JPH056591U - スイツチ素子 - Google Patents
スイツチ素子Info
- Publication number
- JPH056591U JPH056591U JP5859491U JP5859491U JPH056591U JP H056591 U JPH056591 U JP H056591U JP 5859491 U JP5859491 U JP 5859491U JP 5859491 U JP5859491 U JP 5859491U JP H056591 U JPH056591 U JP H056591U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- movable contact
- peripheral edge
- substrate
- pattern
- outer peripheral
- Prior art date
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- Adjustable Resistors (AREA)
- Slide Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 可動接点を載置する固定接点パターンの形状
を工夫し、両者の相対位置を目視することで基板に対す
る該可動接点の位置ずれ量の良否が判定できるようにし
たスイッチ素子を提供する。 【構成】 ドーム状にフォーミングされて中央部が反転
可能な可動接点4の外周部を、基板1上に印刷形成され
た円環状の固定接点パターン3上に載置するスイッチ素
子において、上記固定接点パターン3の外周部に、該パ
ターン3の外周縁の半径Rよりも所定寸法dだけ小さい
半径の内周縁を有する切欠き5を設けた。
を工夫し、両者の相対位置を目視することで基板に対す
る該可動接点の位置ずれ量の良否が判定できるようにし
たスイッチ素子を提供する。 【構成】 ドーム状にフォーミングされて中央部が反転
可能な可動接点4の外周部を、基板1上に印刷形成され
た円環状の固定接点パターン3上に載置するスイッチ素
子において、上記固定接点パターン3の外周部に、該パ
ターン3の外周縁の半径Rよりも所定寸法dだけ小さい
半径の内周縁を有する切欠き5を設けた。
Description
【0001】
本考案は、スイッチ素子に係り、特に、固定接点パターン上に載置したドーム
状の可動接点の位置ずれを管理するうえで好適なスイッチ素子の位置ずれ検出構
造に関する。
【0002】
基板上に印刷形成した固定接点パターンと、ドーム状にフォーミングされて中
央部が反転可能な可動接点とを組み合わせて構成されるスイッチ素子は、各種電
気部品に広く用いられている。
【0003】
図4は、この種のスイッチ素子の従来技術を説明するための平面図であり、基
板1上の所定位置に、中央固定接点パターン2と、その周囲に円環状の外方固定
接点パターン3とが印刷形成されており、この外方固定接点パターン3上に、中
央部が反転可能なドーム状の可動接点4が載置固定されている。したがって、可
動接点4は外方固定接点パターン3と常時導通されており、この可動接点4の中
央部をスタイラス等の押圧部材で所定ストローク押し込んで反転させると、両固
定接点パターン2,3が可動接点4を介して導通され、スイッチがオフからオン
状態へと切り替わるようになっている。
【0004】
そして、図4では、可動接点4が基板1に対して図示右方向へ若干位置ずれし
ている場合について例示しており、そのため押圧部材に押し込まれる可動接点4
の被押圧点Pが相対的に該可動接点4の図示左側へずれているが、この位置ずれ
の量が許容値(例えば±0.5mm)以内であれば、以後の組立工程で良品とし
て扱われる。しかし、可動接点4の基板1に対する位置ずれ量が許容値を超えて
いる場合には、被押圧点Pのずれが大きすぎて該可動接点4のばね特性や寿命等
に悪影響を及ぼすものとみなされ、以後の組立工程で不良品として除外される。
なお、可動接点4の位置ずれを極力防止するため、図4において上記被押圧点P
と合致する基板1上の点を円環中心として外方固定接点パターン3は印刷形成さ
れる。
【0005】
ところで、基板1に対する可動接点4の位置ずれ量の良否を容易に判定するた
め、該可動接点4と円環状の外方固定接点パターン3との相対位置を目視検査す
ることが考えられる。すなわち、可動接点4の外周縁が外方固定接点パターン3
の外周縁からはみ出していなければ良品扱い、はみ出していれば不良品扱いにす
るといった判定方法であるが、実際には外方固定接点パターン3自体の基板1に
対する印刷ずれがあるので、この印刷ずれの公差(例えば±0.15mm)を考
慮すると、可動接点4の位置ずれ量の良否を目視で判定することは通常は困難で
あった。例えば、外方固定接点パターン3が基板1上の所定位置に正確に印刷さ
れている場合には、図4に示すように可動接点4の外周縁が外方固定接点パター
ン3の外周縁と重なり合っていれば位置ずれ量の最大許容値ということで目視に
より良品と判定することもできるが、図5に示すように基板1に対する外方固定
接点パターン3の印刷ずれ方向と可動接点4の位置ずれ方向とが同じ向きの場合
には、該パターン3と該可動接点4との相対位置関係は図4と同等で見かけ上の
差異はないが、基板1に対する該可動接点4の位置ずれ量は最大許容値を越えて
いるので不良品と判定されなければならない。したがって従来は、特に小型で可
動接点4の位置ずれ量の許容値が小さいスイッチ素子を製造する際に、基板1に
対する可動接点4の位置ずれ量を個別にゲージチェックしなければならず、作業
性を劣化させる要因となっていた。
【0006】
本考案はこのような事情に鑑みてなされたもので、その目的は、基板に対する
可動接点の位置ずれ量の良否が目視で判定できるようにしたスイッチ素子を提供
