JPS628404A - 絶縁ペ−スト - Google Patents
絶縁ペ−ストInfo
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- JPS628404A JPS628404A JP14602885A JP14602885A JPS628404A JP S628404 A JPS628404 A JP S628404A JP 14602885 A JP14602885 A JP 14602885A JP 14602885 A JP14602885 A JP 14602885A JP S628404 A JPS628404 A JP S628404A
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Landscapes
- Glass Compositions (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、非酸化性雰囲気中において比較的低温で焼成
し得る絶縁層形成用厚膜ガラスペースト、特に卑金属導
体を用いた厚膜多層回路の絶縁層を製造するのに有用な
絶縁性ガラスペーストに関する。
し得る絶縁層形成用厚膜ガラスペースト、特に卑金属導
体を用いた厚膜多層回路の絶縁層を製造するのに有用な
絶縁性ガラスペーストに関する。
従来の技術
多層回路を製造する一つの方法に、焼成されたセラミッ
ク基板上に第一導体層として厚膜導体ペーストを印刷、
焼成し、次いで上下の導体を分離、絶縁するために絶縁
ペーストを印刷、焼成し、そ □の上に第二の導体
層を形成する工程を順次繰返すことにより、厚膜方式で
導体層と絶縁層を交互に積層していく方法がある。この
ような厚膜多層回路に使用される絶縁ペーストとしては
、膜構造を強化するために酸化物フィラーを含有するガ
ラスペースト、又は部分結晶性のガラスペーストを用い
るのが一般的である。
ク基板上に第一導体層として厚膜導体ペーストを印刷、
焼成し、次いで上下の導体を分離、絶縁するために絶縁
ペーストを印刷、焼成し、そ □の上に第二の導体
層を形成する工程を順次繰返すことにより、厚膜方式で
導体層と絶縁層を交互に積層していく方法がある。この
ような厚膜多層回路に使用される絶縁ペーストとしては
、膜構造を強化するために酸化物フィラーを含有するガ
ラスペースト、又は部分結晶性のガラスペーストを用い
るのが一般的である。
近年エレクトロニクス業界において、高信頼性の卑金属
システムを採用することが強く要望されている。厚膜導
体についてもAg/Pd SAu 1Ag/Ptなどの
負金属系からCO,N+などの卑金属系への移行の検討
がなされているが、これに伴ってこれら卑金属導体と適
合し、N2など卑金属を酸化させないような雰囲気中で
焼成できる絶縁ペーストも開発されている。
システムを採用することが強く要望されている。厚膜導
体についてもAg/Pd SAu 1Ag/Ptなどの
負金属系からCO,N+などの卑金属系への移行の検討
がなされているが、これに伴ってこれら卑金属導体と適
合し、N2など卑金属を酸化させないような雰囲気中で
焼成できる絶縁ペーストも開発されている。
N2中で焼成できる絶縁ペーストは、例えば次のような
ものが知られている。特開昭47−9633号公報は、
pb○を含まない部分結晶性ガラスが開示されており、
特公昭59−3419号公報にはやはりPbOを含まな
い硼珪酸ガラスとアルミニウム酸化物を主成分とし、銅
導体と適合する厚膜多層用絶縁ペーストが記載されてい
る。特公昭59−14203号公報にはガラスと結晶性
多成分酸化物又はその前駆体とからなる誘電体組成物が
、特開昭55−130009号公報には珪酸亜鉛とアル
カリ土類珪酸塩とからなるガラス質相と酸化亜鉛含有セ
ラミック相を主成分とするペーストが、特公昭59−2
7119号公報には部分失透性硼珪酸バリウムマグネシ
ウムガラスとピンホール減少用成分とからなる絶縁ペー
ストがそれぞれ開示されている。更に特開昭55−38
