる。この
対応は、 AM(LS) *=β・LS ……(9) AM(LE) *=β・LE ……(10) を整数化することにより得ることができる。こ
のようにして得た波形メモリ23のアドレス
AM(LS)とアドレスAM(LE)との間のアドレスに格納
されているデータD(o)のうちの最大値を周知の
手段で求める。そして、その最大値を格納して
いるアドレスを求める(手順P73)。このアドレ
スをアドレスAM(P)とする。次いで、アドレス
AM(P)の距離l(MK)を、波形メモリ23と距離の関
係から次式により求める(手順P74)。
おける波形のピーク値のうちの最大のものが選
択されとり出される(手順P72)。この選択は次
のようになされる。即ち、距離lCS,lCEに距離lS
を加算した値(lCS+lS)、(lCE+lS)を値LS,LE
とすると、これらを波形メモリ23のアドレス
AM(LS),AM(LE)に対応させることができる。この
対応は、 AM(LS) *=β・LS ……(9) AM(LE) *=β・LE ……(10) を整数化することにより得ることができる。こ
のようにして得た波形メモリ23のアドレス
AM(LS)とアドレスAM(LE)との間のアドレスに格納
されているデータD(o)のうちの最大値を周知の
手段で求める。そして、その最大値を格納して
いるアドレスを求める(手順P73)。このアドレ
スをアドレスAM(P)とする。次いで、アドレス
AM(P)の距離l(MK)を、波形メモリ23と距離の関
係から次式により求める(手順P74)。
l(MK)=AM(P)/β ……(11)
次に、反射波Sに付与するマークの選択を行
なう(手順P75)。このマークの選択は次のよう
に実行される。マーク設定部33のセツトキー
スイツチ33cを押すと(この動作はカーソル
CS,CEで反射波Sを挟んだ時点で行なわれ
る。)、前記距離l(MK)がRAM27の所定のアド
レスに登録されるとともに、第14図に示すよ
うに表示面に「マークヲセツテイシテクダサ
イ」というメツセージが表示される。そこで、
この表示にしたがい文字「A」が文字設定部3
8を操作することにより選択される。文字設定
部38はロータリスイツチで構成されており、
又、これに対応してROM28内に文字A〜Z
が格納されている。これらの文字A〜Zの26文
字の各アドレスをAC(0)〜AC(25)とすると、文字
設定部38のロータリスイツチを1回転回動す
ることにより当該アドレスAC(0)〜AC(25)が順次
選択されてゆくことになる。ロータリスイツチ
の回動方向が時計方向(正方向)であればその
文字選択は、A→B→C……Y→Z→Aの順に
なされ、反時計方向(負方向)であれば逆の順
でなされる。以下、文字選択の処理手順を第1
5図に示すフローチヤートにより説明する。な
お、これらの処理は当然ながらCPU26、
RAM27、ROM28を用いて実行される。
なう(手順P75)。このマークの選択は次のよう
に実行される。マーク設定部33のセツトキー
スイツチ33cを押すと(この動作はカーソル
CS,CEで反射波Sを挟んだ時点で行なわれ
る。)、前記距離l(MK)がRAM27の所定のアド
レスに登録されるとともに、第14図に示すよ
うに表示面に「マークヲセツテイシテクダサ
イ」というメツセージが表示される。そこで、
この表示にしたがい文字「A」が文字設定部3
8を操作することにより選択される。文字設定
部38はロータリスイツチで構成されており、
又、これに対応してROM28内に文字A〜Z
が格納されている。これらの文字A〜Zの26文
字の各アドレスをAC(0)〜AC(25)とすると、文字
設定部38のロータリスイツチを1回転回動す
ることにより当該アドレスAC(0)〜AC(25)が順次
選択されてゆくことになる。ロータリスイツチ
の回動方向が時計方向(正方向)であればその
文字選択は、A→B→C……Y→Z→Aの順に
なされ、反時計方向(負方向)であれば逆の順
でなされる。以下、文字選択の処理手順を第1
5図に示すフローチヤートにより説明する。な
お、これらの処理は当然ながらCPU26、
RAM27、ROM28を用いて実行される。
まず、文字設定部38のロータリスイツチが
回動されたか否かが判断され(手順P81)、回動
されていなければそのときのロータリスイツチ
の位置に対応する数kが出力され(手順P82)、
k番目のアドレスAC(K)に格納されている文字
がとり出される(手順P83)。ロータリスイツチ
が回動されていると判断された場合、その操作