することにある。
【0007】
上記した本考案の目的は、ドーム状にフォーミングされて中央部が反転可能な
可動接点の外周部を、基板上に印刷形成された円環状の固定接点パターン上に載
置するスイッチ素子において、上記固定接点パターンの外周部に、該パターンの
外周縁の半径よりも所定寸法小さい半径の内周縁を有して上記基板に対する上記
可動接点の位置ずれ量の良否を判定するための切欠きを設けることによって達成
される。
【0008】
可動接点の被押圧点を通って基板に対し垂直な直線と該基板との交点を便宜上
Qとすると、可動接点の位置ずれ量が許容値内であるためには、該可動接点は基
板上で点Qを中心とする所定半径の円内に配置されなければならず、一方、該可
動接点を載置する固定接点パターンの外周部に設けた切欠きの内周縁は、予め印
刷ずれの公差を見越しておけば、基板上で該公差に相当する幅を有し点Qを中心
とする円環内に位置することが明らかなので、該円環の外周縁と所定半径の上記
円の外周縁とが合致するように上記切欠きの内周縁の半径を設定しておくことに
より、載置固定した可動接点の外周縁が該切欠きの内周縁からはみ出していない
ときには必ず良品であると目視により判定できる。
【0009】
以下、本考案の実施例を図面に基づいて説明する。
【0010】
図1は本考案の一実施例に係るスイッチ素子の平面図、図2は該スイッチ素子
の可動接点の位置ずれ量が許容値内にあるときに該可動接点が配置される基板上
の領域を示す平面図、図3は該スイッチ素子の外方固定接点パターンの切欠きの
内周縁が印刷される基板上の領域を示す平面図であり、先に説明した図4,5と
対応する部分には同一符号が付してある。
【0011】
図1〜3において、基板1上には、中央固定接点パターン2と、その周囲に円
環状の外方固定接点パターン3とが印刷形成されているが、この外方固定接点パ
ターン3の外周部には予め、径方向に所定の深さdだけ切り欠いた形状の切欠き
5が等間隔に複数個所設けてある。そして、ドーム状にフォーミングされて中央
部が反転可能な可動接点4を外方固定接点パターン3上に載置固定し、両者を常
時導通させることにより、可動接点4の中央部をスタイラス等の押圧部材で所定
ストローク押し込んで反転させると両固定接点パターン2,3が可動接点4を介
して導通され、スイッチがオフからオン状態へと切り替わるようになっている。
なお、図中の符号Pは可動接点4が押圧部材に押し込まれる被押圧点、符号Qは
被押圧点Pを通って基板1に対し垂直な直線と該基板1との交点をそれぞれ示し
ており、可動接点4の位置ずれを極力防止するため、外方固定接点パターン3は
基板1上の点Qを円環中心として印刷形成される。
【0012】
さて、かかるスイッチ素子の製造工程で、外方固定接点パターン3上に載置固
定した可動接点4の基板1に対する位置ずれ量が許容値内であるか否かを検査し
なければならないが、この検査はまず、可動接点4の外周縁と外方固定接点パタ
ーン3の切欠き5の内周縁との相対位置を目視することによって行われる。すな
わち、可動接点4の外周縁が切欠き5の内周縁からはみ出していなければ良品、
はみ出していれば要再検査品と判定し、この要再検査品についてのみゲージチェ
ックを行う。例えば、図1のように可動接点4の外周縁が切欠き5の内周縁と重
なり合ってはいるものの、はみ出してはいないときには、このスイッチ素子は良
品と判定することができる。
【0013】
次に、上記したような目視検査が行える理由について説明する。
【0014】
いま、外方固定接点パターン3の外周縁の半径をR、基板1に対する該パター
ン3の印刷ずれの公差を±a、可動接点4の外周縁の半径をr、基板1に対する
該可動接点4の位置ずれ量の許容値を±bとすると、可動接点4の位置ずれ量が
許容値±b内であるためには、図2に示すように、可動接点4は基板1上で点Q
を中心とする半径r+bの円B内に配置されなければならない。一方、外方固定
接点パターン3の外周部に設けた切欠き5の内周縁は、予め印刷ずれの公差±a
を見越しておけば、図3に示すように、基板1上で点Qを中心とする幅2a、最
大半径R−d+a、最小半径R−d−aなる円環A内に位置することが明らかな
ので、該円環Aの外周縁と上記円Bの外周縁とが合致するように切欠き5の径方
向の深さdを設定しておけば、載置固定した可動接点4の外周縁が該切欠き5の
内周縁からはみ出していないときには必ず良品であると目視により判定すること
ができる。つまり、R−d+a=r+bなる等式を満足する深さのd(=R−r
+a−b)を設定しておけば、目視検査が行える。また、切欠き5の内周縁の半
径をxとすると、x=R−dであるから、上記等式はx+a=r+bとなり、こ
の式を満足するxの値は、x=r−a+bとなる。これを言葉で表すと、外方固
定接点パターン3の切欠き5の内周縁の半径(x)を、可動接点4を配置させて
も支障をきたさない基板1上の円形領域の半径(r+b)よりも印刷ずれの最大
公差(a)分だけ小さく設定しておけば、該パターン3上に載置固定した可動接
点4の外周縁が切欠き5の内周縁からはみ出していないと目視されるときには必
ず、該可動接点4の基板1に対する位置ずれ量は許容値内にあると断定すること
ができる。
【0015】
そして、可動接点4の外周縁が切欠き5の内周縁からはみ出していると目視さ
れたときには、該可動接点4の位置ずれ方向と外方固定接点パターン3の印刷ず
れ方向とが同じ向きであれば不良品の可能性大ではあるものの、位置ずれ方向と
印刷ずれ方向とが逆向きであれば良品の可能性大なので、ゲージチェックを行っ
て良品を選別すればよい。
【0016】
このように上記実施例は、可動接点4を載置固定する外方固定接点パターン3
の外周部に設けた切欠き5の内周縁と、該可動接点4の外周縁との相対位置を目
視することにより、大部分の良品を選別することができ、要再検査品についての
