JPH0566990B2 - - Google Patents
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- JPH0566990B2 JPH0566990B2 JP61178221A JP17822186A JPH0566990B2 JP H0566990 B2 JPH0566990 B2 JP H0566990B2 JP 61178221 A JP61178221 A JP 61178221A JP 17822186 A JP17822186 A JP 17822186A JP H0566990 B2 JPH0566990 B2 JP H0566990B2
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- JP
- Japan
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- connector
- terminals
- terminal
- scanner
- measurement
- Prior art date
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 41
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 37
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 21
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はコネクタ試験装置に関する。
従来、この種のコネクタ試験装置は、コネクタ
の隣接端子間、対向端子間の絶縁試験、耐圧試験
及び対向端子間の接触部の接触抵抗測定を行う場
合、コネクタ端子を一対ずつ測定器の測定棒にて
測定していた。
の隣接端子間、対向端子間の絶縁試験、耐圧試験
及び対向端子間の接触部の接触抵抗測定を行う場
合、コネクタ端子を一対ずつ測定器の測定棒にて
測定していた。
上述した従来のコネクタ試験装置では、コネク
タの隣接端子間、対向端子間の絶縁試験、耐圧試
験及び対向端子間の接触部の接触抵抗地測定を行
う場合、人手によりコネクタ端子を一対ずつ測定
器の測定棒にて測定していたので、不注意による
測定誤りが発生し正確な試験結果が得られず、か
つ、コネクタ端子数が多いと計測時間と労力を必
要とするという欠点がある。
タの隣接端子間、対向端子間の絶縁試験、耐圧試
験及び対向端子間の接触部の接触抵抗地測定を行
う場合、人手によりコネクタ端子を一対ずつ測定
器の測定棒にて測定していたので、不注意による
測定誤りが発生し正確な試験結果が得られず、か
つ、コネクタ端子数が多いと計測時間と労力を必
要とするという欠点がある。
本発明の目的は、正確な計測が短時間に容易に
できるコネクタ試験装置を提供することにある。
できるコネクタ試験装置を提供することにある。
本発明のコネクタ試験装置は、各各が複数端子
からなる第１の端子列と第２の端子列とが対向し
て配列されたコネクタの特性試験のための接触抵
抗計、絶縁抵抗計、耐圧計及び試験結果を表示す
る電圧計を有する計測部と、 前記コネクタの各端子と接触し所定の端子間を
短絡させる短絡橋を有する短絡板を接触抵抗測定
時に下降させる上下駆動機構と； 同時に作動する２回路構成のスイツチを複数有
し前記特性試験の閉回路を形成するためのコネク
タ端子スキヤナと、対応する測定器を前記閉回路
に接続する測定器スキヤナと、計測制御部の制御
を受けて前記特性試験に対応する前記閉回路の形
成及び前記測定器の接続を制御する走査制御部と
を有する走査部とを備え； 前記特性試験に際し予め、前記コネクタの前記
第１の端子列の奇数番目の端子及び前記第２の端
子列の偶数番目の端子個々にそれぞれ接続した第
１及び第２の導線を前記コネクタ端子スキヤナの
それぞれ対応する前記スイツチへ接続し、前記第
