JPH0564238A - 二次元撮像装置の検査装置 - Google Patents
二次元撮像装置の検査装置Info
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- JPH0564238A JPH0564238A JP3219033A JP21903391A JPH0564238A JP H0564238 A JPH0564238 A JP H0564238A JP 3219033 A JP3219033 A JP 3219033A JP 21903391 A JP21903391 A JP 21903391A JP H0564238 A JPH0564238 A JP H0564238A
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Abstract
(57)【要約】
【構成】ＣＣＤエリアセンサ１の出力を垂直方向又は水
平方向の各ラインごとに加算する加算器２、及び加算器
２の加算結果を隣接ライン同士で減算する第１減算器３
に加えて、第１減算器３の減算結果を隣接する減算結果
同士で減算する第２減算器５を設け、第２減算器５の減
算結果が所定範囲内であるかどうかを判定する判定器６
を備える。 【効果】ＣＣＤエリアセンサ１の転送欠陥による不良を
受光面の周辺部等の出力レベルのうなり等と区別して確
実に検出することができる。
平方向の各ラインごとに加算する加算器２、及び加算器
２の加算結果を隣接ライン同士で減算する第１減算器３
に加えて、第１減算器３の減算結果を隣接する減算結果
同士で減算する第２減算器５を設け、第２減算器５の減
算結果が所定範囲内であるかどうかを判定する判定器６
を備える。 【効果】ＣＣＤエリアセンサ１の転送欠陥による不良を
受光面の周辺部等の出力レベルのうなり等と区別して確
実に検出することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＣＣＤエリアセンサ等
の二次元撮像装置において映像信号に縦方向や横方向の
すじが発生する不良を検出する検査装置に関する。
の二次元撮像装置において映像信号に縦方向や横方向の
すじが発生する不良を検出する検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】二次元撮像装置の代表例としてはＣＣＤ
エリアセンサが挙げられる。以下では、ＣＣＤエリアセ
ンサを例として説明する。ＣＣＤエリアセンサは、受光
面に配置された多数の受光素子の出力を、まず垂直転送
部によって各ラインごとにパラレルに垂直転送し、次に
水平転送部によって順次シリアルに水平転送することに
より映像信号を得るものである。このため、垂直転送部
又は水平転送部において転送欠陥が発生すると、映像信
号に縦方向又は横方向のすじが生じ画像品質を損なうこ
とになる。そこで、ＣＣＤエリアセンサの製造工程で
は、このような転送欠陥による不良を効率よくかつ確実
に検出する必要がある。
エリアセンサが挙げられる。以下では、ＣＣＤエリアセ
ンサを例として説明する。ＣＣＤエリアセンサは、受光
面に配置された多数の受光素子の出力を、まず垂直転送
部によって各ラインごとにパラレルに垂直転送し、次に
水平転送部によって順次シリアルに水平転送することに
より映像信号を得るものである。このため、垂直転送部
又は水平転送部において転送欠陥が発生すると、映像信
号に縦方向又は横方向のすじが生じ画像品質を損なうこ
とになる。そこで、ＣＣＤエリアセンサの製造工程で
は、このような転送欠陥による不良を効率よくかつ確実
に検出する必要がある。
【０００３】このような転送欠陥を検出する従来のＣＣ
Ｄエリアセンサの検査装置は、図４に示すように、ＣＣ
Ｄエリアセンサ１１が出力した映像信号について、まず
加算器１２で垂直方向又は水平方向の各ラインごとに加
算を行い、次に減算器１３によってこの各ラインの加算
結果を隣接ライン同士で減算し、さらに最大値・最小値
検出器１４でこの減算結果の最大値又は最小値を検出
し、最後に判定器１６によって判定を行うことにより転
送欠陥による不良を検出していた。
Ｄエリアセンサの検査装置は、図４に示すように、ＣＣ
Ｄエリアセンサ１１が出力した映像信号について、まず
加算器１２で垂直方向又は水平方向の各ラインごとに加
算を行い、次に減算器１３によってこの各ラインの加算