882号公報には活性成分としての酸化アルミニウムと
、ガラス、及び酸化剤として焼成中低原子価に還元され
得る金属酸化物、例えばCe酸化物、pr 60++
、pr 02 、希土類酸化物などから構成される絶縁
ペーストが示されている。これらの絶縁ペーストはいず
れも800℃〜1000℃程度の比較的高温で焼成する
必要がある。
ものが知られている。特開昭47−9633号公報は、
pb○を含まない部分結晶性ガラスが開示されており、
特公昭59−3419号公報にはやはりPbOを含まな
い硼珪酸ガラスとアルミニウム酸化物を主成分とし、銅
導体と適合する厚膜多層用絶縁ペーストが記載されてい
る。特公昭59−14203号公報にはガラスと結晶性
多成分酸化物又はその前駆体とからなる誘電体組成物が
、特開昭55−130009号公報には珪酸亜鉛とアル
カリ土類珪酸塩とからなるガラス質相と酸化亜鉛含有セ
ラミック相を主成分とするペーストが、特公昭59−2
7119号公報には部分失透性硼珪酸バリウムマグネシ
ウムガラスとピンホール減少用成分とからなる絶縁ペー
ストがそれぞれ開示されている。更に特開昭55−38
882号公報には活性成分としての酸化アルミニウムと
、ガラス、及び酸化剤として焼成中低原子価に還元され
得る金属酸化物、例えばCe酸化物、pr 60++
、pr 02 、希土類酸化物などから構成される絶縁
ペーストが示されている。これらの絶縁ペーストはいず
れも800℃〜1000℃程度の比較的高温で焼成する
必要がある。
ところで卑金属系厚膜多層回路は、導体層と絶縁層のみ
で構成される場合と、厚膜抵抗体や厚膜コンデンサを組
込んで多層化する場合があるが、後者において、特に抵
抗材料にN2中焼成が可能でかつ実用上満足いくような
優れた特性を有するものがないため、空気中焼成タイプ
で従来量も一般的に使用されている酸化ルテニウム系抵
抗ペーストが代用される。しかしこの抵抗体は、非酸化
性雰囲気中で700℃以上の高温で再焼成を行うと還元
されて電気特性が変化するので、抵抗体を焼付形成した
後に導体ペーストや絶縁ペーストをN2中においてKF
Mで焼付けして多層化を行うのが極めて困難であった。
で構成される場合と、厚膜抵抗体や厚膜コンデンサを組
込んで多層化する場合があるが、後者において、特に抵
抗材料にN2中焼成が可能でかつ実用上満足いくような
優れた特性を有するものがないため、空気中焼成タイプ
で従来量も一般的に使用されている酸化ルテニウム系抵
抗ペーストが代用される。しかしこの抵抗体は、非酸化
性雰囲気中で700℃以上の高温で再焼成を行うと還元
されて電気特性が変化するので、抵抗体を焼付形成した
後に導体ペーストや絶縁ペーストをN2中においてKF
Mで焼付けして多層化を行うのが極めて困難であった。
抵抗体にダメージを与えない程度の低温で前述の絶縁ペ
ーストを焼付けすると、絶縁性が不充分であったり、接
着強度が劣るなど全く実用に耐えない。
ーストを焼付けすると、絶縁性が不充分であったり、接
着強度が劣るなど全く実用に耐えない。
特開昭58−2093号公報には、活性成分としてのセ
ラミック充填材と、PbO−3i02−AI203ガラ
ス及び酸化度2以上の酸化鉛を主成分とし、非酸化性雰
囲気中600℃以下の温度で焼成される絶縁ペーストが
開示されている。しかしここに示されたガラスペースト
をアルミナ基板上に焼付けると、絶縁性が充分でなく、
又耐水性にも劣る欠点がある。
ラミック充填材と、PbO−3i02−AI203ガラ
ス及び酸化度2以上の酸化鉛を主成分とし、非酸化性雰
囲気中600℃以下の温度で焼成される絶縁ペーストが
開示されている。しかしここに示されたガラスペースト
をアルミナ基板上に焼付けると、絶縁性が充分でなく、
又耐水性にも劣る欠点がある。
又CdO高含有ガラスを使用した低温焼成タイプのガラ
スペーストも知られているが、空孔が多く、又絶縁抵抗
、耐湿性、耐水性ともに十分でなく、現在まで実用上満
足できる性能を有するN2中低温焼成用絶縁ペーストは
得られていない。
