JPH056951A - 半導体装置及びその製造方法 - Google Patents
半導体装置及びその製造方法Info
- Publication number
- JPH056951A JPH056951A JP3157061A JP15706191A JPH056951A JP H056951 A JPH056951 A JP H056951A JP 3157061 A JP3157061 A JP 3157061A JP 15706191 A JP15706191 A JP 15706191A JP H056951 A JPH056951 A JP H056951A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip
- lead
- semiconductor device
- holding
- resin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】薄型で、割れのない半導体装置を得ること。
【構成】半導体チップと、このチップの近傍に配置され
たリード端子と、前記チップを挟んで保持するためのチ
ップ保持体とを具備したことを特徴とする。
たリード端子と、前記チップを挟んで保持するためのチ
ップ保持体とを具備したことを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置及びその製
造方法に関し、特に、薄型パッケージ化したい場合に使
用される。
造方法に関し、特に、薄型パッケージ化したい場合に使
用される。
【0002】
【従来の技術】従来の樹脂封止薄型半導体装置の例とし
て、図5のごときフラットパッケージタイプのものを示
す。これは平面図で、図6は図5のA−A線に沿う断面
図である。これは、Cu等からなるリードフレームから
形成されたもので、半導体チップ(半導体素子)1の載
置部2aが、吊りピン部2bによりリードフレームに保
持されており、載置部2aの周辺にリードフレームのリ
ード端子2cが配置されている。チップ1は接着剤(ペ
ースト)3により、載置部2a上に接合、固定され、ボ
ンディングワイヤ4でチップ1上のボンディングパッド
5とリード2c間を配線している。樹脂(レジン)6に
より、リード2cの基端側(インナーリード部)とその
他の前記構成要素は、全部封止されており、外部汚染か
ら保護されている。
て、図5のごときフラットパッケージタイプのものを示
す。これは平面図で、図6は図5のA−A線に沿う断面
図である。これは、Cu等からなるリードフレームから
形成されたもので、半導体チップ(半導体素子)1の載
置部2aが、吊りピン部2bによりリードフレームに保
持されており、載置部2aの周辺にリードフレームのリ
ード端子2cが配置されている。チップ1は接着剤(ペ
ースト)3により、載置部2a上に接合、固定され、ボ
ンディングワイヤ4でチップ1上のボンディングパッド
5とリード2c間を配線している。樹脂(レジン)6に
より、リード2cの基端側(インナーリード部)とその
他の前記構成要素は、全部封止されており、外部汚染か
ら保護されている。
【0003】近年、メモリカード等の普及に伴い、半導
体装置の小型化、薄型化の要求が強く、パッケージング
技術による対応が必要となってきているなかにあって、
従来技術においては下記のような問題が生じている。す
なわち図6のごとく、載置部2a上にチップ1をペース
ト3にて接着、固定することにより、樹脂6で封止する
までチップ1を機械的に安定させる。この構造では、載
置部2aとペースト3は絶対必要であり、薄型パッケー
ジ化において、これらの厚さが悪影響を及ぼしている。
また、薄型パッケージ化するために、樹脂6の厚さをで
きるだけ薄くするため、チップ1の上に存在する樹脂6
の厚さaと載置部2aの下方に存在する樹脂6の厚さb
とは、互いに異なった寸法をとり、そのため例えば、加
熱試験のときなどに、樹脂6の膨脹度合が上方と下方で
互いに異なる。したがって応力のかかりかたが、樹脂6
の上面と下面で互いに異なることになり、樹脂6やチッ
プ1が割れる現象が生じ、信頼性上、極めて重要な問題
となっている。これは、従来の薄型半導体装置には、樹
脂6の表面とワイヤ4との距離cに決まりがあって、こ
のcがある程度以上必要であるという条件があるため、
距離aのほうがbより大としなければ、上記条件を満た
せなくなってしまうためである。
体装置の小型化、薄型化の要求が強く、パッケージング
技術による対応が必要となってきているなかにあって、
従来技術においては下記のような問題が生じている。す
なわち図6のごとく、載置部2a上にチップ1をペース
ト3にて接着、固定することにより、樹脂6で封止する
までチップ1を機械的に安定させる。この構造では、載
置部2aとペースト3は絶対必要であり、薄型パッケー
ジ化において、これらの厚さが悪影響を及ぼしている。
また、薄型パッケージ化するために、樹脂6の厚さをで
きるだけ薄くするため、チップ1の上に存在する樹脂6
の厚さaと載置部2aの下方に存在する樹脂6の厚さb
とは、互いに異なった寸法をとり、そのため例えば、加
熱試験のときなどに、樹脂6の膨脹度合が上方と下方で
互いに異なる。したがって応力のかかりかたが、樹脂6
の上面と下面で互いに異なることになり、樹脂6やチッ
プ1が割れる現象が生じ、信頼性上、極めて重要な問題
となっている。これは、従来の薄型半導体装置には、樹
脂6の表面とワイヤ4との距離cに決まりがあって、こ
のcがある程度以上必要であるという条件があるため、
距離aのほうがbより大としなければ、上記条件を満た
せなくなってしまうためである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】そこで本発明の目的
は、形状が極めて薄型で、しかも樹脂やチップに割れが
生じるなどの問題のない半導体装置およびその製造方法
を提供するものである。
は、形状が極めて薄型で、しかも樹脂やチップに割れが
生じるなどの問題のない半導体装置およびその製造方法
を提供するものである。
【0005】
【課題を解決するための手段と作用】本発明は、半導体
チップと、このチップの近傍に配置されたリード端子
と、前記チップを挟んで保持するためのチップ保持体と
を具備したことを特徴とする半導体装置である。
チップと、このチップの近傍に配置されたリード端子
と、前記チップを挟んで保持するためのチップ保持体と
を具備したことを特徴とする半導体装置である。
【0006】すなわち本発明は、チップ保持体に、チッ
プの位置決めの役目、またワイヤボンディング時の支え
の役目、また樹脂モールド時の支えの役目などができる
ようにさせる。この様にすれば、チップ下のチップ載置
部2a、ペースト3を省略でき、したがって上記目的を
達成できる。
プの位置決めの役目、またワイヤボンディング時の支え
の役目、また樹脂モールド時の支えの役目などができる
ようにさせる。この様にすれば、チップ下のチップ載置
部2a、ペースト3を省略でき、したがって上記目的を
達成できる。
【0007】
【実施例】図1は本発明の一実施例を説明するための平
面図、図2は図1のA−A線に沿う断面図、図3は図1
のB−B線に沿う断面図である。これら図において11
は内部にICを構成している半導体チップ、12はチッ
プ周辺に配置されたリード端子、13はチップ11のボ
ンディングパッド14とリード13をつなぐボンディン
グワイヤ、15はチップ11を保持するためのチップ保
持リードである。この保持リード15はチップ11の位
置決めの役目、ワイヤ13のボンディング時の支えの役
目、樹脂16のモールド時の支えの役目をしている。保
持リード11は、リード12のリードフレームと一体物
であってもよいし、樹脂などの別体物であってもよく、
ただ樹脂16との接着性が良くて、異物を侵入させない
ものがよい。樹脂16は、チップ11およびその周辺を
封止する。
面図、図2は図1のA−A線に沿う断面図、図3は図1
のB−B線に沿う断面図である。これら図において11
は内部にICを構成している半導体チップ、12はチッ
プ周辺に配置されたリード端子、13はチップ11のボ
ンディングパッド14とリード13をつなぐボンディン
グワイヤ、15はチップ11を保持するためのチップ保
持リードである。この保持リード15はチップ11の位
置決めの役目、ワイヤ13のボンディング時の支えの役
目、樹脂16のモールド時の支えの役目をしている。保
持リード11は、リード12のリードフレームと一体物
であってもよいし、樹脂などの別体物であってもよく、
ただ樹脂16との接着性が良くて、異物を侵入させない
ものがよい。樹脂16は、チップ11およびその周辺を
封止する。
【0008】上記構成を得るには、例えば図4のごとく
すればよい。まず、図4(a)のごとく、リードフレー
ムの各リード12の先端側の中央位置付近にチップ11
を置く。この時、チップ11とリードフレームを含むリ
ード12とは載置台などの上におくようにすると良い。
その後、四方からピン17のようなもので、保持リード
15を図示矢印方向にそれぞれ回動させ、図4(b)の
ように四方からチップ11を挟むようにして保持する。
チップ11と保持リードの間には接着テープなどを挟ん
で両者を固着するようにすると良い。このようにしてチ
ップ11を諸定位置に固定し、リード12とチップ11
のパッド間をボンディングワイヤにて所定配線する。そ
の後、ピン17を除去してから、チップ11、ボンディ
ングワイヤ13、リード12のインナーリード部などを
樹脂16で封止し、外部に露出しているリード12のア
ウターリード部などを機械的に加工し、所望の形状を得
る。このとき保持リード15の外部露出部も同様に除去
し、樹脂内の保持リード15は樹脂16に埋め込んだま
まにしてよい。
すればよい。まず、図4(a)のごとく、リードフレー
ムの各リード12の先端側の中央位置付近にチップ11
を置く。この時、チップ11とリードフレームを含むリ
ード12とは載置台などの上におくようにすると良い。
その後、四方からピン17のようなもので、保持リード
15を図示矢印方向にそれぞれ回動させ、図4(b)の
ように四方からチップ11を挟むようにして保持する。
チップ11と保持リードの間には接着テープなどを挟ん
で両者を固着するようにすると良い。このようにしてチ
ップ11を諸定位置に固定し、リード12とチップ11
のパッド間をボンディングワイヤにて所定配線する。そ
の後、ピン17を除去してから、チップ11、ボンディ
ングワイヤ13、リード12のインナーリード部などを
樹脂16で封止し、外部に露出しているリード12のア
ウターリード部などを機械的に加工し、所望の形状を得
る。このとき保持リード15の外部露出部も同様に除去
し、樹脂内の保持リード15は樹脂16に埋め込んだま
まにしてよい。
【0009】上記のようにすれば、図6の載置部2a、
ペースト3が除去できるため、非常に薄型の樹脂封止型
半導体装置が得られる。また、図6の載置部2a、ペー
スト3が不要となったため、図2、図3のごとくチップ
11の上下の樹脂16の厚みを同一にでき、樹脂16、
チップ11の割れなどを防止できる。
ペースト3が除去できるため、非常に薄型の樹脂封止型
半導体装置が得られる。また、図6の載置部2a、ペー
スト3が不要となったため、図2、図3のごとくチップ
11の上下の樹脂16の厚みを同一にでき、樹脂16、
チップ11の割れなどを防止できる。
【0010】なお、本発明は上記実施例などに限られる
ことなく、種々の応用が可能である。例えば、保持リー
ド15は、4個で四方から保持したが、個数はこれのみ
に限られることはない。また、保持リードはリードフレ
ームと一体のリード端子または別体のリード端子を使用
したが、チップ11の保持体はこれのみに限られない。
ことなく、種々の応用が可能である。例えば、保持リー
ド15は、4個で四方から保持したが、個数はこれのみ
に限られることはない。また、保持リードはリードフレ
ームと一体のリード端子または別体のリード端子を使用
したが、チップ11の保持体はこれのみに限られない。
【0011】
【発明の効果】以上説明したごとく本発明によれば、形
状が極めて薄型で、しかも樹脂やチップに割れが生じる
などの問題のない半導体装置およびその製造方法を提供
することができる。
状が極めて薄型で、しかも樹脂やチップに割れが生じる
などの問題のない半導体装置およびその製造方法を提供
することができる。
【図1】本発明の一実施例の平面図。
【図2】図1のA−A線に沿う断面図。
【図3】図1のB−B線に沿う断面図。
【図4】本発明の実施例の工程説明図。
【図5】従来装置の平面図。
【図6】図5のA−A線に沿う断面図。
11…半導体チップ、12…リード端子、13…ボンデ
ィングワイヤ、14…ボンディングパッド、15…保持
リード(チップ保持体)、16…樹脂、17…ピン。
ィングワイヤ、14…ボンディングパッド、15…保持
リード(チップ保持体)、16…樹脂、17…ピン。
Claims (11)
- 【請求項1】 半導体チップと、このチップの近傍に配
置されたリード端子と、前記チップを挟んで保持するた
めのチップ保持体とを具備したことを特徴とする半導体
装置。 - 【請求項2】 前記チップ保持体は、チップ保持リード
である請求項1に記載の半導体装置。 - 【請求項3】 前記チップ保持体は、前記チップをその
側面から挟んで保持するものである請求項1に記載の半
導体装置。 - 【請求項4】 前記保持リードは、前記リード端子が構
成されるリードフレームと一体物で構成される請求項2
に記載の半導体装置。 - 【請求項5】 前記保持リードは、前記リード端子が構
成されるリードフレームとは別体物で構成される請求項
2に記載の半導体装置。 - 【請求項6】 リード端子の近傍にチップ保持体で半導
体チップを挟んで保持する工程と、前記チップとその近
傍のリード端子間のワイヤボンディングを行う工程と、
この工程後に前記チップ及びその近傍を樹脂封止する工
程とを具備したことを特徴とする半導体装置の製造方
法。 - 【請求項7】 前記チップ保持体は、チップ保持リード
である請求項6に記載の半導体装置の製造方法。 - 【請求項8】 前記保持体は、前記チップをその側面か
ら挟んで保持するものである請求項6に記載の半導体装
置の製造方法。 - 【請求項9】 前記保持リードは、前記リード端子が構
成されるリードフレームと一体物で構成される請求項7
に記載の半導体装置の製造方法。 - 【請求項10】 前記保持リードは、前記リード端子が
構成されるリードフレームとは別体物で構成される請求
項7に記載の半導体装置の製造方法。 - 【請求項11】 前記保持リードとチップとの間には接
着剤が介在される請求項7に記載の半導体装置の製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3157061A JPH056951A (ja) | 1991-06-27 | 1991-06-27 | 半導体装置及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3157061A JPH056951A (ja) | 1991-06-27 | 1991-06-27 | 半導体装置及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH056951A true JPH056951A (ja) | 1993-01-14 |
