JPH0583639A - Ｃｃｄセンサの画素欠陥検出装置 - Google Patents
Ｃｃｄセンサの画素欠陥検出装置Info
- Publication number
- JPH0583639A JPH0583639A JP3239800A JP23980091A JPH0583639A JP H0583639 A JPH0583639 A JP H0583639A JP 3239800 A JP3239800 A JP 3239800A JP 23980091 A JP23980091 A JP 23980091A JP H0583639 A JPH0583639 A JP H0583639A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】レベルが等しい多画素に渡る欠陥を検出する。
【構成】ＣＣＤ出力が入力されるメデイアンフィルタＢ
の出力を微分する微分器ＤとＣＣＤ出力からメデイアン
フィルタ出力を減算する減算器Ｃと、微分器Ｄの出力と
減算器Ｃの出力とを加算する加算器Ｅと、加算器Ｅの出
力のうち最大値と最小値を欠陥値として判定する判定手
段Ｈを設ける。
の出力を微分する微分器ＤとＣＣＤ出力からメデイアン
フィルタ出力を減算する減算器Ｃと、微分器Ｄの出力と
減算器Ｃの出力とを加算する加算器Ｅと、加算器Ｅの出
力のうち最大値と最小値を欠陥値として判定する判定手
段Ｈを設ける。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＣＣＤセンサの画素欠
陥、特に隣接画素を含む画素欠陥を検出する装置に関す
る。
陥、特に隣接画素を含む画素欠陥を検出する装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】図１は、従来のＣＣＤラインセンサの画
素欠陥検出装置の構成図を示している。
素欠陥検出装置の構成図を示している。
【０００３】ＣＣＤラインセンサ出力の連続値はＡ／Ｄ
変換器で所定のビットのディジタル値に変換され、メデ
イアンフィルタＢおよび減算器Ｃの一方の入力に導かれ
る。
変換器で所定のビットのディジタル値に変換され、メデ
イアンフィルタＢおよび減算器Ｃの一方の入力に導かれ
る。
【０００４】メデイアンフィルタＢは、今回のタイミン
グの近傍の複数のサンプルデータの中から中間値を選択
して今回のデータとするフィルタ処理を行う。このメデ
イアンフィルタＢの出力ｂは減算器Ｃに導かれる。減算
器Ｃでは、Ａ／Ｄ変換された上記センサ出力ａからメデ
イアンフィルタ出力ｂを減算して、最大値，最小値検出
回路Ｆに出力する。最大値，最小値検出回路Ｆは、減算
結果の中から最大値と最小値を検出する回路である。こ
の検出結果はメモリＧに格納される。格納された演算結
果の最大値，最小値は各々白キズ欠陥，黒キズ欠陥とし
て判定手段Ｈによって判定される。
グの近傍の複数のサンプルデータの中から中間値を選択
して今回のデータとするフィルタ処理を行う。このメデ
イアンフィルタＢの出力ｂは減算器Ｃに導かれる。減算
器Ｃでは、Ａ／Ｄ変換された上記センサ出力ａからメデ
イアンフィルタ出力ｂを減算して、最大値，最小値検出
回路Ｆに出力する。最大値，最小値検出回路Ｆは、減算
結果の中から最大値と最小値を検出する回路である。こ
の検出結果はメモリＧに格納される。格納された演算結
果の最大値，最小値は各々白キズ欠陥，黒キズ欠陥とし
て判定手段Ｈによって判定される。
【０００５】図３は、上記の検出装置においての画素欠
陥の検出方法を説明するための図である。
陥の検出方法を説明するための図である。
【０００６】説明を容易にするために、同図ではセンサ
出力ａが“５”と“１０”の二種類の値（“１０”が白
キズ欠陥部を示す）を持つものとしている。メデイアン
フィルタＢは、ここでは前後のサンプルデータを含む合
計３画素の中間値を読みだす。すなわち、図に示す例で
は、最初に“５”，“５”，“１０”の三箇所分のデー
タより、そのうちの最大と最小の値を除いた残りの中間
の値を取り出す。従って、この時の値は“５”である。
このようにしてフィルタ処理を行うと、メデイアンフィ
ルタ出力ｂは図に示すようになる。
出力ａが“５”と“１０”の二種類の値（“１０”が白
キズ欠陥部を示す）を持つものとしている。メデイアン
フィルタＢは、ここでは前後のサンプルデータを含む合
計３画素の中間値を読みだす。すなわち、図に示す例で
は、最初に“５”，“５”，“１０”の三箇所分のデー
タより、そのうちの最大と最小の値を除いた残りの中間
の値を取り出す。従って、この時の値は“５”である。
このようにしてフィルタ処理を行うと、メデイアンフィ
ルタ出力ｂは図に示すようになる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】すなわち、Ｔ１の１画
素分の白キズ欠陥はフィルタ処理によってその出力が表
れないが、Ｔ２のようにレベルの等しい欠陥が２画素以
上連続した場合には、フィルタ処理を行ってもその欠陥
成分がフィルタ出力に表れてしまう。このため、減算器
Ｃの出力には、１画素分の欠陥成分が表れるが、２画素
以上に渡る欠陥成分は消去されてしまう不都合があっ
た。
素分の白キズ欠陥はフィルタ処理によってその出力が表
れないが、Ｔ２のようにレベルの等しい欠陥が２画素以
上連続した場合には、フィルタ処理を行ってもその欠陥
成分がフィルタ出力に表れてしまう。このため、減算器
Ｃの出力には、１画素分の欠陥成分が表れるが、２画素
以上に渡る欠陥成分は消去されてしまう不都合があっ
た。
【０００８】本発明の目的は、隣接する画素間の差を求
めることにより、上記のように欠陥画素が連続する場合
であってもその状態を検出することのできる画素欠陥検
出装置を提供することにある。
めることにより、上記のように欠陥画素が連続する場合
であってもその状態を検出することのできる画素欠陥検
出装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、ＣＣＤセンサ
出力の連続値が入力されるメデイアンフィルタと、前記
メデイアンフィルタの出力を微分する微分器と、前記Ｃ