スペーストも知られているが、空孔が多く、又絶縁抵抗
、耐湿性、耐水性ともに十分でなく、現在まで実用上満
足できる性能を有するN2中低温焼成用絶縁ペーストは
得られていない。
発明が解決しようとする問題点
本発明の目的は、N2などの非酸化性雰囲気中において
、低温、例えば650℃以下の温度で焼成でき、従って
酸化ルテニウム抵抗の特性に影響を与えないですみ、し
かも絶縁性、機械的強度などの電気的・物理的特性の優
れた絶縁ペーストを得ることにある。
、低温、例えば650℃以下の温度で焼成でき、従って
酸化ルテニウム抵抗の特性に影響を与えないですみ、し
かも絶縁性、機械的強度などの電気的・物理的特性の優
れた絶縁ペーストを得ることにある。
問題点を解決するための手段
本発明者等はガラスの組成を検討することによって従来
の問題を解決し、650℃以下の低温で焼成しても優れ
た特性を有する絶縁層を形成し得るガラスペーストの開
発に成功した。
の問題を解決し、650℃以下の低温で焼成しても優れ
た特性を有する絶縁層を形成し得るガラスペーストの開
発に成功した。
即ち本発明は、A0重量基準で
Si 02 27〜36%
Al2O31〜 3%
82 03 5〜15%
Pb o 45〜52%
Ca F2 1〜 3%
Zn0 1〜 3%
かうなるガラス粉末35〜90重量%と、B、酸化物フ
ィラー10〜35重量%と、C0酸化剤0゛〜30重量
%とを有機ビヒクル中に分散させてなる絶縁ペーストで
ある。
ィラー10〜35重量%と、C0酸化剤0゛〜30重量
%とを有機ビヒクル中に分散させてなる絶縁ペーストで
ある。
作」し
本発明の絶縁ペーストは、ガラス成分として軟化点の低
いPbOを多く含む硼珪酸鉛アルミニウムガラスを用い
、比較的多量にst 02を配合することにより流動性
の制御を行って、焼成時の急激な粘度低下による導体層
からの導電成分の移動とそれによる絶縁不良を阻止し、
かつ5102を多量に含有することに起因する軟化点の
上昇及び耐水性の低下をCaFz及びZnOを配合する
ことにより防止したことが特徴である。
いPbOを多く含む硼珪酸鉛アルミニウムガラスを用い
、比較的多量にst 02を配合することにより流動性
の制御を行って、焼成時の急激な粘度低下による導体層
からの導電成分の移動とそれによる絶縁不良を阻止し、
かつ5102を多量に含有することに起因する軟化点の
上昇及び耐水性の低下をCaFz及びZnOを配合する
ことにより防止したことが特徴である。
ガラスの構成成分中、Si 02は27重層%未満では
軟化点が下がりすぎ、適切な粘度特性が得られない。3
6重量%を越えると軟化温度が高くなりすぎ、低温焼成
では高い膜強度が得られなくなる。
軟化点が下がりすぎ、適切な粘度特性が得られない。3
6重量%を越えると軟化温度が高くなりすぎ、低温焼成
では高い膜強度が得られなくなる。
Al2O3は失透防止及び耐候性の向上の目的で使用す
る。1重量%未満ではこの効果が現われず、3重量%を
越えると融点が高くなって好ましくない。
る。1重量%未満ではこの効果が現われず、3重量%を
越えると融点が高くなって好ましくない。
B2O3は5重量%より少ないと軟化点が高くなりすぎ
、15重量%より多いと軟化点が低すぎる。
、15重量%より多いと軟化点が低すぎる。
CaF2は融剤として軟化点上昇を抑える目的で用いら
れる。1重団%未満では効果がなく、3重量%より多い
と失透するので好ましくない。
れる。1重団%未満では効果がなく、3重量%より多い
と失透するので好ましくない。
ZnOは化学的耐久性、特に耐水性向上の目的で配合す
る。配合量が1重量%より少ないとこの効果が弱く、3
重量%を越えると失透し易いので好ましくない。
る。配合量が1重量%より少ないとこの効果が弱く、3
重量%を越えると失透し易いので好ましくない。
ガラス粉末はペーストの全無機質成分中35〜905〜
90重量る。
90重量る。
酸化物フィラーは、焼成膜の流動性の制御及び有機ビヒ
クルの燃焼残渣であるカーボンを焼成中に膜からスムー