結果を隣接ライン同士で減算し、さらに最大値・最小値
検出器１４でこの減算結果の最大値又は最小値を検出
し、最後に判定器１６によって判定を行うことにより転
送欠陥による不良を検出していた。
【０００４】即ち、ＣＣＤエリアセンサ１１に転送欠陥
が生じていた場合、例えば図２に示すように、ＣＣＤエ
リアセンサ１１の出力を加算器１２でラインごとに加算
すると、欠陥のあるラインでの加算結果のみが９０ｍＶ
となって、他のラインの１００ｍＶよりも減少した値と
なる。そして、この加算結果を隣接するもの同士減算器
１３で順次減算すると、欠陥のあるラインの前後の減算
結果が１０ｍＶ及び−１０ｍＶとなって、それぞれ減算
結果の最大値及び最小値となる。従って、この最大値又
は最小値を最大値・最小値検出器１４によって検出し、
判定器１６によってその絶対値が例えば所定値１０ｍＶ
以上であるかどうかを判定すれば、ＣＣＤエリアセンサ
１１の転送欠陥による不良を検出することができる。
が生じていた場合、例えば図２に示すように、ＣＣＤエ
リアセンサ１１の出力を加算器１２でラインごとに加算
すると、欠陥のあるラインでの加算結果のみが９０ｍＶ
となって、他のラインの１００ｍＶよりも減少した値と
なる。そして、この加算結果を隣接するもの同士減算器
１３で順次減算すると、欠陥のあるラインの前後の減算
結果が１０ｍＶ及び−１０ｍＶとなって、それぞれ減算
結果の最大値及び最小値となる。従って、この最大値又
は最小値を最大値・最小値検出器１４によって検出し、
判定器１６によってその絶対値が例えば所定値１０ｍＶ
以上であるかどうかを判定すれば、ＣＣＤエリアセンサ
１１の転送欠陥による不良を検出することができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところが、ＣＣＤエリ
アセンサ１１は、受光面の周辺部等で徐々に出力レベル
が変化するうなりやむらが発生することがある。例えば
図３に示すＣＣＤエリアセンサ１１の場合には、加算器
１２の加算結果が徐々に図示右側のラインほど減少する
傾向にある。しかし、このように複数のラインに渡って
徐々に発生する出力レベルの変化は、転送部の転送欠陥
によって生じるものではなく画像品質にも大きな影響を
与えることがないため、このＣＣＤエリアセンサ１１を
不良とする必要はない。
アセンサ１１は、受光面の周辺部等で徐々に出力レベル
が変化するうなりやむらが発生することがある。例えば
図３に示すＣＣＤエリアセンサ１１の場合には、加算器
１２の加算結果が徐々に図示右側のラインほど減少する
傾向にある。しかし、このように複数のラインに渡って
徐々に発生する出力レベルの変化は、転送部の転送欠陥
によって生じるものではなく画像品質にも大きな影響を
与えることがないため、このＣＣＤエリアセンサ１１を
不良とする必要はない。
【０００６】ただし、図３に示したＣＣＤエリアセンサ
１１を従来の検査装置で検査すると、減算器１３の出力
の最大値が１２ｍＶに達し、判定器１６での所定値を上
記のように１０ｍＶとしたのでは、誤検出により不良と
されることになる。また、所定値を１２ｍＶより大きな
値としたのでは、図２に示した転送欠陥のあるＣＣＤエ
リアセンサ１１の不良が検出できなくなる。
１１を従来の検査装置で検査すると、減算器１３の出力
の最大値が１２ｍＶに達し、判定器１６での所定値を上
記のように１０ｍＶとしたのでは、誤検出により不良と
されることになる。また、所定値を１２ｍＶより大きな
値としたのでは、図２に示した転送欠陥のあるＣＣＤエ
リアセンサ１１の不良が検出できなくなる。
【０００７】この結果、従来の検査装置は、ＣＣＤエリ
アセンサの転送欠陥による不良のみを確実に検出するこ
とができず、この検査によって不良と判定されたものを
目視によって再度検査する必要があるため検査効率が悪
くなるという問題が生じていた。
アセンサの転送欠陥による不良のみを確実に検出するこ
とができず、この検査によって不良と判定されたものを
目視によって再度検査する必要があるため検査効率が悪
くなるという問題が生じていた。
【０００８】本発明は、上記事情に鑑み、ＣＣＤエリア
センサ等の二次元撮像装置の各ラインの出力について２
回の減算を行うことにより、転送欠陥による不良のみを
確実に検出することができる二次元撮像装置の検査装置
を提供することを目的としている。