２の端子列の奇数番目の端子と前記第１の端子列
の偶数番目の端子とを順次接続すると共にこの接
続の一端に第３の導線をかつ他端に第４の導線を
それぞれ接続し； 前記測定制御部が、接触抵抗測定時には、前記
第１及び第２の導線を前記スイツチを通し前記第
３及び第４の導線を前記接触抵抗計へ直接接続し
て４端子閉回路を形成し、前記上下駆動機構を制
御し前記短絡板を下降させ前記短絡橋により前記
コネクタの対向端子間をそれぞれ短絡し、前記コ
ネクタ端子スキヤナの前記スイツチを順次制御し
て個々に導通状態とし、絶縁抵抗測定または耐圧
測定時には、前記スイツチをすべて導通状態と
し、前記測定器スキヤナを通じて前記絶縁抵抗計
または前記耐圧計の測定端子の一端に前記第１及
び第２の導線をかつ他端に前記第３及び第４の導
線をそれぞれ接続し、前記各特性試験に対応する
試験電圧の供給を制御し前記電圧計に対応する前
記特性試験の結果を順次表示する。
からなる第１の端子列と第２の端子列とが対向し
て配列されたコネクタの特性試験のための接触抵
抗計、絶縁抵抗計、耐圧計及び試験結果を表示す
る電圧計を有する計測部と、 前記コネクタの各端子と接触し所定の端子間を
短絡させる短絡橋を有する短絡板を接触抵抗測定
時に下降させる上下駆動機構と； 同時に作動する２回路構成のスイツチを複数有
し前記特性試験の閉回路を形成するためのコネク
タ端子スキヤナと、対応する測定器を前記閉回路
に接続する測定器スキヤナと、計測制御部の制御
を受けて前記特性試験に対応する前記閉回路の形
成及び前記測定器の接続を制御する走査制御部と
を有する走査部とを備え； 前記特性試験に際し予め、前記コネクタの前記
第１の端子列の奇数番目の端子及び前記第２の端
子列の偶数番目の端子個々にそれぞれ接続した第
１及び第２の導線を前記コネクタ端子スキヤナの
それぞれ対応する前記スイツチへ接続し、前記第
２の端子列の奇数番目の端子と前記第１の端子列
の偶数番目の端子とを順次接続すると共にこの接
続の一端に第３の導線をかつ他端に第４の導線を
それぞれ接続し； 前記測定制御部が、接触抵抗測定時には、前記
第１及び第２の導線を前記スイツチを通し前記第
３及び第４の導線を前記接触抵抗計へ直接接続し
て４端子閉回路を形成し、前記上下駆動機構を制
御し前記短絡板を下降させ前記短絡橋により前記
コネクタの対向端子間をそれぞれ短絡し、前記コ
ネクタ端子スキヤナの前記スイツチを順次制御し
て個々に導通状態とし、絶縁抵抗測定または耐圧
測定時には、前記スイツチをすべて導通状態と
し、前記測定器スキヤナを通じて前記絶縁抵抗計
または前記耐圧計の測定端子の一端に前記第１及
び第２の導線をかつ他端に前記第３及び第４の導
線をそれぞれ接続し、前記各特性試験に対応する
試験電圧の供給を制御し前記電圧計に対応する前
記特性試験の結果を順次表示する。
次に、本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
説明する。
第１図は本発明の一実施例のブロツク図であ
る。
る。
第１図に示すように、本実施例は計測制御部１
と、測定器スキヤナ２１とコネクタ端子スキヤナ
２２と走査制御部２３とを備える走査部２と、測
定コネクタ３３のコネクタ端子間を短絡する短絡
板３１と短絡板３１の上下駆動機構３２とそれら
を搭載する支持台３４とを備える測定コネクタ治
具３と、電圧計４１と接触抵抗計４２と絶縁計４
３と耐圧計４４との各種測定器を備える計測部４
とを含む。
と、測定器スキヤナ２１とコネクタ端子スキヤナ
２２と走査制御部２３とを備える走査部２と、測
定コネクタ３３のコネクタ端子間を短絡する短絡
板３１と短絡板３１の上下駆動機構３２とそれら
を搭載する支持台３４とを備える測定コネクタ治
具３と、電圧計４１と接触抵抗計４２と絶縁計４
３と耐圧計４４との各種測定器を備える計測部４
とを含む。
第２図は第１図の実施例で計測される測定コネ
クタ３３の斜視図である。
クタ３３の斜視図である。
第２図に示すように、モールド部５から上方及