みゲージチェックを行って目視検査で除外された良品を選別すればよいので、個
別にゲージチェックを行わねばならなかった従来技術の煩雑さが解消され、作業
性が大幅に改善されている。
【0017】
なお、外方固定接点パターン3の外周縁の半径(R)と可動接点4の外周縁の
半径(r)との差を該可動接点4の位置ずれ量の最大許容値(b)としているス
イッチ素子を製造する場合には、上記した等式におけるR−rをbに置き換える
ことにより、切欠き5の深さdを印刷ずれの最大公差aと同じ値に設定しておけ
ば目視検査が行えるということがわかる。
【0018】
以上説明したように本考案は、可動接点を載置固定する固定接点パターンの外
周部に、基板に対する該可動接点の位置ずれ量の良否を判定するための切欠きが
設けてあり、大部分の良品を目視検査で選別できるので、作業性が著しく向上し
てスイッチ素子のコストダウンに寄与するところ極めて大である。
【図1】本考案の一実施例に係るスイッチ素子の平面図
である。
である。
【図2】該スイッチ素子の可動接点の位置ずれ量が許容
値内にあるときに該可動接点が配置される基板上の領域
を示す平面図である。
値内にあるときに該可動接点が配置される基板上の領域
を示す平面図である。
【図3】該スイッチ素子の外方固定接点パターンの切欠
きの内周縁が印刷される基板上の領域を示す平面図であ
る。
きの内周縁が印刷される基板上の領域を示す平面図であ
る。
【図4】従来例に係るスイッチ素子の平面図である。
【図5】従来技術で可動接点の位置ずれ量の良否を目視
検査できなかった理由を説明するための平面図である。
検査できなかった理由を説明するための平面図である。
1 基板
3 外方固定接点パターン
4 可動接点
5 切欠き
P 被押圧点
Claims (2)
- 【請求項1】 ドーム状にフォーミングされて中央部が
反転可能な可動接点の外周部を、基板上に印刷形成され
た円環状の固定接点パターン上に載置するスイッチ素子
において、上記固定接点パターンの外周部に、該パター
ンの外周縁の半径よりも所定寸法小さい半径の内周縁を
有して上記基板に対する上記可動接点の位置ずれ量の良
否を判定するための切欠きを設けたことを特徴とするス
イッチ素子。 - 【請求項2】 請求項1の記載において、基板に対する
固定接点パターンの印刷ずれの公差を±a、基板に対す
る可動接点の位置ずれ量の許容値を±b、該可動接点の
外周縁の半径をrとするとき、固定接点パターンの外周
部に設けた切欠きの内周縁の半径xを、x=r−a+b
なる値に設定したことを特徴とするスイッチ素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5859491U JP2549784Y2 (ja) | 1991-07-01 | 1991-07-01 | スイッチ素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5859491U JP2549784Y2 (ja) | 1991-07-01 | 1991-07-01 | スイッチ素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH056591U true JPH056591U (ja) | 1993-01-29 |
| JP2549784Y2 JP2549784Y2 (ja) | 1997-09-30 |
Family
ID=13088821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5859491U Expired - Fee Related JP2549784Y2 (ja) | 1991-07-01 | 1991-07-01 | スイッチ素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2549784Y2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5118816U (ja) * | 1974-07-25 | 1976-02-12 | ||
| WO2001026126A1 (en) * | 1999-10-01 | 2001-04-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 5-directional key operation device |
| JP2009110966A (ja) * | 2008-12-16 | 2009-05-21 | Panasonic Corp | 携帯電話装置 |
-
1991
- 1991-07-01 JP JP5859491U patent/JP2549784Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5118816U (ja) * | 1974-07-25 | 1976-02-12 | ||
| WO2001026126A1 (en) * | 1999-10-01 | 2001-04-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 5-directional key operation device |
| JP2009110966A (ja) * | 2008-12-16 | 2009-05-21 | Panasonic Corp | 携帯電話装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2549784Y2 (ja) | 1997-09-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970520 |
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