センサ等の二次元撮像装置の各ラインの出力について２
回の減算を行うことにより、転送欠陥による不良のみを
確実に検出することができる二次元撮像装置の検査装置
を提供することを目的としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の二次元撮像装置
の検査装置は、二次元撮像装置の出力を垂直方向又は水
平方向の各ラインごとに加算する加算器、該加算器の加
算結果を隣接ライン同士で減算する第１減算器、該第１
減算器の減算結果を隣接する減算結果同士で減算する第
２減算器、及び該第２減算器の減算結果が所定範囲内で
あるかどうかを判定する判定器を備えており、そのこと
により上記目的が達成される。
の検査装置は、二次元撮像装置の出力を垂直方向又は水
平方向の各ラインごとに加算する加算器、該加算器の加
算結果を隣接ライン同士で減算する第１減算器、該第１
減算器の減算結果を隣接する減算結果同士で減算する第
２減算器、及び該第２減算器の減算結果が所定範囲内で
あるかどうかを判定する判定器を備えており、そのこと
により上記目的が達成される。
【００１０】
【作用】上記構成に於いて、加算器の加算結果は、ＣＣ
Ｄエリアセンサ等の二次元撮像装置における垂直方向又
は水平方向の各ラインごとの出力を示す。そして、第１
減算器の減算結果は、隣接するライン同士の出力の差を
示し、第２減算器の減算結果は、この出力の差の変化の
程度を示すことになる。
Ｄエリアセンサ等の二次元撮像装置における垂直方向又
は水平方向の各ラインごとの出力を示す。そして、第１
減算器の減算結果は、隣接するライン同士の出力の差を
示し、第２減算器の減算結果は、この出力の差の変化の
程度を示すことになる。
【００１１】従って、例えばＣＣＤエリアセンサの出力
がラインごとに徐々に低下しているような場合には、第
１減算器の減算結果の絶対値はある程度の大きさとなる
が、これらの値同士が比較的近い値となるため、第２減
算器の減算結果の絶対値はいずれも小さな値を示すよう
になる。この結果、ＣＣＤエリアセンサの受光面の周辺
部等で徐々に出力レベルが変化するうなりやむらが発生
している場合には、第１減算器の減算結果の絶対値が大
きくても第２減算器の減算結果の絶対値は小さい値とな
るので、判定器が所定範囲を超えた不良であると誤判定
するおそれはない。
がラインごとに徐々に低下しているような場合には、第
１減算器の減算結果の絶対値はある程度の大きさとなる
が、これらの値同士が比較的近い値となるため、第２減
算器の減算結果の絶対値はいずれも小さな値を示すよう
になる。この結果、ＣＣＤエリアセンサの受光面の周辺
部等で徐々に出力レベルが変化するうなりやむらが発生
している場合には、第１減算器の減算結果の絶対値が大
きくても第２減算器の減算結果の絶対値は小さい値とな
るので、判定器が所定範囲を超えた不良であると誤判定
するおそれはない。
【００１２】また、ＣＣＤエリアセンサの特定のライン
の出力のみが低下しているような場合には、第１減算器
の減算結果がこのラインの前後で正負逆の値を示し、こ
れらの差を示す第２減算器の減算結果の絶対値が極めて
大きな値となる。この結果、ＣＣＤエリアセンサの特定
のラインに転送欠陥が発生した場合には、第１減算器の
減算結果の絶対値があまり大きくない値であったとして
も、第２減算器の減算結果の絶対値は充分大きな値とな
り、判定器によって確実に所定範囲を超える不良である
と判定することができる。
の出力のみが低下しているような場合には、第１減算器
の減算結果がこのラインの前後で正負逆の値を示し、こ
れらの差を示す第２減算器の減算結果の絶対値が極めて
大きな値となる。この結果、ＣＣＤエリアセンサの特定
のラインに転送欠陥が発生した場合には、第１減算器の
減算結果の絶対値があまり大きくない値であったとして
も、第２減算器の減算結果の絶対値は充分大きな値とな
り、判定器によって確実に所定範囲を超える不良である
と判定することができる。
【００１３】なお、判定器は、第２減算器の全ての減算
結果について判定を行う必要はなく、第２減算器の減算
結果における絶対値が最大のもののみを検出して、これ
についてのみ判定を行うようにしてもよい。また、第２
減算器は、第１減算器の全ての減算結果について減算を
行う必要はなく、第１減算器の減算結果における絶対値
が最大のもののみを検出して、このラインの前後の減算
