JPH0572037A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPH0572037A JPH0572037A JP23784191A JP23784191A JPH0572037A JP H0572037 A JPH0572037 A JP H0572037A JP 23784191 A JP23784191 A JP 23784191A JP 23784191 A JP23784191 A JP 23784191A JP H0572037 A JPH0572037 A JP H0572037A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector
- signal
- correction amount
- mirror
- light
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- Pending
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】最適な、検知器の印加電圧の演算方式を用い
て、高速な波長走査速度に対応可能な分光光度計を提供
することにある。 【構成】図２に示すように、検知器に入射した標準，試
料光束をそれぞれＡ／Ｄ変換し、コンピュータに読み込
み、そのそれぞれの量により、補正量を演算し、Ｄ／Ａ
変換によりコンピュータより出力する。この出力に基づ
き、高電圧発生器により、検知器に印加する電圧を制御
する。 【効果】高速な波長走査速度に対応した、良好な測定結
果が得られる分光光度計が提供できる。
て、高速な波長走査速度に対応可能な分光光度計を提供
することにある。 【構成】図２に示すように、検知器に入射した標準，試
料光束をそれぞれＡ／Ｄ変換し、コンピュータに読み込
み、そのそれぞれの量により、補正量を演算し、Ｄ／Ａ
変換によりコンピュータより出力する。この出力に基づ
き、高電圧発生器により、検知器に印加する電圧を制御
する。 【効果】高速な波長走査速度に対応した、良好な測定結
果が得られる分光光度計が提供できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、分光光度計に係り、特
に、検知器の印加電圧の制御に、関するものである。
に、検知器の印加電圧の制御に、関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の検知器の印加電圧の補正量演算
は、標準側光束の信号、または、試料側光束の信号のい
ずれか大きい信号と一定電圧との差異のみにより行う方
法である。
は、標準側光束の信号、または、試料側光束の信号のい
ずれか大きい信号と一定電圧との差異のみにより行う方
法である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】分光光度計による測定
の迅速化が求められており、これに伴い波長走査速度の
向上が必要となる。
の迅速化が求められており、これに伴い波長走査速度の
向上が必要となる。
【０００４】従来の技術では、次のような配慮が不足し
ている。
ている。
【０００５】１．波長走査速度が非常に速く、しかも、
検出信号が急峻に変化することを配慮された補正法でな
いこと。
検出信号が急峻に変化することを配慮された補正法でな
いこと。
【０００６】２．光電変換用演算増幅器（オペアンプ）
及び、アナログ・デジタル変換器のダイナミックレンジ
による制限について配慮された補正法でないこと。
及び、アナログ・デジタル変換器のダイナミックレンジ
による制限について配慮された補正法でないこと。
【０００７】以上、１，２いずれの場合にも、実際の測
定結果と異なる測定結果を生じてしまう問題があった。
定結果と異なる測定結果を生じてしまう問題があった。
【０００８】本発明の目的は、上述したような問題点を
解決することにある。
解決することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】検知器の印加電圧の補正
量演算を、標準光束信号と、試料光束信号のそれぞれを
読み込み、いずれか大きい方の信号により、その信号量
に応じた、最適な補正量を得られる関数により行うこと
で対応する。
量演算を、標準光束信号と、試料光束信号のそれぞれを
読み込み、いずれか大きい方の信号により、その信号量
に応じた、最適な補正量を得られる関数により行うこと
で対応する。
【００１０】
【作用】標準側光束信号と、試料側光束信号をそれぞれ
読み込む。次に、それぞれの信号の大小を比較する。そ
