JPH0566599U - X線分光器 - Google Patents

X線分光器

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JPH0566599U
JPH0566599U JP1611292U JP1611292U JPH0566599U JP H0566599 U JPH0566599 U JP H0566599U JP 1611292 U JP1611292 U JP 1611292U JP 1611292 U JP1611292 U JP 1611292U JP H0566599 U JPH0566599 U JP H0566599U
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智也 新井
孝 庄司
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理学電機工業株式会社
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 円筒状の分光結晶の軸線上に、X線源と受光
スリットの開口を配置したX線分光器において、X線を
複数種類の波長に分光する。 【構成】 分光結晶4を円筒の軸線Sに平行に複数配設
する。これらの分光結晶4に対応させて、受光スリット
5を軸線S上に設ける。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、X線源から発生するX線を大きな立体角で取り出す集中法式のX 線分光器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
蛍光X線分析装置は、励起X線を分析試料に照射し、この分析試料からの蛍光 X線の強度を検出し、分析試料の元素や組成の分析を行うものである。この種の 分析装置では、分析試料から発生した蛍光X線を分光器で単色化して、所定の波 長のX線のみをX線検出器で検出する場合が多い。上記分光器として、従来より 、ヨハン型分光器とヨハンソン型分光器が用いられている。これらの分光器を用 いた蛍光X線分析装置の一例を図4(a),(b)に示す。
【0003】 図4(a)はヨハン型分光器を用いたものである。 この図において、X線管3から出射された一次X線B1は、分析試料1の被照 射部分(X線源)1aの原子を励起して、分析試料1を構成する元素固有の蛍光 X線B2を発生させる。発生した蛍光X線B2は、分析試料1から出射されて、 湾曲型の分光結晶40に入射して、ブラッグの式を満足する所定の波長を有する 蛍光X線のみが回折される。この回折により、蛍光X線は単色化つまり分光され る。この分光結晶40によって反射された回折X線B3は、受光スリット5を通 過してX線検出器6に入射する。入射した回折X線B3はX線検出器6で検出さ れ、図示しない分析器により、所定のX線分析がなされる。なお、分析試料1、 分光結晶40および受光スリット5は、一点鎖線で示す半径Rのローランド円C 上に配置されている。
【0004】 ここで、一次X線B1を分析試料1の微小部分に照射した場合のように、蛍光 X線B2の強度が弱い場合には、周方向に長い分光結晶40を用いて、X線検出 器6に入射する回折X線B3のX線強度を強くする必要がある。しかし、上記ヨ ハン型分光器の分光結晶40は、結晶平面が網平面と一致しているが、半径2R の円筒状に曲げられており、そのため、分光結晶40の長さを長くすると、収差 が大きくなる。その結果、分解能が低下し、分析精度が低下する。
【0005】 一方、ヨハンソン型の分光器の分光結晶41は、図4(b)に示すように、そ の表面が半径Rのローランド円Cに沿っており、理論的には収差が生じない。し かし、このヨハンソン型の分光結晶41は、まず、平板結晶を半径2Rで円筒状 に曲げ、ついで、ローランド円Cに沿うように結晶を研磨することにより製作さ れる。そのため、分光結晶41の長さを長くしようとすると、両端41aの厚み が厚くなるから、長い分光結晶を製作することができない。
【0006】 そこで、従来より、図5に示すように、分析試料1の被照射部分1aと受光ス リット5の開口5aを、分光結晶4の表面を形成する円筒面4aの軸線S上に配 置した分光器10が知られている。この分光器10によれば、分光結晶4を周方 向に長くすることで、立体角φを大きくして、強いX線強度が得られる一方で、 分光結晶4の中心4cで蛍光X線B2を回折するので、理論的には収差もないか ら、分析精度が向上する。しかも、ヨハンソン型と異なり、分光結晶4を研磨す る必要もないので、製作も容易である。
【0007】
【考案が解決しようとする課題】
しかし、上記図5の従来技術では、分光結晶4の入射角θおよび回折角θが定 まっており、そのため、蛍光X線B2を複数種類の波長に分光することができな い。したがって、たとえば複数種類の元素についての分析ができない。 この考案は、X線源と受光スリットの開口を円筒状の分光結晶の軸線上に配置 したX線分光器において、複数種類の波長に分光することが可能なX線分光器を 提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段および作用】