結果についてのみ減算を行うようにすることもできる。
結果について判定を行う必要はなく、第２減算器の減算
結果における絶対値が最大のもののみを検出して、これ
についてのみ判定を行うようにしてもよい。また、第２
減算器は、第１減算器の全ての減算結果について減算を
行う必要はなく、第１減算器の減算結果における絶対値
が最大のもののみを検出して、このラインの前後の減算
結果についてのみ減算を行うようにすることもできる。
【００１４】
【実施例】本発明を実施例について以下に説明する。
【００１５】図１に本発明の一実施例を示す。本実施例
は、ＣＣＤエリアセンサの検査装置である。検査対象と
なるＣＣＤエリアセンサ１の出力は、図１に示すよう
に、本実施例の検査装置の加算器２に接続されている。
加算器２は、ＣＣＤエリアセンサ１が出力した映像信号
について、垂直方向又は水平方向の各ラインごとに加算
を行い、この加算結果をライン別に出力する回路であ
る。加算器２の出力は、第１減算器３に接続されてい
る。第１減算器３は、加算器２の加算結果を隣接ライン
同士で減算し、この減算結果を順次出力する回路であ
る。第１減算器３の出力は、最大値・最小値検出器４に
接続されている。最大値・最小値検出器４は、第１減算
器３の減算結果のうちの最大値又は最小値を検出する回
路である。
は、ＣＣＤエリアセンサの検査装置である。検査対象と
なるＣＣＤエリアセンサ１の出力は、図１に示すよう
に、本実施例の検査装置の加算器２に接続されている。
加算器２は、ＣＣＤエリアセンサ１が出力した映像信号
について、垂直方向又は水平方向の各ラインごとに加算
を行い、この加算結果をライン別に出力する回路であ
る。加算器２の出力は、第１減算器３に接続されてい
る。第１減算器３は、加算器２の加算結果を隣接ライン
同士で減算し、この減算結果を順次出力する回路であ
る。第１減算器３の出力は、最大値・最小値検出器４に
接続されている。最大値・最小値検出器４は、第１減算
器３の減算結果のうちの最大値又は最小値を検出する回
路である。
【００１６】最大値・最小値検出器４の出力は、第２減
算器５に接続されている。第２減算器５は、最大値・最
小値検出器４が検出した最大値又は最小値とこの前後の
第１減算器３の減算結果との減算を行う回路である。第
２減算器５の出力は、判定器６に接続されている。判定
器６は、第２減算器５の減算結果が所定範囲内かどう
か、即ち減算結果の絶対値が所定値より小さいかどうか
を判断する回路である。そして、第２減算器５の減算結
果の絶対値が所定値以上であると判断した場合に、その
ＣＣＤエリアセンサ１が転送欠陥による不良であると判
定する。
算器５に接続されている。第２減算器５は、最大値・最
小値検出器４が検出した最大値又は最小値とこの前後の
第１減算器３の減算結果との減算を行う回路である。第
２減算器５の出力は、判定器６に接続されている。判定
器６は、第２減算器５の減算結果が所定範囲内かどう
か、即ち減算結果の絶対値が所定値より小さいかどうか
を判断する回路である。そして、第２減算器５の減算結
果の絶対値が所定値以上であると判断した場合に、その
ＣＣＤエリアセンサ１が転送欠陥による不良であると判
定する。
【００１７】上記構成の検査装置の動作を前記図２及び
図３に基づいて説明する。なお、これらの図２及び図３
は、説明を簡単にするためにライン数を大幅に少なく示
している。
図３に基づいて説明する。なお、これらの図２及び図３
は、説明を簡単にするためにライン数を大幅に少なく示
している。
【００１８】加算器２の加算結果は、ＣＣＤエリアセン
サ１における垂直方向又は水平方向の各ラインごとの出
力を示す。従って、このＣＣＤエリアセンサ１の転送部
に転送欠陥が生じた場合には、例えば図２に示すよう
に、他のラインの加算結果が１００ｍＶとなって均一な
出力が得られているにもかかわらず、転送欠陥が生じた
ラインの加算結果だけが９０ｍＶとなり出力が減少する
ことになる。また、転送欠陥は発生していないがＣＣＤ
エリアセンサ１の出力がラインごとに徐々に低下してい
るような場合には、例えば図３に示すように、各ライン
の加算結果も１００ｍＶ〜５０ｍＶと徐々に減少するこ
とになる。
サ１における垂直方向又は水平方向の各ラインごとの出
力を示す。従って、このＣＣＤエリアセンサ１の転送部
に転送欠陥が生じた場合には、例えば図２に示すよう
