JPH056281B2 - - Google Patents
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- JPH056281B2 JPH056281B2 JP14602885A JP14602885A JPH056281B2 JP H056281 B2 JPH056281 B2 JP H056281B2 JP 14602885 A JP14602885 A JP 14602885A JP 14602885 A JP14602885 A JP 14602885A JP H056281 B2 JPH056281 B2 JP H056281B2
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Landscapes
- Glass Compositions (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
Description
産業上の利用分野
本発明は、非酸化性雰囲気中において比較的低
温で焼成し得る絶縁層形成用厚膜ガラスペース
ト、特に卑金属導体を用いた厚膜多層回路の絶縁
層を製造するのに有用な絶縁性ガラスペーストに
関する。 従来の技術 多層回路を製造する一つの方法に、焼成された
セラミツク基板上に第一導体層として厚膜導体ペ
ーストを印刷、焼成し、次いで上下の導体を分
離、絶縁するために絶縁ペーストを印刷、焼成
し、その上に第二の導体層を形成する工程を順次
繰返すことにより、厚膜方式で導体層と絶縁層を
交互に積層していく方法がある。このような厚膜
多層回路に使用される絶縁ペーストとしては、膜
構造を強化するために酸化物フイラーを含有する
ガラスペースト、又は部分結晶性のガラスペース
トを用いるのが一般的である。 近年エレクトロニクス業界において、高信頼性
の卑金属システムを採用することが強く要望され
ている。厚膜導体についてもAg/Pd、Au、
Ag/Ptなどの貴金属系からCu、Niなどの卑金属
系への移行の検討がなされているが、これに伴つ
てこれら卑金属導体と適合し、N2など卑金属を
酸化させないような雰囲気中で焼成できる絶縁ペ
ーストも開発されている。 N2中で焼成できる絶縁ペーストは、例えば次
のようなものが知られている。特開昭47−9633号
公報は、PbOを含まない部分結晶性ガラスが開示
されており、特公昭59−3419号公報にはやはり
PbOを含まない硼珪酸ガラスとアルミニウム酸化
物を主成分とし、銅導体と適合する厚膜多層用絶
縁ペーストが記載されている。特公昭59−14203
号公報にはガラスと結晶性多成分酸化物又はその
前駆体とからなる誘電体組成物が、特開昭55−
130009号公報には珪酸亜鉛とアルカリ土類珪酸塩
とからなるガラス質相と酸化亜鉛含有セラミツク
相を主成分とするペーストが、特公昭59−27119
号公報には部分失透性硼珪酸バリウムマグネシウ
ムガラスとピンホール減少用成分とからなる絶縁
ペーストがそれぞれ開示されている。更に特開昭
55−38882号公報には活性成分としての酸化アル
ミニウムと、ガラス、及び酸化剤として焼成中低
原子価に還元され得る金属酸化物、例えばCe酸
化物、Pr6O11、PrO2、希土類酸化物などから構
成される絶縁ペーストが示されている。これらの
絶縁ペーストはいずれも800℃〜1000℃程度の比
較的高温で焼成する必要がある。 ところで卑金属系厚膜多層回路は、導体層と絶
縁層のみで構成される場合と、厚膜抵抗体や厚膜
コンデンサを組込んで多層化する場合があるが、
後者において、特に抵抗材料にN2中焼成が可能
でかつ実用上満足いくような優れた特性を有する
ものがないため、空気中焼成タイプで従来最も一
般的に使用されている酸化ルテニウム系抵抗ペー
ストが代用される。しかしこの抵抗体は、非酸化
性雰囲気中で700℃以上の高温で再焼成を行うと
還元されて電気特性が変化するので、抵抗体を焼
付形成した後に導体ペーストや絶縁ペーストを
N2中において高温で焼付けして多層化を行うの
が極めて困難であつた。抵抗体にダメージを与え
ない程度の低温で前述の絶縁ペーストを焼付けす
ると、絶縁性が不充分であつたり、接着強度が劣
るなど全く実用に耐えない。 特開昭58−2093号公報には、活性成分としての