上記目的を達成するために、請求項1の考案は、円筒状の分光結晶を円筒の軸 線に平行に複数配設するとともに、各分光結晶に対応する複数の受光スリットを 設けている。 請求項1の考案によれば、円筒状の分光結晶を円筒の軸線に平行に複数配設し たから、各分光結晶ごとに異なる回折角で、X線を分光することができる。
【0009】 請求項2の考案は、X線源と受光スリットの開口を円筒状の分光結晶の軸線上 に配置した関係を保ちながら、上記分光結晶および受光スリットをスライド移動 させるスライド移動装置を設けている。 この場合、上記X線源または分光結晶のいずれか一方を回転させる回転装置を 設けて、X線源からのX線の取出角を一定に保つのが好ましい。
【0010】 請求項2の考案によれば、分光結晶および受光スリットをスライド移動させる ことにより、異なる回折角でX線を分光することができる。 また、回転装置を設けて、X線源からのX線の取出角を一定に保った場合は、 X線源から分光結晶へ向かうX線の強度を所定の大きな一定値に保つことができ る。
【0011】
【実施例】
以下、この考案の実施例を図面にしたがって説明する。 図1は第1実施例を示す。 図1(a)において、円筒状の分光結晶4は、円筒の軸線Sに沿って平行に複 数個(たとえば2つ)配設されている。つまり、各分光結晶4から軸線Sまでの 距離は、図1(b)のように、全て等しくrになっている。一方、上記軸線S上 には、分析試料1の被照射部分1aと、複数の受光スリット5の開口5aとが配 設されている。
【0012】 各分光結晶4は、その結晶平面が網平面と一致しており、異なる入射角θnで 入射した蛍光X線B2を、それぞれ異なる回折角θnで回折する。各受光スリッ ト5は、それぞれ、分光結晶4に対応して設けられており、回折X線B3を通過 させて、X線検出器6に入射させる。その他の構成は、図5の従来例と同様であ り、同一部分または相当部分に同一符号を付して、その詳しい説明を省略する。
【0013】 上記構成においては、分光結晶4を円筒の軸線Sに沿って平行に2個配設した ので、蛍光X線B2が異なる回折角θ1 ,θ2 で回折され、受光スリット5aを 通過して、X線検出器6に入射する。したがって、蛍光X線B2を2種類の波長 に分光することができる。
【0014】 なお、上記実施例では、分光結晶4、受光スリット5およびX線検出器6から なる分光器10を2個づつ設けたが、必要に応じて分光器10を3個以上設けて もよい。
【0015】 図2は第2実施例を示す。 図2(a)において、この実施例は、分光器10を1つだけ設けた走査型分光 器である。この分光器10には、一対の案内ロッド11,12を有するスライド 移動装置と、受光スリット回転装置13(図2(b))と、全体回転装置14と を有している。
【0016】 上記各案内ロッド11,12は、各々、図2(b)の第1および第2スライダ 11Sおよび12Sを介して、図2(a)の分光結晶4および受光スリット5を 案内するもので、軸線Sに平行に配設されており、図示しない連結材により一体 となっている。スライド移動装置は、図示していないが、たとえば1:2の歯車 比を有する一対のピニオンと、このピニオンに係合するラックを有し、図2(c )のように、分光結晶4と受光スリット5を、案内ロッド11,12に沿って1 :2の変位量で移動させるものである。つまり、スライド移動装置は、分光結晶 4と受光スリット5の開口5aを、分光結晶4の軸線S上に配置した関係を保ち ながら、分光結晶4および受光スリット5を平行にスライド移動させる。
【0017】 図2(b)の受光スリット回転装置13は、第1スライダ11Sを中心に回転 する案内リンク15と、この案内リンク15に対して摺動自在で、かつ、第2ス ライダ12Sに対して回転自在な第3スライダ15Sを有している。上記受光ス リット5(図2(b))は第3スライダ15Sに固定されており、したがって、 図2(a)の受光スリット5は、分光結晶4を中心に回転する。なお、X線検出 器6は受光スリット5と一体になっており、したがって、受光スリット5と共に 移動し、回転する。
【0018】 上記全体回転装置14は、2本の案内ロッド11,12を含む上記分光器10 全体を、図2(c)ないし(d)のように、分析試料1の被照射部分1aを中心 に回転させて、分析試料1からの蛍光X線B2の取出角αを一定に保つものであ る。なお、取出角αはX線管3(実際には図に示した大きさよりも大きく、かつ 、分析試料1に近接している。)に干渉しない範囲において、できる限り大きく 設定する。その他の構成は、上記第1実施例と同様であり、同一部分または相当 部分に同一符号を付して、その詳しい説明を省略する。
【0019】 つぎに、上記構成の動作を説明する。 まず、図2(a)のように、検出すべき蛍光X線の波長λ1 に対応する回折角 θ1 において、回折X線B3を検出する。ついで、図2(c)のように、分光結 晶4および受光スリット5を、案内ロッド11,12に沿って、1:2の変位量 で移動させることにより、他の検出すべき蛍光X線の波長にλ2 に応じて、回折 角θ2 を設定する。この際、受光スリット5およびX線検出器6は、受光スリッ ト回転装置13(図2(b))により、所定角度回転する。上記移動後、図2( d)のように、全体回転装置14により、分光器10全体を回転角β(=α−θ 2 )だけ回転させる。この全体回転により取出角αが一定に保たれる。上記全体 回転後、回折X線B3を検出する。こうして、2種類の波長λ1 ,λ2 を有する 回折X線B3を検出することで、所定のX線分析がなされる。