び下方に10本の端子R1〜R5及びL1〜L5が突出し、
かつ、列Ｒ及びＬの２列に配列されている。な
お、第２図に示す測定コネクタ３３はコネクタ端
子の端子数が10ピンの場合であるが、試験可能な
対象コネクタのコネクタ端子数には特に制限はな
い。
び下方に10本の端子R1〜R5及びL1〜L5が突出し、
かつ、列Ｒ及びＬの２列に配列されている。な
お、第２図に示す測定コネクタ３３はコネクタ端
子の端子数が10ピンの場合であるが、試験可能な
対象コネクタのコネクタ端子数には特に制限はな
い。
第３図は第２図に示す測定コネクタ３３を測定
試験する場合の各コネクタ端子L1〜L5、R1〜R5
とコネクタ端子スキヤナ２２との接続を示す回路
図であり、測定に先立ち予め結線しておく。つま
り、測定コネクタ３３のコネクタ端子の接続は第
３図に示すように、列Ｌの奇数番目の端子L1，
L3，L5と列Ｒの偶数番目の端子R2，R4からそれ
ぞれ導線を２本ずつ配線し、その先はコネクタ端
子スキヤナ２２のスイツチ部へ接続する。列Ｌの
偶数番目の端子L2，L4と列Ｒの奇数番目の端子
R1，R3，R5は、端子R1→L2→R3→L4→R5の順に
接続され、端子R1及びR5からそれぞれ導線１本
ずつをコネクタ端子スキヤナ２２の内部へ接続す
る。
試験する場合の各コネクタ端子L1〜L5、R1〜R5
とコネクタ端子スキヤナ２２との接続を示す回路
図であり、測定に先立ち予め結線しておく。つま
り、測定コネクタ３３のコネクタ端子の接続は第
３図に示すように、列Ｌの奇数番目の端子L1，
L3，L5と列Ｒの偶数番目の端子R2，R4からそれ
ぞれ導線を２本ずつ配線し、その先はコネクタ端
子スキヤナ２２のスイツチ部へ接続する。列Ｌの
偶数番目の端子L2，L4と列Ｒの奇数番目の端子
R1，R3，R5は、端子R1→L2→R3→L4→R5の順に
接続され、端子R1及びR5からそれぞれ導線１本
ずつをコネクタ端子スキヤナ２２の内部へ接続す
る。
この配線によつてできた回路は、測定コネクタ
３３の対向端子間、即ち、端子Li（１≦ｉ≦５の
整数）と端子Riの間の接触抵抗地測定時の四端
子測定法を考慮している。又、コネクタ端子スキ
ヤナ２２のスイツチSW1はスイツチSW11とSW12
とから成り、スイツチSW11とSW12は同時に接又
は断となる。
３３の対向端子間、即ち、端子Li（１≦ｉ≦５の
整数）と端子Riの間の接触抵抗地測定時の四端
子測定法を考慮している。又、コネクタ端子スキ
ヤナ２２のスイツチSW1はスイツチSW11とSW12
とから成り、スイツチSW11とSW12は同時に接又
は断となる。
スイツチSW2〜SW5も同様にそれぞれスイツチ
SW21、SW22〜SW51、SW52から成る。
SW21、SW22〜SW51、SW52から成る。
第４図は第１図の測定コネクタ治具３の短絡板
３の斜視図である。
３の斜視図である。
第４図において、短絡板３１は絶縁体であり、
底面には良導体の短絡橋３１１が測定コネクタ３
３の端子Li及びRiを短絡できるように５個配列
される。短絡板３１は接触抵抗測定時に第１図に
示す上下駆動機構３２により下降し、端子L1、
R1、Ｌ２，Ｒ２，Ｌ３，Ｒ３，Ｌ４，Ｒ４，Ｌ
５，Ｒ５間が短絡橋３１１によりそれぞれ短絡さ
せる。絶縁及び耐圧測定時には上下駆動機構３２
により短絡板３１が上昇し各端子間の短絡は開放
される。この上下駆動機構３２の制御は計測制御
部１からの制御信号によつて行われる。
底面には良導体の短絡橋３１１が測定コネクタ３
３の端子Li及びRiを短絡できるように５個配列
される。短絡板３１は接触抵抗測定時に第１図に
示す上下駆動機構３２により下降し、端子L1、
R1、Ｌ２，Ｒ２，Ｌ３，Ｒ３，Ｌ４，Ｒ４，Ｌ
５，Ｒ５間が短絡橋３１１によりそれぞれ短絡さ
せる。絶縁及び耐圧測定時には上下駆動機構３２
により短絡板３１が上昇し各端子間の短絡は開放
される。この上下駆動機構３２の制御は計測制御
部１からの制御信号によつて行われる。
この短絡方法は接触抵抗値測定を行ううえでの