に、他のラインの加算結果が１００ｍＶとなって均一な
出力が得られているにもかかわらず、転送欠陥が生じた
ラインの加算結果だけが９０ｍＶとなり出力が減少する
ことになる。また、転送欠陥は発生していないがＣＣＤ
エリアセンサ１の出力がラインごとに徐々に低下してい
るような場合には、例えば図３に示すように、各ライン
の加算結果も１００ｍＶ〜５０ｍＶと徐々に減少するこ
とになる。
【００１９】第１減算器３の減算結果は、隣接するライ
ン同士の出力の差を示す。従って、図２の場合には、他
のライン間の減算結果が０ｍＶであるにもかかわらず、
転送欠陥が生じたラインの前後の減算結果が正負逆の１
０ｍＶ及び−１０ｍＶとなって減算結果の最大値及び最
小値を示すことになる。また、図３の場合には、各ライ
ン間の減算結果が同一符号でほぼ一定の１０ｍＶとな
り、この場合であれば最大値が１２ｍＶ、最小値が８ｍ
Ｖの比較的近い値となる。
ン同士の出力の差を示す。従って、図２の場合には、他
のライン間の減算結果が０ｍＶであるにもかかわらず、
転送欠陥が生じたラインの前後の減算結果が正負逆の１
０ｍＶ及び−１０ｍＶとなって減算結果の最大値及び最
小値を示すことになる。また、図３の場合には、各ライ
ン間の減算結果が同一符号でほぼ一定の１０ｍＶとな
り、この場合であれば最大値が１２ｍＶ、最小値が８ｍ
Ｖの比較的近い値となる。
【００２０】第１減算器３の減算結果から最大値・最小
値検出器４によって最大値又は最小値が検出されると、
第２減算器５によってこの最大値又は最小値とその前後
の第１減算器３の減算結果との減算が行われる。第２減
算器５の減算結果は、第１減算器３の減算結果が示す各
ラインの出力の差における変化の程度を示す。従って、
図２の場合であれば、最大値・最小値検出器４が検出し
た最大値とその次の減算結果との差が２０ｍＶ［＝１０
−（−１０）］となり、最小値とその前の減算結果との
差も−２０ｍＶ［＝−１０−１０］となって、いずれも
絶対値の大きい値となる。しかし、図３の場合には、最
大値・最小値検出器４が検出した最大値とその前の減算
結果との差が４ｍＶ［＝１２−８］となり、最小値とそ
の後の減算結果との差も−４ｍＶ［＝８−１２］となっ
て、いずれも絶対値の小さい値となる。
値検出器４によって最大値又は最小値が検出されると、
第２減算器５によってこの最大値又は最小値とその前後
の第１減算器３の減算結果との減算が行われる。第２減
算器５の減算結果は、第１減算器３の減算結果が示す各
ラインの出力の差における変化の程度を示す。従って、
図２の場合であれば、最大値・最小値検出器４が検出し
た最大値とその次の減算結果との差が２０ｍＶ［＝１０
−（−１０）］となり、最小値とその前の減算結果との
差も−２０ｍＶ［＝−１０−１０］となって、いずれも
絶対値の大きい値となる。しかし、図３の場合には、最
大値・最小値検出器４が検出した最大値とその前の減算
結果との差が４ｍＶ［＝１２−８］となり、最小値とそ
の後の減算結果との差も−４ｍＶ［＝８−１２］となっ
て、いずれも絶対値の小さい値となる。
【００２１】判定器６は、第２減算器５の減算結果の絶
対値が所定値以上となったかどうかを判断することによ
り、ＣＣＤエリアセンサ１の転送欠陥による不良を判定
する。即ち、判定器６は、所定値を２０ｍＶ未満に設定
しておけば、図２の場合の転送欠陥を確実に検出するこ
とができる。また、判定器６の所定値が４ｍＶ以下に設
定されない限り、図３に示したうなり等による出力レベ
ルの変化を転送欠陥と誤判定するおそれはない。
対値が所定値以上となったかどうかを判断することによ
り、ＣＣＤエリアセンサ１の転送欠陥による不良を判定
する。即ち、判定器６は、所定値を２０ｍＶ未満に設定
しておけば、図２の場合の転送欠陥を確実に検出するこ
とができる。また、判定器６の所定値が４ｍＶ以下に設
定されない限り、図３に示したうなり等による出力レベ
ルの変化を転送欠陥と誤判定するおそれはない。
【００２２】この結果、本実施例の検査装置によれば、
判定器６での所定値を４ｍＶ〜２０ｍＶの間の適当な値
に設定するだけで、余裕を持って転送欠陥のみを確実に
検出することができるようになる。
判定器６での所定値を４ｍＶ〜２０ｍＶの間の適当な値
に設定するだけで、余裕を持って転送欠陥のみを確実に
検出することができるようになる。