ズに除去するために、ペーストの全無機質成分中10〜
35重ω%の範囲で配合する。10重重最未満では膜が
ガラス質になって再焼成時に流動し易いため、パターン
が拡がったり、電極成分と相互作用して電極のカーリン
グや半田付は性不良を起こしたり、絶縁層の絶縁不良な
どのトラブルを生じ、又脱カーボンも不充分となる。
クルの燃焼残渣であるカーボンを焼成中に膜からスムー
ズに除去するために、ペーストの全無機質成分中10〜
35重ω%の範囲で配合する。10重重最未満では膜が
ガラス質になって再焼成時に流動し易いため、パターン
が拡がったり、電極成分と相互作用して電極のカーリン
グや半田付は性不良を起こしたり、絶縁層の絶縁不良な
どのトラブルを生じ、又脱カーボンも不充分となる。
35重量%を越えると膜強度が弱く、脆くなるので好ま
しくない。酸化物としては例えば酸化アルミニウム、酸
化マグネシウム、酸化ランタン、酸化チタンなどこの種
の絶縁ペーストに一般的に用いられているものが使用で
きる。
しくない。酸化物としては例えば酸化アルミニウム、酸
化マグネシウム、酸化ランタン、酸化チタンなどこの種
の絶縁ペーストに一般的に用いられているものが使用で
きる。
酸化剤は非酸化性雰囲気中で焼成する際、有機ビヒクル
の完全燃焼を促進し、カーボン残渣を残さないために配
合されるもので、たとえば従来公知のPb 02 、P
I)s 04 、Ce 02 、pr 02、pr 6
on、TaO2、Co 304、Nd 203、S「0
2などがあげられる。とくにPb0zの効果が大きい。
の完全燃焼を促進し、カーボン残渣を残さないために配
合されるもので、たとえば従来公知のPb 02 、P
I)s 04 、Ce 02 、pr 02、pr 6
on、TaO2、Co 304、Nd 203、S「0
2などがあげられる。とくにPb0zの効果が大きい。
配合割合は全無機質成分中0〜30重量%で、ガラスの
組成や焼成条件によっては全く配合しなくてもよいが、
通常5重量%以上用いることが望ましい。
組成や焼成条件によっては全く配合しなくてもよいが、
通常5重量%以上用いることが望ましい。
無機成分の配合比は、好ましくはガラス粉末55〜70
重量%、酸化物フィラー15〜30重量%と、酸化剤1
0〜25重量%である。
重量%、酸化物フィラー15〜30重量%と、酸化剤1
0〜25重量%である。
尚、各成分とも径10A1以下の微細粉末を用いること
が望ましい。
が望ましい。
有機ビヒクルは通常の厚膜ペーストに使用されるもので
あればいかなるものでもよく、樹脂、溶剤、可塑剤、そ
の他の添加剤を適宜選択して用いる。樹脂分としては特
にエチルセルロース、エチルヒト0キシエチルセルロー
ス、ニトロセルロース、メタクリレート樹脂、ブチラー
ル樹脂など、低酸素分圧の雰囲気中において比較的低温
で完全燃焼しやすいものを用いるのがよい。
あればいかなるものでもよく、樹脂、溶剤、可塑剤、そ
の他の添加剤を適宜選択して用いる。樹脂分としては特
にエチルセルロース、エチルヒト0キシエチルセルロー
ス、ニトロセルロース、メタクリレート樹脂、ブチラー
ル樹脂など、低酸素分圧の雰囲気中において比較的低温
で完全燃焼しやすいものを用いるのがよい。
f1
次に実施例をあげて本発明を具体的に説明する。
尚実施例中%及び部はすべて重量基準である。
実施例1〜5
ガラス原料粉末を表1の組成になるよう秤m、混合して
ルツボに入れ、電気炉中1300〜1450℃で188
間加熱溶融した。溶融物を水中に投入して急冷、粉砕し
、平均粒径3肩のガラス粉末を製造した。
ルツボに入れ、電気炉中1300〜1450℃で188
間加熱溶融した。溶融物を水中に投入して急冷、粉砕し
、平均粒径3肩のガラス粉末を製造した。
次にこの粉末と平均粒径0.54のAl2O3粉−末及
びPbO2粉末とを表1に示した割合で混合し、有機ビ
ヒクルとしてエチルセル0−スの20%ブチルカルピト
ール溶液をガラス、Al2O3、PbO2の合計100
部に対して10部加え、更に粘度調整のためブチルカル
ピトールとジブチルフタレートを適当量添加して混練し
