JPH0579482U - Ｉｃソケット - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 端末が非接続の電流用接触子と電圧用接触子
をＩＣソケット２に設け、接触抵抗によって生ずる電圧
降下の影響を受けないでＩＣ１を測定する。 【構成】 端末が非接続の接触子２Ａと接触子２ＢをＩ
Ｃ１リード１Ａに接触させ、端末が非接続の接触子２Ｃ
と接触子２ＤをＩＣ１のリード１Ｂに接触させる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は、ソケットの接触抵抗による電圧降下の影響を受けることなく使用 することができるＩＣソケットについてのものである。

【０００２】

【従来の技術】

次に、従来技術によるＩＣソケットの構成を図３により説明する。図３の１は ＩＣ、１Ａと１Ｂはリード、３はＩＣソケット、３Ａ〜３Ｄは接触子である。接 触子３Ａ・３ＢはＩＣ１のリード１Ａに接触し、接触子３Ｃ・３ＤはＩＣ１のリ ード１Ｂに接触する。接触子３Ａ・３Ｂは端末で接続され、接触子３Ｃ・３Ｄは 端末で接続される。

【０００３】 次に、図３の電気的等価回路を図４により説明する。図４の４は接触子３Ａと リード１Ａの接触抵抗、５は接触子３Ｂとリード１Ａの接触抵抗であり、Ｉａは リード１Ａに流れるＩＣ１の電流である。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

図４では、電流Ｉａと接触抵抗４・５のために電圧降下が生じ、正しい接地電 位をリード１Ａに与えることができない。例えば、電流Ｉａが100 ｍＡ、接触抵 抗４の抵抗値が1 Ω、接触抵抗５の抵抗値が1 Ωのとき、リード１Ａの接地電位 は50ｍＶとなる。この考案は、端末が非接続の電流用接触子と電圧用接触子をソ ケットに設け、接触抵抗によって生ずる電圧降下の影響を受けないでＩＣ１を測 定することができるＩＣソケットの提供を目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

この目的を達成するため、この考案では、端末が非接続の接触子２Ａと接触子 ２ＢをＩＣ１のリード１Ａに接触させ、端末が非接続の接触子２Ｃと接触子２Ｄ をＩＣ１のリード１Ｂに接触させる。

【０００６】

【作用】

次に、この考案によるＩＣソケットの構成を図１により説明する。図１の２は ＩＣソケット、２Ａ〜２Ｄは接触子である。端末が非接続の接触子２Ａ・２Ｂを ＩＣ１のリード１Ａに接触させ、端末が非接続の接触子２Ｃ・２ＤをＩＣ１のリ ード１Ｂに接触させる。図１によれば、接触子２Ａ・２Ｂまたは接触子２Ｃ・２ Ｄのうちの片方を電流用接触子にし、他方を電圧用接触子として使用することに より、ＩＣ１のリード１Ａと接触子２Ａ・２Ｂ間に生ずる電圧降下の影響を受け ないでＩＣ１を測定することができる。

【０００７】

【実施例】

次に、図１の使用例を図２により説明する。図２の６と７は抵抗、８は演算増 幅器であり、その他は図４と同じものである。接触抵抗４は抵抗６に直列に接続 され、抵抗７は接地に接続される。抵抗６・７で分圧された電圧が演算増幅器８ の入力端子に接続され、演算増幅器８の他方の入力端子は接地に接続される。接 触抵抗５は演算増幅器８の出力に接続される。

【０００８】 図２では、ＩＣ１の電流Ｉａが100 ｍＡ、接触抵抗４・５の抵抗値がそれぞれ 1 Ω、抵抗６・７の抵抗値がそれぞれ10ｋΩとする。演算増幅器８の利得を100 ｄＢ以上とすると、ＩＣ１の接地電位は演算増幅器８の入力端子間電圧で決定さ れる値となり、1 ｍＶ以下にすることができる。

【０００９】

【考案の効果】

この考案によれば、端末が非接続の電流用接触子と電圧用接触子をソケットに 設けるので、接触抵抗によって生ずる電圧降下の影響を受けないでＩＣを測定す ることができるＩＣソケットを提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案によるＩＣソケットの構成図である。

【図２】図１の使用例を示す回路図である。

【図３】従来技術によるＩＣソケットの構成図である。

【図４】図３の等価回路図である。

【符号の説明】

１ ＩＣ １Ａ・１Ｂ リード ２ ＩＣソケット ２Ａ〜２Ｄ 接触子

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 端末が非接続の第１の接触子(2A)と第２
   の接触子(2B)をＩＣ(1) の第１のリード(1A)に接触さ
   せ、 端末が非接続の第３の接触子(2C)と第４の接触子(2D)を
   ＩＣ(1) の第２のリード(1B)に接触させることを特徴と
   するＩＣソケット。