方向が正か負かが判断され(手順P84)、正と判
断されるとその操作量Δl5が読込まれる(手順
P85)。そして、回動開始時の位置k′に対応する
数に操作量Δl5が加算され、この加算値は定数
K0(ロータリスイツチの1回転に対応する数
値)と比較される(手順P86)。上記加算値が値
K0より小さいとき(この場合は文字選択が最
終のアドレスを通過して再び最初のアドレスか
ら選択が始まることを意味する。)、演算(k=
k′+Δl5−K0)が実行され(手順P87)、これに
より得られた値に相当するアドレスに格納され
た文字がとり出される(手順P83)。手順P86で
上記加算値が値K0以下であるときは当該加算
値に相当するアドレスの文字がとり出される
(手順P88,P83)。
回動されたか否かが判断され(手順P81)、回動
されていなければそのときのロータリスイツチ
の位置に対応する数kが出力され(手順P82)、
k番目のアドレスAC(K)に格納されている文字
がとり出される(手順P83)。ロータリスイツチ
が回動されていると判断された場合、その操作
方向が正か負かが判断され(手順P84)、正と判
断されるとその操作量Δl5が読込まれる(手順
P85)。そして、回動開始時の位置k′に対応する
数に操作量Δl5が加算され、この加算値は定数
K0(ロータリスイツチの1回転に対応する数
値)と比較される(手順P86)。上記加算値が値
K0より小さいとき(この場合は文字選択が最
終のアドレスを通過して再び最初のアドレスか
ら選択が始まることを意味する。)、演算(k=
k′+Δl5−K0)が実行され(手順P87)、これに
より得られた値に相当するアドレスに格納され
た文字がとり出される(手順P83)。手順P86で
上記加算値が値K0以下であるときは当該加算
値に相当するアドレスの文字がとり出される
(手順P88,P83)。
手順P84でロータリスイツチが負の方向に操
作されたと判断されると、その操作量Δl5が読
込まれ(手順P89)、減算値(k′−Δl5)が0又
は正であるか否かが判断され(手順P90)、そう
であれば当該減算値に相当するアドレスに格納
された文字がとり出される(手順P91,P83)。
手順P90で加算値が負であると判断されたとき
(この場合は文字選択が最初のアドレスを通過
し最終のアドレスから選択が始まつていること
を意味する。)、演算k=K0−(Δl5−k′)が実
行され(手順P92)、得られた値に相当するアド
レスに格納された文字がとり出される(手順
P83)。
作されたと判断されると、その操作量Δl5が読
込まれ(手順P89)、減算値(k′−Δl5)が0又
は正であるか否かが判断され(手順P90)、そう
であれば当該減算値に相当するアドレスに格納
された文字がとり出される(手順P91,P83)。
手順P90で加算値が負であると判断されたとき
(この場合は文字選択が最初のアドレスを通過
し最終のアドレスから選択が始まつていること
を意味する。)、演算k=K0−(Δl5−k′)が実
行され(手順P92)、得られた値に相当するアド
レスに格納された文字がとり出される(手順
P83)。
以上、第12図に示すフローチヤートにおけ
る手順P75の処理について説明した。上記のよ
うにして第15図に示すフローチヤートの手順
P82,P87,P88,P91,P92のいずれかにより反
射波Sに対応する文字「A」がとり出される
と、次にはこの文字「A」を表示面に表示する
手段が実行される。このような表示処理手段を
第16図に示すフローチヤートを参照しながら
説明する。この処理は、第12図に示すマーク
設定処理における手順P74で求めた距離l(MK)を
表示メモリ32mのアドレスAL(MK)に対応させ
る処理となる。
る手順P75の処理について説明した。上記のよ
うにして第15図に示すフローチヤートの手順
P82,P87,P88,P91,P92のいずれかにより反
射波Sに対応する文字「A」がとり出される
と、次にはこの文字「A」を表示面に表示する
手段が実行される。このような表示処理手段を
第16図に示すフローチヤートを参照しながら
説明する。この処理は、第12図に示すマーク
設定処理における手順P74で求めた距離l(MK)を
表示メモリ32mのアドレスAL(MK)に対応させ
る処理となる。
まず、距離l(MK)が測定範囲(表示される範
囲)にあるか否かの判定を行なう(手順P101)。
この判定は、lS≦l(MK)≦(lS+lR)により行なう。
距離l(MK)が測定範囲外であれば表示は行なわな