セラミツク充填材と、PbO−SiO2−Al2O3ガラス
及び酸化度2以上の酸化鉛を主成分とし、非酸化
性雰囲気中600℃以下の温度で焼成される絶縁ペ
ーストが開示されている。しかしここに示された
ガラスペーストをアルミナ基板上に焼付けると、
絶縁性が充分でなく、又耐水性にも劣る欠点があ
る。 又CdO高含有ガラスを使用した低温焼成タイプ
のガラスペーストも知られているが、空孔が多
く、又絶縁抵抗、耐湿性、耐水性ともに十分でな
く、現在まで実用上満足できる性能を有するN2
中低温焼成用絶縁ペーストは得られていない。 発明が解決しようとする問題点 本発明の目的は、N2などの非酸化性雰囲気中
において、低温、例えば650℃以下の温度で焼成
でき、従つて酸化ルテニウム抵抗の特性に影響を
与えないですみ、しかも絶縁性、機械的強度など
の電気的・物理的特性の優れた絶縁ペーストを得
ることにある。 問題点を解決するための手段 本発明者等はガラスの組成を検討することによ
つて従来の問題を解決し、650℃以下の低温で焼
成しても優れた特性を有する絶縁層を形成し得る
ガラスペーストの開発に成功した。 即ち本発明は、A.重量基準で SiO2 27〜36% Al2O3 1〜3% B2O3 5〜15% PbO 45〜52% CaF2 1〜3% ZnO 1〜3% からなるガラス粉末35〜90重量%と、B.酸化物
フイラー10〜35重量%と、C.酸化剤0〜30重量%
とを有機ビヒクル中に分散させてなる絶縁ペース
トである。 作 用 本発明の絶縁ペーストは、ガラス成分として軟
化点の低いPbOを多く含む硼珪酸鉛アルミニウム
ガラスを用い、比較的多量にSiO2を配合するこ
とにより流動性の制御を行つて、焼成時の急激な
粘度低下による導体層からの導電成分の移動とそ
れによる絶縁不良を阻止し、かつSiO2を多量に
含有することに起因する軟化点の上昇及び耐水性
の低下をCaF2及びZnOを配合することにより防
止したことが特徴である。 ガラスの構成成分中、SiO2は27重量%未満で
は軟化点が下がりすぎ、適切な粘度特性が得られ
ない。36重量%を越えると軟化温度が高くなりす
ぎ、低温焼成では高い膜強度が得られなくなる。 Al2O3は失透防止及び耐候性の向上の目的で使
用する。1重量%未満ではこの効果が限われず、
3重量%を越えると融点が高くなつて好ましくな
い。 B2O3は5重量%より少ないと軟化点が高くな
りすぎ、15重量%より多いと軟化点が低すぎる。 CaF2は融剤として軟化点上昇を抑える目的で
用いられる。1重量%未満では効果がなく、3重
量%より多いと失透するので好ましくない。 ZnOは化学的耐久性、特に耐水性向上の目的で
配合する。配合量が1重量%より少ないとこの効
果が弱く、3重量%を越えると失透し易いので好
ましくない。 ガラス粉末はペーストの全無機質成分中35〜90
重量%使用する。 酸化物フイラーは、焼成膜の流動性の制御及び
有機ビヒクルの燃焼残渣であるカーボンを焼成中
に膜からスムーズに除去するために、ペーストの
全無機質成分中10〜35重量%の範囲で配合する。
10重量%未満では膜がガラス質になつて再焼成時
に流動し易いため、パターンが拡がつたり、電極
成分と相互作用して電極のカーリングや半田付け
性不良を起こしたり、絶縁層の絶縁不良などのト
ラブルを生じ、又脱カーボンも不充分となる。35
重量%を越えると膜強度が弱く、脆くなるので好
ましくない。酸化物としては例えば酸化アルミニ
ウム、酸化マグネシウム、酸化ランタン、酸化チ
タンなどこの種の絶縁ペーストに一般的に用いら
れているものが使用できる。 酸化剤は非酸化性雰囲気中で焼成する際、有機
ビヒクルの完全燃焼を促進し、カーボン残渣を残
さないために配合されるもので、たとえば従来公
知のPbO2、Pb3O4、CeO2、PrO2、Pr6O11、
TeO3、Co3O4、Nd2O3、SrO2などがあげられる。
とくにPbO2の効果が大きい。配合割合は全無機
質成分中0〜30重量%で、ガラスの組成や焼成条
件によつては全く配合しなくてもよいが、通常5
重量%以上用いることが望ましい。 無機成分の配合比は、好ましくはガラス粉末55
〜70重量%、酸化物フイラー15〜30重量%と、酸
化剤10〜25重量%である。 尚、各成分とも径10μm以下の微細粉末を用い
ることが望ましい。 有機ビヒクルは通常の厚膜ペーストに使用され