【0020】 上記構成においては、全体回転装置14を設けて、分析試料1からの蛍光X線 B2の取出角αを図3のように、大きな一定値に保っているので、この蛍光X線 B2の強度を所定の大きな一定値に保つことができるから、分析精度が向上する 。
【0021】 ところで、この実施例では、図2の分光結晶4および受光スリット5を案内す る案内ロッド11,12を一体とし、図2(c),(d)のように、分光器10 全体を全体回転装置14で回転させるから、従来のヨハン型またはヨハンソン型 分光器において取出角を一定に保つために分光結晶4および受光スリット5を別 々に回転させるのに比べ、制御が容易になる。
【0022】 なお、上記実施例では、全体回転装置14により、分光結晶4、受光スリット 5およびX線検出器6を回転させて、取出角αを一定に保ったが、図2(c)の 状態からX線管3および分析試料1を反時計回りに角度β回転させて、取出角α を一定に保ってもよい。
【0023】 また、分光器10を走査型とする場合に、上記取出角αを一定に保つ必要はな く、たとえば、図2の全体回転装置14を設けずに、図2(a),(c)の状態 で、それぞれ、蛍光X線B3の強度を検出することとしてもよい。
【0024】 また、上記各実施例では、分析試料1をX線源とする分光器について説明した が、X線管のようにターゲットに電子を衝突させて、ターゲットからの一次X線 を分光する分光器についてもこの考案を適用できる。
【0025】
【考案の効果】
以上説明したように、請求項1の考案によれば、円筒状の分光結晶を円筒の軸 線に平行に複数配設するとともに、各分光結晶に対応する複数の受光スリットを 円筒の軸線上に設けたので、分光結晶ごとに異なる回折角でX線を分光して、弱 い強度のX線を複数種類の波長に分光することができる。
【0026】 また、請求項2の考案によれば、X線源と受光スリットの開口を円筒状の分光 結晶の軸線上に配置した関係を保ちながら、分光結晶および受光スリットをスラ イド移動させるので、1つの分光結晶および受光スリットにより、X線を複数種 類の波長に分光することができる。
【0027】 さらに、請求項3の考案によれば、X線源からのX線の取出角を一定に保って いるので、分光結晶に向かうX線の強度を所定の大きな一定値に保つことができ るから、分析精度が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)はこの考案の第1実施例を示すX線分光
器の斜視図、(b)は同断面図である。
【図2】(a)は第2実施例を示すX線分光器の断面
図、(b)は受光スリット回転装置を示すスケルトン、
(c)および(d)はそれぞれ分光器の動作を示す断面
図である。
【図3】第2実施例を示すX線分光器の斜視図である。
【図4】従来例を示し、(a)はヨハン型分光器の概略
構成図、(b)はヨハンソン型分光器の概略構成図であ
る。
【図5】円筒型の分光結晶を用いた従来の分光器を示す
斜視図である。
【符号の説明】
1a…X線源(分析試料の被照射部分)、4…分光結
晶、5…受光スリット、5a…開口、14…(全体)回
転装置、B2…(蛍光)X線、B3…回折X線。

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X線源から出射されたX線を回折して単
    色化する円筒状の分光結晶と、この分光結晶によって反
    射された回折X線を通過させる受光スリットとを備え、
    上記X線源と受光スリットの開口を円筒の軸線上に配置
    したX線分光器において、 上記分光結晶を上記円筒の軸線に平行に複数配設すると
    ともに、上記分光結晶に対応する複数の受光スリットを
    設けたことを特徴とするX線分光器。
  2. 【請求項2】 X線源から出射されたX線を回折して単
    色化する円筒状の分光結晶と、この分光結晶によって反
    射された回折X線を通過させる受光スリットとを備え、
    上記X線源と受光スリットの開口を円筒の軸線上に配置
    したX線分光器において、 上記X線源、分光結晶および受光スリットの上記配置関
    係を保ちながら、上記分光結晶および受光スリットをス
    ライド移動させるスライド移動装置を設けたことを特徴
    とするX線分光器。
  3. 【請求項3】 請求項2において、上記X線源または分
    光結晶のいずれか一方を回転させて、上記X線源からの
    X線の取出角を一定に保つ回転装置を設けたX線分光
    器。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1152096A (ja) * 1997-08-06 1999-02-26 Rigaku Ind Co 点集束型x線分光装置
WO2003036677A1 (en) * 2001-10-24 2003-05-01 Jeol Ltd. Electron microscope having x-ray spectrometer

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