い。測定範囲内にあるとき、この距離l(MK)が表
示メモリのどのアドレスに対応するかを計算す
る(手順P102)。この計算は次式により行なわ
れる。
囲)にあるか否かの判定を行なう(手順P101)。
この判定は、lS≦l(MK)≦(lS+lR)により行なう。
距離l(MK)が測定範囲外であれば表示は行なわな
い。測定範囲内にあるとき、この距離l(MK)が表
示メモリのどのアドレスに対応するかを計算す
る(手順P102)。この計算は次式により行なわ
れる。
AL(MK) *=KL×l(MK)−lS/lR ……(12)
なお、KLは前述のように表示メモリ32m
の全アドレスの数である。算出された数AL(MK)
*を整数化する(手順P103)ことによりアドレ
スAL(MK)が決定される。次いで、このアドレス
AL(MK)に相当する位置、即ち、第13図、第1
4図において反射波Sのピーク位置と横軸(距
離軸又は時間軸)上で一致する位置に第12図
の手順P75でとり出された文字「A」を表示す
るため、コントローラ32に対して文字「A」
のデータをセツトする(手順P104)。そして、
コントローラ32の制御により前記のアドレス
AL(MK)に相当する位置に文字「A」を表示する
(手順P105)。この表示は波形表示と重ならない
位置、例えば表示面上部になされるのが望まし
い。
の全アドレスの数である。算出された数AL(MK)
*を整数化する(手順P103)ことによりアドレ
スAL(MK)が決定される。次いで、このアドレス
AL(MK)に相当する位置、即ち、第13図、第1
4図において反射波Sのピーク位置と横軸(距
離軸又は時間軸)上で一致する位置に第12図
の手順P75でとり出された文字「A」を表示す
るため、コントローラ32に対して文字「A」
のデータをセツトする(手順P104)。そして、
コントローラ32の制御により前記のアドレス
AL(MK)に相当する位置に文字「A」を表示する
(手順P105)。この表示は波形表示と重ならない
位置、例えば表示面上部になされるのが望まし
い。
上記のマーク表示処理により反射波Sに文字
「A」が付されると、以後、測定範囲が変更さ
れても、既に登録されている距離l(MK)を用い
て、変更の都度、手順P101〜P105の処理を実行
すれば、文字「A」は常に反射波Sに付随して
表示されることになる。
「A」が付されると、以後、測定範囲が変更さ
れても、既に登録されている距離l(MK)を用い
て、変更の都度、手順P101〜P105の処理を実行
すれば、文字「A」は常に反射波Sに付随して
表示されることになる。
以下に1つの表示例を図により説明する。第
17図a〜eは表示部の平面図である。第17
図aは反射波T,S,Bが観測できるように表
示部に表示した図である。このように表示され
た反射波のうち、第17図bに示すように、上
述の処理により反射波Sに対してその上部に文
字「A」を表示する。なお、反射波Bに対して
も同様の処理によりその上部に文字「B」が付
与される。第17図cは測定範囲を変更して反
射波S近辺の測定を行なう場合の表示面を示
す。この場合も第16図に示すフローチヤート
の処理により反射波Sに文字「A」が付与され
る。この状態でゲインを低下させたり、又は探
触子2に接触不良が生じたりすると、第17図
dに示すように反射波Sが表示されなくなる。
しかし、文字「A」は超音波探傷器に故障が生
じていなければ表示されたままの状態にある。
したがつて、第17図dに示すような表示面が
現れた場合、ゲインの不足か探触子2の接触不
良であると判断することができる。第17図c
に示す状態から、今度は反射波Bの近辺を測定
したい場合、測定始点設定部36を操作して波
形の移動を行なえば、第17図eに示すように
反射波Bおよび文字「B」が現れる。これによ
り、この反射波が反射波Bであることを確認す
ることができる。即ち、反射波Bを表示するに
は、波形に関係なく文字「B」が現れるまで測
定始点設定部36を操作すればよく、操作が極
めて容易となる。
17図a〜eは表示部の平面図である。第17
図aは反射波T,S,Bが観測できるように表
示部に表示した図である。このように表示され
た反射波のうち、第17図bに示すように、上
述の処理により反射波Sに対してその上部に文
字「A」を表示する。なお、反射波Bに対して
も同様の処理によりその上部に文字「B」が付
与される。第17図cは測定範囲を変更して反
射波S近辺の測定を行なう場合の表示面を示