して、大きい方から規定値Ｄ０を引く。さらに、その引
いた値が、規定値Ｋ０との大小により、補正量を求める
演算式を変えることにより、信号の大きさにより最適な
補正量を求める。
読み込む。次に、それぞれの信号の大小を比較する。そ
して、大きい方から規定値Ｄ０を引く。さらに、その引
いた値が、規定値Ｋ０との大小により、補正量を求める
演算式を変えることにより、信号の大きさにより最適な
補正量を求める。
【００１１】本発明は、この関数に限定されるものでは
なく、異なる関数で補正量を算出しても有効である。
なく、異なる関数で補正量を算出しても有効である。
【００１２】
【実施例】分光光度計は光源からの光を分散させて単色
光を取り出すための分光器を有しており、その分光器か
らの単色光を分岐鏡によって２光束に分岐する。一方が
標準測光路に、他方が試料側光路に導かれる。それぞれ
の光路を通過し、検知器に入射し、ここで光電変換され
る。また、分岐鏡には、光を遮断する部分があり、この
時の検知器出力がゼロ信号Ｚとなり、標準側光路を通過
した光量に対する電気信号Ｒと試料側光路を通過した光
量に対する電気信号Ｓとの比（Ｓ−Ｚ／Ｒ−Ｚ）が測定
結果となる。
光を取り出すための分光器を有しており、その分光器か
らの単色光を分岐鏡によって２光束に分岐する。一方が
標準測光路に、他方が試料側光路に導かれる。それぞれ
の光路を通過し、検知器に入射し、ここで光電変換され
る。また、分岐鏡には、光を遮断する部分があり、この
時の検知器出力がゼロ信号Ｚとなり、標準側光路を通過
した光量に対する電気信号Ｒと試料側光路を通過した光
量に対する電気信号Ｓとの比（Ｓ−Ｚ／Ｒ−Ｚ）が測定
結果となる。
【００１３】それぞれの光電変換信号は、アナログ・デ
ジタル変換され、コンピュータに取り込まれ、上記演算
が行われて測定結果が得られる。
ジタル変換され、コンピュータに取り込まれ、上記演算
が行われて測定結果が得られる。
【００１４】また、検知器の印加電圧は、ＳまたはＲ信
号の大きい方の信号が常に一定になるような補正量を演
算し、印加電圧を制御する。
号の大きい方の信号が常に一定になるような補正量を演
算し、印加電圧を制御する。
【００１５】従来の補正量演算は、ＳまたはＲ信号の大
きい信号と、一定電圧との差異のみにより行う方法であ
る。
きい信号と、一定電圧との差異のみにより行う方法であ
る。
【００１６】この方法では、波長走査展が遅い場合、ま
た、エネルギーの変化量が小さい場合には問題はない。
た、エネルギーの変化量が小さい場合には問題はない。
【００１７】近年、分光光度計による測定の迅速化が求
められており、これに対応すべき技術が必要となってい
る。
められており、これに対応すべき技術が必要となってい
る。
【００１８】前述した従来の記述では、ＲまたはＳと一
定値との差異のみを検出し、補正するため、次のような
点に関し配慮が不足している。
定値との差異のみを検出し、補正するため、次のような
点に関し配慮が不足している。
【００１９】１．波長走査速度が非常に速く、しかも、
検出信号が急峻に変化することを配慮された補正法でな
いこと。
検出信号が急峻に変化することを配慮された補正法でな
いこと。
【００２０】２．光電変換用演算増幅器、及びアナログ
・デジタル変換器のダイナミックレンジによる制限につ
いて配慮された補正法でないこと。
・デジタル変換器のダイナミックレンジによる制限につ
いて配慮された補正法でないこと。
【００２１】以上１，２いずれの場合にも、実際の測定
結果と異なる測定結果を生じてしまう問題があった。
結果と異なる測定結果を生じてしまう問題があった。
【００２２】本発明の目的は、新規補正量演算方式を用
いて、高速な波長走査速度に対応可能な分光光度計を提
供することにある。
いて、高速な波長走査速度に対応可能な分光光度計を提
供することにある。
【００２３】本発明によれば、高速な波長走査速度に対
応した、最適な検知器用印加電圧補正量で補正するよう
にした分光光度計が提供される。
応した、最適な検知器用印加電圧補正量で補正するよう
にした分光光度計が提供される。
【００２４】図１は、本発明の一実施例を示す光学系の
系統図を示す。
系統図を示す。
【００２５】光源切替ミラー１により、光源の光を測定
波長に応じて自動的に切り替えてモノクロメータ２に導
く。可視領域はＷＩランプ３，紫外領域はＤ２ランプ４
を使用する。ランプからの光はフィルタ５を透過し、ミ
ラー６によりモノクロメータに導かれる。分散素子９と
入射スリット７，出射スリット８によりモノクロメータ
が構成されている。モノクロメータにより分光された単
色光はミラー１０を経て、分散鏡１１に当る。分岐鏡に