るものであればいかなるものでもよく、樹脂、溶
剤、可塑剤、その他の添加剤を適宜選択して用い
る。樹脂分としては特にエチルセルロース、エチ
ルヒドロキシエチルセルロース、ニトロセルロー
ス、メタクリレート樹脂、ブチラール樹脂など、
低酸素分圧の雰囲気中において比較的低温で完全
燃焼しやすいものを用いるのがよい。 実施例 次に実施例をあげて本発明を具体的に説明す
る。尚実施例中%及び部はすべて重量基準であ
る。 実施例 1〜5 ガラス原料粉末を表1の組成になるよう秤量、
混合してルツボに入れ、電気炉中1300〜1450℃で
1時間加熱溶融した。溶融物を水中に投入して急
冷、粉砕し、平均粒径3μmのガラス粉末を製造
した。 次にこの粉末と平均粒径0.5μmのAl2O3粉末及
びPbO2粉末とを表1に示した割合で混合し、有
機ビヒクルとしてエチルセルロースの20%ブチル
カルビトール溶液をガラス、Al2O3、PbO2の合
計100部に対して10部加え、更に粘度調整のため
ブチルカルビトールとジブチルフタレートを適当
量添加して混練し、それぞれ絶縁ベーストを製造
した。 1インチ×1インチの96%アルミナ基板上に、
下部導体として銅ペーストを幅05mm、間隔2mm、
5本の櫛状パターンにスクリーン印刷し、N2雰
囲気中600℃で焼成した。この上に上記絶縁ペー
ストを印刷し、150℃で乾燥後、N2中最高温度
600℃で焼成を行つて膜厚40μmの絶縁層を形成
した。次いでその上に銅ペーストを下部電極パタ
ーンと直交するように同様な櫛状パターンに印刷
し、下部電極と同様に焼成してテストサンプルを
作成した。 それぞれのテストサンプルに対して次の試験を
行い、結果を表1に併せて示した。 絶縁抵抗の測定: 上部・下部導体間に50Vの直流電圧を印加
し、絶縁抵抗を測定した。 耐湿負荷寿命試験: 60℃相対湿度95%の高温高湿槽中で50Vの直
流電圧を100時間連続的に印加した後サンプル
を取出して室温で1時間放置し、絶縁抵抗を測
定した。
温で焼成し得る絶縁層形成用厚膜ガラスペース
ト、特に卑金属導体を用いた厚膜多層回路の絶縁
層を製造するのに有用な絶縁性ガラスペーストに
関する。 従来の技術 多層回路を製造する一つの方法に、焼成された
セラミツク基板上に第一導体層として厚膜導体ペ
ーストを印刷、焼成し、次いで上下の導体を分
離、絶縁するために絶縁ペーストを印刷、焼成
し、その上に第二の導体層を形成する工程を順次
繰返すことにより、厚膜方式で導体層と絶縁層を
交互に積層していく方法がある。このような厚膜
多層回路に使用される絶縁ペーストとしては、膜
構造を強化するために酸化物フイラーを含有する
ガラスペースト、又は部分結晶性のガラスペース
トを用いるのが一般的である。 近年エレクトロニクス業界において、高信頼性
の卑金属システムを採用することが強く要望され
ている。厚膜導体についてもAg/Pd、Au、
Ag/Ptなどの貴金属系からCu、Niなどの卑金属
系への移行の検討がなされているが、これに伴つ
てこれら卑金属導体と適合し、N2など卑金属を
酸化させないような雰囲気中で焼成できる絶縁ペ
ーストも開発されている。 N2中で焼成できる絶縁ペーストは、例えば次
のようなものが知られている。特開昭47−9633号
公報は、PbOを含まない部分結晶性ガラスが開示
されており、特公昭59−3419号公報にはやはり
PbOを含まない硼珪酸ガラスとアルミニウム酸化
物を主成分とし、銅導体と適合する厚膜多層用絶
縁ペーストが記載されている。特公昭59−14203
号公報にはガラスと結晶性多成分酸化物又はその
前駆体とからなる誘電体組成物が、特開昭55−
130009号公報には珪酸亜鉛とアルカリ土類珪酸塩
とからなるガラス質相と酸化亜鉛含有セラミツク
相を主成分とするペーストが、特公昭59−27119
号公報には部分失透性硼珪酸バリウムマグネシウ
ムガラスとピンホール減少用成分とからなる絶縁
ペーストがそれぞれ開示されている。更に特開昭
55−38882号公報には活性成分としての酸化アル
ミニウムと、ガラス、及び酸化剤として焼成中低
原子価に還元され得る金属酸化物、例えばCe酸
化物、Pr6O11、PrO2、希土類酸化物などから構
成される絶縁ペーストが示されている。これらの
絶縁ペーストはいずれも800℃〜1000℃程度の比