、それぞれ絶縁ペーストを製造した。
びPbO2粉末とを表1に示した割合で混合し、有機ビ
ヒクルとしてエチルセル0−スの20%ブチルカルピト
ール溶液をガラス、Al2O3、PbO2の合計100
部に対して10部加え、更に粘度調整のためブチルカル
ピトールとジブチルフタレートを適当量添加して混練し
、それぞれ絶縁ペーストを製造した。
1インチx1インチの96%アルミナ基板上に、下部導
体として銅ペーストを幅0.5n間隔、2mm(5本)
の櫛状パターンにスクリーン中欄し、N2雰囲気中60
0℃で焼成した。この上に上記絶縁ペーストを印刷し、
150℃で乾燥後、N2中最高温度600℃で焼成を行
って膜厚404の絶縁層を形成した。次いでその上に銅
ペーストを下部電極パターンと直交するように同様な櫛
状パターンに印刷し、下部電極と同様に焼成してテスト
サンプルを作成した。
体として銅ペーストを幅0.5n間隔、2mm(5本)
の櫛状パターンにスクリーン中欄し、N2雰囲気中60
0℃で焼成した。この上に上記絶縁ペーストを印刷し、
150℃で乾燥後、N2中最高温度600℃で焼成を行
って膜厚404の絶縁層を形成した。次いでその上に銅
ペーストを下部電極パターンと直交するように同様な櫛
状パターンに印刷し、下部電極と同様に焼成してテスト
サンプルを作成した。
それぞれのテストサンプルに対して次の試験を行い、結
果を表1に併せて示した。
果を表1に併せて示した。
■絶縁抵抗の測定:
上部・下部導体間に50Vの直流電圧を印加し、絶縁抵
抗を測定した。
抗を測定した。
■耐湿負荷寿命試験:
60℃相対湿度95%の高温高湿槽中で50Vの直流電
圧を100時間連続的に印加した後サンプルを取出して
室温で1時間放置し、絶縁抵抗を測定した。
圧を100時間連続的に印加した後サンプルを取出して
室温で1時間放置し、絶縁抵抗を測定した。
(以下余白)
表1
比較例1〜4
表2に示す組成のガラス粉末、酸化物フィラー、Pb
Oz粉末を所定の割合で混合し、有機ビヒクル中に均一
に分散させて得た絶縁ペーストを用い、実施例と同様に
性能試験を行った。各成分の配合色及び試験結果を併せ
て表2に示す。
Oz粉末を所定の割合で混合し、有機ビヒクル中に均一
に分散させて得た絶縁ペーストを用い、実施例と同様に
性能試験を行った。各成分の配合色及び試験結果を併せ
て表2に示す。
(以下余白)
表2
表1と表2を比較すると、本発明の絶縁ペーストはいず
れも比較例に示したものより絶縁性、耐湿性ともにはる
かに優れていることがわかる。尚比較例1及び2は膜強
度が弱く、脆いので多層回路用には不適であった。
れも比較例に示したものより絶縁性、耐湿性ともにはる
かに優れていることがわかる。尚比較例1及び2は膜強
度が弱く、脆いので多層回路用には不適であった。
効果
本発明の絶縁ペーストはN2などの非酸化性雰囲気中、
650℃以下の低温で焼成しても、カーボンの残留のな
い高絶縁性の連続膜を形成することができる。又耐湿性
、耐水性に優れており、多層回路の層間絶縁膜として極
めて良好な特性を示す。従って卑金属導体を使用する厚
膜多層回路の絶縁層形成に極めて有用である。しかも6
50℃以下の低温で焼成できるので、酸化ルテニウム系
抵抗体を形成した後に絶縁層を非酸化性雰囲気中で焼付
ける場合でも、抵抗特性を悪化させることがない。
650℃以下の低温で焼成しても、カーボンの残留のな
い高絶縁性の連続膜を形成することができる。又耐湿性
、耐水性に優れており、多層回路の層間絶縁膜として極
めて良好な特性を示す。従って卑金属導体を使用する厚
膜多層回路の絶縁層形成に極めて有用である。しかも6
50℃以下の低温で焼成できるので、酸化ルテニウム系
抵抗体を形成した後に絶縁層を非酸化性雰囲気中で焼付
ける場合でも、抵抗特性を悪化させることがない。
更に本発明のペーストは導体間の絶縁の他、回路保護被
覆用やアンダーグレーズとしても使用することができる
。
覆用やアンダーグレーズとしても使用することができる