す。この場合も第16図に示すフローチヤート
の処理により反射波Sに文字「A」が付与され
る。この状態でゲインを低下させたり、又は探
触子2に接触不良が生じたりすると、第17図
dに示すように反射波Sが表示されなくなる。
しかし、文字「A」は超音波探傷器に故障が生
じていなければ表示されたままの状態にある。
したがつて、第17図dに示すような表示面が
現れた場合、ゲインの不足か探触子2の接触不
良であると判断することができる。第17図c
に示す状態から、今度は反射波Bの近辺を測定
したい場合、測定始点設定部36を操作して波
形の移動を行なえば、第17図eに示すように
反射波Bおよび文字「B」が現れる。これによ
り、この反射波が反射波Bであることを確認す
ることができる。即ち、反射波Bを表示するに
は、波形に関係なく文字「B」が現れるまで測
定始点設定部36を操作すればよく、操作が極
めて容易となる。
このように、本実施例では、所定の反射波に
対して特定の文字を付与するようにしたので、
測定の目安となる所定の反射波を確実に認識す
ることができ、これにより、観測者は現在測定
している個所を正確に把握することができ、か
つ、反射波が得られない場合、ゲインの不足や
探触子2の接触不良か、又は超音波探傷器の故
障かを直ちに判断することができる。
対して特定の文字を付与するようにしたので、
測定の目安となる所定の反射波を確実に認識す
ることができ、これにより、観測者は現在測定
している個所を正確に把握することができ、か
つ、反射波が得られない場合、ゲインの不足や
探触子2の接触不良か、又は超音波探傷器の故
障かを直ちに判断することができる。
なお、上記実施例の説明では、表示部として
液晶表示部を例示して説明したが、液晶表示部
に限ることはなく、通常の陰極線管、プラズマ
表示器等を用いることができる。又、反射波に
対して文字(アルフアベツト)を付与する例に
ついて説明したが、マークは、他の種の文字、
記号、標識であつても差し支えなく、特に正確
な測定が必要である場合、反射波のピーク位置
に対応する個所の線分又は矢印を付与すればそ
の正確な位置を示すことができる。さらに、文
字の設定をロータリスイツチで行なう例につい
て説明したが、所要表示マークのキースイツチ
を用いてもよく、又、第2図に示すような0〜
9のキースイツチの組合せにより設定を行なつ
てもよい。さらに又、マーク付与に際して反射
波T〜BSを表示する例について説明したが、
所定の反射波が判つている場合、反射波T〜
BS全部を表示する必要はなく、所定の反射波
を含む限られた範囲を表示してもよい。又、所
定の反射波の選択を指示するメツセージの表示
とともにカーソルも表示される例について説明
したが、カーソルは常時表示しておくこともで
きる。また、本実施例では、被検査物1の表
面、底面からの反射波S,Bにマークを付与し
たが、標準的な欠陥を有する試験片などでは欠
陥波にマークを付与しても有効である。
液晶表示部を例示して説明したが、液晶表示部
に限ることはなく、通常の陰極線管、プラズマ
表示器等を用いることができる。又、反射波に
対して文字(アルフアベツト)を付与する例に
ついて説明したが、マークは、他の種の文字、
記号、標識であつても差し支えなく、特に正確
な測定が必要である場合、反射波のピーク位置
に対応する個所の線分又は矢印を付与すればそ
の正確な位置を示すことができる。さらに、文
字の設定をロータリスイツチで行なう例につい
て説明したが、所要表示マークのキースイツチ
を用いてもよく、又、第2図に示すような0〜
9のキースイツチの組合せにより設定を行なつ
てもよい。さらに又、マーク付与に際して反射
波T〜BSを表示する例について説明したが、
所定の反射波が判つている場合、反射波T〜
BS全部を表示する必要はなく、所定の反射波
を含む限られた範囲を表示してもよい。又、所
定の反射波の選択を指示するメツセージの表示
とともにカーソルも表示される例について説明
したが、カーソルは常時表示しておくこともで
きる。また、本実施例では、被検査物1の表
面、底面からの反射波S,Bにマークを付与し
たが、標準的な欠陥を有する試験片などでは欠
陥波にマークを付与しても有効である。
以上述べたように、本発明では、所定の反射波
に対してマークを付与するようにしたので、測定
の目安となる反射波を確実に認識することがで
き、これにより、観測者は現観測位置を正確に把
握することができ、又、反射波が得られない場
合、超音波探触器の故障か否かの判断を行なうこ