より、光を遮断した状態と、標準側光束と試料側光束に
分岐される。標準測光束は、ミラー１２，１３，１４を
通して、検知器１９に入射する。また、試料側光束は、
ミラー１５，１６，１７，１８を通して検知器に入射す
る。
波長に応じて自動的に切り替えてモノクロメータ２に導
く。可視領域はＷＩランプ３，紫外領域はＤ２ランプ４
を使用する。ランプからの光はフィルタ５を透過し、ミ
ラー６によりモノクロメータに導かれる。分散素子９と
入射スリット７，出射スリット８によりモノクロメータ
が構成されている。モノクロメータにより分光された単
色光はミラー１０を経て、分散鏡１１に当る。分岐鏡に
より、光を遮断した状態と、標準側光束と試料側光束に
分岐される。標準測光束は、ミラー１２，１３，１４を
通して、検知器１９に入射する。また、試料側光束は、
ミラー１５，１６，１７，１８を通して検知器に入射す
る。
【００２６】波長走査は、分岐素子の回転角を変化させ
ることにより行う。図２は、本発明の一実施例を示す信
号処理系の系統図を示す。
ることにより行う。図２は、本発明の一実施例を示す信
号処理系の系統図を示す。
【００２７】検知器に入射した光を光電変換信号は、プ
リアンプ２０により電流電圧変換されます。次にこの電
圧信号は、Ａ／Ｄ変換器２１により，デジタル変換さ
れ、コンピュータ２２に読み込まれる。
リアンプ２０により電流電圧変換されます。次にこの電
圧信号は、Ａ／Ｄ変換器２１により，デジタル変換さ
れ、コンピュータ２２に読み込まれる。
【００２８】コンピュータにより、下式により演算さ
れ、測定結果を表示する。
れ、測定結果を表示する。
【００２９】
【数１】
【００３０】また、標準側光束の信号と試料側光束の信
号のいずれか大きい方と規定値とを比較して、その補正
量を演算して、その補正値をＤ／Ａ変換器２３に出力す
る。この出力は、検知器の高電圧発生器２４に入力さ
れ、この出力値に基づき、印加電圧が制御される。
号のいずれか大きい方と規定値とを比較して、その補正
量を演算して、その補正値をＤ／Ａ変換器２３に出力す
る。この出力は、検知器の高電圧発生器２４に入力さ
れ、この出力値に基づき、印加電圧が制御される。
【００３１】標準側光束の信号，試料側光束の信号，ゼ
ロ信号は、分岐鏡に取り付けられたホトインタラプタ２
６により分別され、それぞれの出力として認識される。
ロ信号は、分岐鏡に取り付けられたホトインタラプタ２
６により分別され、それぞれの出力として認識される。
【００３２】また、波長走査などの機構系の制御は、デ
ィジタルＩ／Ｆ２５を介して、コンピュータより行われ
る。
ィジタルＩ／Ｆ２５を介して、コンピュータより行われ
る。
【００３３】図３は、検知器出力電圧と、Ａ／Ｄ変換の
例を示す。
例を示す。
【００３４】検知器の出力電圧は、プリアンプの出力電
圧としている。分岐鏡により、それぞれゼロ信号，標準
側信号，試料側信号に分離され、さらにそれぞれの信号
の各部分がＡ／Ｄ変換される。
圧としている。分岐鏡により、それぞれゼロ信号，標準
側信号，試料側信号に分離され、さらにそれぞれの信号
の各部分がＡ／Ｄ変換される。
【００３５】また、検知器の印加電圧は、標準側信号，
試料側信号，試料信号のいずれか大きい方，本例では、
標準側信号が約８Ｖの一定値になるように補正量が演算
され、制御される。
試料側信号，試料信号のいずれか大きい方，本例では、
標準側信号が約８Ｖの一定値になるように補正量が演算
され、制御される。
【００３６】図４に、補正量の演算式フローチャートを
示す。
示す。
【００３７】標準側光束信号Ｒと、試料側束信号Ｓをそ
れぞれ読み込む。次にそれぞれの信号の大小を比較す
る。そして、標準側光束信号Ｒが大きい場合にはＲか
ら、試料側光束信号Ｓが小さい場合にはＳから規定値Ｄ
０を引く。
れぞれ読み込む。次にそれぞれの信号の大小を比較す
る。そして、標準側光束信号Ｒが大きい場合にはＲか
ら、試料側光束信号Ｓが小さい場合にはＳから規定値Ｄ
０を引く。
【００３８】さらに、その引いた値が、規定値Ｋ０以下
の場合には、数２式で示した演算式により補正値ＤＥを
求める。
の場合には、数２式で示した演算式により補正値ＤＥを
求める。
【００３９】
【数２】
【００４０】また、この値が規定値Ｋ０以上の場合に
は、数３式で示した計算式により補正値ＤＥを求める。
は、数３式で示した計算式により補正値ＤＥを求める。
【００４１】
【数３】
【００４２】これを入力信号と補正量のグラフとして示
したものが図５である。
したものが図５である。
【００４３】なお、以上の説明では、図５で示した補正
量の関数のみについて説明したが、本発明では、この関