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 A、重量基準で SiO_2 27〜36% Al_2O_3 1〜3% B_2O_3 5〜15% PbO 45〜52% CaF_2 1〜3% ZnO 1〜% からなるガラス粉末35〜90重量%と、 B、酸化物フィラー10〜35重量%と、 C、酸化剤0〜30重量%と を有機ビヒクル中に分散させてなる絶縁ペースト。 2 酸化物フィラーが酸化アルミニウム、酸化マグネシ
ウム、酸化ランタン、酸化チタンからなる群から選ばれ
た1種又は2種以上である特許請求の範囲第1項記載の
絶縁ペースト。 3 酸化剤がPbO_2、Pb_3O_4、CeO_2
、PrO_2、Pr_6O_1_1、TeO_3、Co
_3O_4、Nd_2O_3、SrO_2からなる群か
ら選ばれた1種又は2種以上の粉末である特許請求の範
囲第1項又は第2項記載の絶縁ペースト。 4 A、ガラス粉末が55〜70重量%、B、酸化物フ
ィラーが15〜30重量%、C、酸化剤が10〜25重
量%である特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれか
に記載の絶縁ペースト。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14602885A JPS628404A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 絶縁ペ−スト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14602885A JPS628404A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 絶縁ペ−スト |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS628404A true JPS628404A (ja) | 1987-01-16 |
| JPH056281B2 JPH056281B2 (ja) | 1993-01-26 |
Family
ID=15398471
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14602885A Granted JPS628404A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 絶縁ペ−スト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS628404A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62260733A (ja) * | 1986-05-02 | 1987-11-13 | Asahi Glass Co Ltd | 封着用組成物 |
| JPH02124744A (ja) * | 1988-11-01 | 1990-05-14 | Asahi Glass Co Ltd | ペースト組成物 |
-
1985
- 1985-07-03 JP JP14602885A patent/JPS628404A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62260733A (ja) * | 1986-05-02 | 1987-11-13 | Asahi Glass Co Ltd | 封着用組成物 |
| JPH02124744A (ja) * | 1988-11-01 | 1990-05-14 | Asahi Glass Co Ltd | ペースト組成物 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH056281B2 (ja) | 1993-01-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |