JPH0569180B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0569180B2 JPH0569180B2 JP26603784A JP26603784A JPH0569180B2 JP H0569180 B2 JPH0569180 B2 JP H0569180B2 JP 26603784 A JP26603784 A JP 26603784A JP 26603784 A JP26603784 A JP 26603784A JP H0569180 B2 JPH0569180 B2 JP H0569180B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- correction
- unbalance
- specimen
- vector
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 42
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M1/00—Testing static or dynamic balance of machines or structures
- G01M1/30—Compensating imbalance
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Balance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本発明は動つりあい試験機によつて供試体の不
つりあいを測定し、その測定結果に基づいて供試
体につりあわせ修正加工を施す方法に関する。
つりあいを測定し、その測定結果に基づいて供試
体につりあわせ修正加工を施す方法に関する。
(ロ) 従来技術
従来、動つりあい試験における供試体の不つり
あい測定および修正の手順は、まず供試体の左右
両修正面上における不つりあいベクトル〓L，〓R
を測定し、この測定結果に基づいてそれぞれの修
正面に修正を加えていた。修正加工はドリルによ
り削り取る方法、錘を付加する方法その他がある
が、いずれの方法によつても多少の修正誤差が生
ずることは否めず、従つて、従来の測定・修正方
法によると、左右両修正面それぞれに修正誤差に
起因する不つりあいが残存していた。
あい測定および修正の手順は、まず供試体の左右
両修正面上における不つりあいベクトル〓L，〓R
を測定し、この測定結果に基づいてそれぞれの修
正面に修正を加えていた。修正加工はドリルによ
り削り取る方法、錘を付加する方法その他がある
が、いずれの方法によつても多少の修正誤差が生
ずることは否めず、従つて、従来の測定・修正方
法によると、左右両修正面それぞれに修正誤差に
起因する不つりあいが残存していた。
(ハ) 目的
本発明の目的は、上述の如き測定・修正にあつ
て、修正誤差に起因する残留不つりあいを従来の
方法に比べて小さくすることのできる、動つりあ
い測定・修正方法を提供することにある。
て、修正誤差に起因する残留不つりあいを従来の
方法に比べて小さくすることのできる、動つりあ
い測定・修正方法を提供することにある。
(ニ) 構成
本発明の特徴とするところは、先ず動つりあい
試験によつて供試体上に設定された左右の両修正
面上における不つりあいベクトルを測定し、その
測定結果に基づいて両修正面のうち一方の修正面
に修正を施し、次に再度動つりあい試験によつ
て、修正後の修正面上において残留する不つりあ
いベクトルを測定し、その測定結果と、最初の動
つりあい試験による他方の修正面上における不つ
りあいベクトルとを合成し、その合成結果に基づ
いて他方の修正面に修正加工を施すことにある。
試験によつて供試体上に設定された左右の両修正
面上における不つりあいベクトルを測定し、その
測定結果に基づいて両修正面のうち一方の修正面
に修正を施し、次に再度動つりあい試験によつ
て、修正後の修正面上において残留する不つりあ
いベクトルを測定し、その測定結果と、最初の動
つりあい試験による他方の修正面上における不つ
りあいベクトルとを合成し、その合成結果に基づ
いて他方の修正面に修正加工を施すことにある。
(ホ) 実施例
本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明
する。
する。
第１図乃至第６図は、本発明方法による不つり
あいの測定・修正手順を示すベクトル図である。
あいの測定・修正手順を示すベクトル図である。
先ず、動つりあい試験機により供試体に回転を
与え、その回転によつて生ずる不つりあい信号
と、供試体の基準マーク等を検出して得られる基
準位相信号とから、供試体の左右両修正面上にお
ける不つりあいベクトル〓Lおよび〓Rを測定す
る。その測定結果が第１図に示す如くであつたと
する。
与え、その回転によつて生ずる不つりあい信号