基本的な形態であり、例えば、測定コネクタがプ
ラグコネクタの場合には、短絡板３１の代りに、
そのプラグコネクタのソケツトコネクタを使用す
ることにより、プラグコネクタとソケツトコネク
タ間の接触抵抗値を測定することができる。
基本的な形態であり、例えば、測定コネクタがプ
ラグコネクタの場合には、短絡板３１の代りに、
そのプラグコネクタのソケツトコネクタを使用す
ることにより、プラグコネクタとソケツトコネク
タ間の接触抵抗値を測定することができる。
次に、各種試験動作について説明する。
第５図は第１図の実施例により絶縁抵抗値を測
定する場合の回路図である。
定する場合の回路図である。
第５図に示すように、コネクタ端子スキヤナ２
２のスイツチSW1〜SW5を第１図に示す計測制御
部１からの制御信号により、走査制御部２３を介
してすべて導通状態にし、計測部４の絶縁計４３
を接続する。
２のスイツチSW1〜SW5を第１図に示す計測制御
部１からの制御信号により、走査制御部２３を介
してすべて導通状態にし、計測部４の絶縁計４３
を接続する。
スイツチSW1〜SW5を同時に導通状態にするこ
とによつて、絶縁試験と耐圧試験を行う時に使用
する隣接対向端子兼用配線となる。この隣接対向
端子兼用配線により、端子L1とL2のような各隣
接端子間の絶縁試験と端子L1とR1のような各対
向端子間の絶縁試験が同時に１度で行われる。
とによつて、絶縁試験と耐圧試験を行う時に使用
する隣接対向端子兼用配線となる。この隣接対向
端子兼用配線により、端子L1とL2のような各隣
接端子間の絶縁試験と端子L1とR1のような各対
向端子間の絶縁試験が同時に１度で行われる。
絶縁計４３で測定した絶縁抵抗値は、絶縁計４
３に設けられているデータ出力端子図示せずによ
り第１図に示す測定器スキヤナ２１を通して電圧
計４１にて読取られ計測制御部１に転送される。
なお、絶縁計４３の代りに耐圧計４４を接続する
ことにより、同様に隣接及び対向端子間の耐圧試
験を行うことができる。
３に設けられているデータ出力端子図示せずによ
り第１図に示す測定器スキヤナ２１を通して電圧
計４１にて読取られ計測制御部１に転送される。
なお、絶縁計４３の代りに耐圧計４４を接続する
ことにより、同様に隣接及び対向端子間の耐圧試
験を行うことができる。
第６図は第１図の実施例により接触抵抗値を測
定する場合の回路図である。なお、計測制御部１
から測定コネクタ治具３の上下駆動機構３２を制
御して短絡板３１が下降して端子Ｌ１，Ｒ１，Ｌ
２，Ｒ２，Ｌ３，Ｒ３，Ｌ４，Ｒ４，Ｌ５，Ｒ５
間が短絡橋３１１によりそれぞれ短絡されるが、
第６図においては端子Ｌ１，Ｒ１の短絡状態だけ
を図示し他は省略してある。
定する場合の回路図である。なお、計測制御部１
から測定コネクタ治具３の上下駆動機構３２を制
御して短絡板３１が下降して端子Ｌ１，Ｒ１，Ｌ
２，Ｒ２，Ｌ３，Ｒ３，Ｌ４，Ｒ４，Ｌ５，Ｒ５
間が短絡橋３１１によりそれぞれ短絡されるが、
第６図においては端子Ｌ１，Ｒ１の短絡状態だけ
を図示し他は省略してある。
第６図に示すように、コネクタ端子スキヤナ２
２のスイツチSW1は第１図に示す計測制御部１か
らの制御信号により走査制御部２３を介して導通
状態に制御され、計測部４の接触抵抗計４２と接
続している。
２のスイツチSW1は第１図に示す計測制御部１か
らの制御信号により走査制御部２３を介して導通
状態に制御され、計測部４の接触抵抗計４２と接
続している。
第６図において、端子L1とR1との間を第４図
に示す短絡板３１を用いて短絡すると、対向する
端子L1とR1間の短絡橋３１１との接触部の接触
抵抗値を測定することができる。
に示す短絡板３１を用いて短絡すると、対向する
端子L1とR1間の短絡橋３１１との接触部の接触
抵抗値を測定することができる。
第７図は第６図の等価回路図である。
第７図において、端子L1とR1との間の抵抗３
１２は端子L1とR1の短絡橋３１１との接触部の
接触抵抗分である。第３図を用いて前述したよう