Family
ID=15641358
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3157061A Pending JPH056951A (ja) | 1991-06-27 | 1991-06-27 | 半導体装置及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH056951A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09181225A (ja) * | 1995-12-14 | 1997-07-11 | Samsung Electron Co Ltd | 半導体チップパッケージ及びその製造方法 |
-
1991
- 1991-06-27 JP JP3157061A patent/JPH056951A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09181225A (ja) * | 1995-12-14 | 1997-07-11 | Samsung Electron Co Ltd | 半導体チップパッケージ及びその製造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5496775A (en) | Semiconductor device having ball-bonded pads | |
| US5824569A (en) | Semiconductor device having ball-bonded pads | |
| US5696033A (en) | Method for packaging a semiconductor die | |
| US6929976B2 (en) | Multi-die module and method thereof | |
| EP0478250A1 (en) | Integrated circuit device and method to prevent cracking during surface mount | |
| US6087722A (en) | Multi-chip package | |
| US20250183136A1 (en) | Lead stabilization in semiconductor packages | |
| JPH0864725A (ja) | 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法 | |
| JPH0590451A (ja) | 半導体集積回路及びその実装装置製造方法 | |
| JPS63310151A (ja) | 集積回路電子部品のチップの支持パッド | |
| US5969410A (en) | Semiconductor IC device having chip support element and electrodes on the same surface | |
| JPH09330992A (ja) | 半導体装置実装体とその製造方法 | |
| JP2001185567A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| KR0155441B1 (ko) | 지지바를 이용한 다이패드구조로 이루어지는 반도체패키지 | |
| US11688715B2 (en) | Semiconductor die with multiple contact pads electrically coupled to a lead of a lead frame | |
| JP2822990B2 (ja) | Csp型半導体装置 | |
| JPH09330962A (ja) | 半導体集積回路装置およびその製造方法 | |
| JP2786047B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
| JPH08181165A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH0250438A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JP3358697B2 (ja) | 半導体パッケージ | |
| JPH02202049A (ja) | 半導体装置 | |
| JPH11312754A (ja) | 半導体パッケージ、その製造方法及びウェハキャリア | |
| JP2002203945A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
| JPH03268457A (ja) | 半導体装置 |