【００２３】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の二次元撮像装置の検査装置によれば、ＣＣＤエリアセ
ンサ等の二次元撮像装置の各ラインの出力について２回
の減算を行うことにより、転送欠陥による不良を受光面
の周辺部等の出力レベルのうなり等と区別して確実に検
出することができるようになる。
の二次元撮像装置の検査装置によれば、ＣＣＤエリアセ
ンサ等の二次元撮像装置の各ラインの出力について２回
の減算を行うことにより、転送欠陥による不良を受光面
の周辺部等の出力レベルのうなり等と区別して確実に検
出することができるようになる。
【図１】本発明の一実施例を示すものであって、ＣＣＤ
エリアセンサの検査装置のブロック図である。
エリアセンサの検査装置のブロック図である。
【図２】ＣＣＤエリアセンサに転送欠陥が生じた場合
の、検査装置の各出力を示す図である。
の、検査装置の各出力を示す図である。
【図３】ＣＣＤエリアセンサにうなり等がある場合の、
検査装置の各出力を示す図である。
検査装置の各出力を示す図である。
【図４】従来例を示すものであって、ＣＣＤエリアセン
サの検査装置のブロック図である。
サの検査装置のブロック図である。
１ ＣＣＤエリアセンサ ２ 加算器 ３ 第１減算器 ５ 第２減算器 ６ 判定器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｎ 5/335 Ｐ 8838−5Ｃ
Claims (1)
- 【請求項１】二次元撮像装置の出力を垂直方向又は水平
方向の各ラインごとに加算する加算器、 該加算器の加算結果を隣接ライン同士で減算する第１減
算器、 該第１減算器の減算結果を隣接する減算結果同士で減算
する第２減算器、及び該第２減算器の減算結果が所定範
囲内であるかどうかを判定する判定器を備えている二次
元撮像装置の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3219033A JP2812457B2 (ja) | 1991-08-29 | 1991-08-29 | 二次元撮像装置の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3219033A JP2812457B2 (ja) | 1991-08-29 | 1991-08-29 | 二次元撮像装置の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0564238A true JPH0564238A (ja) | 1993-03-12 |
| JP2812457B2 JP2812457B2 (ja) | 1998-10-22 |
Family
ID=16729204
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3219033A Expired - Fee Related JP2812457B2 (ja) | 1991-08-29 | 1991-08-29 | 二次元撮像装置の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2812457B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005354670A (ja) * | 2004-05-13 | 2005-12-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像処理方法およびカメラシステム |
-
1991
- 1991-08-29 JP JP3219033A patent/JP2812457B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005354670A (ja) * | 2004-05-13 | 2005-12-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像処理方法およびカメラシステム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2812457B2 (ja) | 1998-10-22 |
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