に、測定コネクタ３３のコネクタ端子の結線は、
各端子１本につき２本ずつ導線が配線されている
ので四端子測定法が成立する。
１２は端子L1とR1の短絡橋３１１との接触部の
接触抵抗分である。第３図を用いて前述したよう
に、測定コネクタ３３のコネクタ端子の結線は、
各端子１本につき２本ずつ導線が配線されている
ので四端子測定法が成立する。
現在、導通状態となつているスイツチSW1を開
放とし、次にスイツチSW2を導通状態とするとい
つた具合にスイツチを順次切換えて行くことによ
り、各対向端子間の接触抵抗を測定することがで
きる。接触抵抗計４２で測定した接触抵抗値は接
触抵抗計４２に設けられているデータ出力端子図
示せずで、第１図の示す測定器スキヤナ２１を通
して電圧計４１にて読取られた計測制御部１に転
送される。
放とし、次にスイツチSW2を導通状態とするとい
つた具合にスイツチを順次切換えて行くことによ
り、各対向端子間の接触抵抗を測定することがで
きる。接触抵抗計４２で測定した接触抵抗値は接
触抵抗計４２に設けられているデータ出力端子図
示せずで、第１図の示す測定器スキヤナ２１を通
して電圧計４１にて読取られた計測制御部１に転
送される。
以上説明したように本発明のコネクタ試験装置
は、絶縁試験、耐圧試験は隣接対向端子兼用配線
を用いてそれぞれ１度で試験し、接触抵抗値は各
対向端子を短絡板の短絡橋により短絡すると共
に、コネクタ端子スキヤナにより測定コネクタの
各端子を走査して測定するという動作を計測制御
部からの制御にて自動的に行うことにより、人為
的な計測誤りの発生が無く正確かつ容易に短時間
で各種計測できるという効果がある。
は、絶縁試験、耐圧試験は隣接対向端子兼用配線
を用いてそれぞれ１度で試験し、接触抵抗値は各
対向端子を短絡板の短絡橋により短絡すると共
に、コネクタ端子スキヤナにより測定コネクタの
各端子を走査して測定するという動作を計測制御
部からの制御にて自動的に行うことにより、人為
的な計測誤りの発生が無く正確かつ容易に短時間
で各種計測できるという効果がある。
第１図は本発明の一実施例のブロツク図、第２
図は第１図の実施例で計測される測定コネクタの
斜視図、第３図は第１図の測定コネクタとコネク
タ端子スキヤナとの接続を示す回路図、第４図は
第１図の測定コネクタ治具の短絡板の斜視図、第
５図は第１図の実施例により絶縁抵抗値を測定す
る場合の回路図、第６図は第１図の実施例により
接触抵抗値を測定する場合の回路図、第７図は第
６図の等価回路図である。 １……計測制御部、２……走査部、３……測定
コネクタ治具、４……計測部、５……モールド
部、２１……測定器スキヤナ、２２……コネクタ
端子スキヤナ、２３……走査制御部、３１……短
絡板、３２……上下駆動機構、３３……測定コネ
クタ、３４……支持部、４１……電圧計、４２…
…接触抵抗計、４３……絶縁計、４４……耐圧
計、３１１……短絡橋、３１２……抵抗、L1〜
L5，R1〜R5……端子。
図は第１図の実施例で計測される測定コネクタの
斜視図、第３図は第１図の測定コネクタとコネク
タ端子スキヤナとの接続を示す回路図、第４図は
第１図の測定コネクタ治具の短絡板の斜視図、第
５図は第１図の実施例により絶縁抵抗値を測定す
る場合の回路図、第６図は第１図の実施例により
接触抵抗値を測定する場合の回路図、第７図は第
６図の等価回路図である。 １……計測制御部、２……走査部、３……測定
コネクタ治具、４……計測部、５……モールド
部、２１……測定器スキヤナ、２２……コネクタ
端子スキヤナ、２３……走査制御部、３１……短
絡板、３２……上下駆動機構、３３……測定コネ
クタ、３４……支持部、４１……電圧計、４２…
…接触抵抗計、４３……絶縁計、４４……耐圧
計、３１１……短絡橋、３１２……抵抗、L1〜
L5，R1〜R5……端子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 各各が複数端子からなる第１の端子列と第２
の端子列とが対向して配列されたコネクタの特性