較的高温で焼成する必要がある。 ところで卑金属系厚膜多層回路は、導体層と絶
縁層のみで構成される場合と、厚膜抵抗体や厚膜
コンデンサを組込んで多層化する場合があるが、
後者において、特に抵抗材料にN2中焼成が可能
でかつ実用上満足いくような優れた特性を有する
ものがないため、空気中焼成タイプで従来最も一
般的に使用されている酸化ルテニウム系抵抗ペー
ストが代用される。しかしこの抵抗体は、非酸化
性雰囲気中で700℃以上の高温で再焼成を行うと
還元されて電気特性が変化するので、抵抗体を焼
付形成した後に導体ペーストや絶縁ペーストを
N2中において高温で焼付けして多層化を行うの
が極めて困難であつた。抵抗体にダメージを与え
ない程度の低温で前述の絶縁ペーストを焼付けす
ると、絶縁性が不充分であつたり、接着強度が劣
るなど全く実用に耐えない。 特開昭58−2093号公報には、活性成分としての
セラミツク充填材と、PbO−SiO2−Al2O3ガラス
及び酸化度2以上の酸化鉛を主成分とし、非酸化
性雰囲気中600℃以下の温度で焼成される絶縁ペ
ーストが開示されている。しかしここに示された
ガラスペーストをアルミナ基板上に焼付けると、
絶縁性が充分でなく、又耐水性にも劣る欠点があ
る。 又CdO高含有ガラスを使用した低温焼成タイプ
のガラスペーストも知られているが、空孔が多
く、又絶縁抵抗、耐湿性、耐水性ともに十分でな
く、現在まで実用上満足できる性能を有するN2
中低温焼成用絶縁ペーストは得られていない。 発明が解決しようとする問題点 本発明の目的は、N2などの非酸化性雰囲気中
において、低温、例えば650℃以下の温度で焼成
でき、従つて酸化ルテニウム抵抗の特性に影響を
与えないですみ、しかも絶縁性、機械的強度など
の電気的・物理的特性の優れた絶縁ペーストを得
ることにある。 問題点を解決するための手段 本発明者等はガラスの組成を検討することによ
つて従来の問題を解決し、650℃以下の低温で焼
成しても優れた特性を有する絶縁層を形成し得る
ガラスペーストの開発に成功した。 即ち本発明は、A.重量基準で SiO2 27〜36% Al2O3 1〜3% B2O3 5〜15% PbO 45〜52% CaF2 1〜3% ZnO 1〜3% からなるガラス粉末35〜90重量%と、B.酸化物
フイラー10〜35重量%と、C.酸化剤0〜30重量%
とを有機ビヒクル中に分散させてなる絶縁ペース
トである。 作 用 本発明の絶縁ペーストは、ガラス成分として軟
化点の低いPbOを多く含む硼珪酸鉛アルミニウム
ガラスを用い、比較的多量にSiO2を配合するこ
とにより流動性の制御を行つて、焼成時の急激な
粘度低下による導体層からの導電成分の移動とそ
れによる絶縁不良を阻止し、かつSiO2を多量に
含有することに起因する軟化点の上昇及び耐水性
の低下をCaF2及びZnOを配合することにより防
止したことが特徴である。 ガラスの構成成分中、SiO2は27重量%未満で
は軟化点が下がりすぎ、適切な粘度特性が得られ
ない。36重量%を越えると軟化温度が高くなりす
ぎ、低温焼成では高い膜強度が得られなくなる。 Al2O3は失透防止及び耐候性の向上の目的で使
用する。1重量%未満ではこの効果が限われず、
3重量%を越えると融点が高くなつて好ましくな
い。 B2O3は5重量%より少ないと軟化点が高くな
りすぎ、15重量%より多いと軟化点が低すぎる。 CaF2は融剤として軟化点上昇を抑える目的で
用いられる。1重量%未満では効果がなく、3重
量%より多いと失透するので好ましくない。 ZnOは化学的耐久性、特に耐水性向上の目的で
配合する。配合量が1重量%より少ないとこの効
果が弱く、3重量%を越えると失透し易いので好
ましくない。 ガラス粉末はペーストの全無機質成分中35〜90
重量%使用する。 酸化物フイラーは、焼成膜の流動性の制御及び
有機ビヒクルの燃焼残渣であるカーボンを焼成中
に膜からスムーズに除去するために、ペーストの
全無機質成分中10〜35重量%の範囲で配合する。
10重量%未満では膜がガラス質になつて再焼成時
に流動し易いため、パターンが拡がつたり、電極
成分と相互作用して電極のカーリングや半田付け
性不良を起こしたり、絶縁層の絶縁不良などのト
ラブルを生じ、又脱カーボンも不充分となる。35
重量%を越えると膜強度が弱く、脆くなるので好
ましくない。酸化物としては例えば酸化アルミニ