と、供試体の基準マーク等を検出して得られる基
準位相信号とから、供試体の左右両修正面上にお
ける不つりあいベクトル〓Lおよび〓Rを測定す
る。その測定結果が第１図に示す如くであつたと
する。
次に、任意の一方の修正面、例えば右修正面上
における不つりあいベクトル〓Rを、供試体上に
あらかじめ設定され分力方向上の二つのベクト
ル、分力ベクトル〓R1および〓R2に分解する（第
２図）。そしてその分力ベクトル〓R1および〓R2
の方向に、それぞれの大きさに基づく量だけ修正
用ドリル等によつて修正加工を施す。
における不つりあいベクトル〓Rを、供試体上に
あらかじめ設定され分力方向上の二つのベクト
ル、分力ベクトル〓R1および〓R2に分解する（第
２図）。そしてその分力ベクトル〓R1および〓R2
の方向に、それぞれの大きさに基づく量だけ修正
用ドリル等によつて修正加工を施す。
その結果、右修正面上の不つりあいベクトル〓
Ｒは、理想的には０となるはずであるが、実際に
は修正誤差による不つりあいが残留している。そ
こで次に、この右修正面上における残留不つりあ
いベクトル〓R0を、再度動つりあい試験機を駆動
して測定する。その測定結果が第３図に示す如く
であつたとする。
Ｒは、理想的には０となるはずであるが、実際に
は修正誤差による不つりあいが残留している。そ
こで次に、この右修正面上における残留不つりあ
いベクトル〓R0を、再度動つりあい試験機を駆動
して測定する。その測定結果が第３図に示す如く
であつたとする。
次に、その右修正面上の残留不つりあいベクト
ル〓R0を左修正面に平行移動して、最初の測定に
より得られた左修正面上の不つりあいベクトル〓
Ｌと合成し、不つりあいベクトル〓L′を得る（第
４図）。
ル〓R0を左修正面に平行移動して、最初の測定に
より得られた左修正面上の不つりあいベクトル〓
Ｌと合成し、不つりあいベクトル〓L′を得る（第
４図）。
そして、この合成された左修正面上の不つりあ
いベクトル〓L′について、左修正面上に設定され
た分力方向上の二つの分力ベクトル〓L′1および
〓L′2に分解する（第５図）。そしてその分力ベク
トル〓L′1，〓L′2の方向に、それぞれ大きさに基
づく量だけ修正加工を施す。
いベクトル〓L′について、左修正面上に設定され
た分力方向上の二つの分力ベクトル〓L′1および
〓L′2に分解する（第５図）。そしてその分力ベク
トル〓L′1，〓L′2の方向に、それぞれ大きさに基
づく量だけ修正加工を施す。
その結果、この修正加工における修正誤差が〓
Ｌ′０であつたとすると、供試体上に残留する不つ
りあいは〓R0，−〓R0，〓L′0となる。このうち、
〓R0と−〓R0は方向が反対で同じ大きさであるか
ら、供試体全体としてはこれらは打ち消しあい、
静的につりあつている。従つて供試体に残留する
静的不つりあいは〓L′0のみとなる。なお、片面
（左修正面）の不つりあいの最大残留量としては、
−〓R0と〓L′0の方向が完全に一致したときで、そ
の大きさは〓L′0＋〓R0となる。
Ｌ′０であつたとすると、供試体上に残留する不つ
りあいは〓R0，−〓R0，〓L′0となる。このうち、
〓R0と−〓R0は方向が反対で同じ大きさであるか
ら、供試体全体としてはこれらは打ち消しあい、
静的につりあつている。従つて供試体に残留する
静的不つりあいは〓L′0のみとなる。なお、片面
（左修正面）の不つりあいの最大残留量としては、
−〓R0と〓L′0の方向が完全に一致したときで、そ
の大きさは〓L′0＋〓R0となる。
(ヘ) 効果
以上説明したように、本発明によれば、左右両
修正面上の不つりあいベクトル〓L，〓Rを測定
し、その一方（例えば〓R）について修正加工を
施し、その後、その修正における残留不つりあい
〓R0を測定して先に測定された他方の不つりあい
ベクトル〓Lと合成し、合成されたベクトル〓L′
に応じて他方の修正面に修正加工を施すから、先
に修正加工を施した面（右面）についての残留不
つりあいが後の修正加工によつて静的に相殺さ
れ、静的不つりあいの残留量は従来方法に比べて
半減されることになる。
修正面上の不つりあいベクトル〓L，〓Rを測定
し、その一方（例えば〓R）について修正加工を
施し、その後、その修正における残留不つりあい
〓R0を測定して先に測定された他方の不つりあい
ベクトル〓Lと合成し、合成されたベクトル〓L′
に応じて他方の修正面に修正加工を施すから、先
に修正加工を施した面（右面）についての残留不
つりあいが後の修正加工によつて静的に相殺さ
れ、静的不つりあいの残留量は従来方法に比べて
半減されることになる。
第１図、第２図、第３図、第４図、第５図およ
び第６図は、それぞれ本発明実施例の手順を示す
ベクトル図である。
び第６図は、それぞれ本発明実施例の手順を示す
ベクトル図である。
Claims (1)
- １ 供試体を回転させることによつて発生する不
つりあい信号と、供試体の基準位相信号とから、
供試体上に設定された左右両修正面上における不
つりあいベクトルを測定し、その測定結果に基づ
いて上記両修正面のうち一方の修正面に修正加工
を施し、その後、供試体を再度回転させて上記一
方の修正面上において残留する不つりあいベクト
ルを測定し、その測定結果と最初の測定による他
方の修正面上における不つりあいベクトルとを合
成し、その合成結果に基づいて上記他方の修正面
に修正加工を施すことを特徴とする、動つりあい
測定・修正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26603784A JPS61142436A (ja) | 1984-12-17 | 1984-12-17 | 動つりあい測定・修正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26603784A JPS61142436A (ja) | 1984-12-17 | 1984-12-17 | 動つりあい測定・修正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61142436A JPS61142436A (ja) | 1986-06-30 |
| JPH0569180B2 true JPH0569180B2 (ja) | 1993-09-30 |
Family
ID=17425507
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26603784A Granted JPS61142436A (ja) | 1984-12-17 | 1984-12-17 | 動つりあい測定・修正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61142436A (ja) |
-
1984
- 1984-12-17 JP JP26603784A patent/JPS61142436A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61142436A (ja) | 1986-06-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA2016458C (en) | Balancing method and product | |
| US5396436A (en) | Wheel balancing apparatus and method with improved calibration and improved imbalance determination | |
| EP0133229B2 (en) | Wheel balancer two plane calibration method | |
| CN101887068A (zh) | 三轴矢量传感器及两轴矢量传感器的标定补偿方法 | |
| JPS60214228A (ja) | 振動分析方法 | |
| CN113156166A (zh) | 石英加速度计在精密离心机上的对称融消测试方法 | |
| CN114034885B (zh) | 一种基于全误差分析的陀螺加速度计在双轴离心机上的测试方法 | |
| CN102778333A (zh) | 一种在大型转动部件上做动平衡测试的方法 | |
| JPS6244641A (ja) | つりあい試験方法および装置 | |
| US5243788A (en) | Grinding wheel balancing method and apparatus | |
| JPH0569180B2 (ja) | ||
| JPH03123834A (ja) | 不釣合修正装置 | |
| CN111879335A (zh) | 一种基于离心机的多位置陀螺仪漂移系数的标定方法 | |
| JP6370239B2 (ja) | 回転体の動的不釣り合いの測定方法並びにその測定装置 | |
| KR100869193B1 (ko) | 불균형 측정장치를 교정하기 위한 방법 및 장치 | |
| CN109847952B (zh) | 一种基于驱动电流的双轴精密离心机回转台动平衡方法 | |
| JPH0252206B2 (ja) | ||
| JPH0552449B2 (ja) | ||
| JPH0588413B2 (ja) | ||
| JPH0663898B2 (ja) | 回転体の精密バランシング方法 | |
| JPH059631Y2 (ja) | ||
| JPS5895238A (ja) | 動つりあい試験機の自動角度零調装置 | |
| JPH0617844B2 (ja) | 不つりあい試験機 | |
| JPH0617843B2 (ja) | 動釣合試験機の偏心補償方法 | |
| TWI272372B (en) | Unbalanced measurement method for bi-axial rotators |