ＣＤセンサ出力の連続値から前記メデイアンフィルタの
出力を減算する減算器と、前記微分器の出力と前記減算
器の出力とを加算する加算器と、前記加算器の出力のう
ち最大値と最小値を欠陥値として判定する手段と、を備
えてなることを特徴とする。
出力の連続値が入力されるメデイアンフィルタと、前記
メデイアンフィルタの出力を微分する微分器と、前記Ｃ
ＣＤセンサ出力の連続値から前記メデイアンフィルタの
出力を減算する減算器と、前記微分器の出力と前記減算
器の出力とを加算する加算器と、前記加算器の出力のう
ち最大値と最小値を欠陥値として判定する手段と、を備
えてなることを特徴とする。
【００１０】
【作用】本発明においては、複数のサンプルデータの中
間値を取り出すフィルタ処理を行うメデイアンフィルタ
の出力を一旦微分器にかけ、ここで隣接する画素間の差
を求めるようにする。そしてその差と、従来使用してい
た減算器の出力とを単純加算することによって最大値お
よび最小値を欠陥値として判定するようにしている。
間値を取り出すフィルタ処理を行うメデイアンフィルタ
の出力を一旦微分器にかけ、ここで隣接する画素間の差
を求めるようにする。そしてその差と、従来使用してい
た減算器の出力とを単純加算することによって最大値お
よび最小値を欠陥値として判定するようにしている。
【００１１】
【実施例】図２は、本発明の実施例のＣＣＤラインセン
サの画素欠陥検出装置のブロック図を示している。
サの画素欠陥検出装置のブロック図を示している。
【００１２】構成において、図１に示す従来の検出装置
と相違する点は、本実施例においては、メデイアンフィ
ルタＢの出力を微分する微分器Ｄを設け、このＤの微分
出力と減算器Ｃの出力とを加算する加算器Ｅを設けた点
である。
と相違する点は、本実施例においては、メデイアンフィ
ルタＢの出力を微分する微分器Ｄを設け、このＤの微分
出力と減算器Ｃの出力とを加算する加算器Ｅを設けた点
である。
【００１３】図４は、上記図２に示す画素欠陥検出装置
の動作を説明するための図である。
の動作を説明するための図である。
【００１４】センサ出力ａは図３に示す図と同じ出力と
する。したがって、減算器Ｃの出力である減算出力ｃも
図３に示す従来の装置と同じ値をとる。一方、本実施例
では、フィルタ出力ｂの微分値ｄを求めて、上記減算出
力ｃと加算器Ｅにて加算するようにしている。微分器Ｄ
を設けているために、例に示すようにＴ２の連続欠陥領
域では、その立ち上がりと立ち下がり部分において信号
成分が表れる。この値は、加算器Ｅにおいて単純に上記
減算出力と加算されるために、最大値，最小値検出器Ｆ
にはその微分出力がそのまま出力される。すなわち、こ
のＴ２の領域においても欠陥画素があることを判定手段
Ｈにて検出できるようになる。
する。したがって、減算器Ｃの出力である減算出力ｃも
図３に示す従来の装置と同じ値をとる。一方、本実施例
では、フィルタ出力ｂの微分値ｄを求めて、上記減算出
力ｃと加算器Ｅにて加算するようにしている。微分器Ｄ
を設けているために、例に示すようにＴ２の連続欠陥領
域では、その立ち上がりと立ち下がり部分において信号
成分が表れる。この値は、加算器Ｅにおいて単純に上記
減算出力と加算されるために、最大値，最小値検出器Ｆ
にはその微分出力がそのまま出力される。すなわち、こ
のＴ２の領域においても欠陥画素があることを判定手段
Ｈにて検出できるようになる。
【００１５】
【発明の効果】本発明では、レベルが等しい多画素に渡
る欠陥を簡単に検出できるようになる。
る欠陥を簡単に検出できるようになる。
【図１】従来の画素欠陥検出装置の構成図
【図２】本発明の実施例の画素欠陥検出装置の構成図
【図３】従来の画素欠陥検出装置の動作を説明するため
の図
の図
【図４】実施例の画素欠陥検出装置の動作を説明するた
めの図
めの図
【符号の説明】 Ａ−Ａ／Ｄ変換器 Ｄ−メデイアンフィルタ Ｃ−減算器 Ｄ−微分器 Ｅ−加算器 Ｆ−最大値，最小値検出器 Ｇ−メモリ Ｈ−判定手段
Claims (1)
- 【請求項１】ＣＣＤセンサ出力の連続値が入力されるメ
デイアンフィルタと、 前記メデイアンフィルタの出力を微分する微分器と、 前記ＣＣＤセンサ出力の連続値から前記メデイアンフィ
ルタの出力を減算する減算器と、 前記微分器の出力と前記減算器の出力とを加算する加算
器と、 前記加算器の出力のうち最大値と最小値を欠陥値として
判定する手段と、 を備えてなる、ＣＣＤセンサの画素欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3239800A JPH0583639A (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | Ｃｃｄセンサの画素欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3239800A JPH0583639A (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | Ｃｃｄセンサの画素欠陥検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0583639A true JPH0583639A (ja) | 1993-04-02 |
Family
ID=17050052
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3239800A Pending JPH0583639A (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | Ｃｃｄセンサの画素欠陥検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0583639A (ja) |
-
1991
- 1991-09-19 JP JP3239800A patent/JPH0583639A/ja active Pending
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