ウム、酸化マグネシウム、酸化ランタン、酸化チ
タンなどこの種の絶縁ペーストに一般的に用いら
れているものが使用できる。 酸化剤は非酸化性雰囲気中で焼成する際、有機
ビヒクルの完全燃焼を促進し、カーボン残渣を残
さないために配合されるもので、たとえば従来公
知のPbO2、Pb3O4、CeO2、PrO2、Pr6O11、
TeO3、Co3O4、Nd2O3、SrO2などがあげられる。
とくにPbO2の効果が大きい。配合割合は全無機
質成分中0〜30重量%で、ガラスの組成や焼成条
件によつては全く配合しなくてもよいが、通常5
重量%以上用いることが望ましい。 無機成分の配合比は、好ましくはガラス粉末55
〜70重量%、酸化物フイラー15〜30重量%と、酸
化剤10〜25重量%である。 尚、各成分とも径10μm以下の微細粉末を用い
ることが望ましい。 有機ビヒクルは通常の厚膜ペーストに使用され
るものであればいかなるものでもよく、樹脂、溶
剤、可塑剤、その他の添加剤を適宜選択して用い
る。樹脂分としては特にエチルセルロース、エチ
ルヒドロキシエチルセルロース、ニトロセルロー
ス、メタクリレート樹脂、ブチラール樹脂など、
低酸素分圧の雰囲気中において比較的低温で完全
燃焼しやすいものを用いるのがよい。 実施例 次に実施例をあげて本発明を具体的に説明す
る。尚実施例中%及び部はすべて重量基準であ
る。 実施例 1〜5 ガラス原料粉末を表1の組成になるよう秤量、
混合してルツボに入れ、電気炉中1300〜1450℃で
1時間加熱溶融した。溶融物を水中に投入して急
冷、粉砕し、平均粒径3μmのガラス粉末を製造
した。 次にこの粉末と平均粒径0.5μmのAl2O3粉末及
びPbO2粉末とを表1に示した割合で混合し、有
機ビヒクルとしてエチルセルロースの20%ブチル
カルビトール溶液をガラス、Al2O3、PbO2の合
計100部に対して10部加え、更に粘度調整のため
ブチルカルビトールとジブチルフタレートを適当
量添加して混練し、それぞれ絶縁ベーストを製造
した。 1インチ×1インチの96%アルミナ基板上に、
下部導体として銅ペーストを幅05mm、間隔2mm、
5本の櫛状パターンにスクリーン印刷し、N2雰
囲気中600℃で焼成した。この上に上記絶縁ペー
ストを印刷し、150℃で乾燥後、N2中最高温度
600℃で焼成を行つて膜厚40μmの絶縁層を形成
した。次いでその上に銅ペーストを下部電極パタ
ーンと直交するように同様な櫛状パターンに印刷
し、下部電極と同様に焼成してテストサンプルを
作成した。 それぞれのテストサンプルに対して次の試験を
行い、結果を表1に併せて示した。 絶縁抵抗の測定: 上部・下部導体間に50Vの直流電圧を印加
し、絶縁抵抗を測定した。 耐湿負荷寿命試験: 60℃相対湿度95%の高温高湿槽中で50Vの直
流電圧を100時間連続的に印加した後サンプル
を取出して室温で1時間放置し、絶縁抵抗を測
定した。
【表】
比較例 1〜4
表2に示す組成のガラス粉末、酸化物フイラ
ー、PbO2粉末を所定の割合で混合し、有機ビヒ
クル中に均一に分散させて得た絶縁ペーストを用
い、実施例と同様に性能試験を行つた。各成分の
配合量及び試験結果を併せて表2に示す。
ー、PbO2粉末を所定の割合で混合し、有機ビヒ
クル中に均一に分散させて得た絶縁ペーストを用
い、実施例と同様に性能試験を行つた。各成分の
配合量及び試験結果を併せて表2に示す。
【表】
【表】
表1と表2を比較すると、本発明の絶縁ペース
トはいずれも比較例に示したものより絶縁性、耐
湿性ともにはるかに優れていることがわかる。尚
比較例1及び2は膜強度が弱く、脆いので多層回
路用には不適であつた。 効 果 本発明の絶縁ペーストはN2などの非酸化性雰
囲気中、650℃以下の低温で焼成しても、カーボ
ンの残留のない高絶縁性の連続膜を形成すること
ができる。又耐湿性、耐水性に優れており、多層
回路の層間絶縁膜として極めて良好な特性を示
す。従つて卑金属導体を使用する厚膜多層回路の
絶縁層形成に極めて有用である。しかも650℃以
下の低温で焼成できるので、酸化ルテニウム系抵
抗体を形成した後に絶縁層を非酸化性雰囲気中で
焼付ける場合でも、抵抗特性を悪化させることが
ない。 更に本発明のペーストは導体間の絶縁の他、回
路保護被覆用やアンダーグレーズとしても使用す
ることができる。