数に限定されるものではなく、異なる関数で補正量を算
出しても有効である。例えば２次関数などまたは非線形
関数でも適応可能である。
量の関数のみについて説明したが、本発明では、この関
数に限定されるものではなく、異なる関数で補正量を算
出しても有効である。例えば２次関数などまたは非線形
関数でも適応可能である。
【００４４】
１．波長走査速度が非常に速く、しかも、検出信号が急
峻に変化する場合にも良好な測定結果を得られる。
峻に変化する場合にも良好な測定結果を得られる。
【００４５】２．光電変換用演算増幅器、及びアナログ
・デジタル変換器のダイナミックレンジによる制限をな
くすことができる。
・デジタル変換器のダイナミックレンジによる制限をな
くすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】光学系の系統図である。
【図２】信号処理系の系統図である。
【図３】検知器出力電圧とＡ／Ｄ変換図である。
【図４】補正量の演算式フローチャートである。
【図５】補正量の関数グラフを示す図である。
１…光源切替ミラー、２…モノクロメータ、３…ＷＩラ
ンプ、４…Ｄ２ランプ、５…フィルタ、６…ミラー、７
…入射スリット、８…出射スリット、９…分散素子、１
０…ミラー、１１…分岐鏡、１２…ミラー、１３…ミラ
ー、１４…ミラー、１５…ミラー、１６…ミラー、１７
…ミラー、１８…ミラー、１９…検知器、２０…プリア
ンプ、２１…Ａ／Ｄ変換器、２２…コンピュータ、２３
…Ｄ／Ａ変換器、２４…高電圧発生器、２５…デジタル
Ｉ／Ｆ、２６…ホトインタラプタ。
ンプ、４…Ｄ２ランプ、５…フィルタ、６…ミラー、７
…入射スリット、８…出射スリット、９…分散素子、１
０…ミラー、１１…分岐鏡、１２…ミラー、１３…ミラ
ー、１４…ミラー、１５…ミラー、１６…ミラー、１７
…ミラー、１８…ミラー、１９…検知器、２０…プリア
ンプ、２１…Ａ／Ｄ変換器、２２…コンピュータ、２３
…Ｄ／Ａ変換器、２４…高電圧発生器、２５…デジタル
Ｉ／Ｆ、２６…ホトインタラプタ。
Claims (2)
- 【請求項１】光源と、光源からの光を波長分散させる分
散手段を有し、単色光を射出する分光器と、この分光器
から射出される単色光を検出する検知器と、この検知器
の高電圧発生器の電圧を、検知器の出力信号により変化
させる手段を備えたことを特徴とする分光光度計。 - 【請求項２】請求項１において、検知器の試料側信号も
しくは、標準側信号のいずれか大きい方が一定となるよ
うに、それぞれを出力信号を読み込み、規定の関数によ
り補正量を演算する手段を備えたことを特徴とする分光
光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23784191A JPH0572037A (ja) | 1991-09-18 | 1991-09-18 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23784191A JPH0572037A (ja) | 1991-09-18 | 1991-09-18 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0572037A true JPH0572037A (ja) | 1993-03-23 |
Family
ID=17021209
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23784191A Pending JPH0572037A (ja) | 1991-09-18 | 1991-09-18 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0572037A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7050164B2 (en) | 2000-11-02 | 2006-05-23 | Hitachi, Ltd. | Spectrophotometer |
-
1991
- 1991-09-18 JP JP23784191A patent/JPH0572037A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7050164B2 (en) | 2000-11-02 | 2006-05-23 | Hitachi, Ltd. | Spectrophotometer |
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