とができ、チエツクのための時間や手間の浪費を
避けることができる。
に対してマークを付与するようにしたので、測定
の目安となる反射波を確実に認識することがで
き、これにより、観測者は現観測位置を正確に把
握することができ、又、反射波が得られない場
合、超音波探触器の故障か否かの判断を行なうこ
とができ、チエツクのための時間や手間の浪費を
避けることができる。
第1図は本発明の実施例に係る超音波探傷器の
ブロツク図、第2図は第1図に示すマーク設定部
のキースイツチの配置図、第3図は反射波の一部
の波形図、第4図は第1図に示す波形メモリのブ
ロツク図、第5図は測定範囲、カーソル表示及び
マーク付与を説明する波形図、第6図および第7
図はそれぞれ測定範囲表示およびカーソル表示の
動作を説明するフローチヤート、第8図はカーソ
ル位置処理を説明するフローチヤート、第9図
a,b,c,d,eはカーソル位置処理の場合の
表示波形図、第10図はカール幅処理を説明する
フローチヤート、第11図a,b,cはカーソル
幅処理の場合の表示波形図、第12図はマーク付
与を説明するフローチヤート、第13図および第
14図はマーク付与の場合の表示面の平面図、第
15図および第16図は第12図に示すフローチ
ヤートの一部を詳細に説明するフローチヤート、
第17図a,b,c,d,eはマークを付与した
反射波を説明する表示面の平面図、第18図は従
来の超音波探傷器のブロツク図、第19図は水浸
法を説明する断面図、第20図は反射波の波形図
である。 1……被検査物体、1f……欠陥、2……超音
波探触子、5……送信部、6……受信部、21…
…超音波探傷器、22……A/D変換部、23…
…波形メモリ、24……アドレスカウンタ、25
……タイミング回路、26……CPU、27……
RAM、28……ROM、30……キーボード入
力部、31……液晶表示部、32……表示部コン
トローラ、32m……表示メモリ、33……マー
ク設定部、34……カーソル始点設定部、35…
…カーソル幅設定部、36……測定始点設定部、
37……測定範囲設定部、38……文字設定部。
ブロツク図、第2図は第1図に示すマーク設定部
のキースイツチの配置図、第3図は反射波の一部
の波形図、第4図は第1図に示す波形メモリのブ
ロツク図、第5図は測定範囲、カーソル表示及び
マーク付与を説明する波形図、第6図および第7
図はそれぞれ測定範囲表示およびカーソル表示の
動作を説明するフローチヤート、第8図はカーソ
ル位置処理を説明するフローチヤート、第9図
a,b,c,d,eはカーソル位置処理の場合の
表示波形図、第10図はカール幅処理を説明する
フローチヤート、第11図a,b,cはカーソル
幅処理の場合の表示波形図、第12図はマーク付
与を説明するフローチヤート、第13図および第
14図はマーク付与の場合の表示面の平面図、第
15図および第16図は第12図に示すフローチ
ヤートの一部を詳細に説明するフローチヤート、
第17図a,b,c,d,eはマークを付与した
反射波を説明する表示面の平面図、第18図は従
来の超音波探傷器のブロツク図、第19図は水浸
法を説明する断面図、第20図は反射波の波形図
である。 1……被検査物体、1f……欠陥、2……超音
波探触子、5……送信部、6……受信部、21…
…超音波探傷器、22……A/D変換部、23…
…波形メモリ、24……アドレスカウンタ、25
……タイミング回路、26……CPU、27……
RAM、28……ROM、30……キーボード入
力部、31……液晶表示部、32……表示部コン
トローラ、32m……表示メモリ、33……マー
ク設定部、34……カーソル始点設定部、35…
…カーソル幅設定部、36……測定始点設定部、
37……測定範囲設定部、38……文字設定部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 超音波探触子に対して所定のパルスを出力す
る送信部と、前記超音波探触子からの信号を受信
する受信部と、この受信部で受信された信号に基
づいて当該信号の波形を表示する表示部とを備え
た超音波探傷器において、前記受信部で受信され
た入力信号を所定のサンプリング周期で順次アド
レスに記憶する波形メモリと、前記表示部に表示
するデータを記憶する表示メモリと、前記表示部
に表示すべき測定範囲に応じて前記波形メモリの
アドレスを選択する選択手段と、この選択手段に
より選択されたアドレスのデータを対応する前記
表示メモリのアドレスに移送するデータ移送手段
と、前記表示メモリのデータを前記表示部に表示