トはいずれも比較例に示したものより絶縁性、耐
湿性ともにはるかに優れていることがわかる。尚
比較例1及び2は膜強度が弱く、脆いので多層回
路用には不適であつた。 効 果 本発明の絶縁ペーストはN2などの非酸化性雰
囲気中、650℃以下の低温で焼成しても、カーボ
ンの残留のない高絶縁性の連続膜を形成すること
ができる。又耐湿性、耐水性に優れており、多層
回路の層間絶縁膜として極めて良好な特性を示
す。従つて卑金属導体を使用する厚膜多層回路の
絶縁層形成に極めて有用である。しかも650℃以
下の低温で焼成できるので、酸化ルテニウム系抵
抗体を形成した後に絶縁層を非酸化性雰囲気中で
焼付ける場合でも、抵抗特性を悪化させることが
ない。 更に本発明のペーストは導体間の絶縁の他、回
路保護被覆用やアンダーグレーズとしても使用す
ることができる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 A 重量基準で SiO2 27〜36% Al2O3 1〜3% B2O3 5〜15% PbO 45〜52% CaF2 1〜3% ZnO 1〜3% からなるガラス粉末35〜90重量%と、 B 酸化物フイラー10〜35重量%と、 C 酸化剤0〜30重量%と を有機ビヒクル中に分散させてなる絶縁ペース
ト。 2 酸化物フイラーが酸化アルミニウム、酸化マ
グネシウム、酸化ランタン、酸化チタンからなる
群から選ばれた1種又は2種以上である特許請求
の範囲第1項記載の絶縁ペースト。 3 酸化剤がPbO2、Pb3O4、CeO2、PrO2、
Pr6O11、TeO3、Co3O4、Nd2O3、SrO2からなる
群から選ばれた1種又は2種以上の粉末である特
許請求の範囲第1項又は第2項記載の絶縁ペース
ト。 4 A.ガラス粉末が55〜70重量%、B.酸化物フ
イラーが15〜30重量%、C.酸化剤が10〜25重量%
である特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれ
かに記載の絶縁ペースト。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14602885A JPS628404A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 絶縁ペ−スト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14602885A JPS628404A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 絶縁ペ−スト |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS628404A JPS628404A (ja) | 1987-01-16 |
| JPH056281B2 true JPH056281B2 (ja) | 1993-01-26 |
Family
ID=15398471
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14602885A Granted JPS628404A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 絶縁ペ−スト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS628404A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0717404B2 (ja) * | 1986-05-02 | 1995-03-01 | 旭硝子株式会社 | 封着用組成物 |
| JP2812336B2 (ja) * | 1988-11-01 | 1998-10-22 | 旭硝子株式会社 | ペースト組成物 |
-
1985
- 1985-07-03 JP JP14602885A patent/JPS628404A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS628404A (ja) | 1987-01-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |