JPH0566960A - 診断制御方式 - Google Patents
診断制御方式Info
- Publication number
- JPH0566960A JPH0566960A JP3229288A JP22928891A JPH0566960A JP H0566960 A JPH0566960 A JP H0566960A JP 3229288 A JP3229288 A JP 3229288A JP 22928891 A JP22928891 A JP 22928891A JP H0566960 A JPH0566960 A JP H0566960A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scan
- scan path
- diagnostic
- control means
- processing device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02B—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO BUILDINGS, e.g. HOUSING, HOUSE APPLIANCES OR RELATED END-USER APPLICATIONS
- Y02B30/00—Energy efficient heating, ventilation or air conditioning [HVAC]
- Y02B30/13—Hot air central heating systems using heat pumps
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】スキャン制御手段４によりデータ処理装置２の
スキャンパス上の全ＦＦに対してＳＩＤ７を“０”に固
定して入力した後、診断処理装置１は状態読出し制御部
２０により全ＩＣのスキャンパス出力の値を読み取る。
×印のＦＦが“１”側に故障している場合、ＩＣ２ｍ，
２ｎの出力が“１”となる。ＩＣ２１以降他のＩＣのス
キャンパス出力の値は事前にスキャン入力した“０”で
ある。この情報をもとに診断制御手段１０はＩＣ２ｍを
故障とみなす。×印のＦＦが“０”側に故障している場
合、診断処理装置１はスキャン制御手段５によりＳＩＤ
７を“１”に固定して入力する。全ＦＦにスキャン実行
後、状態読出し制御部２０により全ＩＣの出力の値を読
み取り、この情報をもとに診断処理装置１はＩＣ２ｍが
故障していることを割り出す。 【効果】スキャンパス上の故障箇所を限定することがで
き、診断制御において故障部品をより正確に割り出すこ
とが可能である。
スキャンパス上の全ＦＦに対してＳＩＤ７を“０”に固
定して入力した後、診断処理装置１は状態読出し制御部
２０により全ＩＣのスキャンパス出力の値を読み取る。
×印のＦＦが“１”側に故障している場合、ＩＣ２ｍ，
２ｎの出力が“１”となる。ＩＣ２１以降他のＩＣのス
キャンパス出力の値は事前にスキャン入力した“０”で
ある。この情報をもとに診断制御手段１０はＩＣ２ｍを
故障とみなす。×印のＦＦが“０”側に故障している場
合、診断処理装置１はスキャン制御手段５によりＳＩＤ
７を“１”に固定して入力する。全ＦＦにスキャン実行
後、状態読出し制御部２０により全ＩＣの出力の値を読
み取り、この情報をもとに診断処理装置１はＩＣ２ｍが
故障していることを割り出す。 【効果】スキャンパス上の故障箇所を限定することがで
き、診断制御において故障部品をより正確に割り出すこ
とが可能である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はデータを順次にシフトす
るスキャンパスを備えたデータ処理装置のスキャン動作
制御を行う診断処理装置によりデータ処理装置のスキャ
ンパス故障を診断する際の診断制御方式に関する。
るスキャンパスを備えたデータ処理装置のスキャン動作
制御を行う診断処理装置によりデータ処理装置のスキャ
ンパス故障を診断する際の診断制御方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のこの種の診断処理装置においてデ
ータ処理装置のログデータの収集や、装置内任意フリッ
プフロップ（以下ＦＦと記す）の内容の抜取り、任意Ｆ
Ｆへのデータ設定を行う手段としてスキャンパス機能が
ある。スキャンパスとは装置内のＦＦを直列に接続した
ものであり、診断処理装置はこのスキャンパスのデータ
を順次シフトして抜き出すスキャンアウト動作および所
定のデータをスキャンパスに対して順次シフトして入力
するスキャンイン動作を制御する。
ータ処理装置のログデータの収集や、装置内任意フリッ
プフロップ（以下ＦＦと記す）の内容の抜取り、任意Ｆ
Ｆへのデータ設定を行う手段としてスキャンパス機能が
ある。スキャンパスとは装置内のＦＦを直列に接続した
ものであり、診断処理装置はこのスキャンパスのデータ
を順次シフトして抜き出すスキャンアウト動作および所
定のデータをスキャンパスに対して順次シフトして入力
するスキャンイン動作を制御する。
【０００３】まず、診断処理装置はスキャン対象装置の
クロックを停止し、シフトモードを設定する。シフトモ
ード状態では装置内のＦＦは直列接続に切り替わりスキ
ャンパスを形成する。次に診断処理装置から供給される
スキャン用のクロックにより、スキャンパス上のＦＦが
このクロックのタイミングで順次シフト動作する。診断
処理装置はスキャンパスの最終ＦＦの出力をスキャンア
ウト・データとして１ビットずつシリアルに受信し、ス
キャンパス上のデータを抜き出す。またスキャンイン・
データを１ビットずつシリアルに送信し、スキャンパス
の最初のＦＦに入力することにより、所定のデータを装
置内のＦＦに設定することが可能である。
クロックを停止し、シフトモードを設定する。シフトモ
ード状態では装置内のＦＦは直列接続に切り替わりスキ
ャンパスを形成する。次に診断処理装置から供給される
スキャン用のクロックにより、スキャンパス上のＦＦが
このクロックのタイミングで順次シフト動作する。診断
処理装置はスキャンパスの最終ＦＦの出力をスキャンア
ウト・データとして１ビットずつシリアルに受信し、ス
キャンパス上のデータを抜き出す。またスキャンイン・
データを１ビットずつシリアルに送信し、スキャンパス
の最初のＦＦに入力することにより、所定のデータを装
置内のＦＦに設定することが可能である。
【０００４】診断処理装置は障害が発生したデータ処理
装置からの障害通知を受信すると、装置との診断専用の
インタフェースを介して装置内状態を読み出し、障害箇
所の診断を行う。装置内には予め障害発生時の状態をホ
ールドする障害ごとの表示ＦＦ（ＥＩＦ：Ｅｒｒｏｒ
Ｉｎｄｉｃａｔｅ Ｆｌａｇ）や、データバス表示用の
ＦＦ（ＰＩ：Ｐａｔｈ Ｉｎｄｉｃａｔｏｒ）が設けら
れている。診断処理装置はこれらの状態表示ＦＦを読み
出して障害箇所を判定する。診断処理装置は故障箇所辞
書データを持ち、読み出した状態表示ＦＦの内容に基づ
いてこの辞書を索引し、故障部品を判定してオペレータ
に報告する。故障部品の報告は保守交換単位であり、状
態表示ＦＦの内容から推測される部品を報告するもので
ある。
装置からの障害通知を受信すると、装置との診断専用の
インタフェースを介して装置内状態を読み出し、障害箇
所の診断を行う。装置内には予め障害発生時の状態をホ
ールドする障害ごとの表示ＦＦ（ＥＩＦ：Ｅｒｒｏｒ
Ｉｎｄｉｃａｔｅ Ｆｌａｇ）や、データバス表示用の
ＦＦ（ＰＩ：Ｐａｔｈ Ｉｎｄｉｃａｔｏｒ）が設けら
れている。診断処理装置はこれらの状態表示ＦＦを読み
出して障害箇所を判定する。診断処理装置は故障箇所辞
書データを持ち、読み出した状態表示ＦＦの内容に基づ
いてこの辞書を索引し、故障部品を判定してオペレータ
に報告する。故障部品の報告は保守交換単位であり、状
態表示ＦＦの内容から推測される部品を報告するもので
ある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】この従来の診断制御方
式では次の問題点があった。 （１）スキャンパス上で“０”故障または“１”故障が
発生した場合、スキャンパスの出力データが“０”固定
または“１”固定となってしまう。スキャンパスはビッ
ト・シリアルであるため、スキャンパス上のどの部分で
故障が発生しているか限定できない。故障箇所の限定は
スキャンパス単位にとどまる。 （２）前述の故障箇所辞書データは装置のＥＩＦやＰＩ
などのデータがセットされる複数の要因を考慮して故障
部品を予測したものであり、要因が多岐にわたる場合に
は故障の可能性のある部品を１つに限定できないことが
ある。また装置内のすべての回路にエラー検出回路が設
けられている訳ではない。この場合はＥＩＦやＰＩなど
の情報は無いため、故障箇所辞書データにより故障部品
を割り出すことはできない。
式では次の問題点があった。 （１）スキャンパス上で“０”故障または“１”故障が
発生した場合、スキャンパスの出力データが“０”固定
または“１”固定となってしまう。スキャンパスはビッ
ト・シリアルであるため、スキャンパス上のどの部分で
故障が発生しているか限定できない。故障箇所の限定は
スキャンパス単位にとどまる。 （２）前述の故障箇所辞書データは装置のＥＩＦやＰＩ
などのデータがセットされる複数の要因を考慮して故障
部品を予測したものであり、要因が多岐にわたる場合に
は故障の可能性のある部品を１つに限定できないことが
ある。また装置内のすべての回路にエラー検出回路が設
けられている訳ではない。この場合はＥＩＦやＰＩなど
の情報は無いため、故障箇所辞書データにより故障部品
を割り出すことはできない。
【０００６】これら従来の技術ではさらに精度の高い診
断制御を実現するのは困難であり、故障部品の限定はス
キャン出力データや故障箇所辞書データの索引結果など
の情報から保守者の判断に頼るのが常であった。
断制御を実現するのは困難であり、故障部品の限定はス
キャン出力データや故障箇所辞書データの索引結果など
の情報から保守者の判断に頼るのが常であった。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の診断制御方式
は、フリップフロップのデータを順次にシフトするスキ
ャンパスが複数のＩＣを経由しているデータ処理装置の
スキャン動作を制御する診断処理装置による診断制御方
式において、前記データ処理装置は１本の前記スキャン
パスを構成する前記ＩＣごとのスキャン出力を読み取る
状態読出し手段を備え、前記診断処理装置は前記スキャ
ンパスの前記全フリップフロップに対して論理“０”を
順次シフトして入力する第１のスキャン制御手段と、前
記スキャンパスの前記全フリップフロップに対して論理
“１”を順次シフトして入力する第２のスキャン制御手
段と、前記第１のスキャン制御手段により前記スキャン
パスの前記全フリップフロップに対して論理“０”をシ
フト入力したのち前記状態読出し手段により前記各ＩＣ
のスキャン出力を読み出し、次に前記第２のスキャン制
御手段により前記スキャンパスの前記全フリップフロッ
プに対して論理“１”をシフト入力したのち前記状態読
出し手段により前記各ＩＣのスキャン出力を読み出すこ
とによって前記スキャンパス上で論理“１”または
“０”故障を起こしているＩＣを判定する診断制御手段
とを備えている。
は、フリップフロップのデータを順次にシフトするスキ
ャンパスが複数のＩＣを経由しているデータ処理装置の
スキャン動作を制御する診断処理装置による診断制御方
式において、前記データ処理装置は１本の前記スキャン
パスを構成する前記ＩＣごとのスキャン出力を読み取る
状態読出し手段を備え、前記診断処理装置は前記スキャ
ンパスの前記全フリップフロップに対して論理“０”を
順次シフトして入力する第１のスキャン制御手段と、前
記スキャンパスの前記全フリップフロップに対して論理
“１”を順次シフトして入力する第２のスキャン制御手
段と、前記第１のスキャン制御手段により前記スキャン
パスの前記全フリップフロップに対して論理“０”をシ
フト入力したのち前記状態読出し手段により前記各ＩＣ
のスキャン出力を読み出し、次に前記第２のスキャン制
御手段により前記スキャンパスの前記全フリップフロッ
プに対して論理“１”をシフト入力したのち前記状態読
出し手段により前記各ＩＣのスキャン出力を読み出すこ
とによって前記スキャンパス上で論理“１”または
“０”故障を起こしているＩＣを判定する診断制御手段
とを備えている。
【０００８】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図１は本発明の診断制御方式の一実施例を示すブロ
ック図である。
る。図１は本発明の診断制御方式の一実施例を示すブロ
ック図である。
【０００９】本実施例はＦＦのデータを順次にシフトす
るスキャンパスが複数のＩＣ２１，〜２ｍ，２ｎを経由
しているデータ処理装置２と、データ処理装置２のスキ
ャン動作を制御する診断処理装置１とからなる。データ
処理装置２は各ＩＣ２１，〜２ｍ，２ｎの全ＦＦを経由
して１本のスキャンパスを構成し、ＩＣ２１，〜２ｍ，
２ｎごとのスキャン出力を読み取る状態読出し制御部２
０を備える。スキャン制御部３はデータ処理装置２に対
するスキャン動作を制御する。スキャン動作は従来の技
術と同様である。診断処理装置１からのスキャンイン・
データ（以下ＳＩＤ）７はＩＣ２１で受信され、ＩＣ２
ｎのスキャンアウト・データ（以下ＳＯＤ）８がスキャ
ンパス出力として診断処理装置１に受付けられる。
るスキャンパスが複数のＩＣ２１，〜２ｍ，２ｎを経由
しているデータ処理装置２と、データ処理装置２のスキ
ャン動作を制御する診断処理装置１とからなる。データ
処理装置２は各ＩＣ２１，〜２ｍ，２ｎの全ＦＦを経由
して１本のスキャンパスを構成し、ＩＣ２１，〜２ｍ，
２ｎごとのスキャン出力を読み取る状態読出し制御部２
０を備える。スキャン制御部３はデータ処理装置２に対
するスキャン動作を制御する。スキャン動作は従来の技
術と同様である。診断処理装置１からのスキャンイン・
データ（以下ＳＩＤ）７はＩＣ２１で受信され、ＩＣ２
ｎのスキャンアウト・データ（以下ＳＯＤ）８がスキャ
ンパス出力として診断処理装置１に受付けられる。
【００１０】このようなスキャンパスを備えたデータ処
理装置２において障害が発生した場合、まず障害通知が
診断処理装置１へ送出される。診断処理装置１はこの障
害通知を受けると、データ処理装置２内の状態読出し
や、スキャンパス制御によるＦＦの内容の抜取りを行
う。診断処理装置１はこれらの情報に基づいて障害箇所
の診断を行う。即ち、スキャン制御部３がスキャンイン
・データ切替え回路６を制御することにより第１，第２
のスキャン制御手段４，５はそれぞれ論理“０”，
“１”を順次シフトしてスキャンパスの全ＦＦに対して
ＳＩＤ７を入力する。診断制御手段１０は第１のスキャ
ン制御手段４によりスキャンパスの全ＦＦに対して論理
“０”をシフト入力した後、状態読出し制御部２０によ
り各ＩＣ２１，〜２ｍ，２ｎのスキャン出力を読み出
し、次に第２のスキャン制御手段５によりスキャンパス
の全ＦＦに対して論理“１”をシフト入力した後、状態
読出し制御部２０により各ＩＣ２１，〜２ｍ，２ｎのス
キャンパス出力を読み出すことによってスキャンパス上
で論理“１”または“０”故障を起こしているＩＣを判
定する。
理装置２において障害が発生した場合、まず障害通知が
診断処理装置１へ送出される。診断処理装置１はこの障
害通知を受けると、データ処理装置２内の状態読出し
や、スキャンパス制御によるＦＦの内容の抜取りを行
う。診断処理装置１はこれらの情報に基づいて障害箇所
の診断を行う。即ち、スキャン制御部３がスキャンイン
・データ切替え回路６を制御することにより第１，第２
のスキャン制御手段４，５はそれぞれ論理“０”，
“１”を順次シフトしてスキャンパスの全ＦＦに対して
ＳＩＤ７を入力する。診断制御手段１０は第１のスキャ
ン制御手段４によりスキャンパスの全ＦＦに対して論理
“０”をシフト入力した後、状態読出し制御部２０によ
り各ＩＣ２１，〜２ｍ，２ｎのスキャン出力を読み出
し、次に第２のスキャン制御手段５によりスキャンパス
の全ＦＦに対して論理“１”をシフト入力した後、状態
読出し制御部２０により各ＩＣ２１，〜２ｍ，２ｎのス
キャンパス出力を読み出すことによってスキャンパス上
で論理“１”または“０”故障を起こしているＩＣを判
定する。
【００１１】次に本実施例の診断制御動作について説明
する。まず第１のスキャン制御手段４によりデータ処理
装置２のスキャンパスに対してＳＩＤ７を論理“０”に
固定して入力する。スキャンパス上の全ＦＦに対してス
キャンイン後、診断処理装置１は状態読出し制御部２０
により全ＩＣ２１，〜２ｍ，２ｎのスキャンパス出力の
値を読み取る。ここで、例えば×印のＦＦが論理“１”
側に故障している場合、ＩＣ２ｍとＩＣ２ｎの出力が論
理“１”となる。ＩＣ２１以降他のＩＣのスキャンパス
出力の値は事前にスキャン入力した論理“０”である。
この状態読出しデータ（以下ＳＴＯ）９をもとに診断処
理装置１の診断制御手段１０はＩＣ２ｍを故障とみな
す。また×印のＦＦが論理“０”側に故障している場
合、第１のスキャン制御手段４では故障箇所は判定でき
ない。この場合、診断処理装置１は第２のスキャン制御
手段５によりＳＩＤ７を論理“１”に固定して入力す
る。全ＦＦにスキャン実行後、状態読出し制御部２０に
より全ＩＣの出力の値を読み取る。×印のＦＦは論理
“０”故障しているので、ＩＣ２ｍ以降のスキャンパス
出力の値が論理“０”となる。診断処理装置１はこの情
報ＳＴＯ９からＩＣ２ｍが故障していることを割り出
す。
する。まず第１のスキャン制御手段４によりデータ処理
装置２のスキャンパスに対してＳＩＤ７を論理“０”に
固定して入力する。スキャンパス上の全ＦＦに対してス
キャンイン後、診断処理装置１は状態読出し制御部２０
により全ＩＣ２１，〜２ｍ，２ｎのスキャンパス出力の
値を読み取る。ここで、例えば×印のＦＦが論理“１”
側に故障している場合、ＩＣ２ｍとＩＣ２ｎの出力が論
理“１”となる。ＩＣ２１以降他のＩＣのスキャンパス
出力の値は事前にスキャン入力した論理“０”である。
この状態読出しデータ（以下ＳＴＯ）９をもとに診断処
理装置１の診断制御手段１０はＩＣ２ｍを故障とみな
す。また×印のＦＦが論理“０”側に故障している場
合、第１のスキャン制御手段４では故障箇所は判定でき
ない。この場合、診断処理装置１は第２のスキャン制御
手段５によりＳＩＤ７を論理“１”に固定して入力す
る。全ＦＦにスキャン実行後、状態読出し制御部２０に
より全ＩＣの出力の値を読み取る。×印のＦＦは論理
“０”故障しているので、ＩＣ２ｍ以降のスキャンパス
出力の値が論理“０”となる。診断処理装置１はこの情
報ＳＴＯ９からＩＣ２ｍが故障していることを割り出
す。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、１つのス
キャンパスを構成するＩＣごとのスキャン出力の値を診
断処理装置が読取り可能とすることにより、スキャンパ
ス上の故障箇所を限定することができ、診断制御におい
て故障部品をより正確に割り出すことが可能であるとい
う効果を有する。
キャンパスを構成するＩＣごとのスキャン出力の値を診
断処理装置が読取り可能とすることにより、スキャンパ
ス上の故障箇所を限定することができ、診断制御におい
て故障部品をより正確に割り出すことが可能であるとい
う効果を有する。
【００１３】ＩＣ故障としてＦＦ部の故障率が非常に高
く、スキャンパス障害になる確率が高い。従ってスキャ
ンパス障害から故障ＩＣを判定する本発明は極めて有効
である。
く、スキャンパス障害になる確率が高い。従ってスキャ
ンパス障害から故障ＩＣを判定する本発明は極めて有効
である。
【図１】本発明の診断制御方式の一実施例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
１ 診断処理装置 ２ データ処理装置 ３ スキャンパス制御部 ４ 第１のスキャン制御手段 ５ 第２のスキャン制御手段 ６ スキャンイン・データ切替え回路 ７ スキャンイン・データ（ＳＩＤ） ８ スキャンアウト・データ（ＳＯＤ） ９ 状態読出しデータ（ＳＴＯ） １０ 診断制御手段 ２０ 状態読出し制御部 ２１，２ｍ，２ｎ ＩＣ ＦＦ フリップフロップ
Claims (1)
- 【請求項１】 フリップフロップのデータを順次にシフ
トするスキャンパスが複数のＩＣを経由しているデータ
処理装置のスキャン動作を制御する診断処理装置による
診断制御方式において、前記データ処理装置は１本の前
記スキャンパスを構成する前記ＩＣごとのスキャン出力
を読み取る状態読出し手段を備え、前記診断処理装置は
前記スキャンパスの前記全フリップフロップに対して論
理“０”を順次シフトして入力する第１のスキャン制御
手段と、前記スキャンパスの前記全フリップフロップに
対して論理“１”を順次シフトして入力する第２のスキ
ャン制御手段と、前記第１のスキャン制御手段により前
記スキャンパスの前記全フリップフロップに対して論理
“０”をシフト入力したのち前記状態読出し手段により
前記各ＩＣのスキャン出力を読み出し、次に前記第２の
スキャン制御手段により前記スキャンパスの前記全フリ
ップフロップに対して論理“１”をシフト入力したのち
前記状態読出し手段により前記各ＩＣのスキャン出力を
読み出すことによって前記スキャンパス上で論理“１”
または“０”故障を起こしているＩＣを判定する診断制
御手段とを備えることを特徴とする診断制御方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3229288A JPH0566960A (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 診断制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3229288A JPH0566960A (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 診断制御方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0566960A true JPH0566960A (ja) | 1993-03-19 |
Family
ID=16889776
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3229288A Pending JPH0566960A (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 診断制御方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0566960A (ja) |
-
1991
- 1991-09-10 JP JP3229288A patent/JPH0566960A/ja active Pending
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