する波形表示手段と、表示された反射波のうち所
定の反射波を選択する反射波選択手段と、選択さ
れた反射波の距離を演算する演算手段と、演算さ
れた距離に対応する前記表示メモリのアドレスを
決定するアドレス決定手段と、決定されたアドレ
スに対応する前記表示部の位置に所定のマークを
表示するマーク表示手段とを設けたことを特徴と
する超音波探傷器のマーク表示装置。 2 特許請求の範囲第1項において、前記反射波
選択手段は、前記所定の反射波の前後にカーソル
を表示するカーソル表示手段と、前記波形メモリ
におけるこれら2つのカーソルの間に記憶された
最大値を記憶したアドレスを求める演算手段とで
構成されていることを特徴とする超音波探傷器の
マーク表示装置。 3 特許請求の範囲第1項において、前記所定の
マークは、記憶部に記憶された複数のマークから
マーク選択手段により選択されることを特徴とす
る超音波探傷器のマーク表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62294154A JPH01136065A (ja) | 1987-11-24 | 1987-11-24 | 超音波探傷器のマーク表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62294154A JPH01136065A (ja) | 1987-11-24 | 1987-11-24 | 超音波探傷器のマーク表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01136065A JPH01136065A (ja) | 1989-05-29 |
| JPH0561590B2 true JPH0561590B2 (ja) | 1993-09-06 |
Family
ID=17804010
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62294154A Granted JPH01136065A (ja) | 1987-11-24 | 1987-11-24 | 超音波探傷器のマーク表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01136065A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007315820A (ja) * | 2006-05-23 | 2007-12-06 | Central Res Inst Of Electric Power Ind | 超音波探傷装置及び超音波探傷プログラム |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005035809A1 (ja) | 2003-10-07 | 2005-04-21 | Nikko Materials Co., Ltd. | 高純度Ni−V合金、同Ni−V合金からなるターゲット及び同Ni−V合金薄膜並びに高純度Ni−V合金の製造方法 |
| JP6608292B2 (ja) * | 2016-01-20 | 2019-11-20 | 株式会社日立パワーソリューションズ | 超音波検査方法及び装置 |
-
1987
- 1987-11-24 JP JP62294154A patent/JPH01136065A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007315820A (ja) * | 2006-05-23 | 2007-12-06 | Central Res Inst Of Electric Power Ind | 超音波探傷装置及び超音波探傷プログラム |
| US8100014B2 (en) | 2006-05-23 | 2012-01-24 | Central Research Institute Of Electric Power Industry | Ultrasonic flaw detection apparatus and ultrasonic flaw detection program |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01136065A (ja) | 1989-05-29 |
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