試験のための接触抵抗計、絶縁抵抗計、耐圧計及
び試験結果を表示する電圧計を有する計測部と； 前記コネクタの各端子と接触し所定の端子間を
短絡させる短絡橋を有する短絡板を接触抵抗測定
時に下降させる上下駆動機構と； 同時に作動する２回路構成のスイツチを複数有
し前記特性試験の閉回路を形成するためのコネク
タ端子スキヤナと、対応する測定器を前記閉回路
に接続する測定器スキヤナと、計測制御部の制御
を受けて前記特性試験に対応する前記閉回路の形
成及び前記測定器の接続を制御する走査制御部と
を有する走査部とを備え； 前記特性試験に際し予め、前記コネクタの前記
第１の端子列の奇数番目の端子及び前記第２の端
子列の偶数番目の端子個々にそれぞれ接続した第
１及び第２の導線を前記コネクタ端子スキヤナの
それぞれ対応する前記スイツチへ接続し、前記第
２の端子列の奇数番目の端子と前記第１の端子列
の偶数番目の端子とを順次接続すると共にこの接
続の一端に第３の導線をかつ他端に第４の導線を
それぞれ接続し； 前記計測制御部が、接触抵抗測定時には、前記
第１及び第２の導線を前記スイツチを通し前記第
３及び第４の導線を前記接触抵抗計へ直接接続し
て４端子閉回路を形成し、前記上下駆動機構を制
御し前記短絡板を下降させ前記短絡橋により前記
コネクタの対向端子間をそれぞれ短絡し、前記コ
ネクタ端子スキヤナの前記スイツチを順次制御し
て個々に導通状態とし、絶縁抵抗測定または耐圧
測定時には、前記スイツチをすべて導通状態と
し、前記測定器スキヤナを通して前記絶縁抵抗計
または前記耐圧計の測定端子の一端に前記第１及
び第２の導線をかつ他端に前記第３及び第４の導
線をそれぞれ接続し、前記各特性試験に対応する
試験電圧の供給を制御し前記電圧計に対応する前
記特性試験の結果を順次表示することを特徴とす
るコネクタ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61178221A JPS6333671A (ja) | 1986-07-28 | 1986-07-28 | コネクタ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61178221A JPS6333671A (ja) | 1986-07-28 | 1986-07-28 | コネクタ試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6333671A JPS6333671A (ja) | 1988-02-13 |
| JPH0566990B2 true JPH0566990B2 (ja) | 1993-09-22 |
Family
ID=16044706
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61178221A Granted JPS6333671A (ja) | 1986-07-28 | 1986-07-28 | コネクタ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6333671A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5946809A (ja) * | 1982-09-10 | 1984-03-16 | Furuno Electric Co Ltd | 航跡及び潮流状況の表示装置 |
| JPH01148814U (ja) * | 1989-03-13 | 1989-10-16 |
-
1986
- 1986-07-28 JP JP61178221A patent/JPS6333671A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6333671A (ja) | 1988-02-13 |
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